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深入剖析NVMYS9D3N06CL:高性能N溝道MOSFET的卓越之選

h1654155282.3538 ? 來源:未知 ? 作者:陳翠 ? 2025-12-01 09:49 ? 次閱讀
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深入剖析NVMYS9D3N06CL:高性能N溝道MOSFET的卓越之選

在電子設備的設計中,MOSFET作為關鍵的功率開關元件,其性能直接影響著整個系統(tǒng)的效率與穩(wěn)定性。今天,我們就來深入了解一下ON Semiconductor推出的NVMYS9D3N06CL這款60V、9.2mΩ、50A的單N溝道功率MOSFET,看看它在實際應用中能為我們帶來哪些優(yōu)勢。

文件下載:onsemi NVMYS9D3N06CL功率MOSFET.pdf

產(chǎn)品特性

緊湊設計

NVMYS9D3N06CL采用了5x6mm的小尺寸封裝(LFPAK4),這對于追求緊湊設計的電子產(chǎn)品來說至關重要。在如今電子產(chǎn)品不斷向小型化、集成化發(fā)展的趨勢下,更小的封裝尺寸意味著可以在有限的電路板空間內(nèi)集成更多的功能模塊,從而實現(xiàn)產(chǎn)品的小型化設計。

低損耗性能

  • 低導通電阻($R_{DS(on)}$ ):該MOSFET具有較低的導通電阻,在10V的柵源電壓下,$R_{DS(on)}$ 僅為9.2mΩ;在4.5V時,也僅有13mΩ。低導通電阻能夠有效降低導通損耗,提高系統(tǒng)的效率,減少能量的浪費,這對于需要長時間運行的電子設備尤為重要。
  • 低柵極電荷($Q_{G}$ )和電容:低$Q_{G}$ 和電容特性可以最大程度地減少驅(qū)動損耗,降低驅(qū)動器的功率需求,從而進一步提高整個系統(tǒng)的效率。

行業(yè)標準與可靠性

  • AEC - Q101認證:該器件通過了AEC - Q101認證,這意味著它符合汽車電子應用的嚴格標準,具有較高的可靠性和穩(wěn)定性,適用于汽車電子等對可靠性要求極高的領域。
  • 無鉛和RoHS合規(guī):產(chǎn)品采用無鉛設計,符合RoHS標準,滿足環(huán)保要求,符合現(xiàn)代電子產(chǎn)品的綠色設計理念。

封裝尺寸

關鍵參數(shù)

最大額定值

參數(shù) 符號 單位
漏源電壓 $V_{DSS}$ 60 V
柵源電壓 $V_{GS}$ 20 V
連續(xù)漏極電流($T_{C}=25^{\circ}C$ ) $I_{D}$ 50 A
連續(xù)漏極電流($T_{C}=100^{\circ}C$ ) $I_{D}$ 35 A
功率耗散($T_{C}=25^{\circ}C$ ) $P_{D}$ 46 W
功率耗散($T_{C}=100^{\circ}C$ ) $P_{D}$ 23 W
脈沖漏極電流($T{A}=25^{\circ}C$ ,$t{p}=10\mu s$ ) $I_{DM}$ 290 A
工作結(jié)溫和存儲溫度 $T{J}$,$T{stg}$ - 55 to + 175 $^{\circ}C$
源極電流(體二極管 $I_{S}$ 52 A
單脈沖漏源雪崩能量($I_{L(pk)} = 2.3A$ ) $E_{AS}$ 88 mJ
焊接用引腳溫度(1/8″ 離外殼10s) $T_{L}$ 260 $^{\circ}C$

這些參數(shù)為我們在設計電路時提供了重要的參考依據(jù),確保我們能夠在安全的范圍內(nèi)使用該MOSFET,避免因參數(shù)超出額定值而導致器件損壞。

熱阻參數(shù)

參數(shù) 符號 單位
結(jié)到殼熱阻(穩(wěn)態(tài)) $R_{JC}$ 3.1 $^{\circ}C/W$
結(jié)到環(huán)境熱阻(穩(wěn)態(tài)) $R_{JA}$ 39 $^{\circ}C/W$

需要注意的是,熱阻參數(shù)會受到整個應用環(huán)境的影響,并非恒定值,并且僅在特定條件下有效。在實際應用中,我們需要根據(jù)具體的散熱條件來合理評估MOSFET的散熱性能。

電氣特性

關斷特性

  • 漏源擊穿電壓($V_{(BR)DSS}$ ):在$V{GS}=0V$ ,$I{D}=250\mu A$ 的條件下,$V_{(BR)DSS}$ 為60V,這表明該MOSFET能夠承受較高的反向電壓,具有較好的耐壓性能。
  • 零柵壓漏極電流($I_{DSS}$ ):在$V{GS}=0V$ ,$V{DS}=60V$ 的條件下,$T{J}=25^{\circ}C$ 時,$I{DSS}$ 為10μA;$T{J}=125^{\circ}C$ 時,$I{DSS}$ 為250μA。較低的零柵壓漏極電流可以減少器件在關斷狀態(tài)下的功耗。
  • 柵源泄漏電流($I_{GSS}$ ):在$V{DS}=0V$ ,$V{GS}=20V$ 的條件下,$I_{GSS}$ 為100nA,這意味著柵源之間的泄漏電流非常小,能夠保證器件的穩(wěn)定性。

導通特性

  • 柵極閾值電壓($V_{GS(TH)}$ ):在$V{GS}=V{DS}$ ,$I{D}=35A$ 的條件下,$V{GS(TH)}$ 的范圍為1.2 - 2.0V,這表明該MOSFET在較低的柵源電壓下就能夠?qū)ā?/li>
  • 漏源導通電阻($R_{DS(on)}$ ):在$V{GS}=10V$ ,$I{D}=25A$ 的條件下,$R{DS(on)}$ 為8.0 - 9.2mΩ;在$V{GS}=4.5V$ ,$I{D}=25A$ 的條件下,$R{DS(on)}$ 為11 - 13mΩ。低導通電阻能夠有效降低導通損耗,提高系統(tǒng)效率。
  • 正向跨導($g_{FS}$ ):在$V{DS}=15V$ ,$I{D}=25A$ 的條件下,$g_{FS}$ 為37S,這表明該MOSFET具有較好的信號放大能力。

電荷和電容特性

  • 輸入電容($C_{iss}$ ):在$V{GS}=0V$ ,$f = 1MHz$ ,$V{DS}=25V$ 的條件下,$C_{iss}$ 為880pF。
  • 輸出電容($C_{oss}$ ):為450pF。
  • 反向傳輸電容($C_{RSS}$ ):為11pF。

這些電容參數(shù)對于MOSFET的開關速度和驅(qū)動電路的設計具有重要影響,較低的電容值可以提高開關速度,減少開關損耗。

開關特性

  • 開啟延遲時間($t_{d(ON)}$ ):為6.0ns。
  • 上升時間($t_{r}$ ):在$V{GS}=10V$ ,$V{DS}=48V$ ,$I{D}=25A$ ,$R{G}=2.5\Omega$ 的條件下,$t_{r}$ 為25ns。
  • 關斷延遲時間($t_{d(OFF)}$ ):為16ns。
  • 下降時間($t_{f}$ ):為2.0ns。

快速的開關特性使得該MOSFET能夠在高頻應用中表現(xiàn)出色,減少開關損耗,提高系統(tǒng)的效率。

漏源二極管特性

  • 正向二極管電壓($V_{SD}$ ):在$V{GS}=0V$ ,$I{S}=25A$ 的條件下,$T{J}=25^{\circ}C$ 時,$V{SD}$ 為0.9 - 1.2V;$T{J}=125^{\circ}C$ 時,$V{SD}$ 為0.8V。
  • 反向恢復時間($t_{RR}$ ):在$V{GS}=0V$ ,$dI{S}/dt = 100A/\mu s$ ,$I{S}=25A$ 的條件下,$t{RR}$ 為28ns。

這些特性對于MOSFET在需要反向?qū)ǖ膽弥蟹浅V匾?,例如?a target="_blank">開關電源的續(xù)流電路中。

典型特性曲線

文檔中還提供了一系列典型特性曲線,包括導通區(qū)域特性、傳輸特性、導通電阻與柵源電壓的關系、導通電阻與漏極電流和柵極電壓的關系、導通電阻隨溫度的變化、漏源泄漏電流與電壓的關系、電容變化、柵源與總電荷的關系、電阻性開關時間隨柵極電阻的變化、二極管正向電壓與電流的關系、最大額定正向偏置安全工作區(qū)以及最大漏極電流與雪崩時間的關系等。這些曲線可以幫助我們更直觀地了解該MOSFET在不同工作條件下的性能表現(xiàn),為電路設計提供更準確的參考。

應用建議

在使用NVMYS9D3N06CL進行電路設計時,我們需要注意以下幾點:

  • 散熱設計:由于MOSFET在工作過程中會產(chǎn)生一定的熱量,因此需要合理設計散熱系統(tǒng),確保器件的結(jié)溫在安全范圍內(nèi)??梢愿鶕?jù)熱阻參數(shù)和實際工作條件,選擇合適的散熱片或其他散熱方式。
  • 驅(qū)動電路設計:低$Q_{G}$ 和電容特性雖然可以減少驅(qū)動損耗,但也需要設計合適的驅(qū)動電路來確保MOSFET能夠快速、穩(wěn)定地開關。驅(qū)動電路的輸出電壓和電流應能夠滿足MOSFET的開關要求。
  • 過壓和過流保護:在實際應用中,需要考慮對MOSFET進行過壓和過流保護,避免因電壓或電流超出額定值而導致器件損壞??梢允褂眠^壓保護電路和過流保護電路來實現(xiàn)這一目的。

總結(jié)

NVMYS9D3N06CL是一款性能卓越的單N溝道功率MOSFET,具有小尺寸、低損耗、高可靠性等優(yōu)點。其豐富的電氣特性和典型特性曲線為電路設計提供了詳細的參考依據(jù)。在實際應用中,我們需要根據(jù)具體的需求和工作條件,合理選擇和使用該MOSFET,并注意散熱設計、驅(qū)動電路設計和保護電路設計等方面的問題,以充分發(fā)揮其性能優(yōu)勢,提高整個系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。你在使用這款MOSFET的過程中遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗和見解。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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