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碳化硅 (SiC) MOSFET 橋式電路同步整流控制機(jī)制與互補(bǔ)發(fā)波策略研究報(bào)告

楊茜 ? 來源:jf_33411244 ? 作者:jf_33411244 ? 2026-01-26 10:24 ? 次閱讀
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碳化硅 (SiC) MOSFET 橋式電路同步整流控制機(jī)制與互補(bǔ)發(fā)波策略研究報(bào)告

BASiC Semiconductor基本半導(dǎo)體一級(jí)代理商傾佳電子(Changer Tech)是一家專注于功率半導(dǎo)體和新能源汽車連接器的分銷商。主要服務(wù)于中國(guó)工業(yè)電源、電力電子設(shè)備和新能源汽車產(chǎn)業(yè)鏈。傾佳電子聚焦于新能源、交通電動(dòng)化和數(shù)字化轉(zhuǎn)型三大方向,代理并力推BASiC基本半導(dǎo)體SiC碳化硅MOSFET單管,SiC碳化硅MOSFET功率模塊,SiC模塊驅(qū)動(dòng)板等功率半導(dǎo)體器件以及新能源汽車連接器。?

傾佳電子楊茜致力于推動(dòng)國(guó)產(chǎn)SiC碳化硅模塊在電力電子應(yīng)用中全面取代進(jìn)口IGBT模塊,助力電力電子行業(yè)自主可控和產(chǎn)業(yè)升級(jí)!

傾佳電子楊茜咬住SiC碳化硅MOSFET功率器件三個(gè)必然,勇立功率半導(dǎo)體器件變革潮頭:

傾佳電子楊茜咬住SiC碳化硅MOSFET模塊全面取代IGBT模塊和IPM模塊的必然趨勢(shì)!

傾佳電子楊茜咬住SiC碳化硅MOSFET單管全面取代IGBT單管和大于650V的高壓硅MOSFET的必然趨勢(shì)!

傾佳電子楊茜咬住650V SiC碳化硅MOSFET單管全面取代SJ超結(jié)MOSFET和高壓GaN 器件的必然趨勢(shì)!

1. 引言

隨著電力電子技術(shù)向高頻、高效、高功率密度方向的演進(jìn),寬禁帶(WBG)半導(dǎo)體材料,特別是碳化硅(Silicon Carbide, SiC),已成為下一代功率轉(zhuǎn)換系統(tǒng)的核心器件。在固態(tài)變壓器SST、儲(chǔ)能變流器PCS、Hybrid inverter混合逆變器、戶儲(chǔ)、工商業(yè)儲(chǔ)能PCS、構(gòu)網(wǎng)型儲(chǔ)能PCS、集中式大儲(chǔ)PCS、商用車電驅(qū)動(dòng)、礦卡電驅(qū)動(dòng)、風(fēng)電變流器、數(shù)據(jù)中心HVDC、AIDC儲(chǔ)能、服務(wù)器電源、重卡電驅(qū)動(dòng)、大巴電驅(qū)動(dòng)、中央空調(diào)變頻器、光伏逆變器以及雙向DC-DC轉(zhuǎn)換器等應(yīng)用中,橋式拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)(Bridge Topologies)占據(jù)了主導(dǎo)地位。

在橋式電路的運(yùn)行中,當(dāng)主開關(guān)管關(guān)斷時(shí),負(fù)載中的感性電流必須通過續(xù)流路徑保持連續(xù)。在傳統(tǒng)的硅基(Si)IGBT系統(tǒng)中,這一續(xù)流過程主要依賴于反并聯(lián)的快恢復(fù)二極管(FRD)。然而,對(duì)于SiC MOSFET而言,盡管其內(nèi)部寄生有體二極管(Body Diode),但由于SiC材料的寬帶隙特性,該體二極管的導(dǎo)通壓降(VSD?)顯著高于硅基二極管。如果僅依賴體二極管進(jìn)行續(xù)流,將產(chǎn)生巨大的導(dǎo)通損耗,嚴(yán)重制約系統(tǒng)效率并增加散熱負(fù)擔(dān)。

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為了解決這一問題,利用SiC MOSFET溝道反向?qū)ㄌ匦缘?*同步整流(Synchronous Rectification, SR)**技術(shù)成為了標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)規(guī)范。傾佳電子楊茜探討SiC MOSFET橋式電路在續(xù)流階段如何打開溝道以實(shí)現(xiàn)同步整流,并詳細(xì)論證“上下管互補(bǔ)發(fā)波”(Complementary PWM)這一控制策略的核心地位、物理機(jī)制、硬件實(shí)現(xiàn)及優(yōu)化挑戰(zhàn)。

傾佳電子楊茜結(jié)合基本半導(dǎo)體(BASIC Semiconductor)的SiC MOSFET模塊特性與基本半導(dǎo)體子公司青銅劍技術(shù)(Bronze Technologies)的驅(qū)動(dòng)解決方案,提供一份詳盡的工程技術(shù)分析。

2. 碳化硅 MOSFET 第三象限運(yùn)行物理機(jī)制

要理解如何“打開溝道”,首先必須從半導(dǎo)體物理層面解析SiC MOSFET在第三象限(即源極電位高于漏極電位,電流從源極流向漏極)的運(yùn)行特性。與IGBT不同,MOSFET溝道具有雙向?qū)芰Α?/p>

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2.1 SiC 體二極管的固有特性與損耗挑戰(zhàn)

SiC MOSFET結(jié)構(gòu)中天然存在一個(gè)由P型體區(qū)(P-body)和N型漂移區(qū)(N-drift)構(gòu)成的PN結(jié),即體二極管。當(dāng)MOSFET處于關(guān)斷狀態(tài)(VGS?

然而,SiC材料的禁帶寬度(Eg?)約為3.26 eV,是硅(1.12 eV)的近三倍。PN結(jié)的內(nèi)建電勢(shì)(Built-in Potential, Vbi?)與材料的禁帶寬度呈正相關(guān)。因此,SiC體二極管的開啟電壓(Knee Voltage)通常高達(dá)3.0V至4.0V,遠(yuǎn)高于硅基二極管的0.7V 。

以基本半導(dǎo)體發(fā)布的BMF540R12MZA3(1200V 540A SiC MOSFET模塊)為例,其初步數(shù)據(jù)手冊(cè)顯示,在VGS?=?5V(完全關(guān)斷)條件下,體二極管的源漏正向壓降(VSD?)典型值在25°C時(shí)約為4.9V,在175°C時(shí)約為4.34V 。

損耗計(jì)算對(duì)比:

假設(shè)續(xù)流電流為300A:

體二極管續(xù)流損耗: Pdiode?≈300A×4.9V=1470W。

熱管理困境: 如此巨大的瞬態(tài)功率損耗不僅會(huì)急劇升高結(jié)溫(Tj?),甚至可能導(dǎo)致器件熱失控。因此,在SiC應(yīng)用中,僅僅依賴體二極管續(xù)流是不可接受的工程設(shè)計(jì)。

2.2 溝道反向?qū)ㄔ?/p>

MOSFET的溝道是基于多數(shù)載流子(電子)的傳導(dǎo)機(jī)制。當(dāng)在柵極施加高于閾值電壓(VGS(th)?)的正向電壓時(shí),柵氧化層下方會(huì)形成反型層(Inversion Layer),連通源極和漏極。物理上,這個(gè)導(dǎo)電通道對(duì)電流方向沒有選擇性。

在第三象限運(yùn)行中(ID?<0),如果柵極施加了開啟電壓(例如VGS?=+18V),溝道即被“打開”。此時(shí),電流存在兩條并聯(lián)路徑:高壓降的體二極管路徑和低電阻的溝道路徑。由于溝道的導(dǎo)通電阻(RDS(on)?)極低(BMF540R12MZA3的典型值為2.2 mΩ ),根據(jù)分流原理,絕大多數(shù)電流將流經(jīng)溝道。

同步整流損耗計(jì)算:

同樣在300A電流下,采用同步整流:

溝道壓降: VSD(SR)?=300A×2.2mΩ=0.66V。

溝道損耗: Pchannel?≈300A×0.66V=198W。

效率提升: 相比體二極管續(xù)流,損耗降低了約86.5% 。

結(jié)論: “打開溝道”的物理本質(zhì)是利用柵極電壓控制器件進(jìn)入反向?qū)顟B(tài),利用電阻性壓降替代PN結(jié)壓降。這一過程必須通過主動(dòng)的控制策略來實(shí)現(xiàn),即同步整流。

3. 橋式電路中的互補(bǔ)發(fā)波控制策略

互補(bǔ)PWM(Complementary PWM) 是實(shí)現(xiàn)橋式電路同步整流的標(biāo)準(zhǔn)控制邏輯。本節(jié)將詳細(xì)拆解這一控制策略的邏輯生成與時(shí)序配合。

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3.1 互補(bǔ)PWM的定義與邏輯

在半橋(Half-Bridge)拓?fù)渲?,包含上管(High-Side, QH?)和下管(Low-Side, QL?)。互補(bǔ)PWM指的是控制器的發(fā)波邏輯確保在任意時(shí)刻(忽略死區(qū)),上管和下管的狀態(tài)是邏輯互斥的。

邏輯關(guān)系:

若 SignalHigh?=1(上管開),則 SignalLow?=0(下管關(guān))。

若 SignalHigh?=0(上管關(guān)),則 SignalLow?=1(下管開)。

這種控制方式與傳統(tǒng)的“二極管續(xù)流模式”形成鮮明對(duì)比。在傳統(tǒng)模式中,當(dāng)主開關(guān)管關(guān)斷時(shí),互補(bǔ)管的柵極通常保持低電平,僅依靠二極管被動(dòng)續(xù)流。而在SiC同步整流中,互補(bǔ)管必須被主動(dòng)驅(qū)動(dòng)為高電平。

3.2 續(xù)流階段的時(shí)序解析

為了清晰展示如何“打開溝道”,我們以一個(gè)電感性負(fù)載的降壓(Buck)操作為例,分析一個(gè)完整的開關(guān)周期。假設(shè)電流方向流出橋臂中點(diǎn)(即正向電流)。

階段一:主動(dòng)驅(qū)動(dòng)階段(Active State)

狀態(tài): QH? 導(dǎo)通,QL? 關(guān)斷。

電流路徑: DC+ → QH? 溝道 → 負(fù)載。

柵極電壓: VGS(H)?=+18V, VGS(L)?=?5V。

階段二:死區(qū)時(shí)間 1(Dead Time 1)—— 續(xù)流建立

動(dòng)作: 控制器命令 QH? 關(guān)斷。

邏輯: 為了防止直通(Shoot-through),QL? 不能立即導(dǎo)通。此時(shí)上下管柵極均為低電平。

物理過程: QH? 溝道阻斷。由于負(fù)載電感的續(xù)流特性,橋臂中點(diǎn)電壓(Vsw?)迅速下降,直到被DC-鉗位。此時(shí),QL? 的體二極管被迫正向?qū)ā?/p>

關(guān)鍵點(diǎn): 此階段電流流經(jīng)體二極管,產(chǎn)生高損耗(VSD?≈4.9V)。這一階段必須盡可能短。

階段三:同步整流階段(Synchronous Rectification)—— 溝道打開

動(dòng)作: 死區(qū)時(shí)間結(jié)束,QL? 的互補(bǔ)PWM信號(hào)生效。

柵極電壓: VGS(H)?=?5V, VGS(L)?→+18V。

物理過程: QL? 的柵極電壓上升超過閾值,反型層形成。由于溝道電阻壓降(如0.66V)遠(yuǎn)低于二極管壓降(4.9V),電流從體二極管轉(zhuǎn)移(Commutate) 至溝道內(nèi)部。

用戶問題的答案: 正是在這一時(shí)刻,通過互補(bǔ)的PWM信號(hào),驅(qū)動(dòng)電路主動(dòng)將處于續(xù)流狀態(tài)的下管柵極拉高,打開了溝道,形成了同步整流。

階段四:死區(qū)時(shí)間 2(Dead Time 2)—— 續(xù)流結(jié)束

動(dòng)作: PWM周期結(jié)束,準(zhǔn)備再次導(dǎo)通 QH?。首先必須關(guān)斷 QL?。

物理過程: QL? 柵極拉低,溝道關(guān)閉。電流被迫重新流回 QL? 的體二極管。

關(guān)鍵點(diǎn): 此時(shí)體二極管再次導(dǎo)通,伴隨著反向恢復(fù)電荷的積累。

階段五:主動(dòng)驅(qū)動(dòng)恢復(fù)

動(dòng)作: 死區(qū)結(jié)束,QH? 導(dǎo)通。

物理過程: QH? 開通,強(qiáng)迫 QL? 的體二極管截止并進(jìn)行反向恢復(fù)(Reverse Recovery)。

3.3 互補(bǔ)發(fā)波的硬件實(shí)現(xiàn)方式

根據(jù)基本半導(dǎo)體子公司青銅劍技術(shù)(Bronze Technologies)的產(chǎn)品手冊(cè),現(xiàn)代柵極驅(qū)動(dòng)器提供了硬件層面的互補(bǔ)控制支持:

半橋模式(Half-Bridge Mode):

驅(qū)動(dòng)器芯片(如2QD系列驅(qū)動(dòng)核)接收單路PWM輸入信號(hào)。

內(nèi)部邏輯電路自動(dòng)生成兩路互補(bǔ)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)(HO和LO)。

死區(qū)生成(Dead Time Generation): 驅(qū)動(dòng)器硬件直接插入死區(qū)時(shí)間,確保互補(bǔ)信號(hào)不會(huì)重疊。這從硬件上保證了同步整流邏輯的安全性 。

直接模式(Direct Mode):

驅(qū)動(dòng)器接收兩路獨(dú)立的PWM輸入(H_IN, L_IN)。

互補(bǔ)邏輯和死區(qū)時(shí)間完全由控制器(MCU/DSP)的PWM模塊生成。這種方式靈活性更高,允許實(shí)施如“自適應(yīng)死區(qū)”等高級(jí)策略。

4. 死區(qū)時(shí)間管理:同步整流的關(guān)鍵

在SiC MOSFET應(yīng)用中,雖然互補(bǔ)發(fā)波是基礎(chǔ),但死區(qū)時(shí)間(Dead Time, tdead?) 的設(shè)置直接決定了同步整流的成敗與效率。

4.1 “SiC死區(qū)懲罰”效應(yīng)

在硅IGBT時(shí)代,死區(qū)時(shí)間通常設(shè)置在1μs至2μs,甚至更長(zhǎng)。由于硅FRD的壓降較低(~1.2V),死區(qū)帶來的額外損耗占比有限。

然而,對(duì)于SiC MOSFET:

高壓降懲罰: 體二極管壓降極高(~4-5V)。

高頻懲罰: SiC開關(guān)頻率通常很高(幾十kHz至幾百kHz)。

損耗公式: Pdead?=2×fsw?×tdead?×VSD?×Iload?。

如果沿用IGBT的死區(qū)設(shè)置(如1μs),在50kHz頻率下,死區(qū)占空比可能高達(dá)10%,且這期間的損耗是正常導(dǎo)通損耗的20倍以上。這將導(dǎo)致嚴(yán)重的效率下降和發(fā)熱問題 。

4.2 死區(qū)時(shí)間的優(yōu)化策略

為了最大化同步整流的效果,必須極度壓縮體二極管的導(dǎo)通時(shí)間。

極短死區(qū): SiC驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)通常追求100ns至300ns的死區(qū)時(shí)間。這要求驅(qū)動(dòng)器具有極高的傳輸精度和極低的脈寬失真(Pulse Width Distortion)?;景雽?dǎo)體的BMF540R12MZA3模塊采用低感封裝(Low Inductance Design),正是為了支持這種極速開關(guān)而不產(chǎn)生過大的電壓過沖 。

自適應(yīng)死區(qū)(Adaptive Dead Time): 既然固定死區(qū)難以兼顧所有工況,先進(jìn)的控制方案會(huì)通過檢測(cè)器件的VDS?電壓來動(dòng)態(tài)調(diào)整死區(qū)。

原理: 當(dāng)檢測(cè)到VDS?電壓過零(或變?yōu)樨?fù)值的二極管壓降)時(shí),立即觸發(fā)柵極開通。這意味著溝道是在體二極管導(dǎo)通后的納秒級(jí)時(shí)間內(nèi)被打開的,幾乎消除了二極管導(dǎo)通階段 。

5. 驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)要求與挑戰(zhàn)

要實(shí)現(xiàn)基于互補(bǔ)發(fā)波的SiC同步整流,柵極驅(qū)動(dòng)電路(Gate Driver)必須具備特定的性能特征。青銅劍技術(shù)的驅(qū)動(dòng)方案為此提供了典型的工程參考。

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5.1 負(fù)壓關(guān)斷的必要性

在同步整流的互補(bǔ)開關(guān)過程中,會(huì)遇到嚴(yán)重的**米勒效應(yīng)(Miller Effect)**挑戰(zhàn)。

場(chǎng)景: 當(dāng)下管處于同步整流導(dǎo)通狀態(tài),隨后關(guān)斷(進(jìn)入死區(qū)2),緊接著上管快速開通。

風(fēng)險(xiǎn): 上管開通瞬間,橋臂中點(diǎn)電壓以極高的dv/dt(SiC可達(dá)50-100V/ns)上升。該電壓通過下管的米勒電容(Cgd?)向柵極注入電流,可能導(dǎo)致下管柵極電壓誤抬升至閾值(VGS(th)?)以上,引發(fā)“直通”短路。

解決方案: 必須采用負(fù)壓關(guān)斷(如-4V或-5V)?;景雽?dǎo)體推薦的關(guān)斷電壓為**-5V** 。負(fù)壓為柵極提供了更大的噪聲容限,防止誤導(dǎo)通。

5.2 有源米勒鉗位(Active Miller Clamp, AMC)

僅靠負(fù)壓電阻關(guān)斷在SiC的高dv/dt下往往不夠。青銅劍技術(shù)的驅(qū)動(dòng)器(如2QP系列)集成了有源米勒鉗位功能 。

機(jī)制: 在關(guān)斷階段,當(dāng)檢測(cè)到柵極電壓低于某一閾值(如2V)時(shí),驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部的一個(gè)低阻抗MOSFET會(huì)直接將柵極短接到負(fù)電源軌(VEE?)。

作用: 這提供了一個(gè)極低阻抗的旁路,將米勒電流直接泄放,確保在互補(bǔ)管動(dòng)作時(shí),被關(guān)斷管的柵極電壓被死死“鉗”在負(fù)電位,保障同步整流切換過程的安全性 。

5.3 驅(qū)動(dòng)電壓的匹配

同步整流的效果取決于溝道電阻RDS(on)?的大小,而RDS(on)?與柵極電壓VGS?密切相關(guān)。

特性: SiC MOSFET的跨導(dǎo)特性使得其RDS(on)?在VGS?較低時(shí)(如10V)仍然較高。為了獲得數(shù)據(jù)手冊(cè)標(biāo)稱的低導(dǎo)通電阻(如2.2mΩ),必須施加推薦的驅(qū)動(dòng)電壓。

標(biāo)準(zhǔn): 基本半導(dǎo)體模塊推薦的導(dǎo)通電壓為**+18V** 。驅(qū)動(dòng)電源必須精確提供這一電壓,過低會(huì)導(dǎo)致同步整流效率大打折扣,過高則威脅柵氧層可靠性。

6. 案例分析:基本半導(dǎo)體與子公司青銅劍技術(shù)的方案結(jié)合

為了更具體地說明這一過程,我們結(jié)合具體的商業(yè)產(chǎn)品進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)分析。

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組件:

功率模塊: 基本半導(dǎo)體 Pcore?2 ED3 系列 BMF540R12MZA3 (1200V, 540A, 半橋)。

驅(qū)動(dòng)器: 青銅劍技術(shù) 2QP0225Txx 即插即用驅(qū)動(dòng)器。

工作流程還原:

配置: 2QP0225Txx 驅(qū)動(dòng)器配置為“半橋模式”??刂破鬏敵鲆宦奉l率為50kHz的PWM信號(hào)(占空比50%)。

死區(qū)生成: 驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部ASIC根據(jù)預(yù)設(shè)電阻生成200ns的死區(qū)時(shí)間。

互補(bǔ)發(fā)波:

t0?: 輸入PWM變低。驅(qū)動(dòng)器立即拉低上管柵極至-4V(啟動(dòng)AMC功能)。

t0?→t0?+200ns: 死區(qū)時(shí)間。電感電流流經(jīng)下管BMF540R12MZA3的體二極管。壓降約4.9V。

t0?+200ns: 驅(qū)動(dòng)器自動(dòng)拉高下管柵極至+18V。

同步整流執(zhí)行:

下管VGS?達(dá)到18V。溝道完全反型。

電流從體二極管轉(zhuǎn)移至溝道。

壓降從4.9V驟降至 540A×2.2mΩ≈1.19V。

熱效益: 瞬時(shí)熱功率從2646W降低至642W,降低了75% 。

退出過程:

tend?: 輸入PWM變高。

驅(qū)動(dòng)器先拉低下管柵極至-4V。

電流短暫切回體二極管。

經(jīng)過200ns死區(qū)后,上管開通。

此案例清晰展示了互補(bǔ)發(fā)波和精密驅(qū)動(dòng)控制是實(shí)現(xiàn)SiC高性能同步整流的必要條件。

7. 綜合數(shù)據(jù)對(duì)比分析

下表總結(jié)了在SiC橋式電路中,不同控制策略對(duì)器件性能的影響對(duì)比。

參數(shù)指標(biāo) 二極管被動(dòng)續(xù)流 (Passive Rectification) 互補(bǔ)發(fā)波同步整流 (Synchronous Rectification) 備注
控制邏輯 主管PWM,續(xù)流管柵極恒為低電平 上下管互補(bǔ)PWM,帶死區(qū) 互補(bǔ)波是SR的前提
導(dǎo)通器件 體二極管 (Body Diode) MOSFET 溝道 (Channel)
導(dǎo)通壓降 (Vdrop?) ~3.0V?5.0V (固定 + 電阻性) ID?×RDS(on)? (線性,極低) RDS(on)?=2.2mΩ
溫度系數(shù) 負(fù)溫度系數(shù) (NTC) 或弱正 強(qiáng)正溫度系數(shù) (PTC) SR便于并聯(lián)均流
主要損耗來源 巨大的導(dǎo)通損耗 (VF?×I) 極小的電阻損耗 (I2R) + 門極驅(qū)動(dòng)損耗 SR需額外驅(qū)動(dòng)功率
死區(qū)時(shí)間敏感度 不敏感 極度敏感 需微秒級(jí)或納秒級(jí)控制
風(fēng)險(xiǎn) 熱失控,器件過熱 橋臂直通 (Shoot-through) 需AMC保護(hù)



審核編輯 黃宇

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    的頭像 發(fā)表于 01-17 14:13 ?1536次閱讀
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    的頭像 發(fā)表于 01-06 06:39 ?1498次閱讀
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    的頭像 發(fā)表于 12-14 07:32 ?1487次閱讀
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