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用NE555制作數(shù)字邏輯測(cè)試筆,NE555 Logic Tester

454398 ? 2018-09-20 19:19 ? 次閱讀
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用NE555制作數(shù)字邏輯測(cè)試筆,NE555 Logic Tester

關(guān)鍵字:NE555,邏輯測(cè)試電路

作者:王曉鵬
本電路利用了555電路的觸發(fā)端2腳和閥值端6腳的置位和復(fù)位特性,組成對(duì)數(shù)字邏輯狀態(tài)是否正常進(jìn)行檢測(cè)的測(cè)試筆。假如當(dāng)探頭IN輸入為低電平“0”時(shí),LED2點(diǎn)亮,當(dāng)輸入高電平“1”時(shí),LED1亮。R1、C2和R2、C3網(wǎng)絡(luò)為加速網(wǎng)絡(luò)。該邏輯筆適用于TTL、CMOS等數(shù)字電路的測(cè)試。測(cè)量時(shí)應(yīng)使本電路與被測(cè)電路共地。
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    發(fā)表于 11-12 07:13

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    發(fā)表于 11-12 06:55

    使用NE555芯片做MOS管延時(shí)的控制芯片,帶載啟動(dòng)的時(shí)候,定時(shí)器工作在打嗝狀態(tài),MOS管不能正常打開(kāi),怎么解決?

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    發(fā)表于 11-08 15:27

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    發(fā)表于 10-21 06:08