短路失效網(wǎng)上已經(jīng)有很多很詳細(xì)的解釋和分類了，但就具體工作中而言，我經(jīng)常遇到的失效情況主要還是發(fā)生在脈沖階段和關(guān)斷階段以及關(guān)斷完畢之后的，失效的模式主要為熱失效和動(dòng)態(tài)雪崩失效以及電場尖峰過高失效(電流分布不均勻)。理論上還有其他的一些失效情況，但我工作中基本不怎么遇到了。
2025-08-21 11:08:54
4041 
失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:054614 
以IGBT、MOSFET為主的電力電子器件通常具有十分廣泛的應(yīng)用，但廣泛的應(yīng)用場景也意味著可能會出現(xiàn)各種各樣令人頭疼的失效情況，進(jìn)而導(dǎo)致機(jī)械設(shè)備發(fā)生故障！
2023-11-24 17:31:566133 
IGBT（絕緣柵雙極晶體管）漏電流增加的原因有多種，以下是對這些原因的分析： 正向電壓的增加 ：當(dāng)IGBT的控制極壓加上一定的電壓時(shí)，例如正向電壓，漏結(jié)區(qū)就會被壓縮。這時(shí)候漏極和源極之間就會產(chǎn)生一個(gè)
2023-12-13 16:01:596980 眾所周知，IGBT失效是IGBT應(yīng)用中的難題。大功率IGBT作為系統(tǒng)中主電路部分的開關(guān)器件，失效后將直接導(dǎo)致系統(tǒng)癱瘓。宇宙射線作為一個(gè)無法預(yù)知的因素，可能就是導(dǎo)致IGBT發(fā)生意外故障的關(guān)鍵。
2023-12-27 09:39:344675 
和發(fā)射極的過壓/過流和柵極的過壓/過流引起?！ ?b class="flag-6" style="color: red">IGBT失效機(jī)理：IGBT由于上述原因發(fā)生短路，將產(chǎn)生很大的瞬態(tài)電流——在關(guān)斷時(shí)電流變化率di/dt過大。漏感及引線電感的存在，將導(dǎo)致IGBT集電極
2020-09-29 17:08:58
IGBT傳統(tǒng)防失效機(jī)理是什么IGBT失效防護(hù)電路
2021-03-29 07:17:06
在高壓600V，額定電流10A的壓縮機(jī)電機(jī)控制中，IGBT經(jīng)常燒壞，主要有哪些原因導(dǎo)致它損壞。
2024-02-22 17:58:38
IGBT的失效機(jī)理 半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進(jìn)行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之一是超出安全工作區(qū)（Safe Operating Area簡稱SOA
2017-03-16 21:43:31
MOSFET失效原因全分析
2019-03-04 23:17:28
PCB失效原因與案例分析
2013-08-16 16:11:43
PID調(diào)節(jié)輸出到半途失效，輸出突然變無窮大，是什么原因？
2019-03-21 10:52:40
短路的原因是過高的電壓使電解質(zhì)破裂，或者過高的電流密度是芯片中產(chǎn)生電流通路。 靜電釋放稍微低一些的電壓/電流會導(dǎo)致LED芯片的軟失效。軟失效通常伴隨著芯片反向漏電流的減小，這可能是由于高反向電流使
2018-02-05 11:51:41
科技名詞定義中文名稱：失效分析 英文名稱：failure analysis 其他名稱：損壞分析 定義：對運(yùn)行中喪失原有功能的金屬構(gòu)件或設(shè)備進(jìn)行損壞原因分析研究的技術(shù)。 所屬學(xué)科：簡介 失效分析
2011-11-29 16:39:42
器件無故失效的原因
2024-06-04 07:13:12
有沒有智能電表方面的高手?。课蚁胝埥滔拢悄茈姳碇械碾娮釉骷话銜霈F(xiàn)一些什么樣的失效現(xiàn)象？失效原因一般是什么？非常感謝。
2013-03-08 10:11:21
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 10:08 編輯
IGBT失效分析大概有下面幾個(gè)方面：1、IGBT過壓失效，Vge和Vce、二極管反向電壓失效等。2、IGBT過流，一定程度
2012-12-19 20:00:59
`以IGBT、MOSFET為主的電力電子器件通常具有十分廣泛的應(yīng)用，但廣泛的應(yīng)用場景也意味著可能會出現(xiàn)各種各樣令人頭疼的失效情況，進(jìn)而導(dǎo)致機(jī)械設(shè)備發(fā)生故障！因此，正確分析電力電子器件的失效情況，對于
2019-10-11 09:50:49
﹐通過分析確定失效機(jī)理﹐找出失效原因﹐反饋給元器件的設(shè)計(jì)﹑制造和使用者﹐共同研究實(shí)施糾正措施﹐提高電子元器件的可靠性。[size=17.1429px]電子元器件失效的目的是借助各種測試分析技朮和分析程序
2019-07-16 02:03:44
或漏電流上升等；部分功能失效――漏液；部分功能失效――引線腐蝕或斷裂；致命失效――絕緣子破裂；致命失效――絕緣子表面飛??；部分功能失效引起電容器失效的原因是多種多樣的。各類電容器的材料、結(jié)構(gòu)、制造工藝
2011-12-03 21:29:22
電感失效的原因是什么？怎么查看電感好壞？
2021-05-10 06:46:01
(1)電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)失效模式分類根據(jù)失效原因、性質(zhì)、機(jī)理、程度、產(chǎn)生的速度、發(fā)生的時(shí)間以及失效產(chǎn)生的后果，可將失效進(jìn)行不同的分類。電動(dòng)觀光車常見的失效模式可以分為：損壞型、退化型、松脫型、失調(diào)型、阻漏
2018-10-31 10:59:20
氣動(dòng)換向閥是氣壓傳動(dòng)系統(tǒng)中重要的控制元件。分析氣動(dòng)換向閥失效的原因，是為了防止因換向閥失效引起系統(tǒng)工作失常。文章從換向不靈活、泄漏、操縱力不足、電磁線圈燒壞4 個(gè)
2009-06-17 16:05:45
35 通過系統(tǒng)分析發(fā)動(dòng)機(jī)機(jī)油早期失效的原因,闡述在選擇機(jī)油、使用和維護(hù)發(fā)動(dòng)機(jī)、適時(shí)更換機(jī)油等方面的正確方法和措施。關(guān)鍵詞:發(fā)動(dòng)機(jī)機(jī)油 早期失效 原因分析 預(yù)防措施A
2009-07-25 09:19:4512 摘要：針對冷床傳輸鏈逆變器IGBT 頻繁損壞的現(xiàn)象，通過對逆變器輸出線路、負(fù)荷、逆變器容量、電機(jī)勵(lì)磁電流、IGBT 的發(fā)熱等進(jìn)行分析，得出IGBT 損壞的原因是勵(lì)磁電流過大而造
2010-06-28 15:32:51169 服務(wù)范圍MOSFET、IGBT、DIODE、BJT，第三代半導(dǎo)體器件等分立器件，以及上述元件構(gòu)成的功率模塊檢測標(biāo)準(zhǔn)l GJB548B-2005微電子器件試驗(yàn)?法和程序l
2024-01-29 22:40:29
的失效分析設(shè)備，專注功率器件失效根因分析，可為客戶提供完整的失效根因分析服務(wù)。服務(wù)范圍MOSFET、IGBT、DIODE、BJT，第三代半導(dǎo)體器件等分立器件，以及上述
2024-03-13 16:26:07
鈦液泵軸封的失效原因及改進(jìn)設(shè)計(jì)
論文摘要：在對鈦液泵原有軸封的失效原因進(jìn)行分析和實(shí)驗(yàn)研究的基礎(chǔ)上，篩選出適合的摩擦副材料，并提出了
2009-05-16 00:09:431039 
鈦液泵軸封的失效原因及改進(jìn)設(shè)計(jì)
論文摘要：在對鈦液泵原有軸封的失效原因進(jìn)行分析和實(shí)驗(yàn)研究的基礎(chǔ)上，篩選出適合的摩擦副材料，并提出了
2009-05-16 00:11:111511 
電容失效原因分析
電容失效在原因很多很多時(shí)候并不是電容的質(zhì)量不好而是有很多因素造成以下是一人之言請各位指正并探討：
1 失效主要
2010-01-14 10:34:036616 從安全工作區(qū)探討IGBT的失效機(jī)理
1、? 引言
半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進(jìn)行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之
2010-02-22 09:32:423714 
IGBT及其子器件的幾種失效模式
2010-02-22 10:50:021146 
了解汽車氧傳感器工作原理以及汽車氧傳感器的失效原因，對于整體把握汽車控制系統(tǒng)有很大的幫助。本文介紹汽車氧傳感器工作原理及其失效原因。
2012-02-02 14:30:3925039 
判斷失效的模式, 查找失效原因和機(jī)理, 提出預(yù)防再失效的對策的技術(shù)活動(dòng)和管理活動(dòng)稱為失效分析。
2012-03-15 14:21:36121 高壓IGBT關(guān)斷狀態(tài)失效的機(jī)理研究，IGBT原理，PT,NPT,Planar IGBT, Trench IGBT
2016-05-16 18:04:330 ，因此，IGBT也是靜電極敏感型器件，其子器件還應(yīng)包括靜電放電（SED）防護(hù)器件。據(jù)報(bào)道，失效的半導(dǎo)體器件中，由靜電放電及相關(guān)原因引起的失效，占很大的比例。
2018-06-20 14:51:0019664 
電流Tsc 1、 引言 半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進(jìn)行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之一是超出安全工作區(qū)（Safe Operating Area簡稱SOA）使用引起的。因此全面了解SOA，并在使用中將IGBT的最大直流電流IC和集電極發(fā)射極電壓
2017-12-03 19:17:493515 貼片電感失效原因主要表現(xiàn)在五個(gè)方面，分別是耐焊性、可焊性、焊接不良、上機(jī)開路、磁路破損等導(dǎo)致的失效，下面金籟科技小編將就這五點(diǎn)做出解釋。 在此之前，我們先了解一下電感失效模式，以及貼片電感失效的機(jī)理
2018-04-10 17:12:319722 
本視頻主要詳細(xì)介紹了三元催化器失效的原因，分別是溫度過高、慢性中毒、表面積碳、排氣惡化、區(qū)別使用、氧傳失效。
2019-02-23 10:44:427437 1：雪崩失效(電壓失效)，也就是我們常說的漏源間的BVdss電壓超越MOSFET的額定電壓，并且超越到達(dá)了一定的才能從而招致MOSFET失效。 2：SOA失效(電流失效)，既超出MOSFET平安工作
2023-03-20 16:15:37794 瞬態(tài)過電流IGBT在運(yùn)行過程中所承受的大幅值過電流除短路、直通等故障外，還有續(xù)流二極管的反向恢復(fù)電流、緩沖電容器的放電電流及噪聲干擾造成的尖峰電流。這種瞬態(tài)過電流雖然持續(xù)時(shí)間較短，但如果不采取措施，將增加IGBT的負(fù)擔(dān)，也可能會導(dǎo)致IGBT失效 。
2019-09-02 09:46:349166 一種絕緣柵雙極晶體管模塊在做反向偏置安全工作區(qū)測試時(shí)，器件在較低的關(guān)斷電流下就發(fā)生了損壞。失效分析顯示失效區(qū)的位置靠近柵極條區(qū)。模擬顯示失效區(qū)處元胞結(jié)構(gòu)并非對稱，而正常元胞結(jié)構(gòu)是對稱的，由此造成了
2020-01-14 16:16:2219 都會遇上同樣一個(gè)問題，就是在使用中出現(xiàn)失效問題，CBB電容失效有些什么原因呢，如何解決失效原因呢。照成CBB電容失效分析有以下幾個(gè)原因
2020-03-01 16:21:008651 對連接器進(jìn)行使用的時(shí)候，可能會出現(xiàn)絕緣失效的問題，這對于今后的使用來說都會有著極大的影響，在整個(gè)應(yīng)用的過程中，如果能夠積極地考慮其中失效的具體原因。
2020-05-09 15:00:132266 密碼指紋鎖失效怎么辦？指紋密碼鎖失效是什么原因造成的？在部分用戶使用指紋鎖的時(shí)候，會有小概率發(fā)生指紋失效的情況。如果山寨低質(zhì)量的指紋鎖，失效的概率將大大增加。碰到這種情況該怎么辦呢？指紋鎖失效需要先找到原因，然后再去逐一解決，這里智能鎖中國網(wǎng)小編整理了部分失效原因和解決方案。
2020-06-12 14:30:33111297 你是否長時(shí)間糾纏于線路板的失效分析？你是否花費(fèi)大量精力在樣板調(diào)試過程中？你是否懷疑過自己的原本正確的設(shè)計(jì)？也許許多硬件工程師都有過類似的心理對話。有數(shù)據(jù)顯示，78%的硬件失效原因是由于不良的焊接和錯(cuò)誤的物料貼片造成的。
2020-10-17 11:00:232905 射頻同軸電纜組具有損耗小、輻射小和電磁兼容性好的特點(diǎn)，可在較高頻率范圍內(nèi)工作。并且在整機(jī)設(shè)備中較易布線，具有較高的實(shí)用性和維修性。射頻同軸電纜在應(yīng)用過程中出現(xiàn)失效，原因是什么呢？下面同軸電纜廠為大家
2021-02-25 14:26:403525 烙鐵頭失效的原因歸根結(jié)底就是烙鐵頭不上錫，不能進(jìn)行焊接操作，導(dǎo)致烙鐵頭失效的原因有如下幾點(diǎn)。
2021-03-15 10:10:108325 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供IGBT失效防護(hù)機(jī)理及電路資料下載的電子資料下載，更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-04-01 08:50:2223 氣動(dòng)隔膜調(diào)節(jié)閥密封失效是一個(gè)令人頭疼的問題，那么氣動(dòng)隔膜調(diào)節(jié)閥密封失效的原因是什么呢？
2021-05-14 09:50:241834 過程中也會遇到PCBA焊點(diǎn)失效問題，需要進(jìn)行分析找出原因，以免再次出現(xiàn)焊點(diǎn)失效情況。 PCBA加工焊點(diǎn)失效的主要原因： 1、元器件引腳不良：鍍層、污染、氧化、共面。 2、PCB焊盤不良：鍍層、污染、氧化、翹曲。 3、焊料質(zhì)量缺陷：組成、雜
2021-06-24 17:01:211324 失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)，在提高產(chǎn)品質(zhì)量、技術(shù)開發(fā)、改進(jìn)
2021-08-26 17:15:593158 開關(guān)電源中功率器件的失效原因分析及解決方案(通信電源技術(shù)基礎(chǔ)知識)-開關(guān)電源中功率器件的失效原因分析及解決方案? ? 開關(guān)電源各重要器件的失效分析
2021-09-16 10:23:3594 在電磁爐中，IGBT是一個(gè)損壞占有率很大的元器件，在沒有查明故障原因的時(shí)候就試機(jī)，會引起IGBT再次損壞。
2022-04-11 14:42:4910293 接上一篇討論了IGBT應(yīng)用的環(huán)境，在什么條件下算是高濕？而高濕環(huán)境又是如何影響IGBT的可靠性的。本篇內(nèi)容我們接著討論，從用戶端的角度，如何預(yù)防IGBT模塊因?yàn)楦邼?b class="flag-6" style="color: red">失效？
2022-07-10 11:55:273624 PCB在實(shí)際可靠性問題失效分析中，同一種失效模式，其失效機(jī)理可能是復(fù)雜多樣的，因此就如同查案一樣，需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段，方能找到真正的失效原因。避免造成“冤假錯(cuò)案”發(fā)生。
2022-07-19 09:27:483333 PCB失效的機(jī)理，必須遵守基本的原則及分析流程。一般的基本流程是，首先必須基于失效現(xiàn)象，通過信息收集、功能測試、電性能測試以及簡單的外觀檢查，確定失效部位與失效模式，即失效定位或故障定位。
2022-11-09 14:35:481576 MLCC由陶瓷介質(zhì)、端電極、金屬電極三種材料構(gòu)成。由于陶瓷的特性一般比較脆，所以會因?yàn)閼?yīng)力或溫度導(dǎo)致破裂或與金屬電極錯(cuò)位是MLCC失效的主要原因。陶瓷電容也同樣會應(yīng)為電應(yīng)力過大導(dǎo)致失效。MLCC
2022-11-28 15:40:578527 IGBT功率模塊是以絕緣柵雙極型晶體管（IGBT）構(gòu)成的功率模塊。由于IGBT模塊為MOSFET結(jié)構(gòu)，IGBT的柵極通過一層氧化膜與發(fā)射極實(shí)現(xiàn)電隔離，具有出色的器件性能。廣泛應(yīng)用于伺服電機(jī)、變頻器、變頻家電等領(lǐng)域。
2023-01-13 10:14:583119 超出關(guān)斷安全工作區(qū)引起擎住效應(yīng)而損壞擎住效應(yīng)分靜態(tài)擎住效應(yīng)和動(dòng)態(tài)擎住效應(yīng)。IGBT為PNPN4層結(jié)構(gòu)。體內(nèi)存在一個(gè)寄生晶閘管，在NPN晶體管的基極與發(fā)射極之間并有一個(gè)體區(qū)擴(kuò)展電阻Rs,P型體內(nèi)的橫向空穴電流在Rs上會產(chǎn)生一定的電壓降
2023-01-13 10:16:262650 今天梳理一下IGBT現(xiàn)象級的失效形式。 失效模式根據(jù)失效的部位不同，可將IGBT失效分為芯片失效和封裝失效兩類。引發(fā)IGBT芯片失效的原因有很多，如電源或負(fù)載波動(dòng)、驅(qū)動(dòng)或控制電路故障、散熱裝置故障
2023-02-22 15:05:4327 IGBT米勒平臺產(chǎn)生原因 我們在使用IGBT的時(shí)候，可以從手冊中得到IGBT柵極的充電特性，但是柵極的充電特性在中間一部分會出現(xiàn)一個(gè)平臺電壓，影響著IGBT的動(dòng)態(tài)性能，這是為什么呢？ IGBT
2023-02-22 14:27:3011 實(shí)際應(yīng)用中，IGBT常見的兩種失效機(jī)理：
突發(fā)失效：即自發(fā)的，不可預(yù)知的失效
漸變失效：可預(yù)測的失效，隨著時(shí)間推移慢慢產(chǎn)生，制造商起著決定性的作用
1、突發(fā)失效：應(yīng)用工程師的主要任務(wù)是通過
2023-02-24 15:08:583 失效率是可靠性最重要的評價(jià)標(biāo)準(zhǔn)，所以研究IGBT的失效模式和機(jī)理對提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:044179 
IGBT模塊主要由若干混聯(lián)的IGBT芯片構(gòu)成，個(gè)芯片之間通過鋁導(dǎo)線實(shí)現(xiàn)電氣連接。標(biāo)準(zhǔn)的IGBT封裝中，單個(gè)IGBT還會并有續(xù)流二極管，接著在芯片上方灌以大量的硅凝膠，用塑料殼封裝，IGBT單元堆疊結(jié)構(gòu)如圖1-1所示。
2023-05-30 08:59:521475 
IGBT模塊主要由若干混聯(lián)的IGBT芯片構(gòu)成，個(gè)芯片之間通過鋁導(dǎo)線實(shí)現(xiàn)電氣連接。標(biāo)準(zhǔn)的IGBT封裝中，單個(gè)IGBT還會并有續(xù)流二極管，接著在芯片上方灌以大量的硅凝膠，用塑料殼封裝。
2023-06-02 09:09:291417 
一站式PCBA智造廠家今天為大家講講PCBA加工焊點(diǎn)失效是什么原因?PCBA加工焊點(diǎn)失效的解決方法。焊點(diǎn)質(zhì)量是PCBA加工中最重要的一環(huán)。焊點(diǎn)質(zhì)量的可靠性決定了PCBA產(chǎn)品的可靠性和使用壽命
2023-06-25 09:27:491597 鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場儲存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而
2023-08-25 14:27:564811 芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過程中，芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個(gè)問題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:116432 電子元器件失效的四個(gè)原因? 電子元器件在電子產(chǎn)品中扮演著至關(guān)重要的角色，它們的失效會給電子產(chǎn)品的性能、可靠性和安全性帶來不良影響。電子元器件失效的原因有很多，其中比較常見的有以下四個(gè)原因。 一、電子
2023-08-29 16:35:164125 滾動(dòng)軸承的可靠性與滾動(dòng)軸承的失效形式有著密切的關(guān)系，要提高軸承的可靠性，就必須從軸承的失效形式著手，仔細(xì)分析滾動(dòng)軸承的失效原因，才能找出解決失效的具體措施。今天我們通過PPT來了解一下軸承失效。
2023-09-15 11:28:511250 
IGBT器件柵極電壓波形振蕩的原因？
2023-09-16 08:32:135359 
光耦失效的幾種常見原因及分析? 光耦是一種光電耦合器件，由發(fā)光二極管和光探測器組成。它能夠?qū)㈦娏餍盘栟D(zhuǎn)換為光信號，或者將光信號轉(zhuǎn)換為電流信號。但是，由于各種原因，光耦可能會出現(xiàn)失效的情況。本文將
2023-11-20 15:13:446722 壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導(dǎo)致兩種IGBT器件的失效形式和失效機(jī)理的不同，如表1所示。本文針對兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機(jī)理進(jìn)行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎(chǔ)，尤其是封裝
2023-11-23 08:10:077556 
射頻同軸線纜失效的3大原因? 射頻同軸線纜是一種用于傳輸高頻信號的電纜，常用于電視、無線通信、雷達(dá)等領(lǐng)域。然而，射頻同軸線纜也會存在失效的可能性。下面將詳細(xì)討論射頻同軸線纜失效的三個(gè)主要原因：老化
2023-11-28 15:15:142194 同軸連接器失效的3大原因 同軸連接器是一種用于連接兩個(gè)同軸電纜的重要組件。它在無線通信、廣播電視、計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)等領(lǐng)域發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。然而，由于各種原因，同軸連接器可能會出現(xiàn)失效的情況。本文將詳細(xì)
2023-11-28 15:45:102877 電子元器件失效原因都有哪些？ 電子元器件失效是指在正常使用過程中，元器件不能達(dá)到預(yù)期的功能和性能或者無法正常工作的情況。電子元器件失效原因很多，可以分為內(nèi)部和外部兩個(gè)方面。下面將詳細(xì)介紹電子元器件
2023-12-07 13:37:463698 鋰電池失效原因及解決方法? 鋰電池是一種常見的充電電池類型，具有高能量密度、長壽命和輕量化的優(yōu)點(diǎn)。然而，隨著使用時(shí)間的增長，鋰電池可能會出現(xiàn)失效的情況。鋰電池失效的原因很多，包括化學(xué)物質(zhì)的析出、內(nèi)部
2023-12-08 15:47:144496 常見的齒輪失效有哪些形式？失效的原因是什么？可采用哪些措施來減緩失效的發(fā)生？ 齒輪是機(jī)械傳動(dòng)中常用的一種傳動(dòng)方式，它能夠?qū)?dòng)力從一個(gè)軸傳遞到另一個(gè)軸上。然而，在長時(shí)間使用過程中，齒輪也會出現(xiàn)各種失效
2023-12-20 11:37:157942 CNLINKO凌科電氣連接器知識分享接觸失效是電連接器的主要失效模式，那么哪些原因會導(dǎo)致接觸失效呢？又該如何防止或減緩接觸失效呢？一文告訴你。接觸失效的原因是什么？LP系列連接器01導(dǎo)通性變差工業(yè)級
2023-12-23 08:13:331631 
晶振失效三大原因及解決辦法 晶振失效是指晶體振蕩器無法正常工作，造成電子設(shè)備不能正常運(yùn)行的情況。晶振在電子設(shè)備中起到非常關(guān)鍵的作用，它是產(chǎn)生時(shí)鐘信號的核心元件。晶振失效會導(dǎo)致設(shè)備的計(jì)時(shí)不準(zhǔn)確甚至
2024-01-24 15:40:203687 IGBT（絕緣柵雙極型晶體管）擊穿短路的原因是一個(gè)復(fù)雜且多元的問題，涉及多個(gè)因素相互作用。以下是對IGBT擊穿短路原因的詳細(xì)分析，旨在達(dá)到1000字的要求。
2024-02-06 11:26:5310874 IGBT上下橋的應(yīng)用中，短路可能會導(dǎo)致設(shè)備損壞、系統(tǒng)失效甚至火災(zāi)等嚴(yán)重后果。 IGBT上下橋短路的原因可以分為以下幾種： 1. 設(shè)計(jì)缺陷：不合理的設(shè)計(jì)和材料使用可能導(dǎo)致IGBT的內(nèi)部結(jié)構(gòu)出現(xiàn)問題，進(jìn)而引發(fā)短路。例如，設(shè)計(jì)中未考慮到足夠的絕緣層厚度
2024-02-18 10:08:386021 熱敏電阻失效的原因包括環(huán)境溫度過高或過低、工作電流過大或過小、材料老化以及機(jī)械損傷等。了解這些原因并采取相應(yīng)措施，可避免熱敏電阻失效，提高電子設(shè)備的穩(wěn)定性和可靠性。選用品質(zhì)好的熱敏電阻同樣重要。
2024-04-08 09:59:131921 
熱敏電阻失效的原因包括環(huán)境溫度過高或過低、工作電流過大或過小、材料老化以及機(jī)械損傷等。了解這些原因并采取相應(yīng)措施，可避免熱敏電阻失效，提高電子設(shè)備的穩(wěn)定性和可靠性。選用品質(zhì)好的熱敏電阻同樣重要。
2024-04-08 09:58:322160 
功率循環(huán)加速老化試驗(yàn)中，IGBT 器件失效模式 主要為鍵合線失效或焊料老化，失效模式可能存在 多個(gè)影響因素，如封裝材料、器件結(jié)構(gòu)以及試驗(yàn)條 件等。
2024-04-18 11:21:062398 
IGBT功率模塊結(jié)構(gòu)簡圖： IGBT的失效形式及其機(jī)理主要包含以下兩種： 芯片頂部鋁鍵合線的開裂和翹起。 這種現(xiàn)象是由于電流在導(dǎo)線中流動(dòng)產(chǎn)生熱量，進(jìn)而引發(fā)熱沖擊效應(yīng)。這種熱沖擊會導(dǎo)致熱機(jī)械應(yīng)變的產(chǎn)生
2024-07-31 17:11:411499 
和可靠性。 IGBT老化的原因及影響 IGBT老化是指器件在長時(shí)間工作過程中，由于熱應(yīng)力、電應(yīng)力、化學(xué)應(yīng)力等因素的影響，導(dǎo)致器件性能逐漸下降，甚至失效的過程。IGBT老化的原因主要包括以下幾個(gè)方面： 1.1 熱老化 IGBT在工作過程中會產(chǎn)生大量
2024-08-07 18:18:432361 谷景揭秘磁環(huán)插件電感失效的原因 編輯：谷景電子 磁環(huán)插件電感是最近電子產(chǎn)品領(lǐng)域熱度非常高的一種電感元件，它的應(yīng)用可謂是特別普遍的。但在磁環(huán)插件電感的應(yīng)用中，有時(shí)候會出現(xiàn)失效的情況！你知道都可
2024-08-27 22:46:56871 國巨陶瓷電容失效的原因可能涉及多個(gè)方面，這些原因可以歸結(jié)為內(nèi)部因素和外部因素兩大類。以下是對這些原因的詳細(xì)分析： 一、內(nèi)部因素 1、內(nèi)電場效應(yīng)： 陶瓷電容器內(nèi)部存在電場分布，當(dāng)電壓施加在電容器上
2024-11-18 14:52:301189 
失效原因提供了關(guān)鍵線索。 ? 窺探芯片電學(xué)特性的窗口 IV 測試，簡單來說，就是通過對芯片施加不同的電壓，并測量相應(yīng)的電流變化，從而繪制出芯片的電流-電壓特性曲線。這條曲線就像是芯片電學(xué)特性的 “指紋”，蘊(yùn)含著豐富的信息
2024-11-21 17:13:212543 
對于IGBT來說，無法簡單直觀地判斷實(shí)時(shí)的損耗程度，因此需要提前預(yù)測使用壽命，了解失效原因并加以預(yù)防。
2024-12-23 10:57:152104 
端子失效的常見原因及解決辦法 在現(xiàn)代電子設(shè)備和電路系統(tǒng)中，端子作為連接各個(gè)組件的關(guān)鍵部分，其穩(wěn)定性和可靠性至關(guān)重要。然而，端子失效的情況時(shí)有發(fā)生，這不僅影響設(shè)備的正常運(yùn)行，還可能導(dǎo)致安全隱患。 端子
2024-12-29 10:47:262582 部分IGBT模塊廠商失效報(bào)告作假的根本原因及其對中國功率模塊市場的深遠(yuǎn)影響，可以從技術(shù)、商業(yè)、行業(yè)競爭等多維度分析，并結(jié)合中國功率模塊市場的動(dòng)態(tài)變化進(jìn)行綜合評估： 一、失效報(bào)告作假的根本原因 技術(shù)
2025-05-23 08:37:56805 
變頻器中IGBT（絕緣柵雙極型晶體管）爆炸是電力電子設(shè)備中較為嚴(yán)重的故障之一，其成因復(fù)雜且危害性大。以下從設(shè)計(jì)、應(yīng)用、環(huán)境及維護(hù)等多維度分析可能導(dǎo)致IGBT爆炸的原因，并結(jié)合實(shí)際案例提出預(yù)防措施
2025-06-09 09:32:582367 芯片失效和封裝失效的原因，并分析其背后的物理機(jī)制。金鑒實(shí)驗(yàn)室是一家專注于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測機(jī)構(gòu)，致力于改善LED品質(zhì)，服務(wù)LED產(chǎn)業(yè)鏈中各個(gè)環(huán)節(jié)，使LED產(chǎn)業(yè)健康
2025-07-07 15:53:25766 
一、引言 IGBT（絕緣柵雙極型晶體管）作為電力電子領(lǐng)域的核心器件，廣泛應(yīng)用于新能源汽車、智能電網(wǎng)等關(guān)鍵領(lǐng)域。短路失效是 IGBT 最嚴(yán)重的失效模式之一，會導(dǎo)致系統(tǒng)癱瘓甚至安全事故。研究發(fā)現(xiàn)
2025-08-25 11:13:121354 
分享一個(gè)在熱發(fā)射顯微鏡下（Thermal EMMI) 芯片失效分析案例，展示我們?nèi)绾瓮ㄟ^ IV測試 與 紅外熱點(diǎn)成像，快速鎖定 IGBT 模組的失效點(diǎn)。
2025-09-19 14:33:022290 
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