文章由山東華科信息技術(shù)有限公司提供中壓電纜作為電力系統(tǒng)的重要組成，其運(yùn)行狀態(tài)直接影響供電穩(wěn)定性與安全性。中壓電纜局部放電監(jiān)測(cè)系統(tǒng)通過暫態(tài)地電壓（TEV）檢測(cè)原理，實(shí)現(xiàn)非侵入式局放信號(hào)捕捉，為電纜絕緣
2025-12-31 11:31:51
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近年來，三維微納米結(jié)構(gòu)的組裝研究備受關(guān)注，現(xiàn)已成為當(dāng)今世界的重要研究領(lǐng)域。復(fù)雜的三維微納結(jié)構(gòu)在微納機(jī)電系統(tǒng)、生物醫(yī)療、組織工程、新材料(超材料、復(fù)合材料、光子晶體、功能梯度材料等)、新能源
2025-12-30 17:16:18402 
的質(zhì)控至關(guān)重要。本文系統(tǒng)解析輪廓測(cè)量原理、功能及高精度解決方案。一、輪廓測(cè)量的必要性輪廓測(cè)量是精密制造中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其測(cè)量結(jié)果直接影響產(chǎn)品的核心性能與壽命。表面輪
2025-12-18 09:47:08154 
導(dǎo)波在電池中傳播特性的基礎(chǔ)上，搭建接觸式激勵(lì)-非接觸式接收”的超聲導(dǎo)波掃描實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，設(shè)計(jì)并驗(yàn)證面掃描實(shí)驗(yàn)方案與線掃描實(shí)驗(yàn)方案，最終為后續(xù)電池SOC/SOH表征與失效分析提供穩(wěn)定的實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)、可靠的檢測(cè)方法及有效的動(dòng)態(tài)導(dǎo)波數(shù)據(jù)。
2025-12-02 11:16:20204 
納米技術(shù)的發(fā)展催生了從超光滑表面到復(fù)雜納米結(jié)構(gòu)表面的制備需求，這些表面的精確測(cè)量對(duì)質(zhì)量控制至關(guān)重要。然而，當(dāng)前納米尺度表面測(cè)量技術(shù)面臨顯著挑戰(zhàn)：原子力顯微鏡（AFM）測(cè)量速度慢、掃描面積有限；掃描
2025-11-24 18:02:362478 
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)搭載CP500S掃描測(cè)頭在復(fù)雜曲面測(cè)量中的解決方案：1、針對(duì)傳統(tǒng)觸發(fā)式測(cè)頭在測(cè)量效率、數(shù)據(jù)密度和可達(dá)性方面的局限，該方案采用高分辨率光柵系統(tǒng)與光機(jī)一體化設(shè)計(jì)的CP500S掃描測(cè)頭，實(shí)現(xiàn)
2025-11-17 17:14:47
0 角度解析高壓電力綜合自動(dòng)化系統(tǒng)的應(yīng)用現(xiàn)狀、功能特點(diǎn)與實(shí)現(xiàn)方法，并探討其在實(shí)際工程中的實(shí)踐意義。 一、高壓電力綜合自動(dòng)化系統(tǒng)的應(yīng)用背景 高壓電力系統(tǒng)涵蓋發(fā)電、輸電、變電等多個(gè)環(huán)節(jié)，其運(yùn)行狀態(tài)復(fù)雜且對(duì)實(shí)時(shí)性要求
2025-11-17 16:12:34525 
摘要：本文研究白光干涉儀在晶圓深腐蝕溝槽 3D 輪廓測(cè)量中的應(yīng)用，分析其工作原理及適配深腐蝕溝槽特征的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，通過實(shí)際案例驗(yàn)證測(cè)量精度，為晶圓深腐蝕工藝的質(zhì)量控制與器件性能優(yōu)化提供技術(shù)支持
2025-10-30 14:22:51226 
中最關(guān)鍵的一道工序：出廠標(biāo)定。當(dāng)IMU標(biāo)定需求邁入微弧度時(shí)代，壓電納米旋轉(zhuǎn)臺(tái)憑借獨(dú)特技術(shù)優(yōu)勢(shì)，成為標(biāo)定場(chǎng)景的理想搭檔。 （注：圖片源于網(wǎng)絡(luò)） 一、IMU標(biāo)定為何是出廠“必修課”？ 慣性測(cè)量單元（Inertial Measurement Unit）是一種用于測(cè)量物體
2025-10-30 10:56:21278 
，具有重要的研究意義。本文介紹了一種用D7點(diǎn)衍射激光干涉儀測(cè)量介觀顯微物鏡的檢測(cè)方案，具體方案如下圖所示：01光源部分1.D7系統(tǒng)的光源為連續(xù)波(CW)單模(SL
2025-10-29 11:06:07239 
光子源的理想基質(zhì)。 想要在六方氮化硼中實(shí)現(xiàn)單光子源的高精度制備、穩(wěn)定篩選與性能調(diào)控，始終繞不開微觀尺度精準(zhǔn)操控這一核心需求。芯明天壓電納米定位臺(tái)正是這一研究過程中的關(guān)鍵設(shè)備，為實(shí)驗(yàn)提供了穩(wěn)定、高精度的定位與掃
2025-10-23 10:21:58189 
在精密制造與科研領(lǐng)域，納米級(jí)的定位精度往往是決定成敗的關(guān)鍵。為了滿足大行程與高精度的平衡需求，芯明天推出全新P15.XY1000壓電納米定位臺(tái)，在繼承P15系列卓越性能的基礎(chǔ)上，將單軸行程提升
2025-10-16 15:47:31270 
在精密測(cè)量領(lǐng)域，干涉儀作為基于光的干涉原理實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)的儀器，被廣泛應(yīng)用于工業(yè)制造、科研實(shí)驗(yàn)等場(chǎng)景。其中，白光干涉儀與激光干涉儀是兩類具有代表性的設(shè)備，二者在原理、性能及適用場(chǎng)景上存在顯著差異。明確這些差異并掌握其應(yīng)用特點(diǎn)，對(duì)合理選擇測(cè)量工具具有重要意義。
2025-09-20 11:16:00982 。VT6000微納米形貌測(cè)量共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表
2025-09-18 14:02:18
中圖儀器納米形貌觀測(cè)掃描電鏡采用的鎢燈絲電子槍，發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對(duì)真空度要求不高。臺(tái)式電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個(gè)電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)
2025-09-17 15:25:48
PO系列機(jī)床分中在機(jī)測(cè)量頭可安裝在大多數(shù)數(shù)控機(jī)床上，針對(duì)尺寸偏差自動(dòng)進(jìn)行機(jī)床及刀具的補(bǔ)償，加工精度高。不需要工件來回運(yùn)輸和等待時(shí)間，能自動(dòng)測(cè)量、自動(dòng)記錄、自動(dòng)校準(zhǔn)，達(dá)到降低人力成本、提高機(jī)床加工精度
2025-09-16 15:20:15
GTS系列跟蹤儀激光測(cè)量系統(tǒng)集激光干涉測(cè)距技術(shù)、光電檢測(cè)技術(shù)、精密機(jī)械技術(shù)、計(jì)算機(jī)及控制技術(shù)、現(xiàn)代數(shù)值計(jì)算理論于一體，是高精度、便攜式的空間大尺寸坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，是同時(shí)具高精度（μm級(jí)）、大工作空間
2025-09-15 13:36:37
全流程，解析針對(duì)曲面特性的掃描前準(zhǔn)備、參數(shù)動(dòng)態(tài)優(yōu)化、數(shù)據(jù)精準(zhǔn)處理及曲面重構(gòu)技術(shù)要點(diǎn)，驗(yàn)證該技術(shù)在復(fù)雜曲面逆向中誤差≤±0.04mm 的精度優(yōu)勢(shì)，為復(fù)雜曲面零件復(fù)刻、迭代與質(zhì)量管控提供技術(shù)支撐。 一、引言 復(fù)雜曲面零件廣
2025-09-10 14:18:54685 
薄膜厚度的測(cè)量在芯片制造和集成電路等領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。橢偏法具備高測(cè)量精度的優(yōu)點(diǎn)，利用寬譜測(cè)量方式可得到全光譜的橢偏參數(shù)，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)薄膜的厚度測(cè)量。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對(duì)薄膜
2025-09-08 18:02:421463 
測(cè)量方法中，掃描電鏡需真空環(huán)境且無法直接獲取高度信息，原子力顯微鏡效率低難以覆蓋大面積檢測(cè)。白光干涉儀憑借非接觸、高精度、快速三維成像的特性，成為光刻圖形測(cè)量的核心工具，為光刻膠涂覆、曝光、顯影等工藝的參數(shù)優(yōu)化
2025-09-03 09:25:20648 
），傳統(tǒng)測(cè)量方法（如光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡）難以同時(shí)實(shí)現(xiàn)非接觸、高精度的三維輪廓表征。白光干涉儀憑借納米級(jí)垂直分辨率和快速三維成像能力，成為柵線高度及輪廓測(cè)量的核心技術(shù)手段，為電池片制造工藝優(yōu)化提供了精準(zhǔn)數(shù)據(jù)支撐。 太陽能電池片
2025-08-29 09:49:08403 的挑戰(zhàn)。壓電納米技術(shù)的突破性應(yīng)用，正在為光纖開關(guān)帶來革命性的變革。 一、光纖開關(guān)：光通信的智能指揮家 光纖開關(guān)是一種在光纖通信、光網(wǎng)絡(luò)或光測(cè)試系統(tǒng)中，用于準(zhǔn)確、快速控制光信號(hào)路徑切換、通斷或路由的器件。光纖開關(guān)直
2025-08-28 09:41:38345 
在納米技術(shù)、生物工程、半導(dǎo)體制造和光學(xué)精密測(cè)量等領(lǐng)域，移動(dòng)和定位的精度要求已經(jīng)進(jìn)入了納米（十億分之一米）尺度。在這個(gè)尺度下，傳統(tǒng)電機(jī)和絲杠的摩擦、空回、熱膨脹等誤差被無限放大，變得完全不可用。而壓電
2025-08-27 09:01:49476 GTS坐標(biāo)激光跟蹤測(cè)量系統(tǒng)集激光干涉測(cè)距技術(shù)、光電檢測(cè)技術(shù)、精密機(jī)械技術(shù)、計(jì)算機(jī)及控制技術(shù)、現(xiàn)代數(shù)值計(jì)算理論于一體，是高精度、便攜式的空間大尺寸坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，是同時(shí)具高精度（μm級(jí)）、大工作空間（百米
2025-08-26 14:05:24
高精度壓電納米位移臺(tái)：AFM顯微鏡的精密導(dǎo)航系統(tǒng)為生物納米研究提供終極定位解決方案在原子力顯微鏡（AFM）研究中，您是否常被這些問題困擾？→樣品定位耗時(shí)過長(zhǎng)，錯(cuò)過關(guān)鍵動(dòng)態(tài)過程？→掃描圖像漂移失真
2025-08-13 11:08:56924 摘要
本文針對(duì)激光干涉法在碳化硅襯底 TTV 厚度測(cè)量中存在的精度問題，深入分析影響測(cè)量精度的因素，從設(shè)備優(yōu)化、環(huán)境控制、數(shù)據(jù)處理等多個(gè)維度提出精度提升策略，旨在為提高碳化硅襯底 TTV 測(cè)量準(zhǔn)確性
2025-08-12 13:20:16777 
SuperViewW納米級(jí)精密測(cè)量白光干涉儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作
2025-08-11 13:54:04
SuperViewW3D光學(xué)輪廓儀測(cè)量系統(tǒng)基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量
2025-08-06 14:19:13
掃描白光干涉術(shù)（SWLI）是目前最精確的表面形貌測(cè)量技術(shù)之一，被廣泛應(yīng)用于工業(yè)與科研領(lǐng)域。從發(fā)明至今的三十余年間，在精密光學(xué)、半導(dǎo)體、汽車及航天等先進(jìn)制造領(lǐng)域的需求牽引下，該技術(shù)不斷取得新的進(jìn)展
2025-08-05 17:54:201139 
掃描白光干涉術(shù)的快速發(fā)展，在制造業(yè)與科研領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用中得到了驗(yàn)證，某種程度上成為了高精度表面形貌測(cè)量技術(shù)的標(biāo)桿，尤其在半導(dǎo)體、精密光學(xué)、消費(fèi)電子等產(chǎn)業(yè)的牽引下,其測(cè)量功能和性能得到持續(xù)提升。本期美
2025-08-05 17:53:531254 WD4000晶圓三維顯微形貌測(cè)量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D
2025-08-04 13:59:53
在半導(dǎo)體功率器件（如IGBT、SiC MOSFET、GaN HEMT）的研發(fā)、生產(chǎn)與品控中，精準(zhǔn)、高效、可靠的測(cè)量系統(tǒng)是確保器件性能達(dá)標(biāo)、加速產(chǎn)品上市的關(guān)鍵。天恒科儀功率器件測(cè)量系統(tǒng)集尖端硬件與智能
2025-07-29 16:21:17
WD4000晶圓THK膜厚厚度測(cè)量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D
2025-07-25 10:53:07
法和白光掃描干涉法等，雖然在一定程度上能夠滿足測(cè)量需求，但存在一些局限性。針對(duì)這些現(xiàn)有技術(shù)的不足，本文提出了一種基于白光色散干涉法（WLDI）的高精度測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)
2025-07-22 09:53:301528 透明薄膜在光學(xué)器件、微電子封裝及光電子領(lǐng)域中具有關(guān)鍵作用，其厚度均勻性直接影響產(chǎn)品性能。然而，工業(yè)級(jí)微米級(jí)薄膜的快速測(cè)量面臨挑戰(zhàn)：傳統(tǒng)干涉法設(shè)備龐大、成本高，分光光度法易受噪聲干擾且依賴校準(zhǔn)樣品
2025-07-21 18:17:571456 中圖儀器SuperViewW白光干涉表面輪廓測(cè)量儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高
2025-07-18 17:35:22
在半導(dǎo)體芯片的制造流程中，探針可以對(duì)芯片進(jìn)行性能檢驗(yàn)；在新材料研發(fā)的實(shí)驗(yàn)室中，探針與樣品表面的納米級(jí)接觸，解鎖材料的電學(xué)、光學(xué)特性；在生物研究室中，探針正在以極快且細(xì)微的運(yùn)動(dòng)對(duì)細(xì)胞進(jìn)行穿透。這些精密
2025-07-10 08:49:29630 
中圖儀器Mars系列三坐標(biāo)快速掃描測(cè)量系統(tǒng)支持觸發(fā)探測(cè)系統(tǒng)，能夠?qū)Ω鞣N零部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)。不管是復(fù)雜的三維形狀還是細(xì)微的尺寸差異，每一次測(cè)量都能達(dá)到微米級(jí)精度，實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量
2025-07-08 10:41:37
的局部放電在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，通過實(shí)時(shí)感知與數(shù)據(jù)分析，為電力設(shè)備健康管理提供了智能化解決方案。技術(shù)原理：多維度信號(hào)捕捉與解析中壓電纜局部放電在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)采用多傳感器融合技
2025-07-07 11:47:48866 Mars全自動(dòng)頭帶掃描三坐標(biāo)測(cè)量儀采用的測(cè)量技術(shù)和精密的傳感器，結(jié)合精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)和溫度補(bǔ)償系統(tǒng)，精度高、重復(fù)性優(yōu)。在連續(xù)生產(chǎn)過程中，高重復(fù)性的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在連續(xù)測(cè)量過程中能夠提供一致的結(jié)果，通過確保
2025-07-02 15:20:58
的問題，還存在工藝復(fù)雜度大幅增加的瓶頸。而納米壓印技術(shù)憑借其在高分辨率加工、低成本生產(chǎn)以及高量產(chǎn)效率等方面的顯著優(yōu)勢(shì)，正逐步成為下一代微納制造領(lǐng)域的核心技術(shù)之一。 （注：圖片來源于網(wǎng)絡(luò)） 一、納米壓?。盒酒圃祛I(lǐng)域的
2025-06-19 10:05:36767 
中圖儀器高精度快速掃描三坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)采用的測(cè)量技術(shù)和精密的傳感器，結(jié)合精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)和溫度補(bǔ)償系統(tǒng)，精度高、重復(fù)性優(yōu)。高分辨率金屬光柵尺，確保機(jī)器在使用過程中具有高精度和長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定性；其接觸式或非
2025-06-13 11:40:00
在量子計(jì)算、生物傳感、精密測(cè)量等前沿領(lǐng)域，金剛石中的氮-空位（NV）色心正成為顛覆性技術(shù)的核心材料，其獨(dú)特的量子特性為科技突破提供了無限可能，更因其卓越的性質(zhì)和廣泛的應(yīng)用而成為納米級(jí)研究的有力工具
2025-06-05 09:30:54990 
WD4000晶圓幾何形貌在線測(cè)量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等
2025-05-30 11:03:11
產(chǎn)品概述在電力系統(tǒng)的龐大網(wǎng)絡(luò)中，高壓電纜護(hù)層的安全穩(wěn)定運(yùn)行至關(guān)重要，它如同守護(hù)電力傳輸?shù)?“隱形鎧甲”。特力康推出的 TLKS-PLGD 高壓電纜護(hù)層電流監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，正是為這層 “鎧甲
2025-05-28 11:22:03
WD4000系列Wafer晶圓厚度量測(cè)系統(tǒng)采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化
2025-05-27 13:54:33
一、引言：納米材料導(dǎo)電性測(cè)量的挑戰(zhàn)與需求 納米材料的導(dǎo)電性受尺寸效應(yīng)、表面態(tài)、量子隧穿等因素影響，傳統(tǒng)測(cè)量方法難以滿足其高精度需求。例如，納米薄膜的厚度僅為幾納米，電流可能低至飛安（fA）級(jí)別，且
2025-05-26 17:01:52549 
中圖儀器高精度三坐標(biāo)快速掃描測(cè)量系統(tǒng)采用的測(cè)量技術(shù)和精密的傳感器，結(jié)合精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)和溫度補(bǔ)償系統(tǒng)，精度高、重復(fù)性優(yōu)。不管是復(fù)雜的三維形狀還是細(xì)微的尺寸差異，每一次測(cè)量都能達(dá)到微米級(jí)精度，實(shí)現(xiàn)
2025-05-23 14:40:26
中圖納米成像掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個(gè)電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外，該系列臺(tái)式電鏡也可以進(jìn)入手套箱、車廂還是潛水器等狹小空間內(nèi)大顯身手
2025-05-23 14:31:58
圖1.拼接曝光加工系統(tǒng) 衍射光柵廣泛應(yīng)用于精密測(cè)量、激光脈沖壓縮、光譜分析等領(lǐng)域。干涉光刻作為一種無掩膜曝光光刻方法，在衍射光柵加工制造方面具有高效率、高靈活度的優(yōu)勢(shì)。但干涉光刻加工的光柵尺寸在
2025-05-22 09:30:59570 
WD4000晶圓Warp翹曲度量測(cè)系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI
2025-05-20 14:02:17
中圖儀器Mars全自主化三坐標(biāo)掃描測(cè)量系統(tǒng)采用高分辨率金屬光柵尺，確保機(jī)器在使用過程中具有高精度和長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定性。其接觸式或非接觸式測(cè)頭均經(jīng)過精確校準(zhǔn)，以捕捉細(xì)微的幾何特征；采用的測(cè)量技術(shù)和精密
2025-05-19 10:42:22
實(shí)驗(yàn)名稱：正弦加三角波復(fù)合相位調(diào)制雙零差干涉儀位移測(cè)量相關(guān)實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)?zāi)康模悍€(wěn)定性實(shí)驗(yàn)中，測(cè)試雙零差干涉儀在測(cè)量鏡M2靜止時(shí)，進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)量時(shí)，環(huán)境參數(shù)變化引起的兩路干涉信號(hào)相位差的漂移情況。 測(cè)試
2025-05-16 15:34:08416 
相位信息的光強(qiáng)信號(hào)，經(jīng)過特定設(shè)計(jì)的信號(hào)處理模塊，將反饋信號(hào)加載在激光器的調(diào)頻端口上，即可鎖定輸出激光的頻率，從而有效降低頻率噪聲。本節(jié)采用自主研制的帶有壓電陶瓷（PZT）的單頻光纖激光器，結(jié)合非平衡光纖干涉儀的鑒
2025-05-15 11:49:43593 
VT6000白光干涉共聚焦測(cè)量顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取
2025-05-14 14:14:24
中圖SEM掃描電鏡憑借其簡(jiǎn)便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入，自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度）幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像，大大
2025-05-06 17:48:47
工程等應(yīng)用。 GTS激光坐標(biāo)定位跟蹤測(cè)量系統(tǒng)在飛機(jī)、汽車、船舶、航天、機(jī)器人、核電、軌道交通裝備制造行業(yè)以及大型科學(xué)工程、工業(yè)母機(jī)的高精密加工和裝配中，能
2025-05-06 11:41:25
航空復(fù)雜曲面工件激光位移測(cè)量機(jī)器人自動(dòng)定位打磨系統(tǒng)實(shí)施過程解析
2025-05-04 09:56:16808 Mars全自主三坐標(biāo)掃描系統(tǒng)采用的測(cè)量技術(shù)和精密的傳感器，結(jié)合精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)和溫度補(bǔ)償系統(tǒng)，精度高、重復(fù)性優(yōu)。不管是復(fù)雜的三維形狀還是細(xì)微的尺寸差異，每一次測(cè)量都能達(dá)到微米級(jí)精度，實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量
2025-04-29 11:24:48
中圖儀器CEM3000系列納米級(jí)成像掃描電鏡空間分辨率出色和易用性強(qiáng)，用戶能夠非常快捷地進(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000系列上還運(yùn)用
2025-04-29 11:17:41
好，相干光線追跡就會(huì)執(zhí)行。在探測(cè)器平面上的輻照度和彩色圖會(huì)得到計(jì)算并顯示出來。為了模擬邁克爾遜恒星干涉儀的運(yùn)行，額外的循環(huán)可以添加到腳本中，它會(huì)在每一步掃描反射鏡間距并計(jì)算條紋可見度。條紋可見度的第一個(gè)
2025-04-29 08:52:28
將深入解析差分探頭的工作原理，揭示其在浮地系統(tǒng)測(cè)量中的不可替代性。 一、浮地系統(tǒng)的測(cè)量困境 1.1 系統(tǒng)特性分析 浮地系統(tǒng)（Floating Ground System）特指電路參考點(diǎn)與大地之間不存在直接導(dǎo)通的電氣系統(tǒng)。其典型特征包括： 存在高
2025-04-25 16:32:11664 
中圖儀器CEM3000系列納米尺度觀測(cè)掃描電子顯微鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能
2025-04-23 18:07:59
示意圖 正弦相位調(diào)制激光干涉納米位移測(cè)量系統(tǒng)光路結(jié)構(gòu)如圖1所示，圖1中采用He-Ne單頻激光器和橫向電光相位調(diào)制器（EOM）構(gòu)建了正弦相位調(diào)制激光干涉位移測(cè)量系統(tǒng)。為了表述方便將分光棱鏡BS至參考角錐棱鏡M1之間的光程標(biāo)記為lr，將BS至角錐棱鏡
2025-04-23 10:47:31753 
研究摩擦學(xué)，能帶來什么價(jià)值？從摩擦磨損到亞納米級(jí)精度，白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展？
2025-04-21 12:02:181128 
實(shí)驗(yàn)名稱：線性相位調(diào)制雙零差干涉儀位移測(cè)量相關(guān)實(shí)驗(yàn) 測(cè)試目的：測(cè)試雙零差干涉儀在測(cè)量鏡M2靜止時(shí)，進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)量時(shí)，環(huán)境參數(shù)變化引起的兩路干涉信號(hào)相位差的漂移情況。 測(cè)試設(shè)備：電壓放大器、He
2025-04-18 10:37:02580 
中圖儀器SJ6000機(jī)床導(dǎo)軌激光干涉測(cè)量儀利用激光干涉現(xiàn)象來實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量，具有高精度、高分辨率、快速測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)。結(jié)合不同的光學(xué)鏡組，可實(shí)現(xiàn)線性測(cè)長(zhǎng)、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量
2025-04-17 11:04:21
。CEM3000系列納米級(jí)成像高分辨掃描電鏡操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便，使用過程簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入，自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度）幫助用戶在短
2025-04-15 10:30:49
SJ6000機(jī)床激光干涉精密測(cè)量系統(tǒng)集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)等技術(shù)于一體，產(chǎn)品采用進(jìn)口高性能氦氖激光器，具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍大、測(cè)量速度快、高測(cè)速下分辨率高等優(yōu)點(diǎn)，結(jié)合不同的光學(xué)鏡組，可實(shí)現(xiàn)線性測(cè)長(zhǎng)
2025-04-11 11:09:00
當(dāng)科技的探索深入微觀世界，越來越多的科學(xué)領(lǐng)域?qū)芏ㄎ欢加兄鴺O致需求，如激光加工確保光束納米級(jí)穩(wěn)定聚焦、在半導(dǎo)體檢測(cè)中實(shí)現(xiàn)晶圓精準(zhǔn)對(duì)位、在生物醫(yī)療進(jìn)行超分辨率顯微成像等，這些應(yīng)用場(chǎng)景都有著同樣的核心
2025-04-10 09:22:03707 
中圖儀器VT6000系列3D共聚焦顯微系統(tǒng)用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量?？蓽y(cè)各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓
2025-04-09 17:37:45
實(shí)驗(yàn)名稱： 干涉法測(cè)算的壓電系數(shù)基本原理 研究方向： 光的干涉原理現(xiàn)在已經(jīng)廣泛應(yīng)用在各種領(lǐng)域中，特別是在光譜學(xué)、精密計(jì)量及探測(cè)中。當(dāng)振動(dòng)方向相同的兩列波（或者多列波）在空間中某一位置相遇時(shí)，相遇位置
2025-04-03 10:45:10517 
一、引言 在多功能壓力測(cè)量系統(tǒng)里，四探針電極以其獨(dú)特測(cè)量原理，助力獲取材料電學(xué)性能與壓力的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)。它在材料科學(xué)、電子工程等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，有力推動(dòng)了對(duì)材料在壓力下電學(xué)行為的研究，成為現(xiàn)代材料性能研究
2025-03-27 14:04:49888 
測(cè)量精度小于1納米，性能進(jìn)入全球一梯隊(duì)，優(yōu)可測(cè)旗艦白光干涉儀發(fā)布
2025-03-27 11:03:581025 
來說明特殊的X射線成像原理。在本通訊中，我們展示了兩個(gè)X射線成像實(shí)驗(yàn)：(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創(chuàng)建納米級(jí)X射線成像點(diǎn)；(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。
X射線束的掠入射
2025-03-21 09:22:57
WD4000系列晶圓微觀幾何輪廓測(cè)量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI
2025-03-19 17:36:45
和諧波成分。因此，準(zhǔn)確測(cè)量電流和電壓的真有效值，成為了電力工程中不可忽視的技術(shù)難題。Keithley靜電計(jì)6514作為一款專業(yè)的測(cè)試設(shè)備，其在電力系統(tǒng)中的應(yīng)用顯得尤為突出，尤其是在真有效值（TrueRMS）測(cè)量中，能夠提供高精度的電力參數(shù)
2025-03-19 13:40:30716 
電力系統(tǒng)測(cè)量需求背景 電力系統(tǒng)作為現(xiàn)代社會(huì)的能源支柱，其穩(wěn)定運(yùn)行至關(guān)重要。在電力系統(tǒng)的各個(gè)環(huán)節(jié)，從發(fā)電、輸電到配電，準(zhǔn)確的電氣參數(shù)測(cè)量是保障系統(tǒng)可靠、高效運(yùn)行的基礎(chǔ)。隨著電力系統(tǒng)的規(guī)模不斷擴(kuò)大
2025-03-13 16:04:02720 
實(shí)驗(yàn)名稱： 相位調(diào)制零差干涉儀性能評(píng)價(jià)及實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?測(cè)試相位調(diào)制零差干涉儀在測(cè)量鏡靜止時(shí)，由環(huán)境參數(shù)變化引起測(cè)量干涉儀與參考干涉儀之間干涉信號(hào)的相位差，即被測(cè)位移相對(duì)于零點(diǎn)的漂移誤差。 測(cè)試
2025-03-12 11:42:29609 
VT6000共聚焦顯微成像系統(tǒng)是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它基于光學(xué)共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重
2025-03-05 14:19:57
SuperViewW中圖儀器光學(xué)三維輪廓儀系統(tǒng)以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度
2025-03-05 14:14:44
傳播，然后再通過另一個(gè)分束器重新組合。由于兩束光在傳播過程中可能經(jīng)歷不同的光程，因此會(huì)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。
應(yīng)用：馬赫-增德爾干涉儀常用于透射樣本的測(cè)量，如生物樣本、全息
2025-03-03 13:29:18383 
VT6000材料共聚焦顯微測(cè)量系統(tǒng)采用全電動(dòng)化設(shè)計(jì)，并可無縫銜接位移軸與掃描軸的切換，圖像視窗和分析視窗同界面的設(shè)計(jì)風(fēng)格，實(shí)現(xiàn)了所見即所得的快速檢測(cè)效果。 VT6000材料共聚焦顯微測(cè)量
2025-02-19 14:56:59
電壓跟隨器在測(cè)量系統(tǒng)中有著廣泛的應(yīng)用，主要得益于其獨(dú)特的性能特點(diǎn)，如高輸入阻抗、低輸出阻抗、電壓增益接近1等。以下是對(duì)電壓跟隨器在測(cè)量系統(tǒng)中應(yīng)用的分析： 一、緩沖與隔離作用 緩沖作用 ： 電壓跟隨器
2025-02-18 16:08:511039 摘要
本用例以眾所周知的邁克爾遜干涉儀為例，展示了分布式計(jì)算的能力。多色光源與干涉測(cè)量裝置的一個(gè)位置掃描的反射鏡相結(jié)合，以執(zhí)行詳細(xì)的相干測(cè)量。使用具有六個(gè)本地多核PC組成的網(wǎng)絡(luò)分布式計(jì)算，所得
2025-02-14 09:46:45
尺寸的器件中，壓電納米電機(jī)可以實(shí)現(xiàn)極高的精度和效率。壓電納米電機(jī)的應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛，其中Aigtek安泰電子功率放大器在壓電納米電機(jī)領(lǐng)域也有著重要的應(yīng)用。 功率放大器在壓電納米電機(jī)中起到了提升輸出功率的作用。納米級(jí)別的
2025-02-11 10:54:29654 
，它是最著名的干涉儀之一，為光學(xué)干涉測(cè)量中各類干涉儀的原型。其原理主要是利用兩束相干光波在空間某點(diǎn)相遇時(shí)相互疊加，形成穩(wěn)定的明暗相間的干涉條紋，當(dāng)被測(cè)物體發(fā)生移動(dòng)
2025-02-11 09:43:29320 外差式激光干涉和零差式激光干涉是兩種不同的激光干涉測(cè)量技術(shù)，它們在工作原理、特點(diǎn)和應(yīng)用方面存在顯著的差異。以下是對(duì)這兩種技術(shù)的詳細(xì)比較：
一、工作原理
外差式激光干涉
外差式激光干涉儀又稱雙頻干涉
2025-02-10 11:28:47443 SuperViewW白光干涉測(cè)量膜厚儀器3D重建算法自動(dòng)濾除樣品表面噪點(diǎn)，在硬件系統(tǒng)的配合下，測(cè)量精度可達(dá)亞納米級(jí)別。它以光學(xué)干涉原理為基礎(chǔ)，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非
2025-02-08 15:55:14
白光干涉儀的膜厚測(cè)量模式原理主要基于光的干涉原理，通過測(cè)量反射光波的相位差或干涉條紋的變化來精確計(jì)算薄膜的厚度。以下是該原理的詳細(xì)解釋：
一、基本原理
當(dāng)光線照射到薄膜表面時(shí)，部分光線會(huì)在薄膜表面
2025-02-08 14:24:34508 白光干涉儀的光譜干涉模式原理主要基于光的干涉和光譜分析。以下是對(duì)該原理的詳細(xì)解釋：
一、基本原理
白光干涉儀利用干涉原理測(cè)量光程之差，從而測(cè)定有關(guān)物理量。在光譜干涉模式中，白光作為光源，其發(fā)出的光
2025-02-07 15:11:00563 白光干涉儀是一種高精度的光學(xué)測(cè)量儀器，它利用白光干涉原理來測(cè)量物體表面的形貌和高度等信息。在白光干涉儀中，垂直掃描干涉測(cè)量模式（VSI）、相移干涉測(cè)量模式（PSI）以及結(jié)合VSI和PSI的高分辨測(cè)量
2025-02-06 10:39:28541 光刻機(jī)用納米位移系統(tǒng)設(shè)計(jì)
2025-02-06 09:38:031028 
白光干涉的掃描高度受限，主要是由于其測(cè)量原理和技術(shù)特點(diǎn)所決定的。以下是對(duì)這一問題的詳細(xì)解釋：
一、白光干涉的測(cè)量原理
白光干涉技術(shù)是一種基于光的波動(dòng)性進(jìn)行測(cè)量的技術(shù)。當(dāng)兩束或多束相干光波在空間某點(diǎn)
2025-01-21 14:30:08461 好，相干光線追跡就會(huì)執(zhí)行。在探測(cè)器平面上的輻照度和彩色圖會(huì)得到計(jì)算并顯示出來。為了模擬邁克爾遜恒星干涉儀的運(yùn)行，額外的循環(huán)可以添加到腳本中，它會(huì)在每一步掃描反射鏡間距并計(jì)算條紋可見度。條紋可見度的第一個(gè)極小值會(huì)出現(xiàn)在d=λ0/(2θ)處，其中λ0是恒星（發(fā)光）的中心波長(zhǎng)，θ是以度為單位的角距。
2025-01-21 09:58:16
sj6000機(jī)床激光干涉測(cè)量校準(zhǔn)系統(tǒng)具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍大、測(cè)量速度快、高測(cè)速下分辨率高等優(yōu)點(diǎn)，結(jié)合不同的光學(xué)鏡組，可實(shí)現(xiàn)線性測(cè)長(zhǎng)、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測(cè)量。在
2025-01-17 15:00:29
在白光干涉測(cè)量中，通過反射鏡的移動(dòng)來實(shí)現(xiàn)機(jī)械相移原理是一種常見且有效的方法。以下是對(duì)這一原理的詳細(xì)解釋：
一、基本原理
白光干涉測(cè)量技術(shù)基于光的波動(dòng)性和相干性原理。當(dāng)兩束相干光波在空間某點(diǎn)相遇
2025-01-09 10:42:24317 
在白光干涉測(cè)量技術(shù)中，通過樣品臺(tái)的移動(dòng)來實(shí)現(xiàn)機(jī)械相移原理是一種常用的且高精度的方法。這種方法基于光的波動(dòng)性和相干性，通過改變樣品臺(tái)的位置，即改變待測(cè)光線與參考光線之間的光程差，來實(shí)現(xiàn)相位調(diào)制，從而
2025-01-08 10:37:39359 在白光干涉測(cè)量中，通過光學(xué)元件的插入與移除來實(shí)現(xiàn)機(jī)械相移原理是一種獨(dú)特而有效的方法。這種方法的核心在于利用光學(xué)元件（如透鏡、反射鏡、棱鏡等）對(duì)光路的改變，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)相位差的調(diào)制。以下是對(duì)這一
2025-01-07 10:48:03396 SJ6000高精度激光干涉儀測(cè)量系統(tǒng)集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)等技術(shù)于一體，采用激光雙縱模熱穩(wěn)頻技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)高精度、抗擾力強(qiáng)、長(zhǎng)期穩(wěn)定性好的激光頻率輸出。儀器具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍大、測(cè)量速度快、高測(cè)速
2025-01-06 14:32:33
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