高壓LED橫截面結(jié)構(gòu)的觀察SEM失效分析

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滾動(dòng)軸承的失效原因及措施

滾動(dòng)軸承的可靠性與滾動(dòng)軸承的失效形式有著密切的關(guān)系，要提高軸承的可靠性，就必須從軸承的失效形式著手，仔細(xì)分析滾動(dòng)軸承的失效原因，才能找出解決失效的具體措施。今天我們通過(guò)PPT來(lái)了解一下軸承失效。

2023-09-15 11:28:51

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各種材料失效分析檢測(cè)方法

失效分析是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及，它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。

2023-09-12 09:51:47

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線材橫截面積測(cè)試及要求

銅線的AWG是個(gè)啥？AWG（Americanwiregauge）美國(guó)線規(guī)，是一種區(qū)分導(dǎo)線直徑的標(biāo)準(zhǔn)，又被稱為Brown&Sharpe線規(guī)。這種標(biāo)準(zhǔn)化線規(guī)系統(tǒng)于1857年起在美國(guó)開(kāi)始使用。另外AWG還是陣列波導(dǎo)光柵(ArrayedWaveguideGrating)的縮寫(xiě)。美國(guó)區(qū)分導(dǎo)線直徑的標(biāo)準(zhǔn)，又稱B&S線程（即Brown&Sharps線程）銅線直徑通常以AW

2023-09-07 08:28:38

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集成電路為什么要做失效分析？失效分析流程？

失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。

2023-09-06 10:28:05

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聚焦離子束FIBSEM切片測(cè)試【博仕檢測(cè)】

）電鍍品截面鍍層結(jié)構(gòu)分析：客戶委托博仕檢測(cè)對(duì)客訴異常電鍍產(chǎn)品FIB-SEM分析，F(xiàn)IB切割電鍍品內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖及SEM背散射(BSE)圖 FIB切片SEM觀察鍍層內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖 d． SEM BSE低倍

2023-09-05 11:58:27

關(guān)于矩形和圓截面導(dǎo)體的阻抗計(jì)算

2023-09-04 16:28:15

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集成電路失效分析

集成電路失效分析隨著現(xiàn)代社會(huì)的快速發(fā)展，人們對(duì)集成電路（Integrated Circuit，簡(jiǎn)稱IC）的需求越來(lái)越大，IC在各種電子設(shè)備中占據(jù)著至關(guān)重要的地位，如手機(jī)、電腦、汽車(chē)等都需要使用到

2023-08-29 16:35:13

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芯片失效分析方法芯片失效原因分析

芯片失效分析方法芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過(guò)程中，芯片的失效是非常常見(jiàn)的問(wèn)題。芯片失效分析是解決這個(gè)問(wèn)題的關(guān)鍵。芯片

2023-08-29 16:29:11

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半導(dǎo)體失效分析

半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化

2023-08-29 16:29:08

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鉭電容失效分析鉭電容失效原因分析鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實(shí)、細(xì)致的最少1500字的文

鉭電容失效分析鉭電容失效原因分析鉭電容燒壞的幾種原因鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場(chǎng)儲(chǔ)存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而

2023-08-25 14:27:56

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電阻與導(dǎo)體橫截面的關(guān)系

電源電路PCB設(shè)計(jì)電子技術(shù)

學(xué)習(xí)電子知識(shí)發(fā)布于 2023-08-23 22:15:49

案例分享：電單車(chē)電控模塊ESD故障分析（下）？

的CY為后續(xù)增加的整改措施，非失效原理分析內(nèi)容）通過(guò)對(duì)產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)及電路進(jìn)行分析，推測(cè)可能的放電路徑及失效機(jī)理如下針對(duì)以上的機(jī)理分析，相應(yīng)的整改方向也明確了：a、靜電的泄放，在MOS管散熱器和金屬外殼間增加高壓

2023-08-15 10:57:02

SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大平臺(tái)中心

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側(cè)設(shè)備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側(cè)設(shè)備為場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000近日，國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大

2023-07-31 23:30:26

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半導(dǎo)體器件鍵合失效模式及機(jī)理分析

本文通過(guò)對(duì)典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對(duì)器件鍵合失效造成的影響。通過(guò)對(duì)鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對(duì)各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理；并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。

2023-07-26 11:23:15

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LED驅(qū)動(dòng)電路圖分享 LED驅(qū)動(dòng)電路的工作原理和失效機(jī)理分析

隨著市場(chǎng)需求的不斷增加，近年從事LED制造和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長(zhǎng)。由于從事LED驅(qū)動(dòng)研發(fā)的企業(yè)和人眾多，其技術(shù)水平參差不齊，研發(fā)出來(lái)的LED驅(qū)動(dòng)電路質(zhì)量好壞不一。導(dǎo)致LED燈具的失效時(shí)常發(fā)生，阻礙了LED照明的市場(chǎng)推廣。

2023-07-25 09:12:04

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幾種常見(jiàn)的關(guān)于SEM IP的沖突

SEM IP是一種比較特殊的IP。它的基本工作就是不停地后臺(tái)掃描檢測(cè)FPGA配置RAM中的數(shù)據(jù)

2023-07-10 16:40:23

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SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用

這是Amanda王莉第55篇文章,點(diǎn)這里關(guān)注我,記得標(biāo)星在當(dāng)今世界，SEM掃描電子顯微鏡分析技術(shù)，一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段，主要應(yīng)用在半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生命科學(xué)和納米材料

2023-07-05 10:04:06

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德索高壓連接器端子接觸件結(jié)構(gòu)有哪些？

德索精密工業(yè)工程師指出，高壓連接器端子接觸件結(jié)構(gòu)可以根據(jù)具體應(yīng)用和要求而有所差異。

2023-06-30 10:59:55

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溫度-機(jī)械應(yīng)力失效主要情形

機(jī)理、氣候環(huán)境應(yīng)力失效機(jī)理和輻射應(yīng)力失效機(jī)理等幾大類(lèi)。 1. 電應(yīng)力失效機(jī)理電應(yīng)力失效包括封裝中的靜電放電，集成電路中存在n-p-n-p結(jié)構(gòu)而形成正反饋（月鎖效應(yīng)）或鈍化層介質(zhì)受潮/污染/損傷（白道擊穿）等過(guò)電應(yīng)力損傷導(dǎo)致

2023-06-26 14:15:31

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BGA失效分析與改善對(duì)策

2023-06-26 10:47:41

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漆包線的橫截面定義

根據(jù)漆包線的橫截面定義兩大類(lèi)為圓線和矩形線，圓形固有的特點(diǎn)是填充系數(shù)低，矩形與槽形狀匹配良好，其特點(diǎn)是填充系數(shù)高，在高頻應(yīng)用中，圓形仍然是首選。由于其具有矩形橫截面的特征，在使用它們的機(jī)器中，填充

2023-06-25 17:21:56

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集成電路封裝失效分析流程

為了防止在失效分析過(guò)程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理，封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。

2023-06-25 09:02:30

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集成電路封裝失效分析方法

集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式（失效模式），查找封裝失效原因，確定失效的物理化學(xué)過(guò)程（失效機(jī)理），為集成電路封裝糾正設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)等預(yù)防類(lèi)似封裝失效的再發(fā)生，提升

2023-06-21 08:53:40

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電蜂分享高壓連接器端子焊接熱失效

高壓連接器端子焊接不牢固是指在焊接過(guò)程中，端子與焊接件之間的焊接點(diǎn)未能充分熔合，導(dǎo)致高壓連接器在正常使用時(shí)出現(xiàn)接觸不良、信號(hào)傳輸失效等問(wèn)題。

2023-06-20 17:28:06

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德索告知新能源汽車(chē)高壓連接器三大失效模式

明，汽車(chē)高壓連接器各類(lèi)失效模式中，電接觸失效占比最大，約 45%，各類(lèi)失效模式及其占比如下圖。各大廠家在預(yù)防高壓連接器失效設(shè)計(jì)方面，做了大量工作，比如常見(jiàn)的高壓互鎖功

2023-06-14 09:45:19

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講一下失效分析中最常用的輔助實(shí)驗(yàn)手段：亮點(diǎn)分析（EMMI）

EMMI：Emission microscopy 。與SEM，F(xiàn)IB，EB等一起作為最常用的失效分析手段。

2023-06-12 18:21:18

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一文詳解PCB中的“平衡銅”

對(duì)稱介電層 4、電路板橫截面不均勻常見(jiàn)的不平衡設(shè)計(jì)問(wèn)題之一是電路板橫截面不當(dāng)。銅沉積在某些層中比其他層更大。

2023-05-29 15:35:32

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LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因分析

LED驅(qū)動(dòng)電源作為LED照明中不可或缺的一部分，對(duì)其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴(yán)苛，不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機(jī)械力學(xué)性能、電氣絕緣性能和導(dǎo)熱性能，同時(shí)也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動(dòng)電源的使用中，導(dǎo)致LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來(lái)看看吧!

2023-05-18 11:21:19

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淺談抗靜電指標(biāo)差的LED失效分析案例

紅光LED芯片是單電極結(jié)構(gòu)，它兩個(gè)電極之間的材質(zhì)、厚度、襯底材料與雙電極的藍(lán)綠光LED不一樣，所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。

2023-05-15 09:26:20

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怎樣進(jìn)行芯片失效分析？

失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。

2023-05-13 17:16:25

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TVS二極管失效機(jī)理與失效分析

。通過(guò)對(duì)TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。

2023-05-12 17:25:48

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電阻、電容、電感的常見(jiàn)失效分析

失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。

2023-05-11 14:39:11

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在什么情況下信號(hào)量斷言會(huì)失效呢？

, line); }}看一下打印信息里的參數(shù)，提示是下面函數(shù)的斷言失效，問(wèn)題一：在什么情況下，一個(gè)信號(hào)量的類(lèi)型不是信號(hào)量呢？ rt_err_t rt_sem_release(rt_sem_t sem

2023-05-11 14:35:31

進(jìn)口芯片失效怎么辦？做個(gè)失效分析查找源頭

芯片對(duì)于電子設(shè)備來(lái)說(shuō)非常的重要，進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下，生產(chǎn)對(duì)進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來(lái)越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來(lái)，那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。

2023-05-10 17:46:31

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rt_sem_control的使用場(chǎng)景是什么？

在信號(hào)量的api中有一個(gè)api: rt_sem_control ,目前只支持一個(gè)命令RT_IPC_CMD_RESET 即重置信號(hào)量值，在官方的demo中經(jīng)?？吹竭@種用法rt_sem

2023-05-05 17:26:37

環(huán)旭電子發(fā)展先進(jìn)失效分析技術(shù)

為了將制程問(wèn)題降至最低，環(huán)旭電子利用高精度3D X-Ray定位異常元件的位置，利用激光去層和重植球技術(shù)提取SiP 模組中的主芯片。同時(shí)，利用X射線光電子能譜和傅立葉紅外光譜尋找元件表面有機(jī)污染物的源頭，持續(xù)強(qiáng)化SiP模組失效分析領(lǐng)域分析能力。

2023-04-24 11:31:41

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三相變壓器是如何構(gòu)建的？

方向相反。如果系統(tǒng)與相序a-b-c平衡，則通量也將平衡　　　　該組合通量的大小等于其每個(gè)組分的大小。組合軛的橫截面積與軛的外腿和上下部分的橫截面積相同。磁路不平衡對(duì)三個(gè)殼式變壓器的性能影響很小。殼式三相變壓器的繞組根據(jù)需要以三角形或星形連接。

2023-04-23 17:48:56

【核芯觀察】衛(wèi)星通信產(chǎn)業(yè)鏈分析（二）

【核芯觀察】是電子發(fā)燒友編輯部出品的深度系列專(zhuān)欄，目的是用最直觀的方式令讀者盡快理解電子產(chǎn)業(yè)架構(gòu)，理清上、中、下游的各個(gè)環(huán)節(jié)，同時(shí)迅速了解各大細(xì)分環(huán)節(jié)中的行業(yè)現(xiàn)狀。本期【核芯觀察】的主題是衛(wèi)星通信產(chǎn)業(yè)，對(duì)上下游企業(yè)、技術(shù)、市場(chǎng)等方面進(jìn)行梳理，分析當(dāng)前衛(wèi)星通信產(chǎn)業(yè)中芯片的需求趨勢(shì)。

2023-04-23 00:01:00

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半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見(jiàn)失效分析方法介紹！

失效分析（FA）是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)

2023-04-18 09:11:21

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