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標簽 > 晶圓
晶圓是指硅半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片,由于其形狀為圓形,故稱為晶圓;在硅晶片上可加工制作成各種電路元件結(jié)構(gòu),而成為有特定電性功能之IC產(chǎn)品。
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1.晶圓制備(WaferPreparation)核心目標:從高純度多晶硅出發(fā),通過提純、單晶生長和精密加工獲得高度平整的圓形硅片(晶圓)。具體包括直拉法...
2025-10-28 標簽:半導(dǎo)體晶圓半導(dǎo)體制程 584 0
晶圓濕法刻蝕技術(shù)作為半導(dǎo)體制造中的重要工藝手段,具有以下顯著優(yōu)點:高選擇性與精準保護通過選用特定的化學(xué)試劑和控制反應(yīng)條件,濕法刻蝕能夠?qū)崿F(xiàn)對目標材料的高...
使用Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀進行晶圓級可靠性測試
器件復(fù)雜度、材料及幾何尺寸的不斷演進,使單個器件的壽命與可靠性面臨前所未有的挑戰(zhàn)。曾經(jīng)可持續(xù) 100 年的工藝,如今可能僅剩 10 年壽命,這與產(chǎn)品的實...
2025-10-24 標簽:晶圓Keithley參數(shù)分析儀 5.1k 0
微電子技術(shù)的演進始終圍繞微型化、高效性、集成度與低成本四大核心驅(qū)動力展開,封裝技術(shù)亦隨之從傳統(tǒng)TSOP、CSP、WLP逐步邁向系統(tǒng)級集成的PoP、SiP...
在半導(dǎo)體封裝工藝中,芯片鍵合(Die Bonding)是指將晶圓芯片固定到封裝基板上的關(guān)鍵步驟。鍵合工藝可分為傳統(tǒng)方法和先進方法:傳統(tǒng)方法包括芯片鍵合(...
大尺寸玻璃晶圓(12 英寸 +)TTV 厚度均勻性提升技術(shù)
一、引言 12 英寸及以上的大尺寸玻璃晶圓在半導(dǎo)體制造、顯示面板、微機電系統(tǒng)等領(lǐng)域扮演著關(guān)鍵角色 ??偤穸绕睿═TV)的均勻性直接影響晶圓后續(xù)光刻、...
基于微四探針(M4PP)?測量的石墨烯電導(dǎo)性能評估
石墨烯作為原子級薄二維材料,具備優(yōu)異電學(xué)與機械性能,在防腐、OLED、傳感器等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。隨著大面積石墨烯生長與轉(zhuǎn)移技術(shù)的成熟,如何實現(xiàn)其電學(xué)性能的快...
共聚焦顯微鏡在半導(dǎo)體硅晶圓檢測中的應(yīng)用
半導(dǎo)體制造工藝中,經(jīng)晶棒切割后的硅晶圓尺寸檢測,是保障后續(xù)制程精度的核心環(huán)節(jié)。共聚焦顯微鏡憑借其高分辨率成像能力與無損檢測特性,成為檢測過程的關(guān)鍵分析工...
【海翔科技】玻璃晶圓 TTV 厚度對 3D 集成封裝可靠性的影響評估
一、引言 隨著半導(dǎo)體技術(shù)向小型化、高性能化發(fā)展,3D 集成封裝技術(shù)憑借其能有效提高芯片集成度、縮短信號傳輸距離等優(yōu)勢,成為行業(yè)發(fā)展的重要方向 。玻璃晶...
【新啟航】深度學(xué)習(xí)在玻璃晶圓 TTV 厚度數(shù)據(jù)智能分析中的應(yīng)用
一、引言 玻璃晶圓總厚度偏差(TTV)是衡量晶圓質(zhì)量的關(guān)鍵指標,其精確分析對半導(dǎo)體制造、微流控芯片等領(lǐng)域至關(guān)重要 。傳統(tǒng) TTV 厚度數(shù)據(jù)分析方法依賴...
2025-10-11 標簽:晶圓碳化硅深度學(xué)習(xí) 261 0
【新啟航】玻璃晶圓 TTV 厚度在光刻工藝中的反饋控制優(yōu)化研究
一、引言 玻璃晶圓在半導(dǎo)體制造、微流控芯片等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,光刻工藝作為決定器件圖案精度與性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié),對玻璃晶圓的質(zhì)量要求極為嚴苛 ??偤穸绕睿═...
晶圓去除污染物的措施是一個多步驟、多技術(shù)的系統(tǒng)工程,旨在確保半導(dǎo)體制造過程中晶圓表面的潔凈度達到原子級水平。以下是詳細的解決方案:物理清除技術(shù)超聲波輔助...
半導(dǎo)體制備中晶圓凹槽(Notch)與定位邊(Flat)工藝的詳解
同行都知道:晶圓,它是微電子產(chǎn)業(yè)的行業(yè)術(shù)語之一,英文稱作:Wafer。其中,高純度的硅(純度,99.99......,小數(shù)點后面9-11個9),一般被做...
面向5G通信應(yīng)用:高阻硅晶圓電阻率熱處理穩(wěn)定化與四探針技術(shù)精準測量
隨著5G通信技術(shù)的快速發(fā)展,高阻絕緣體上硅在微波與毫米波器件、探測器等領(lǐng)域的應(yīng)用需求激增。然而,高阻硅片電阻率的快速準確測量仍面臨技術(shù)挑戰(zhàn)。四點探針法(...
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