chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

中科飛測(cè)橢偏膜厚量測(cè)儀作為首批設(shè)備,正式搬入士蘭集科

集成電路應(yīng)用雜志 ? 來源:士蘭集科 ? 2020-08-17 14:31 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

首批設(shè)備進(jìn)場(chǎng)!中科飛測(cè)橢偏膜厚量測(cè)儀正式搬入廈門士蘭集科

繼士蘭微電子12英寸特色工藝半導(dǎo)體芯片項(xiàng)目于5月10日宣布正式通電后,工藝設(shè)備也將開始陸續(xù)進(jìn)場(chǎng)。5月20日,深圳中科飛測(cè)科技有限公司(以下簡(jiǎn)稱“中科飛測(cè)”)橢偏膜厚量測(cè)儀作為首批設(shè)備,正式搬入廈門士蘭集科微電子有限公司(以下簡(jiǎn)稱“士蘭集科”)。

中科飛測(cè)是一家以在集成電路設(shè)備領(lǐng)域有多年經(jīng)驗(yàn)的研發(fā)和管理團(tuán)隊(duì)為核心,自主研發(fā)和生產(chǎn)工業(yè)智能檢測(cè)裝備的高科技創(chuàng)新企業(yè)。同時(shí),中科飛測(cè)也是目前國(guó)內(nèi)唯一一家在Metrology(量測(cè))和Inspection(缺陷檢測(cè))兩大領(lǐng)域均在國(guó)內(nèi)一線半導(dǎo)體制造廠商取得批量訂單的半導(dǎo)體光學(xué)檢測(cè)設(shè)備供應(yīng)商。

士蘭集科由廈門半導(dǎo)體投資集團(tuán)有限公司與杭州士蘭微電子股份有限公司共同出資設(shè)立。根據(jù)規(guī)劃,士蘭集科將投資170億元在廈門海滄建設(shè)兩條12英寸特色工藝芯片生產(chǎn)線。

2018年10月18日,士蘭廈門12英寸特色工藝芯片生產(chǎn)線暨先進(jìn)化合物半導(dǎo)體生產(chǎn)線在廈門海滄動(dòng)工,這是國(guó)內(nèi)首條12英寸特色工藝芯片制造生產(chǎn)線和下一代化合物生產(chǎn)線。2020年5月10日,士蘭廈門12英寸特色工藝半導(dǎo)體芯片項(xiàng)目正式通電。隨著該項(xiàng)目的正式通電,工藝設(shè)備將從5月中旬陸續(xù)進(jìn)場(chǎng),預(yù)計(jì)年底通線。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 半導(dǎo)體
    +關(guān)注

    關(guān)注

    336

    文章

    29572

    瀏覽量

    252041
  • 半導(dǎo)體芯片
    +關(guān)注

    關(guān)注

    61

    文章

    937

    瀏覽量

    71980
  • 中科飛測(cè)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    10

    瀏覽量

    272

原文標(biāo)題:首批設(shè)備進(jìn)場(chǎng),中科飛測(cè)橢偏膜厚量測(cè)儀正式搬入廈門士蘭集科

文章出處:【微信號(hào):appic-cn,微信公眾號(hào):集成電路應(yīng)用雜志】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    在精密薄膜中的應(yīng)用:基于單驅(qū)動(dòng)變角結(jié)構(gòu)的高重復(fù)性精度控制系統(tǒng)

    測(cè)試技術(shù)具有非接觸、高靈敏、無樣品破壞優(yōu)勢(shì),廣義因可測(cè)各向同性與異性樣品成研究熱點(diǎn),但需變角結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)多角度測(cè)量。當(dāng)前立式
    的頭像 發(fā)表于 10-15 18:04 ?51次閱讀
    <b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b><b class='flag-5'>儀</b>在精密薄膜中的應(yīng)用:基于單驅(qū)動(dòng)變角結(jié)構(gòu)的高重復(fù)性精度控制系統(tǒng)

    常見技術(shù)問題解答(二)

    是一種基于橢圓偏振分析的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,通過探測(cè)偏振光與樣品相互作用后偏振態(tài)的變化,獲取材料的光學(xué)常數(shù)和結(jié)構(gòu)信息。Flexfilm全光譜
    的頭像 發(fā)表于 10-10 18:05 ?87次閱讀
    <b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b><b class='flag-5'>儀</b>常見技術(shù)問題解答(二)

    常見技術(shù)問題解答(一)

    是一種基于橢圓偏振分析的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,通過探測(cè)偏振光與樣品相互作用后偏振態(tài)的變化,獲取材料的光學(xué)常數(shù)和結(jié)構(gòu)信息。Flexfilm全光譜
    的頭像 發(fā)表于 09-26 18:04 ?330次閱讀
    <b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b><b class='flag-5'>儀</b>常見技術(shù)問題解答(一)

    在半導(dǎo)體薄膜厚度測(cè)量中的應(yīng)用:基于光譜干涉法研究

    薄膜厚度的測(cè)量在芯片制造和集成電路等領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。法具備高測(cè)量精度的優(yōu)點(diǎn),利用寬譜測(cè)量方式可得到全光譜的參數(shù),實(shí)現(xiàn)納米級(jí)薄膜的厚度測(cè)量。Flexfilm全光譜
    的頭像 發(fā)表于 09-08 18:02 ?1025次閱讀
    <b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b><b class='flag-5'>儀</b>在半導(dǎo)體薄膜厚度測(cè)量中的應(yīng)用:基于光譜干涉<b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b>法研究

    在集成電路檢測(cè)中的應(yīng)用:以標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)法校準(zhǔn)參數(shù)

    且準(zhǔn)確的校準(zhǔn)方法以維持儀器性能。傳統(tǒng)校準(zhǔn)方法(如雙區(qū)域法)在實(shí)施上復(fù)雜且不易在生產(chǎn)線上周期性重復(fù)。Flexfilm全光譜可以非接觸對(duì)薄膜的厚度與折射率的高精
    的頭像 發(fā)表于 09-03 18:04 ?349次閱讀
    <b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b><b class='flag-5'>儀</b>在集成電路檢測(cè)中的應(yīng)用:以標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)法校準(zhǔn)<b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b>參數(shù)

    薄膜測(cè)選臺(tái)階還是?針對(duì)不同厚度范圍提供技術(shù)選型指南

    的物理高度差,為實(shí)現(xiàn)層的簡(jiǎn)單、直接測(cè)量提供了經(jīng)典方案。而光譜則利用光與薄膜相互作用的偏振態(tài)變化,兼具非破壞性、快速測(cè)量與提取材料光
    的頭像 發(fā)表于 08-29 18:01 ?2013次閱讀
    薄膜測(cè)<b class='flag-5'>厚</b>選臺(tái)階<b class='flag-5'>儀</b>還是<b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b><b class='flag-5'>儀</b>?針對(duì)不同厚度范圍提供技術(shù)選型指南

    的原理和應(yīng)用 | 薄膜材料或塊體材料光學(xué)參數(shù)和厚度的測(cè)量

    是一種基于橢圓偏振分析的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,通過探測(cè)偏振光與樣品相互作用后偏振態(tài)的變化,獲取材料的光學(xué)常數(shù)和結(jié)構(gòu)信息。Flexfilm全光譜
    的頭像 發(fā)表于 08-27 18:04 ?763次閱讀
    <b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b><b class='flag-5'>儀</b>的原理和應(yīng)用 | 薄膜材料或塊體材料光學(xué)參數(shù)和厚度的測(cè)量

    在OLED中的應(yīng)用丨多層薄膜納米結(jié)構(gòu)的各層厚度高精度提取

    在OLED顯示器中的多層超薄膜疊加結(jié)構(gòu)的測(cè)量應(yīng)用中,需要同時(shí)提取多層超薄膜堆棧各層薄膜厚度值,而層與層間的厚度也會(huì)有強(qiáng)耦合性會(huì)導(dǎo)致測(cè)量的不確定性增加。某些
    的頭像 發(fā)表于 08-22 18:09 ?553次閱讀
    <b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b><b class='flag-5'>儀</b>在OLED中的應(yīng)用丨多層薄膜納米結(jié)構(gòu)的各<b class='flag-5'>膜</b>層厚度高精度提取

    薄膜測(cè)量原理和方法:光學(xué)模型建立和仿真

    技術(shù)是一種非接觸式、高精度、多參數(shù)等光學(xué)測(cè)量技術(shù),是薄膜檢測(cè)的最好手段。本文以橢圓偏振基本原理為基礎(chǔ),重點(diǎn)介紹了光學(xué)模型建立和仿真,為
    的頭像 發(fā)表于 08-15 18:01 ?2898次閱讀
    <b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b><b class='flag-5'>儀</b>薄膜測(cè)量原理和方法:光學(xué)模型建立和仿真

    在半導(dǎo)體薄膜工藝中的應(yīng)用:與折射率的測(cè)量原理和校準(zhǔn)方法

    半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備主要用于監(jiān)測(cè)晶圓上、線寬、臺(tái)階高度、電阻率等工藝參數(shù),實(shí)現(xiàn)器件各項(xiàng)參數(shù)的準(zhǔn)確控制,進(jìn)而保障器件的整體性能。
    的頭像 發(fā)表于 07-30 18:03 ?761次閱讀
    <b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b><b class='flag-5'>儀</b>在半導(dǎo)體薄膜工藝中的應(yīng)用:<b class='flag-5'>膜</b><b class='flag-5'>厚</b>與折射率的測(cè)量原理和校準(zhǔn)方法

    測(cè)量薄膜厚度的原理與應(yīng)用

    在半導(dǎo)體、光學(xué)鍍膜及新能源材料等領(lǐng)域,精確測(cè)量薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)是材料表征的關(guān)鍵步驟。Flexfilm光譜(SpectroscopicEllipsometry,SE)作為一種非接
    的頭像 發(fā)表于 07-22 09:54 ?925次閱讀
    <b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b><b class='flag-5'>儀</b>測(cè)量薄膜厚度的原理與應(yīng)用

    聚焦位置對(duì)光譜測(cè)量精度的影響

    ,成為半導(dǎo)體工業(yè)中監(jiān)測(cè)的核心設(shè)備。1寬光譜工作原理flexfilm寬光譜
    的頭像 發(fā)表于 07-22 09:54 ?400次閱讀
    聚焦位置對(duì)光譜<b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b><b class='flag-5'>儀</b><b class='flag-5'>膜</b><b class='flag-5'>厚</b>測(cè)量精度的影響

    原理和應(yīng)用 | 精準(zhǔn)測(cè)量不同基底光學(xué)薄膜TiO?/SiO?的光學(xué)常數(shù)

    作為表征光學(xué)薄膜性能的核心工具,在光學(xué)薄膜領(lǐng)域具有不可替代的作用。本研究聚焦基底類型(K9玻璃、石英玻璃、單晶硅)對(duì)溶膠-凝膠法制備的TiO?和SiO?薄膜光學(xué)性能的調(diào)控機(jī)制。F
    的頭像 發(fā)表于 07-22 09:51 ?696次閱讀
    <b class='flag-5'>橢</b><b class='flag-5'>偏</b><b class='flag-5'>儀</b>原理和應(yīng)用 | 精準(zhǔn)測(cè)量不同基底光學(xué)薄膜TiO?/SiO?的光學(xué)常數(shù)

    芯片制造中的檢測(cè) | 多層及表面輪廓的高精度測(cè)量

    隨著物聯(lián)網(wǎng)(IoT)和人工智能(AI)驅(qū)動(dòng)的半導(dǎo)體器件微型化,對(duì)多層膜結(jié)構(gòu)的三維無損檢測(cè)需求急劇增長(zhǎng)。傳統(tǒng)僅支持逐點(diǎn)測(cè)量,而白光干
    的頭像 發(fā)表于 07-21 18:17 ?397次閱讀
    芯片制造中的<b class='flag-5'>膜</b><b class='flag-5'>厚</b>檢測(cè) | 多層<b class='flag-5'>膜</b><b class='flag-5'>厚</b>及表面輪廓的高精度測(cè)量

    測(cè)試的測(cè)量范圍 測(cè)試的操作注意事項(xiàng)

    測(cè)試是一種用于測(cè)量涂層、鍍層、薄膜等材料厚度的精密儀器。它在工業(yè)生產(chǎn)、質(zhì)量控制、科研等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。以下是關(guān)于測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 12-19 15:42 ?1707次閱讀