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基于光纖傳感的碳化硅襯底厚度測量探頭溫漂抑制技術(shù)

新啟航半導(dǎo)體有限公司 ? 2025-06-05 09:43 ? 次閱讀
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引言

在碳化硅襯底厚度測量中,探頭溫漂是影響測量精度的關(guān)鍵因素。傳統(tǒng)測量探頭受環(huán)境溫度變化干擾大,導(dǎo)致測量數(shù)據(jù)偏差。光纖傳感技術(shù)憑借獨特的物理特性,為探頭溫漂抑制提供了新方向,對提升碳化硅襯底厚度測量準(zhǔn)確性意義重大。

光纖傳感原理及優(yōu)勢

光纖傳感技術(shù)基于光在光纖中傳輸時,外界物理量(如溫度、應(yīng)變等)對光的強度、相位、波長等特性的調(diào)制原理 。當(dāng)溫度發(fā)生變化,光纖的幾何尺寸和折射率會改變,進而引起光的相位或波長漂移。通過檢測這些光學(xué)參數(shù)的變化,就能實現(xiàn)對溫度等物理量的高精度測量 。與傳統(tǒng)傳感器相比,光纖傳感器具有抗電磁干擾能力強、體積小、重量輕、可實現(xiàn)分布式測量等優(yōu)勢 。在碳化硅襯底測量環(huán)境中,其抗干擾特性能夠有效避免外界復(fù)雜電磁環(huán)境對測量的影響,且小體積特點便于集成到測量探頭內(nèi)部,實時監(jiān)測探頭溫度變化 。

溫漂抑制技術(shù)

溫度實時監(jiān)測與補償

將光纖溫度傳感器嵌入測量探頭關(guān)鍵部位,實時監(jiān)測探頭溫度變化 ?;诠饫w傳感獲取的溫度數(shù)據(jù),建立溫度 - 測量誤差補償模型。例如,通過大量實驗數(shù)據(jù)擬合出探頭溫度與厚度測量誤差的函數(shù)關(guān)系,當(dāng)測量過程中檢測到溫度變化時,系統(tǒng)根據(jù)補償模型自動對測量結(jié)果進行修正 。這種實時監(jiān)測與補償方式,能夠快速響應(yīng)探頭溫度波動,減少溫漂對測量結(jié)果的影響 。

光纖傳感與結(jié)構(gòu)優(yōu)化結(jié)合

對測量探頭進行結(jié)構(gòu)設(shè)計優(yōu)化,結(jié)合光纖傳感技術(shù)進一步抑制溫漂 。采用隔熱材料對探頭敏感部件進行包裹,降低環(huán)境溫度對探頭的熱傳導(dǎo)影響 。同時,在探頭內(nèi)部合理布置光纖傳感器,監(jiān)測隔熱結(jié)構(gòu)的溫度傳導(dǎo)情況,評估隔熱效果 。若發(fā)現(xiàn)局部溫度異常,可及時調(diào)整隔熱結(jié)構(gòu)或優(yōu)化探頭內(nèi)部布局,確保探頭溫度場均勻穩(wěn)定,從結(jié)構(gòu)層面減少溫漂產(chǎn)生 。此外,利用光纖傳感對探頭應(yīng)力分布進行監(jiān)測,避免因溫度變化導(dǎo)致探頭內(nèi)部應(yīng)力不均而引起的測量誤差 。

光纖傳感信號處理優(yōu)化

針對光纖傳感獲取的溫度信號,采用先進的信號處理算法提升信號質(zhì)量,增強溫漂抑制效果 。運用數(shù)字濾波技術(shù),如卡爾曼濾波、小波濾波等,去除信號中的噪聲干擾,提高溫度測量的準(zhǔn)確性 。通過對濾波后信號的快速傅里葉變換(FFT)分析,提取溫度變化的特征頻率,更精準(zhǔn)地掌握探頭溫度變化規(guī)律 ?;谶@些處理后的信號,優(yōu)化溫度補償策略,實現(xiàn)對探頭溫漂的更有效抑制 。

高通量晶圓測厚系統(tǒng)運用第三代掃頻OCT技術(shù),精準(zhǔn)攻克晶圓/晶片厚度TTV重復(fù)精度不穩(wěn)定難題,重復(fù)精度達(dá)3nm以下。針對行業(yè)厚度測量結(jié)果不一致的痛點,經(jīng)不同時段測量驗證,保障再現(xiàn)精度可靠。?

wKgZPGdOp6mAKTtWAAMZ0sugoBA420.png

我們的數(shù)據(jù)和WAFERSIGHT2的數(shù)據(jù)測量對比,進一步驗證了真值的再現(xiàn)性:

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(以上為新啟航實測樣品數(shù)據(jù)結(jié)果)

該系統(tǒng)基于第三代可調(diào)諧掃頻激光技術(shù),相較傳統(tǒng)雙探頭對射掃描,可一次完成所有平面度及厚度參數(shù)測量。其創(chuàng)新掃描原理極大提升材料兼容性,從輕摻到重?fù)絇型硅,到碳化硅、藍(lán)寶石、玻璃等多種晶圓材料均適用:?

對重?fù)叫凸瑁删珳?zhǔn)探測強吸收晶圓前后表面;?

點掃描第三代掃頻激光技術(shù),有效抵御光譜串?dāng)_,勝任粗糙晶圓表面測量;?

通過偏振效應(yīng)補償,增強低反射碳化硅、鈮酸鋰晶圓測量信噪比;

wKgZO2g-jKeAYh0xAAUBS068td0375.png

(以上為新啟航實測樣品數(shù)據(jù)結(jié)果)

支持絕緣體上硅和MEMS多層結(jié)構(gòu)測量,覆蓋μm級到數(shù)百μm級厚度范圍,還可測量薄至4μm、精度達(dá)1nm的薄膜。

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(以上為新啟航實測樣品數(shù)據(jù)結(jié)果)

此外,可調(diào)諧掃頻激光具備出色的“溫漂”處理能力,在極端環(huán)境中抗干擾性強,顯著提升重復(fù)測量穩(wěn)定性。

wKgZO2d_kAqAZxzNAAcUmXvDHLM306.png

(以上為新啟航實測樣品數(shù)據(jù)結(jié)果)

系統(tǒng)采用第三代高速掃頻可調(diào)諧激光器,擺脫傳統(tǒng)SLD光源對“主動式減震平臺”的依賴,憑借卓越抗干擾性實現(xiàn)小型化設(shè)計,還能與EFEM系統(tǒng)集成,滿足產(chǎn)線自動化測量需求。運動控制靈活,適配2-12英寸方片和圓片測量。

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