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深入解析 onsemi NTHL045N065SC1 SiC MOSFET

h1654155282.3538 ? 來源:未知 ? 作者:陳翠 ? 2025-12-08 16:55 ? 次閱讀
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深入解析 onsemi NTHL045N065SC1 SiC MOSFET

在功率半導(dǎo)體領(lǐng)域,碳化硅(SiC)MOSFET 憑借其卓越的性能逐漸成為眾多應(yīng)用的首選。今天我們就來詳細(xì)解析 onsemi 的 NTHL045N065SC1 這款 N 溝道 SiC 功率 MOSFET。

文件下載:onsemi NTHL045N065SC1碳化矽(SIC)MOSFET.pdf

產(chǎn)品概述

NTHL045N065SC1 采用 TO - 247 - 3L 封裝,具備 650V 的耐壓能力,在不同條件下展現(xiàn)出出色的性能。其最大漏源導(dǎo)通電阻(RDS(ON))在不同柵源電壓下有不同表現(xiàn),典型值在 VGS = 18V 時為 32mΩ,VGS = 15V 時為 42mΩ,連續(xù)漏極電流(ID)最大可達(dá) 66A。

特點亮點

低導(dǎo)通電阻

該器件在 VGS = 18V 時典型 RDS(ON)為 32mΩ,VGS = 15V 時為 42mΩ。低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,MOSFET 的功率損耗更小,能夠有效提高系統(tǒng)的效率,降低發(fā)熱,對于需要長時間穩(wěn)定工作的設(shè)備來說至關(guān)重要。大家在實際設(shè)計中,可以根據(jù)具體的工作電壓來評估其導(dǎo)通損耗。

超低柵極電荷

其總柵極電荷(QG(tot))僅為 105nC。超低的柵極電荷使得 MOSFET 在開關(guān)過程中所需的驅(qū)動能量更少,從而可以實現(xiàn)更快的開關(guān)速度,減少開關(guān)損耗,提高系統(tǒng)的整體性能。這對于高頻應(yīng)用場景,如開關(guān)電源(SMPS)等,能夠顯著提升效率。

高速開關(guān)與低電容

具有低電容特性,輸出電容(Coss)為 162pF。低電容使得 MOSFET 在開關(guān)過程中能夠更快地充放電,進(jìn)一步提高開關(guān)速度,降低開關(guān)損耗。高速開關(guān)能力使得該器件能夠適應(yīng)高頻工作環(huán)境,滿足現(xiàn)代電子設(shè)備對高頻率、高效率的需求。

雪崩測試

經(jīng)過 100%雪崩測試,這表明該器件在承受雪崩能量時具有較高的可靠性和穩(wěn)定性。在實際應(yīng)用中,可能會遇到瞬間的高能量沖擊,經(jīng)過雪崩測試的 MOSFET 能夠更好地應(yīng)對這些情況,保障系統(tǒng)的安全運(yùn)行。

寬溫度范圍

工作結(jié)溫和存儲溫度范圍為 -55°C 至 +175°C,能夠適應(yīng)各種惡劣的工作環(huán)境。在高溫環(huán)境下,器件依然能夠保持穩(wěn)定的性能,這對于一些對溫度要求較高的應(yīng)用,如太陽能逆變器、UPS 等,具有重要意義。

典型應(yīng)用

該 MOSFET 適用于多種領(lǐng)域,如開關(guān)電源(SMPS)、太陽能逆變器、不間斷電源(UPS)和能量存儲系統(tǒng)等。在這些應(yīng)用中,其低導(dǎo)通電阻、高速開關(guān)和寬溫度范圍等特性能夠充分發(fā)揮優(yōu)勢,提高系統(tǒng)的效率和可靠性。例如在太陽能逆變器中,能夠?qū)⑻柲茈姵匕瀹a(chǎn)生的直流電高效地轉(zhuǎn)換為交流電,提高太陽能的利用效率;在 UPS 中,可以確保在市電中斷時,能夠快速、穩(wěn)定地為負(fù)載供電。

最大額定值

參數(shù) 符號 數(shù)值 單位
漏源電壓 VDSS 650 V
柵源電壓 VGS -8/+22 V
推薦柵源電壓(TC < 175°C) VGSop -5/+18 V
連續(xù)漏極電流(TC = 25°C) ID 66 A
穩(wěn)態(tài)功率耗散(TC = 25°C) PD 291 W
連續(xù)漏極電流(TC = 100°C) ID 46 A
功率耗散(TC = 100°C) PD 145 W
脈沖漏極電流(TC = 25°C) IDM 191 A
工作結(jié)溫和存儲溫度范圍 TJ, Tstg -55 至 +175 °C
源極電流(體二極管 IS 75 A
單脈沖漏源雪崩能量(IL(pk) = 12A, L = 1mH) EAS 72 mJ
最大焊接引線溫度(距外殼 1/8″,5s) TL 300 °C

這些額定值為我們在設(shè)計電路時提供了重要的參考依據(jù),在實際應(yīng)用中,必須確保各項參數(shù)不超過這些額定值,否則可能會導(dǎo)致器件損壞或性能下降。例如,在選擇散熱方案時,需要根據(jù)功率耗散來計算所需的散熱能力,以保證器件在安全的溫度范圍內(nèi)工作。

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓(V(BR)DSS):在 VGS = 0V,ID = 1mA 時為 650V,其溫度系數(shù)為 -0.15V/°C(ID = 20mA,參考 25°C)。這意味著隨著溫度的升高,漏源擊穿電壓會略有下降,在高溫環(huán)境下設(shè)計時需要考慮這一因素。
  • 零柵壓漏極電流(IDSS):在 VGS = 0V,VDS = 650V,TJ = 25°C 時為 10μA,TJ = 175°C 時為 1mA。溫度升高會導(dǎo)致漏極電流增大,這會增加器件的功耗,需要注意散熱設(shè)計。
  • 柵源泄漏電流(IGSS):在 VGS = +22/ - 8V,VDS = 0V 時為 250nA,較小的柵源泄漏電流有助于降低驅(qū)動電路的功耗。

導(dǎo)通特性

導(dǎo)通特性部分文檔未詳細(xì)給出,但我們知道其低導(dǎo)通電阻是該器件的重要優(yōu)勢之一,在導(dǎo)通狀態(tài)下能夠有效降低功率損耗。

開關(guān)特性

開關(guān)特性 符號 測試條件 典型值 單位
導(dǎo)通延遲時間 td(ON) VGs = -5/18V,Vps = 400V,ID = 25A,RG = 2.2,感性負(fù)載 14 ns
上升時間 - - 30 ns
關(guān)斷延遲時間 td(OFF) - 26 ns
下降時間 tf - 7 ns
導(dǎo)通開關(guān)損耗 EON - 198 μJ
關(guān)斷開關(guān)損耗 EOFF - 28 μJ
總開關(guān)損耗 Etot - 226 μJ

這些開關(guān)特性參數(shù)對于評估 MOSFET 在開關(guān)過程中的性能非常重要。較短的導(dǎo)通和關(guān)斷延遲時間以及上升、下降時間,能夠減少開關(guān)過程中的能量損耗,提高系統(tǒng)效率。而開關(guān)損耗的大小直接影響著器件的發(fā)熱情況和系統(tǒng)的可靠性。

漏源二極管特性

參數(shù) 符號 測試條件 典型值 單位
反向恢復(fù)時間 tRR Vcs = -5/18V,Iso = 25A,dlg/dt = 1000A/μs 19 ns
反向恢復(fù)電荷 QRR - 99 nC
反向恢復(fù)能量 EREC - 3.5 mJ
峰值反向恢復(fù)電流 IRRM - 10 A
充電時間 Ta - 11 ns
放電時間 Tb - 8.4 ns

漏源二極管的這些特性對于理解其在電路中的工作情況和性能表現(xiàn)至關(guān)重要。較短的反向恢復(fù)時間和較小的反向恢復(fù)電荷能夠減少二極管在反向恢復(fù)過程中的能量損耗,提高系統(tǒng)的效率。

典型特性曲線

文檔中給出了多個典型特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵源電壓的關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻與柵源電壓的關(guān)系、傳輸特性、二極管正向電壓與電流的關(guān)系、柵源電壓與總電荷的關(guān)系、電容與漏源電壓的關(guān)系、非鉗位電感開關(guān)能力、最大連續(xù)漏極電流與殼溫的關(guān)系、安全工作區(qū)、單脈沖最大功率耗散以及結(jié)到殼的熱響應(yīng)等。這些曲線為我們更深入地了解器件的性能提供了直觀的依據(jù)。例如,通過導(dǎo)通電阻隨溫度的變化曲線,我們可以預(yù)測在不同溫度下器件的導(dǎo)通損耗;通過最大連續(xù)漏極電流與殼溫的關(guān)系曲線,我們可以合理設(shè)計散熱方案,確保器件在安全的電流和溫度范圍內(nèi)工作。

封裝與訂購信息

該器件采用 TO - 247 長引線封裝,采用管裝方式,每管 30 個單位。在訂購時,需要根據(jù)實際需求選擇合適的包裝數(shù)量。同時,在進(jìn)行 PCB 設(shè)計時,要根據(jù)封裝尺寸合理布局,確保器件的安裝和散熱。

總結(jié)

onsemi 的 NTHL045N065SC1 SiC MOSFET 以其低導(dǎo)通電阻、超低柵極電荷、高速開關(guān)、寬溫度范圍等優(yōu)異特性,在開關(guān)電源、太陽能逆變器、UPS 等領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。在設(shè)計電路時,我們需要充分考慮其最大額定值、電氣特性和典型特性曲線等參數(shù),合理選擇工作條件和散熱方案,以確保器件的性能和可靠性。大家在實際應(yīng)用中,是否遇到過類似 MOSFET 的選型和設(shè)計難題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

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