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onsemi碳化硅MOSFET NTBG060N065SC1:性能與應(yīng)用全解析

h1654155282.3538 ? 來源:未知 ? 作者:陳翠 ? 2025-12-08 10:49 ? 次閱讀
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onsemi碳化硅MOSFET NTBG060N065SC1:性能與應(yīng)用全解析

電子工程師的日常工作中,選擇合適的功率器件對于電路設(shè)計的成功至關(guān)重要。今天,我們就來深入探討一下安森美(onsemi)的碳化硅(SiC)MOSFET——NTBG060N065SC1,看看它在眾多應(yīng)用場景中能為我們帶來怎樣的優(yōu)勢。

文件下載:onsemi NTBG060N065SC1 44mΩ碳化硅MOSFET.pdf

一、產(chǎn)品特性亮點

低導(dǎo)通電阻

該MOSFET在不同柵源電壓下具有出色的導(dǎo)通電阻特性。典型情況下,當(dāng)$V{GS}=18V$時,$R{DS(on)} = 44 m\Omega$;當(dāng)$V{GS}=15V$時,$R{DS(on)} = 60 m\Omega$。低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,器件的功率損耗更低,能夠有效提高電路的效率。這對于追求高效節(jié)能的開關(guān)電源(SMPS)、太陽能逆變器等應(yīng)用來說,是非常關(guān)鍵的特性。

低電荷與電容

其超低的柵極總電荷$Q{G(tot)} = 74 nC$和低輸出電容$C{oss} = 133 pF$,使得器件在開關(guān)過程中能夠快速響應(yīng),減少開關(guān)損耗。這不僅有助于提高開關(guān)頻率,還能降低電路中的電磁干擾(EMI),提升系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。

雪崩測試與高溫性能

該MOSFET經(jīng)過100%雪崩測試,能夠承受一定的雪崩能量沖擊,增強了器件在異常情況下的魯棒性。同時,其工作結(jié)溫范圍為$-55^{\circ}C$至$+175^{\circ}C$,在高溫環(huán)境下依然能夠穩(wěn)定工作,適用于各種惡劣的工業(yè)和戶外應(yīng)用場景。

環(huán)保合規(guī)

產(chǎn)品符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求,這對于注重綠色設(shè)計的企業(yè)來說,是一個重要的考慮因素。

二、典型應(yīng)用場景

開關(guān)電源(SMPS)

在開關(guān)電源中,NTBG060N065SC1的低導(dǎo)通電阻和低開關(guān)損耗特性能夠顯著提高電源的效率和功率密度。通過降低功率損耗,可以減少散熱需求,從而減小電源的體積和重量,降低成本。

太陽能逆變器

太陽能逆變器需要高效地將太陽能電池板產(chǎn)生的直流電轉(zhuǎn)換為交流電。該MOSFET的高溫性能和低損耗特性,使其能夠在太陽能逆變器中穩(wěn)定工作,提高能量轉(zhuǎn)換效率,增加太陽能系統(tǒng)的發(fā)電量。

不間斷電源(UPS)和儲能系統(tǒng)

在UPS和儲能系統(tǒng)中,需要快速響應(yīng)和高可靠性的功率器件。NTBG060N065SC1的低電荷和電容特性,能夠?qū)崿F(xiàn)快速的開關(guān)動作,確保系統(tǒng)在市電中斷時能夠迅速切換到備用電源,為負載提供不間斷的電力供應(yīng)。

三、關(guān)鍵參數(shù)解讀

最大額定值

參數(shù) 符號 單位
漏源電壓 $V_{DSS}$ 650 V
柵源電壓 $V_{GS}$ -8/+22 V
推薦柵源電壓 $V_{GSop}$ -5/+18 V
連續(xù)漏極電流($T_{c}=25^{\circ}C$) $I_{D}$ 46 A
功率耗散($T_{c}=25^{\circ}C$) $P_{D}$ 170 W
連續(xù)漏極電流($T_{c}=100^{\circ}C$) $I_{D}$ 33 A
功率耗散($T_{c}=100^{\circ}C$) $P_{D}$ 85 W
脈沖漏極電流($T_{c}=25^{\circ}C$) $I_{DM}$ 130 A
工作結(jié)溫和存儲溫度范圍 $T{J}, T{stg}$ -55 to +175 $^{\circ}C$
源極電流(體二極管 $I_{S}$ 46 A
單脈沖漏源雪崩能量 $E_{AS}$ 51 mJ
焊接時最大引腳溫度(距外殼1/8",10秒) $T_{L}$ 260 $^{\circ}C$

這些參數(shù)為我們在設(shè)計電路時提供了重要的參考依據(jù)。例如,在選擇散熱方案時,需要考慮功率耗散和熱阻等參數(shù);在確定電路的最大工作電流時,要參考連續(xù)漏極電流和脈沖漏極電流等參數(shù)。

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓$V_{(BR)DSS}$:典型值為650V,確保了器件在高壓環(huán)境下的可靠性。
  • 漏源擊穿電壓溫度系數(shù)$V{(BR)DSS}/T{J}$:為$0.15 V/^{\circ}C$,表明擊穿電壓隨溫度的變化較為穩(wěn)定。
  • 零柵壓漏極電流$I{DSS}$:在$T{J}=25^{\circ}C$時,最大值為$10\ \mu A$;在$T_{J}=175^{\circ}C$時,最大值為$1 mA$。
  • 柵源泄漏電流$I_{GSS}$:最大值為$250 nA$,保證了柵極的穩(wěn)定性。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓$V_{GS(TH)}$:范圍為$1.8 - 4.3 V$,確保了器件能夠在合適的柵源電壓下開啟。
  • 推薦柵極電壓$V_{GOP}$:為$-5$至$+18 V$,為電路設(shè)計提供了明確的參考。
  • 漏源導(dǎo)通電阻$R{DS(on)}$:在不同的柵源電壓和溫度條件下有不同的值,如$V{GS}=15V$,$I{D}=20 A$,$T{J}=25^{\circ}C$時,典型值為$60 m\Omega$;$V{GS}=18V$,$I{D}=20 A$,$T_{J}=25^{\circ}C$時,典型值為$44 m\Omega$。
  • 正向跨導(dǎo)$g_{fs}$:典型值為$12 S$,反映了器件的放大能力。

電容和電荷特性

  • 輸入電容$C_{iss}$:為$1473 pF$,影響了器件的輸入響應(yīng)速度。
  • 輸出電容$C_{oss}$:為$133 pF$,有助于降低開關(guān)損耗。
  • 反向傳輸電容$C_{rss}$:為$13 pF$,對器件的反饋特性有重要影響。
  • 總柵極電荷$Q_{G(tot)}$:為$74 nC$,決定了柵極驅(qū)動的能量需求。

開關(guān)特性

  • 開啟延遲時間$t_{d(ON)}$:為$11 ns$,能夠快速開啟器件。
  • 上升時間$t_{r}$:為$14 ns$,確保了電流的快速上升。
  • 關(guān)斷延遲時間$t_{d(OFF)}$:為$24 ns$,實現(xiàn)快速關(guān)斷。
  • 下降時間$t_{f}$:為$11 ns$,保證了電流的快速下降。
  • 開啟開關(guān)損耗$E{ON}$:為$45 \mu J$,關(guān)斷開關(guān)損耗$E{OFF}$:為$18 \mu J$,總開關(guān)損耗$E_{TOT}$:為$63 \mu J$,這些參數(shù)對于評估器件在開關(guān)過程中的能量損耗非常重要。

源漏二極管特性

  • 連續(xù)源漏二極管正向電流$I_{SD}$:為$46 A$,能夠承受較大的正向電流。
  • 脈沖源漏二極管正向電流$I_{SDM}$:為$130 A$,適用于脈沖負載。
  • 正向二極管電壓$V{SD}$:在$V{GS}=-5V$,$I_{SD}=20 A$,$T =25^{\circ}C$時,為$4.3 V$。

四、熱特性分析

熱阻參數(shù)

  • 結(jié)到殼熱阻$R_{\theta JC}$:典型值為$0.88^{\circ}C/W$,反映了器件內(nèi)部熱量傳遞到外殼的能力。
  • 結(jié)到環(huán)境熱阻$R_{\theta JA}$:最大值為$40^{\circ}C/W$,考慮了器件在實際應(yīng)用中的散熱情況。

在設(shè)計散熱方案時,需要根據(jù)功率耗散和熱阻等參數(shù)來選擇合適的散熱片或其他散熱措施,以確保器件的結(jié)溫在安全范圍內(nèi)。

五、機械與封裝信息

封裝尺寸

該器件采用D2PAK - 7L封裝,其詳細的封裝尺寸如下: 尺寸 最小值(mm) 標(biāo)稱值(mm) 最大值(mm)
A 4.30 4.50 4.70
A1 0.00 0.10 0.20
b2 0.60 0.70 0.80
b 0.51 0.60 0.70
C 0.40 0.50 0.60
c2 1.20 1.30 1.40
D 9.00 9.20 9.40
D1 6.15 6.80 7.15
E 9.70 9.90 10.20
E1 7.15 7.65 8.15
e 1.27
H 15.10 15.40 15.70
L 2.44 2.64 2.84
L1 1.00 1.20 1.40
L3 0.25
aaa 0.25

這些尺寸信息對于PCB布局和機械設(shè)計非常重要,工程師需要根據(jù)封裝尺寸來合理安排器件的位置和布線。

標(biāo)記圖與訂購信息

器件的標(biāo)記圖包含了特定設(shè)備代碼、組裝位置、年份、工作周和批次追溯等信息,方便生產(chǎn)和管理。訂購信息顯示,該器件每卷800個,采用帶盤包裝。

六、總結(jié)與思考

onsemi的NTBG060N065SC1碳化硅MOSFET具有低導(dǎo)通電阻、低電荷和電容、高雪崩能力和寬溫度范圍等優(yōu)點,適用于開關(guān)電源、太陽能逆變器和UPS等多種應(yīng)用場景。在設(shè)計電路時,我們需要充分考慮其最大額定值、電氣特性、熱特性和封裝尺寸等參數(shù),以確保電路的性能和可靠性。

作為電子工程師,我們在選擇和使用該器件時,還需要思考以下問題:如何根據(jù)實際應(yīng)用場景優(yōu)化電路設(shè)計,以充分發(fā)揮器件的性能優(yōu)勢?如何選擇合適的散熱方案,確保器件在高溫環(huán)境下穩(wěn)定工作?在不同的工作條件下,器件的實際性能會有哪些變化,如何進行有效的測試和驗證?這些問題都需要我們在實際工作中不斷探索和解決。

希望通過本文的介紹,能夠幫助電子工程師更好地了解和應(yīng)用onsemi的NTBG060N065SC1碳化硅MOSFET,為電路設(shè)計帶來更多的可能性。如果你在使用該器件過程中有任何經(jīng)驗或問題,歡迎在評論區(qū)分享和交流。

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