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onsemi NTH4L060N065SC1 SiC MOSFET深度解析

h1654155282.3538 ? 來源:未知 ? 作者:陳翠 ? 2025-12-08 15:02 ? 次閱讀
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onsemi NTH4L060N065SC1 SiC MOSFET深度解析

在電子工程領(lǐng)域,功率MOSFET一直是電源設(shè)計(jì)中的關(guān)鍵元件。今天要給大家詳細(xì)介紹的是安森美(onsemi)的NTH4L060N065SC1,一款650V、44mΩ、47A的N溝道SiC功率MOSFET,采用TO247 - 4L封裝。

文件下載:onsemi NTH4L060N065SC1碳化硅 (SiC) MOSFET.pdf

一、產(chǎn)品特性亮點(diǎn)

低導(dǎo)通電阻

典型導(dǎo)通電阻在不同柵源電壓下表現(xiàn)出色。當(dāng)$V{GS}=18V$時(shí),典型$R{DS(on)} = 44m\Omega$;當(dāng)$V{GS}=15V$時(shí),典型$R{DS(on)} = 60m\Omega$。低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,MOSFET的功率損耗更小,效率更高,這對(duì)于提高電源系統(tǒng)的整體效率至關(guān)重要。大家在實(shí)際設(shè)計(jì)中,不妨思考一下如何充分利用這個(gè)特性來優(yōu)化電路的性能呢?

超低柵極電荷與低電容

超低的柵極總電荷$Q{G(tot)} = 74nC$,以及低輸出電容$C{oss}=133pF$,使得該MOSFET在開關(guān)過程中能夠快速響應(yīng),減少開關(guān)損耗,提高開關(guān)頻率。這對(duì)于高頻開關(guān)電源設(shè)計(jì)來說,無疑是非常有利的。

雪崩測(cè)試與高溫性能

經(jīng)過100%雪崩測(cè)試,保證了器件在雪崩狀態(tài)下的可靠性。同時(shí),其最高結(jié)溫$T_{J}=175^{\circ}C$,能夠在高溫環(huán)境下穩(wěn)定工作,適應(yīng)各種惡劣的應(yīng)用場(chǎng)景。

環(huán)保特性

該器件無鉛且符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求,這在當(dāng)今注重環(huán)保的大環(huán)境下,是很多工程師在選擇器件時(shí)會(huì)考慮的因素。

二、典型應(yīng)用場(chǎng)景

  • 開關(guān)模式電源(SMPS:憑借其低導(dǎo)通電阻和快速開關(guān)特性,能夠有效提高SMPS的效率和功率密度。
  • 太陽(yáng)能逆變器:在太陽(yáng)能發(fā)電系統(tǒng)中,需要高效的功率轉(zhuǎn)換,該MOSFET的高性能可以滿足太陽(yáng)能逆變器對(duì)效率和可靠性的要求。
  • 不間斷電源(UPS):為了保證在市電中斷時(shí)能夠及時(shí)供電,UPS需要快速響應(yīng)和高效的功率轉(zhuǎn)換,NTH4L060N065SC1正好可以勝任這一任務(wù)。
  • 能量存儲(chǔ)系統(tǒng):在能量存儲(chǔ)和釋放過程中,需要精確的功率控制和高效的轉(zhuǎn)換,該MOSFET能夠?yàn)槟芰看鎯?chǔ)系統(tǒng)提供穩(wěn)定可靠的支持。

三、最大額定值與注意事項(xiàng)

參數(shù) 符號(hào) 單位
漏源電壓 $V_{DSS}$ 650 V
柵源電壓 $V_{GS}$ - 8/+22 V
推薦柵源電壓工作值($T_{C}<175^{\circ}C$) $V_{GSop}$ - 5/+18 V
連續(xù)漏極電流(穩(wěn)態(tài),$T_{C}=25^{\circ}C$) $I_{D}$ 47 A
功率耗散(穩(wěn)態(tài),$T_{C}=25^{\circ}C$) $P_{D}$ 176 W
連續(xù)漏極電流(穩(wěn)態(tài),$T_{C}=100^{\circ}C$) $I_{D}$ 33 A
功率耗散(穩(wěn)態(tài),$T_{C}=100^{\circ}C$) $P_{D}$ 88 W
脈沖漏極電流($T_{C}=25^{\circ}C$) $I_{DM}$ 152 A
工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍 $T{J},T{stg}$ - 55 to +175 $^{\circ}C$
源極電流(體二極管 $I_{S}$ 35 A
單脈沖漏源雪崩能量($L_{(pk)} = 10.1A,L = 1mH$) $E_{AS}$ 51 mJ
焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼1/8",5s) $T_{L}$ 260 $^{\circ}C$

需要注意的是,超過最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。同時(shí),整個(gè)應(yīng)用環(huán)境會(huì)影響熱阻數(shù)值,這些數(shù)值并非恒定不變,僅在特定條件下有效。而且脈沖額定值受最大結(jié)溫限制,單脈沖漏源雪崩能量$E_{AS}$是基于特定的起始條件計(jì)算得出的。

四、電氣特性分析

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓:$V{(BR)DSS}$在$V{GS}=0V$,$I_{D}=1mA$時(shí)為650V,其溫度系數(shù)為 - 0.15V/$^{\circ}C$。這意味著隨著溫度的升高,漏源擊穿電壓會(huì)略有下降。
  • 零柵壓漏極電流:$I{DSS}$在$V{GS}=0V$,$V{DS}=650V$,$T{J}=25^{\circ}C$時(shí)為10μA,$T_{J}=175^{\circ}C$時(shí)為1mA。溫度升高會(huì)導(dǎo)致漏極電流增大,在高溫環(huán)境下需要特別關(guān)注。
  • 柵源泄漏電流:$I{GSS}$在$V{GS}= + 18/ - 5V$,$V_{DS}=0V$時(shí)為250nA,泄漏電流較小,說明柵源之間的絕緣性能較好。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓:$V{GS(TH)}$在$V{GS}=V{DS}$,$I{D}=6.5mA$時(shí),最小值為1.8V,典型值為2.8V,最大值為4.3V。這是MOSFET開始導(dǎo)通的關(guān)鍵參數(shù),在設(shè)計(jì)驅(qū)動(dòng)電路時(shí)需要根據(jù)這個(gè)參數(shù)來確定合適的柵極驅(qū)動(dòng)電壓。
  • 推薦柵極電壓:$V_{GOP}$為 - 5V到 + 18V,在這個(gè)電壓范圍內(nèi),MOSFET能夠穩(wěn)定可靠地工作。
  • 漏源導(dǎo)通電阻:$R{DS(on)}$在不同的柵源電壓和溫度條件下有所不同。例如,在$V{GS}=15V$,$I{D}=20A$,$T{J}=25^{\circ}C$時(shí),典型值為60mΩ;在$V{GS}=18V$,$I{D}=20A$,$T{J}=25^{\circ}C$時(shí),典型值為44mΩ,最大值為70mΩ;在$V{GS}=18V$,$I{D}=20A$,$T{J}=175^{\circ}C$時(shí),典型值為50mΩ。溫度升高會(huì)導(dǎo)致導(dǎo)通電阻增大,這會(huì)增加功率損耗,在設(shè)計(jì)散熱系統(tǒng)時(shí)需要考慮這個(gè)因素。
  • 正向跨導(dǎo):$g{fs}$在$V{DS}=10V$,$I_{D}=20A$時(shí)為12S,反映了柵源電壓對(duì)漏極電流的控制能力。

電荷、電容與柵極電阻

  • 輸入電容:$C{iss}$在$V{GS}=0V$,$f = 1MHz$,$V_{DS}=325V$時(shí)為1473pF,這個(gè)電容會(huì)影響MOSFET的開關(guān)速度和驅(qū)動(dòng)功率。
  • 輸出電容:$C{oss}=133pF$,反向傳輸電容$C{rss}=13pF$,這些電容對(duì)開關(guān)過程中的電壓和電流變化有影響。
  • 總柵極電荷:$Q{G(tot)} = 74nC$,柵源電荷$Q{gs}=20nC$,柵漏電荷$Q_{gd}=23nC$,這些電荷參數(shù)決定了柵極驅(qū)動(dòng)電路需要提供的電荷量。
  • 柵極電阻:$R_{G}$在$f = 1MHz$時(shí)為3.9Ω,柵極電阻會(huì)影響柵極信號(hào)的傳輸和開關(guān)速度。

開關(guān)特性

  • 導(dǎo)通延遲時(shí)間:$t{d(on)} = 11ns$,上升時(shí)間$t{r}=14ns$,導(dǎo)通過程快速,能夠減少導(dǎo)通損耗。
  • 關(guān)斷延遲時(shí)間:$t{d(off)} = 24ns$,下降時(shí)間$t{f}=11ns$,關(guān)斷過程也比較迅速,降低了關(guān)斷損耗。
  • 導(dǎo)通開關(guān)損耗:$E{ON}=45mJ$,關(guān)斷開關(guān)損耗$E{OFF}=18mJ$,總開關(guān)損耗$E_{tot}=63mJ$,開關(guān)損耗較小,有利于提高系統(tǒng)效率。

漏源二極管特性

  • 連續(xù)漏源二極管正向電流:$I{SD}$在$V{GS}=-5V$,$T_{J}=25^{\circ}C$時(shí)為35A。
  • 脈沖漏源二極管正向電流:$I_{SDM}$為152A。
  • 正向二極管電壓:$V{SD}$在$V{GS}=-5V$,$I{SD}=20A$,$T{J}=25^{\circ}C$時(shí)為4.3V。
  • 反向恢復(fù)時(shí)間:$t{rr}=17.7ns$,反向恢復(fù)電荷$Q{rr}=90.6nC$,反向恢復(fù)能量$E{rec}=8.7mJ$,峰值反向恢復(fù)電流$I{RRM}=10.2A$,電荷時(shí)間$T{a}=9.8ns$,放電時(shí)間$T=7.8ns$。這些參數(shù)對(duì)于理解漏源二極管的反向恢復(fù)特性非常重要,在設(shè)計(jì)電路時(shí)需要考慮反向恢復(fù)過程對(duì)電路的影響。

五、典型特性曲線

文檔中給出了一系列典型特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻與柵源電壓的關(guān)系、傳輸特性、二極管正向電壓與電流的關(guān)系、柵源電壓與總電荷的關(guān)系、電容與漏源電壓的關(guān)系、非鉗位電感開關(guān)能力、最大連續(xù)漏極電流與外殼溫度的關(guān)系、安全工作區(qū)、單脈沖最大功率耗散、結(jié)到外殼的熱響應(yīng)等。這些曲線能夠幫助工程師更直觀地了解MOSFET在不同工作條件下的性能,在實(shí)際設(shè)計(jì)中可以根據(jù)這些曲線來優(yōu)化電路參數(shù),確保MOSFET工作在最佳狀態(tài)。

六、封裝尺寸

該MOSFET采用TO - 247 - 4LD封裝,文檔中給出了詳細(xì)的封裝尺寸圖和尺寸數(shù)據(jù)。在進(jìn)行PCB布局時(shí),需要根據(jù)這些尺寸來合理安排MOSFET的位置和引腳連接,確保其與其他元件之間的間距合適,便于散熱和布線。

七、總結(jié)

安森美(onsemi)的NTH4L060N065SC1 SiC功率MOSFET具有低導(dǎo)通電阻、超低柵極電荷、低電容、高雪崩耐量、高溫穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn),適用于多種電源應(yīng)用場(chǎng)景。在使用過程中,工程師需要充分了解其最大額定值、電氣特性和典型特性曲線,根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需求合理設(shè)計(jì)電路,確保器件能夠發(fā)揮最佳性能,同時(shí)要注意避免超過最大額定值,保證系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。希望通過這篇文章,能夠幫助大家更好地了解和使用這款MOSFET。大家在實(shí)際應(yīng)用中遇到過哪些問題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)留言分享。

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