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電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>薄膜表面瑕疵檢測系統(tǒng)的技術(shù)指標(biāo)都包括哪些

薄膜表面瑕疵檢測系統(tǒng)的技術(shù)指標(biāo)都包括哪些

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2025-07-25 09:53:27581

大面積薄膜光學(xué)映射與成像技術(shù)綜述:全光譜橢偏技術(shù)

檢測需求。本文聚焦光學(xué)表征技術(shù)的革新,重點(diǎn)闡述橢偏儀等光學(xué)方法在大面積薄膜映射與成像中的突破性應(yīng)用。其中,F(xiàn)lexfilm全光譜橢偏儀以其獨(dú)特的技術(shù)優(yōu)勢,在大面積薄
2025-07-22 09:53:501277

白光色散干涉:實(shí)現(xiàn)薄膜表面輪廓和膜厚的高精度測量

薄膜結(jié)構(gòu)在半導(dǎo)體制造中扮演著至關(guān)重要的角色,廣泛應(yīng)用于微電子器件、光學(xué)涂層、傳感器等領(lǐng)域。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷進(jìn)步,對薄膜結(jié)構(gòu)的檢測精度和效率提出了更高的要求。傳統(tǒng)的檢測方法,如橢圓偏振法、反射
2025-07-22 09:53:301528

薄膜質(zhì)量關(guān)鍵 |?半導(dǎo)體/顯示器件制造中薄膜厚度測量新方案

在半導(dǎo)體和顯示器件制造中,薄膜與基底的厚度精度直接影響器件性能?,F(xiàn)有的測量技術(shù)包括光譜橢偏儀(SE)和光譜反射儀(SR)用于薄膜厚度的測量,以及低相干干涉法(LCI)、彩色共焦顯微鏡(CCM)和光譜
2025-07-22 09:53:091468

四探針法丨導(dǎo)電薄膜薄層電阻的精確測量、性能驗(yàn)證與創(chuàng)新應(yīng)用

系統(tǒng)探討四探針法的測量原理、優(yōu)化策略及其在新型導(dǎo)電薄膜研究中的應(yīng)用,并結(jié)合FlexFilm在半導(dǎo)體量測裝備及光伏電池電阻檢測系統(tǒng)技術(shù)積累,為薄膜電學(xué)性能的精確測
2025-07-22 09:52:041006

芯片制造中的膜厚檢測 | 多層膜厚及表面輪廓的高精度測量

隨著物聯(lián)網(wǎng)(IoT)和人工智能(AI)驅(qū)動(dòng)的半導(dǎo)體器件微型化,對多層膜結(jié)構(gòu)的三維無損檢測需求急劇增長。傳統(tǒng)橢偏儀僅支持逐點(diǎn)膜厚測量,而白光干涉法等技術(shù)難以分離透明薄膜的多層反射信號。本文提出一種單次
2025-07-21 18:17:24699

薄膜電容器的優(yōu)點(diǎn)有哪些

薄膜電容器雖然理論上有很多種材質(zhì),我們實(shí)際生產(chǎn)時(shí)主要有CBB金屬化聚丙烯薄膜電容和CL金屬化聚酯薄膜電容兩種類型,它是電路上極重要的一類電子元器件,大部分電路離不開它們,薄膜電容器的優(yōu)點(diǎn)有哪些,你真的知道嗎?
2025-07-21 16:03:24922

電池儲(chǔ)能系統(tǒng)的性能指標(biāo)

電池儲(chǔ)能系統(tǒng)需要關(guān)注的性能指標(biāo)主要包括兩個(gè)方面,一是與能量的存儲(chǔ)能力及有效利用有關(guān),即與容量有關(guān);另一個(gè)則是與能量的補(bǔ)充或釋放能力有關(guān),即與功率有關(guān)。而兩者之間的關(guān)系又往往被用來區(qū)分該儲(chǔ)能系統(tǒng)為能量型或功率型。
2025-07-18 11:51:141711

表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管 skyworksinc

電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊,更有表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管的引腳圖、接線圖、封裝手冊、中文資料、英文資料,表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管真值表,表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管管腳等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2025-07-17 18:32:15

表面貼裝混頻器和檢測器肖特基二極管 skyworksinc

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2025-07-17 18:31:22

Molex薄膜電池的技術(shù)原理是什么?-赫聯(lián)電子

。   Molex薄膜電池的技術(shù)原理:   Molex薄膜電池的技術(shù)原理主要基于其獨(dú)特的結(jié)構(gòu)和材料組成,以下是關(guān)于Molex薄膜電池技術(shù)原理的詳細(xì)解釋:   (1)材料組成:Molex薄膜電池主要由鋅
2025-07-15 17:53:47

當(dāng)CAN握手EtherCAT:視覺檢測系統(tǒng)的“雙芯合璧”時(shí)代來了

檢測系統(tǒng)需要同時(shí)對接這兩大“派系”,怎么破?答案就是耐達(dá)訊通信技術(shù)CAN轉(zhuǎn)EtherCAT網(wǎng)關(guān),堪稱工業(yè)通信界的“破壁機(jī)”! 汽車質(zhì)檢對實(shí)時(shí)性和精度要求苛刻:視覺系統(tǒng)要快速識別零件瑕疵,同步控制機(jī)械臂
2025-07-15 15:37:47

光纖光譜儀在薄膜測量中的應(yīng)用解析

在現(xiàn)代材料科學(xué)、光電子、半導(dǎo)體制造等多個(gè)技術(shù)領(lǐng)域,薄膜材料扮演著至關(guān)重要的角色。從手機(jī)屏幕的鍍膜層到太陽能電池的功能層,薄膜技術(shù)幾乎滲透于各類高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)。而對這些薄膜的性能評估與控制,往往離不開
2025-07-08 10:29:37406

集裝箱殘損檢測系統(tǒng)與傳統(tǒng)人工檢測對比

檢測系統(tǒng)
jf_60141436發(fā)布于 2025-06-26 14:06:08

寬頻功率分析儀核心技術(shù)指標(biāo)剖析_選購注意事項(xiàng)

一 識別寬頻功率分析儀的有效帶寬指標(biāo) 寬頻功率分析儀 的基本作用就是在寬頻率范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)功率測量和相關(guān)分析運(yùn)算,且其精度指標(biāo)滿足相關(guān)的要求。 因此,有必要對其寬頻率范圍指標(biāo)進(jìn)行量化。衡量
2025-06-24 09:32:59418

氧化硅薄膜和氮化硅薄膜工藝詳解

氧化硅薄膜和氮化硅薄膜是兩種在CMOS工藝中廣泛使用的介電層薄膜。
2025-06-24 09:15:231749

JCMsuite應(yīng)用:太陽能電池的抗反射惠更斯超表面模擬

折射率介質(zhì)亞微米量級的二氧化鈦(TiO2)圓盤作為標(biāo)準(zhǔn)異質(zhì)結(jié)硅太陽能電池的抗反射惠更斯超表面在試驗(yàn)中進(jìn)行開發(fā)。無序陣列使用基于膠體自組裝的可伸縮自下而上的技術(shù)制造,該技術(shù)幾乎不考慮設(shè)備的材料或表面形態(tài)
2025-06-17 08:58:17

工業(yè)級 VS 消費(fèi)級:聚徽解析國內(nèi)工控平板的技術(shù)指標(biāo)差異

、辦公的得力助手。然而,看似相似的兩者,在技術(shù)指標(biāo)上卻存在著顯著差異。本文將深入剖析國內(nèi)工控平板在工業(yè)級與消費(fèi)級之間的技術(shù)指標(biāo)差異,為相關(guān)從業(yè)者及消費(fèi)者提供清晰的選購指南。 一、環(huán)境適應(yīng)性:嚴(yán)苛工業(yè)環(huán)境的考
2025-06-13 14:36:02648

國產(chǎn)表面粗糙度輪廓度檢測儀器

SJ5800國產(chǎn)表面粗糙度輪廓度檢測儀器采用超高精度納米衍射光學(xué)測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù),實(shí)現(xiàn)對軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測量
2025-06-12 13:39:39

薄膜電弱點(diǎn)測試儀的常見問題及解決方案

薄膜電弱點(diǎn)測試儀在薄膜生產(chǎn)、質(zhì)檢等環(huán)節(jié)起著關(guān)鍵作用,用于檢測薄膜存在的針孔、裂紋等電弱點(diǎn)缺陷。然而在實(shí)際使用過程中,可能會(huì)遇到各種問題影響檢測效率與準(zhǔn)確性。以下為薄膜電弱點(diǎn)測試儀常見問題及對應(yīng)
2025-05-29 13:26:04491

VirtualLab:用于微結(jié)構(gòu)晶片檢測的光學(xué)系統(tǒng)

摘要 在半導(dǎo)體工業(yè)中,晶片檢測系統(tǒng)被用來檢測晶片上的缺陷并找到它們的位置。為了確保微結(jié)構(gòu)所需的圖像分辨率,檢測系統(tǒng)通常使用高NA物鏡,并且工作在UV波長范圍內(nèi)。作為例子,我們建立了包括高NA聚焦
2025-05-28 08:45:08

薄膜晶體管技術(shù)架構(gòu)與主流工藝路線

導(dǎo)語薄膜晶體管(TFT)作為平板顯示技術(shù)的核心驅(qū)動(dòng)元件,通過材料創(chuàng)新與工藝優(yōu)化,實(shí)現(xiàn)了從傳統(tǒng)非晶硅向氧化物半導(dǎo)體、柔性電子的技術(shù)跨越。本文將聚焦于薄膜晶體管制造技術(shù)與前沿發(fā)展。
2025-05-27 09:51:412513

滲壓計(jì)測量精度受哪些因素影響?一文讀懂核心指標(biāo)與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

影響因素與國家標(biāo)準(zhǔn)要求。一、四大技術(shù)指標(biāo)決定測量精度滲壓計(jì)的精度表現(xiàn)主要由三大基礎(chǔ)指標(biāo)與綜合誤差構(gòu)成:非直線度:儀器實(shí)際測量曲線與理想直線的偏差,數(shù)值越小說明線性響應(yīng)越
2025-05-20 16:47:41508

電壓放大器指標(biāo)有哪些

。因此,了解電壓放大器的各項(xiàng)關(guān)鍵指標(biāo),對于正確選擇和使用電壓放大器至關(guān)重要。本文將詳細(xì)介紹電壓放大器的主要技術(shù)指標(biāo),包括增益、帶寬、輸入阻抗、輸出阻抗、失真、穩(wěn)定性、噪聲等。 一、增益 增益是電壓放大器最基本的指
2025-05-19 11:11:17642

VirtualLab Fusion:平面透鏡|從光滑表面到菲涅爾、衍射和超透鏡的演變

,是這種潛力的一個(gè)充分記錄的實(shí)例。 -平面透鏡的某些特性,如其偏振敏感功能,可能根據(jù)其用途被視為有益或有害。 -沒有證據(jù)表明平面透鏡(包括超透鏡)能夠減少系統(tǒng)的總長度或光學(xué)系統(tǒng)中的透鏡表面數(shù)量,超出非球面
2025-05-15 10:36:58

詳解原子層沉積薄膜制備技術(shù)

CVD 技術(shù)是一種在真空環(huán)境中通過襯底表面化學(xué)反應(yīng)來進(jìn)行薄膜生長的過程,較短的工藝時(shí)間以及所制備薄膜的高致密性,使 CVD 技術(shù)被越來越多地應(yīng)用于薄膜封裝工藝中無機(jī)阻擋層的制備。
2025-05-14 10:18:571205

選擇增量編碼器時(shí),需要考慮哪些技術(shù)指標(biāo)? 一起來了解一下吧

選擇增量編碼器時(shí),需要考慮哪些技術(shù)指標(biāo)?選擇增量編碼器時(shí),需要考慮分辨率、精度、響應(yīng)頻率、輸出信號類型等多個(gè)技術(shù)指標(biāo),以下是詳細(xì)介紹: 編碼器的精度是什么?表示編碼器測量結(jié)果與真實(shí)值之間的接近
2025-04-29 14:20:47875

電機(jī)控制系統(tǒng)中的電流檢測技術(shù)

指出了電流檢測技術(shù)在電機(jī)控制系統(tǒng)中的重要性,介紹了常用的兒種電流檢測手段及其工作原理。針對采樣電阻和雀爾電流傳感器,詳細(xì)給出了電流采樣信號調(diào)理電路原理圖。最后提出了元器件選型原則及使用注意事項(xiàng)。純
2025-04-24 21:03:19

薄膜穿刺測試:不同類型薄膜材料在模擬汽車使用環(huán)境下的穿刺性能

,北京沃華慧通測控技術(shù)有限公司,憑借深厚的技術(shù)積淀與豐富的行業(yè)經(jīng)驗(yàn),為汽車領(lǐng)域帶來全方位、高精度的薄膜穿刺測試解決方案,助力車企在激烈的市場競爭中拔得頭籌。
2025-04-23 09:42:36793

IBC背接觸結(jié)構(gòu)薄膜缺陷分析:多尺度表征技術(shù)(PL/AFM/拉曼)的應(yīng)用

精確無損測量薄膜厚度對光伏太陽能電池等電子器件很關(guān)鍵。在高效硅異質(zhì)結(jié)(SHJ)太陽能電池中,叉指背接觸(IBC)設(shè)計(jì)可減少光反射和改善光捕獲,但其制備需精確圖案化和控制薄膜厚度。利用光致發(fā)光成像技術(shù)
2025-04-21 09:02:50974

優(yōu)可測白光干涉儀和薄膜厚度測量儀:如何把控ITO薄膜的“黃金參數(shù)”

ITO薄膜表面粗糙度與厚度影響著其產(chǎn)品性能與成本控制。優(yōu)可測亞納米級檢測ITO薄膜黃金參數(shù),幫助廠家優(yōu)化產(chǎn)品性能,實(shí)現(xiàn)降本增效。
2025-04-16 12:03:19824

晶圓表面形貌量測系統(tǒng)

;WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)自動(dòng)測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術(shù)測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BO
2025-04-11 11:11:00

VirtualLab Fusion應(yīng)用:具有粗糙表面的回復(fù)反射器的反射

系統(tǒng)設(shè)置 當(dāng)試圖將獨(dú)立于入射方向的光大致反射回同一方向時(shí),通??梢允褂没貜?fù)反射器。 這個(gè)演示展示了如何在非序列場追跡的幫助下對這種結(jié)構(gòu)進(jìn)行建模。它還包括通過在表面上應(yīng)用隨機(jī)函數(shù)來對反射器壁的粗糙表面進(jìn)行建模。 任務(wù)描述 系統(tǒng)設(shè)置 仿真結(jié)果 渦流傳播
2025-04-02 08:49:37

表面貼裝技術(shù)(SMT):推動(dòng)電子制造的變革

在現(xiàn)代電子制造領(lǐng)域,表面貼裝技術(shù)(SMT)已成為實(shí)現(xiàn)電子產(chǎn)品小型化、高性能化和高可靠性的重要技術(shù)。SMT通過將傳統(tǒng)的電子元器件壓縮成體積更小的器件,實(shí)現(xiàn)了電子產(chǎn)品組裝的高密度、高可靠、小型化和低成本
2025-03-25 20:55:52

維視智造砂輪缺陷檢測視覺系統(tǒng)的優(yōu)勢

砂輪,又稱固結(jié)磨具,作為工業(yè)領(lǐng)域的“牙齒”,其主要功能是對金屬或非金屬工件進(jìn)行磨削、拋光等加工,以達(dá)到去除材料瑕疵、改善表面質(zhì)量的目的,廣泛應(yīng)用于機(jī)械制造、汽車、航空航天等行業(yè)。
2025-03-24 09:32:39824

Molex薄膜電池有什么用?-赫聯(lián)電子

)設(shè)立了超過40處分部。Heilind以強(qiáng)大的庫存、靈活的政策、靈敏的系統(tǒng)、知識廣博的技術(shù)支持和無與倫比的客戶服務(wù)為運(yùn)營理念。2012年12月,赫聯(lián)電子正式啟動(dòng)其亞太業(yè)務(wù)。赫聯(lián)亞太的總部位于中國香港,除
2025-03-21 11:52:17

常見的幾種薄膜外延技術(shù)介紹

薄膜外延生長是一種關(guān)鍵的材料制備方法,其廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電子學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域。
2025-03-19 11:12:232318

為什么選擇蜂窩物聯(lián)網(wǎng)

在為您的物聯(lián)網(wǎng)(IoT)應(yīng)用評估最合適的低功耗廣域網(wǎng)(LPWAN)技術(shù)時(shí),除了考慮技術(shù)指標(biāo)外,還必須考慮各種因素,因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">技術(shù)指標(biāo)本身可能與實(shí)際性能大相徑庭。與 LoRaWAN、Sigfox
2025-03-17 11:42:20

氬離子拋光技術(shù)之高精度材料表面處理

氬離子拋光技術(shù)作為一種先進(jìn)的材料表面處理方法,該技術(shù)的核心原理是利用氬離子束對樣品表面進(jìn)行精細(xì)拋光,通過精確控制離子束的能量、角度和作用時(shí)間,實(shí)現(xiàn)對樣品表面的無損傷處理,從而獲得高質(zhì)量的表面效果
2025-03-10 10:17:50943

每周推薦!實(shí)用電路、開關(guān)電源、電機(jī)控制系統(tǒng)、PCB手冊!值得收藏下載

! 電流檢測技術(shù)在現(xiàn)今的生活與工作中都有廣泛的應(yīng)用,許多的系統(tǒng)中都需要檢測流入和流出的電流大小,檢測電流大小能夠避免器件出錯(cuò)。所以我們今天的主角就是“開關(guān)模式電源的電流檢測技術(shù)”。 基本知識談 電流模式控制
2025-03-07 17:51:42

充電樁負(fù)載測試系統(tǒng)技術(shù)解析

瞬態(tài)參數(shù)。 二、核心測試功能 動(dòng)態(tài)特性測試 系統(tǒng)可模擬車輛充電需求的動(dòng)態(tài)變化,檢測充電樁的響應(yīng)時(shí)間(≤100ms)、功率調(diào)節(jié)精度(±0.5%)等關(guān)鍵指標(biāo)。通過設(shè)置0-100%負(fù)載階躍變化,驗(yàn)證充電模塊
2025-03-05 16:21:31

JCMsuite應(yīng)用:太陽能電池的抗反射惠更斯超表面模擬

折射率介質(zhì)亞微米量級的二氧化鈦(TiO2)圓盤作為標(biāo)準(zhǔn)異質(zhì)結(jié)硅太陽能電池的抗反射惠更斯超表面在試驗(yàn)中進(jìn)行開發(fā)。無序陣列使用基于膠體自組裝的可伸縮自下而上的技術(shù)制造,該技術(shù)幾乎不考慮設(shè)備的材料或表面形態(tài)
2025-03-05 08:57:32

芯片制造中薄膜厚度量測的重要性

本文論述了芯片制造中薄膜厚度量測的重要性,介紹了量測納米級薄膜的原理,并介紹了如何在制造過程中融入薄膜量測技術(shù)
2025-02-26 17:30:092660

是德頻譜分析儀N9324C技術(shù)指標(biāo)

N9324C技術(shù)指標(biāo): 這款快速和高性價(jià)比的通用分析儀具有高達(dá) 7 GHz 的頻率范圍、-152 dBm DANL 和 ±0.6 dB 總體幅度準(zhǔn)確度,可以幫助用戶快速執(zhí)行關(guān)鍵分析 提供游標(biāo)解調(diào)
2025-02-26 15:20:27541

?超景深3D檢測顯微鏡技術(shù)解析

在現(xiàn)代科技領(lǐng)域,顯微鏡技術(shù)的發(fā)展始終是推動(dòng)科學(xué)研究和技術(shù)進(jìn)步的重要引擎。上海桐爾作為這一領(lǐng)域的探索者,其超景深3D檢測顯微鏡技術(shù)的突破,為科學(xué)研究、工業(yè)檢測和醫(yī)療診斷等領(lǐng)域帶來了全新的可能性。這項(xiàng)
2025-02-25 10:51:29

薄膜壓力分布測量系統(tǒng)鞋墊式足底壓力分布測試

引言: 鞋墊式足底壓力分布測試系統(tǒng)是一種基于傳感器技術(shù)的高科技設(shè)備,通過嵌入鞋墊中的壓力傳感器,實(shí)時(shí)采集足底各個(gè)部位的壓力數(shù)據(jù),并將數(shù)據(jù)傳輸?shù)椒治鲕浖羞M(jìn)行處理和可視化。該系統(tǒng)能夠精確測量足底壓力
2025-02-24 16:24:36968

安捷倫E5080A ENA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀技術(shù)指標(biāo)

有關(guān)安捷倫E5080A矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀技術(shù)指標(biāo) 特征:9 kHz 至 4.5/6.5/9 GHz,2 或 4 端口,50 歐姆寬動(dòng)態(tài)范圍 152 dB(典型值)快速測量速度 3 ms(401 點(diǎn))低
2025-02-20 17:38:14875

Keysight(原Agilent) 53210A頻率計(jì)數(shù)器技術(shù)指標(biāo)

Keysight(原Agilent) 53131A計(jì)數(shù)器在高達(dá)225MHz頻率上提供每秒10位的頻率分辨率。單次時(shí)間間隔分辨率指標(biāo)規(guī)定為500ps,通過平均可進(jìn)一步降低。測量包括頻率、周期、時(shí)間間隔
2025-02-12 17:16:19776

AGILENT 53230A通用頻率計(jì)6 GHz技術(shù)指標(biāo)

。它可以添加可選的射頻通道,以進(jìn)行6或15 GHz測量。 Agilent 53230A 通用頻率計(jì)主要技術(shù)指標(biāo): 2個(gè)350 MHz輸入通道,加可選的第3通道(6 GHz或15 GHz) 12位/秒
2025-02-11 16:36:58859

薄膜式壓力分布測量系統(tǒng)

產(chǎn)品概述: 薄膜壓力傳感器是一種電阻式傳感器,輸出電阻隨施加在傳感器表面壓力的增大而減小,數(shù)據(jù)通過采集器上傳云端可以測得壓力大小以及壓力分布云圖。福普生是一家專注于壓力分布測量技術(shù)的公司,憑借創(chuàng)新
2025-02-10 15:26:351071

PECVD中影響薄膜應(yīng)力的因素

本文介紹了PECVD中影響薄膜應(yīng)力的因素。 影響PECVD 薄膜應(yīng)力的因素有哪些?各有什么優(yōu)缺點(diǎn)? 以SiH4+NH3/N2生成SiNx薄膜,SiH4+NH3+NO2生成SiON薄膜為例,我這邊歸納
2025-02-10 10:27:001660

數(shù)字電壓表的主要指標(biāo)_數(shù)字電壓表由什么構(gòu)成

 數(shù)字電壓表的主要技術(shù)指標(biāo)包括以下幾個(gè)方面:   一、測量范圍   測量范圍指數(shù)字電壓表可測量的電壓區(qū)間。不同的數(shù)字電壓表具有不同的測量范圍,用戶應(yīng)根據(jù)實(shí)際測量需求選擇合適的量程。在選擇量程時(shí),應(yīng)盡量使被測電壓值接近量程的上限,以提高測量的準(zhǔn)確性。
2025-01-28 14:19:001756

CVD薄膜質(zhì)量的影響因素及故障排除

本文介紹了CVD薄膜質(zhì)量的影響因素及故障排除。 CVD薄膜質(zhì)量影響因素 以下將以PECVD技術(shù)沉積薄膜作為案例,闡述影響薄膜品質(zhì)的幾個(gè)核心要素。 PECVD工藝質(zhì)量主要受氣壓、射頻能量、襯底溫度
2025-01-20 09:46:473313

轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)成像系統(tǒng)

中圖儀器VT6000轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)成像系統(tǒng)以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法,共同組成測量系統(tǒng)。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等
2025-01-16 14:56:21

RS-ALD技術(shù)制備的Al2O3薄膜在TOPCon電池邊緣鈍化中的應(yīng)用研究

硅太陽能電池和組件在光伏市場占主導(dǎo),但半電池切割產(chǎn)生的新表面會(huì)加劇載流子復(fù)合,影響電池效率,邊緣鈍化技術(shù)可解決此問題。Al2O3薄膜穩(wěn)定性高、介電常數(shù)高、折射率低,在光學(xué)和光電器件中有應(yīng)用前景,常用
2025-01-13 09:01:392277

安泰:電壓放大器主要考慮的技術(shù)指標(biāo)有哪些

電壓放大器 是一種廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備和通信系統(tǒng)中的重要元件,它常用于放大信號,并將電壓增大到所需的水平。在設(shè)計(jì)和選擇電壓放大器時(shí),需要注意以下幾個(gè)重要的指標(biāo): 增益:增益是指輸入信號通過放大器后輸出
2025-01-09 11:55:28685

中車永濟(jì)電機(jī)公司智能高效雙向變流牽引供電系統(tǒng)裝置通過鑒定

近日,由中車永濟(jì)電機(jī)公司自主研發(fā)的智能高效雙向變流牽引供電系統(tǒng)裝置成功通過鐵道科學(xué)院國家鐵路產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)檢測中心的鑒定,這一成果標(biāo)志著公司在城軌牽引供電領(lǐng)域取得重大技術(shù)突破,其各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)居國內(nèi)領(lǐng)先水平。
2025-01-06 16:33:141009

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