表面缺陷檢測一直是行業(yè)的難題，主要是成像方面的問題，這是一個表面缺陷檢測的頸瓶！在表面缺陷檢查中，劃痕一般都是具有方向性的，在機器視覺大多數(shù)成像中，都是采用高低角度打光，這種打光方式，主要是針對表面比較明顯或者劃痕比較深的缺陷，在這種情況下，可以得到高質(zhì)量的圖像效果，然而在劃痕比較微弱的缺陷中，效果就比較難體現(xiàn)出來了，一般的打光方法很難得到符合要求的圖像。在這種情況下，只能采用目視或者干脆不檢測。

在薄膜的生產(chǎn)過程中，由于生產(chǎn)工藝及現(xiàn)場環(huán)境等影響，容易造成薄膜表面出現(xiàn)黑點、晶點、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷。這些缺陷不僅影響薄膜產(chǎn)品的外觀，更重要的是降低了薄膜的使用性能。如何在生產(chǎn)過程中及時檢出薄膜表面的瑕疵缺陷，消除生產(chǎn)的根源，實現(xiàn)控制和提高薄膜的表面質(zhì)量，一直是薄膜企業(yè)追求的目標。

現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)對薄膜表面的質(zhì)量提出越來越高的要求，傳統(tǒng)的檢測方法如人工目視抽檢已經(jīng)遠遠不能滿足現(xiàn)在工業(yè)生產(chǎn)中高速、高分辨率和無損只能檢測的要求，基于CCD的賽默斐視SIMV薄瑕疵檢測系統(tǒng)與傳統(tǒng)的人工肉眼檢測相比，具有快速、可靠。準確的優(yōu)點，目前已被許多薄膜企業(yè)所應用。

【賽默斐視SIMV薄瑕疵檢測系統(tǒng)檢測原理】

生產(chǎn)線正常生產(chǎn)時，高亮的LED線性聚光冷光源采用透射的原理照射在生產(chǎn)線表面（對于不透明的薄膜產(chǎn)品采用反射的檢測原理），架設在生產(chǎn)線上的線陣相機進行實時同步掃描，同時系統(tǒng)將相機采集到的薄膜圖像通過SIMV圖像處理單元進行瑕疵分割處理。

由于瑕疵圖像的灰階與正常產(chǎn)品的灰階存在明顯差異，從而使系統(tǒng)能夠發(fā)現(xiàn)瑕疵，同時對瑕疵進行有效的判定、分類。

【賽默斐視SIMV薄瑕疵檢測系統(tǒng)產(chǎn)品應用】

賽默斐視SIMV薄瑕疵檢測系統(tǒng)主要用于檢測薄膜在生產(chǎn)過程中表面出現(xiàn)的黑點、晶點、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷，借助于由工業(yè)CCD相機、高亮LED線性聚光光源組成的薄膜表面缺陷檢測的成像系統(tǒng)，及時準確的反應缺陷的的圖片、形狀、尺寸以及位置等具體信息，在為質(zhì)量控制、產(chǎn)品評級提供真是準確數(shù)據(jù)的同時，有效的節(jié)約了生產(chǎn)成本、提高了產(chǎn)品質(zhì)量。

【賽默斐視SIMV薄瑕疵檢測系統(tǒng)功能】

1.操作便捷

操作簡單，只需點擊“開始”、“停止”即可完成所有操作。

2.穩(wěn)定性高

可連續(xù)工作在極端溫度和廠房環(huán)境中。

3.100%幅面表面檢測

發(fā)現(xiàn)疵點時可根據(jù)設定發(fā)出報警，提示及時修復，避免大量缺陷產(chǎn)品的產(chǎn)生。

4.完整的表面質(zhì)量信息

材料表面疵點圖像由計算機進行保存，每卷產(chǎn)品都有完全的疵點圖像/位置和數(shù)量等信息，產(chǎn)品幅面邊緣根據(jù)需要可以進行自動貼標。

5.高精度檢測

方案可100%檢測出0.02 平方毫米以上的疵點缺陷，滿足客戶的不斷提升的產(chǎn)品品質(zhì)要求。

6.軟件數(shù)據(jù)庫管理功能

可以對生產(chǎn)的每卷材料進行精確的質(zhì)量統(tǒng)計，詳細的缺陷記錄（大小和位置）和統(tǒng)計為生產(chǎn)工藝及設備狀態(tài)調(diào)整提供了方便;離線分析，用于后續(xù)分切和質(zhì)量管理，可有效保證產(chǎn)品質(zhì)量。

7.定位標識功能

每生產(chǎn)一卷產(chǎn)品，系統(tǒng)會自動對這一卷產(chǎn)品的表面缺陷進行統(tǒng)計，同時打印出統(tǒng)計標簽，貼在每一卷產(chǎn)品上，跟隨產(chǎn)品發(fā)放下游。這樣用戶就可以通過每一卷產(chǎn)品上面的標簽對產(chǎn)品進行評級，從而有效的用于分配不同質(zhì)量要求的用途。

8.系統(tǒng)聯(lián)動

當系統(tǒng)檢測到疵點時進行聲光報警，也可在系統(tǒng)中加入其他連鎖I/O 輸出。

9.一鍵導出

一鍵導出EXCEL缺陷明細表，便于用戶做進一步的查詢，分析，建檔。

注：軟件功能可根據(jù)用戶要求實現(xiàn)完全定制！

責任編輯：tzh