精譜測(cè)控薄膜表面瑕疵檢測(cè)設(shè)備提供全面精準(zhǔn)瑕疵檢測(cè)報(bào)告——精譜測(cè)控薄膜表面瑕疵檢測(cè)設(shè)備主要用于各類(lèi)薄膜產(chǎn)品的檢測(cè)工作，可針對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中的薄膜表面出現(xiàn)的斷經(jīng)、斷緯、破洞、油污、經(jīng)緯污、雙緯、稀弄、粗節(jié)紗、空織、松緊經(jīng)、圈緯、小散絲、松緯、經(jīng)起毛、開(kāi)口不清等瑕疵進(jìn)行檢測(cè)，同時(shí)系統(tǒng)會(huì)把檢測(cè)出來(lái)的問(wèn)題，提供生產(chǎn)統(tǒng)計(jì)質(zhì)檢報(bào)告，統(tǒng)計(jì)和分析各類(lèi)疵點(diǎn)，完全取代人工肉眼進(jìn)行瑕疵檢測(cè)。大大的節(jié)省了生產(chǎn)成本，為生產(chǎn)提質(zhì)增效。

精譜測(cè)控薄膜表面瑕疵檢測(cè)設(shè)備原理：

視覺(jué)系統(tǒng)的輸出并非圖像視頻信號(hào)，而是經(jīng)過(guò)運(yùn)算處理之后的檢測(cè)結(jié)果（如缺陷、尺寸等數(shù)據(jù)）。通常，機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)就是用機(jī)器代替肉眼來(lái)做測(cè)量和判斷。首先采用CCD照相機(jī)將被攝取目標(biāo)轉(zhuǎn)換成圖像信號(hào)，傳送給專(zhuān)用的圖像處理系統(tǒng)，根據(jù)像素分布和亮度、顏色等信息，轉(zhuǎn)變成數(shù)字化信號(hào)。

圖像系統(tǒng)對(duì)這些信號(hào)進(jìn)行各種運(yùn)算來(lái)抽取目標(biāo)的特征，如：面積、長(zhǎng)度、數(shù)量、位置等。最后，根據(jù)預(yù)設(shè)的容許度和其他條件輸出結(jié)果，如：缺陷、尺寸、角度、偏移量、個(gè)數(shù)、合格/不合格、有/無(wú)等。上位機(jī)（如PC和PLC）實(shí)時(shí)獲得檢測(cè)結(jié)果后，指揮運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)或I/O系統(tǒng)執(zhí)行相應(yīng)的控制動(dòng)作（如定位和分類(lèi)）。

精譜測(cè)控薄膜表面瑕疵檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)方法如下：

針對(duì)透光率高的薄膜材料，系統(tǒng)采用透射的打光檢測(cè)方式進(jìn)行檢測(cè)，即光源在薄膜的下方，相機(jī)在薄膜的上方進(jìn)行圖像拍攝。產(chǎn)線運(yùn)行時(shí)，系統(tǒng)通過(guò)編碼器實(shí)時(shí)的采集產(chǎn)線運(yùn)行狀態(tài)信息并開(kāi)始檢測(cè)，系統(tǒng)將相機(jī)采集到的圖像通過(guò)圖像分析軟件進(jìn)行瑕疵處理，由于瑕疵與正常產(chǎn)品的圖像在灰階上存在明顯差異，從而使得系統(tǒng)能夠發(fā)現(xiàn)瑕疵，并通過(guò)進(jìn)一步的計(jì)算、分析來(lái)確定瑕疵的大小、位置、類(lèi)型等信息。

精譜測(cè)控薄膜表面瑕疵檢測(cè)設(shè)備特點(diǎn)：

1、該品種經(jīng)過(guò)多次的測(cè)試，可檢測(cè)常見(jiàn)缺陷，檢測(cè)率高。

2、能提高降等率，降級(jí)索賠率，經(jīng)濟(jì)效益高。以電子布為例，產(chǎn)量為168萬(wàn)米/臺(tái)，總降等率為5%，GC Vision 攔截率為60%.

3、所有疵點(diǎn)進(jìn)行有效記錄并自動(dòng)保存相關(guān)圖片。

4、自動(dòng)形成疵點(diǎn)統(tǒng)計(jì)報(bào)表。

5、偵測(cè)到疵點(diǎn)時(shí)，可根據(jù)要求進(jìn)行相應(yīng)的動(dòng)作（記錄、報(bào)警、停機(jī)等）。

6、顯示疵點(diǎn)的具體經(jīng)緯位置和圖片，形成疵點(diǎn)地圖，為后期開(kāi)裁提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。

7、歷史記錄追溯：每卷布的各類(lèi)信息可保存，可追溯。

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