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紅墨水實驗PCB檢測失效分析

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2025-06-16 21:53:07

基于是德頻譜分析儀的電磁干擾檢測與定位方法

電磁干擾(EMI)在現(xiàn)代電子設備中是一個常見且嚴重的問題,它可能導致設備性能下降甚至完全失效。是德頻譜分析儀作為一種高精度的測試儀器,在電磁干擾的檢測與定位中發(fā)揮著重要作用。本文將詳細介紹基于是德
2025-06-12 17:02:00665

Simcenter FLOEFD EDA Bridge模塊:使用導入的詳細PCB設計和IC熱特性來簡化熱分析

優(yōu)勢使用導入的詳細PCB設計和集成電路熱特性進行分析,省時省力將詳細的PCB數(shù)據(jù)快速導入SimcenterFLOEFD通過更詳細的電子設備熱建模提高分析精度摘要SimcenterFLOEFD軟件
2025-06-10 17:36:181497

PCB電路板失效分析儀 機械應力測量系統(tǒng)

一、前言: 一塊PCB電路板變成PCBA需要經(jīng)過很多制程,不管是手動的還是自動化產(chǎn)線上對設備的制造都需要一環(huán)一環(huán)的緊密測量。 二、背景介紹: PCB印刷電路板在生產(chǎn)測試流程中會受到不同程度的應力
2025-06-10 16:33:49753

半導體封裝質(zhì)量把關(guān):紅墨水試驗技術(shù)要點與常見問題解答

可靠性分析中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。 隨著半導體封裝技術(shù)向高密度、微型化發(fā)展,BGA器件的焊接質(zhì)量直接影響產(chǎn)品的電氣性能和長期可靠性。傳統(tǒng)目檢、X-ray檢測等方法難以全面評估焊接界面的微觀缺陷,而紅墨水試驗通過染色滲透技術(shù),可精準識
2025-06-04 10:49:34949

廣和通檢測中心榮獲CNAS實驗室認可證書

近期,深圳市廣和通無線股份有限公司檢測中心正式通過中國合格評定國家認可委員會(CNAS)審核,成功獲得CNAS實驗室認可證書(注冊號:CNAS L20235)。這一里程碑標志著廣和通檢測中心在檢測
2025-05-29 09:34:19806

電子DIY作品 桌面墨水屏日歷

想做點什么東西出來,前不久看到別人做的桌面日歷挺不錯,手里剛好也有幾個墨水屏,所以就打算也做一個,從畫PCB到焊接,再到寫代碼、建3D模型,最后呈現(xiàn)實物,一步一個腳印完成一個比較完整的項目。 實物展示 正面 背面 01、創(chuàng)意萌芽:為什么是墨
2025-05-21 14:24:371955

PCB分層爆板的成因和預防措施

在電子設備中,高性能印刷電路板(PCB)就如同精密的 “千層蛋糕”,然而,當出現(xiàn)層間黏合失效,也就是 “分層爆板” 問題時,輕則導致信號失真,重則使整板報廢。接下來,SGS帶您深入了解分層爆板的成因、檢測技術(shù)以及預防措施。
2025-05-17 13:53:102529

MDD穩(wěn)壓二極管失效模式分析:開路、熱擊穿與漏電問題排查

在電子系統(tǒng)中,MDD穩(wěn)壓二極管(ZenerDiode)憑借其在反向擊穿區(qū)域的穩(wěn)定電壓特性,被廣泛應用于電壓參考、過壓保護和穩(wěn)壓電路中。然而在實際應用中,穩(wěn)壓管并非“永不失手”。其失效往往會直接影響
2025-05-16 09:56:081095

離子研磨在芯片失效分析中的應用

芯片失效分析中對芯片的截面進行觀察,需要對樣品進行截面研磨達到要觀察的位置,而后再采用光學顯微鏡(OM Optical Microscopy)或者掃描電子顯微(SEM Scanning Electron Microscopy)進行形貌觀察。
2025-05-15 13:59:001657

基于Nanopaint壓感油墨系統(tǒng)的柔性傳感系統(tǒng)在體育表現(xiàn)監(jiān)測中的應用

干擾運動員的表現(xiàn)。 Nanopaint壓阻式墨水在運動領(lǐng)域的關(guān)鍵特性 高靈敏度:可檢測極微小的壓力與應變變化,捕捉詳盡的生物力學數(shù)據(jù)。 柔韌性與貼合性:可適應人體運動,不限制動作。 耐久性:能承受
2025-05-14 13:18:31

元器件失效分析有哪些方法?

失效分析的定義與目標失效分析是對失效電子元器件進行診斷的過程。其核心目標是確定失效模式和失效機理。失效模式指的是我們觀察到的失效現(xiàn)象和形式,例如開路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等;而失效機理則是指導
2025-05-08 14:30:23910

如何操作時域網(wǎng)絡分析儀進行故障檢測?

操作時域網(wǎng)絡分析儀(TDNA)進行故障檢測需結(jié)合儀器設置、校準、時域轉(zhuǎn)換及數(shù)據(jù)分析等步驟。以下為系統(tǒng)化操作指南,涵蓋關(guān)鍵流程、參數(shù)配置及典型案例:一、操作前準備1. 儀器連接與配置 硬件連接
2025-04-30 14:15:24

高頻PCB設計中出現(xiàn)的干擾分析及對策

隨著頻率的提高,將出現(xiàn)與低頻PCB設計所不同的諸多干擾,歸納起來,主要有電源噪聲、傳輸線干擾、耦合、電磁干擾(EM)四個方面。通過分析高頻PCB的各種干擾問題,結(jié)合工作中實踐,提出了有效的解決方案。 純分享貼,有需要可以直接下載附件獲取完整文檔! (如果內(nèi)容有幫助可以關(guān)注、點贊、評論支持一下哦~)
2025-04-29 17:39:53

破局SiC封裝瓶頸 | 攻克模組失效分析全流程問題

分析方面面臨諸多挑戰(zhàn),尤其是在化學開封、X-Ray和聲掃等測試環(huán)節(jié),國內(nèi)技術(shù)尚不成熟?;诖耍瑥V電計量集成電路測試與分析研究所推出了先進封裝SiC功率模組失效分析
2025-04-25 13:41:41746

PCB紅墨水試驗的作用

在電子制造領(lǐng)域,PCB的質(zhì)量直接影響到電子設備的性能與可靠性。PCB紅墨水試驗的主要作用包括以下3個方面:檢測焊點完整性焊點的完整性是PCB質(zhì)量的關(guān)鍵指標之一。在PCB紅墨水試驗中,通過將PCB
2025-04-14 16:07:45712

MDD超快恢復二極管的典型失效模式分析:如何避免過熱與短路?

使用環(huán)境導致失效,常見的失效模式主要包括過熱失效和短路失效。1.過熱失效及其規(guī)避措施過熱失效通常是由于功率損耗過大、散熱不良或工作環(huán)境溫度過高導致的。主要成因包括:正向
2025-04-11 09:52:17685

電子元器件失效分析與典型案例(全彩版)

本資料共分兩篇,第一篇為基礎篇,主要介紹了電子元器件失效分析基本概念、程序、技術(shù)及儀器設備;第二篇為案例篇,主要介紹了九類元器件的失效特點、失效模式和失效機理以及有效的預防和控制措施,并給出九類
2025-04-10 17:43:54

雙851000h(THB)和HAST96h實驗,誰的實驗理論壽命更長?

(這也許就是很多封裝廠HAST實驗后不關(guān)注分層的原因),因此從可能導致的額外失效來講,HAST 96同樣強度高于雙85。
2025-04-01 10:16:11

從IGBT模塊大規(guī)模失效爆雷看國產(chǎn)SiC模塊可靠性實驗的重要性

深度分析:從IGBT模塊可靠性問題看國產(chǎn)SiC模塊可靠性實驗的重要性 某廠商IGBT模塊曾因可靠性問題導致國內(nèi)光伏逆變器廠商損失數(shù)億元,這一案例凸顯了功率半導體模塊可靠性測試的極端重要性。國產(chǎn)SiC
2025-03-31 07:04:501316

詳解半導體集成電路的失效機理

半導體集成電路失效機理中除了與封裝有關(guān)的失效機理以外,還有與應用有關(guān)的失效機理。
2025-03-25 15:41:371791

安泰電壓放大器在缺陷局部的無損檢測研究中的應用

實驗名稱:基于LDR振型的損傷檢測方法實驗 研究方向:隨著科技的不斷進步,材料中的腐蝕、分層等缺陷是導致結(jié)構(gòu)剛度下降、破壞失效的主要原因。為保證結(jié)構(gòu)的安全性與可靠性,對其進行無損檢測是重要的。首先
2025-03-24 11:12:18672

HDI板激光盲孔底部開路失效原因分析

高密度互聯(lián)(HDI)板的激光盲孔技術(shù)是5G、AI芯片的關(guān)鍵工藝,但孔底開路失效卻讓無數(shù)工程師頭疼!SGS微電子實驗室憑借在失效分析領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗,總結(jié)了一些失效分析經(jīng)典案例,旨在為工程師提供更優(yōu)
2025-03-24 10:45:391271

線路檢測的終極保障!捷多邦AOI自動光學檢測如何提升PCB質(zhì)量?

、嚴格質(zhì)量檢測、精選材料、高精度加工等方式,將PCB故障率控制在行業(yè)平均水平的一半以下,為客戶提供更穩(wěn)定、更耐用的電路板。 AOI自動光學檢測:捷多邦如何保證每條線路無誤? 在高端電子制造中,PCB(印制電路板)的質(zhì)量直接影響產(chǎn)
2025-03-21 17:28:071139

優(yōu)質(zhì)PCB如何甄別?專業(yè)檢測流程全面揭秘

在電子制造行業(yè),PCB(印制電路板)的質(zhì)量直接影響電子產(chǎn)品的性能和壽命。如何判斷一塊PCB是否符合高標準要求?從外觀檢測到微觀結(jié)構(gòu)分析,捷多邦采用嚴格的質(zhì)量管控體系,確保每一塊PCB具備高可靠性
2025-03-20 15:45:09650

Decap開蓋檢測方法及案例分析

開蓋檢測(DecapsulationTest),即Decap,是一種在電子元器件檢測領(lǐng)域中廣泛應用的破壞性實驗方法。這種檢測方式在芯片的失效分析、真?zhèn)舞b定等多個關(guān)鍵領(lǐng)域發(fā)揮著不可或缺的作用,為保障
2025-03-20 11:18:231096

PCB失效分析技術(shù):保障電子信息產(chǎn)品可靠性

問題。為了確保PCB的質(zhì)量和可靠性,失效分析技術(shù)顯得尤為重要。外觀檢查外觀檢查是失效分析的第一步,通過目測或借助簡單儀器(如立體顯微鏡、金相顯微鏡或放大鏡)對PC
2025-03-17 16:30:54935

封裝失效分析的流程、方法及設備

本文首先介紹了器件失效的定義、分類和失效機理的統(tǒng)計,然后詳細介紹了封裝失效分析的流程、方法及設備。
2025-03-13 14:45:411819

太誘電容的失效分析:裂紋與短路問題

太誘電容的失效分析,特別是針對裂紋與短路問題,需要從多個角度進行深入探討。以下是對這兩個問題的詳細分析: 一、裂紋問題 裂紋成因 : 熱膨脹系數(shù)差異 :電容器的各個組成部分(如陶瓷介質(zhì)、端電極
2025-03-12 15:40:021222

Made with KiCad(118):Inkplate 4 TEMPERA 墨水屏終端

“ ?Inkplate 4 TEMPERA 是一款由 Soldered Electronics 推出的開源、兼容 Arduino 的 3.8 英寸電子墨水設備,具備多種外設。? ” Made
2025-03-07 11:15:511106

高密度封裝失效分析關(guān)鍵技術(shù)和方法

高密度封裝技術(shù)在近些年迅猛發(fā)展,同時也給失效分析過程帶來新的挑戰(zhàn)。常規(guī)的失效分析手段難以滿足結(jié)構(gòu)復雜、線寬微小的高密度封裝分析需求,需要針對具體分析對象對分析手法進行調(diào)整和改進。
2025-03-05 11:07:531289

用AI人臉識別開發(fā)板BW21-CBV-Kit驅(qū)動墨水

試著用BW21-CBV-Kit點亮2.9寸墨水屏,開發(fā)板例程非常豐富,在arduino上開發(fā)的話上手超級容易。
2025-03-04 18:24:531641

明治案例 | PCB視覺檢測利器,精準捕捉【線序顏色】【元件缺失】與【焊點細節(jié)】

在當今的3C行業(yè)中,視覺檢測PCB已經(jīng)成為一種常見的解決方案,它極大地提升了生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。然而,隨著電子產(chǎn)品設計的日益復雜和多樣化,特別是對于一些顏色特別或與背景相近、檢測對象多變的PCB
2025-02-25 07:34:271136

芯片失效分析的方法和流程

? 本文介紹了芯片失效分析的方法和流程,舉例了典型失效案例流程,總結(jié)了芯片失效分析關(guān)鍵技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)和對策,并總結(jié)了芯片失效分析的注意事項。 ? ? 芯片失效分析是一個系統(tǒng)性工程,需要結(jié)合電學測試
2025-02-19 09:44:162908

LED紅墨水測試

紅墨水滲透測試紅墨水滲透測試(RedDyePenetrationTest),也稱為LED紅墨水試驗,是一種用于評估電子電路板組裝(PCBAssembly)中表面貼裝技術(shù)(SMT)焊接質(zhì)量以及LED
2025-02-08 12:14:181367

PCB焊接質(zhì)量檢測

隨著電子產(chǎn)品的廣泛普及與快速發(fā)展,PCB已成為電子設備中必不可少的部分。在PCB電路板生產(chǎn)時,焊接質(zhì)量極為關(guān)鍵,直接關(guān)乎電子產(chǎn)品的性能與可靠性。要保障PCB焊接的可靠與穩(wěn)定,就必須對焊接質(zhì)量展開嚴格
2025-02-07 14:00:051002

破壞性檢測手段:紅墨水試驗

試驗簡介紅墨水試驗,學名DyeandPullTest,曾被稱為DyeandPry,是一種在失效分析領(lǐng)域廣泛應用的破壞性檢測手段。它主要用于檢測電子零件表面貼裝技術(shù)(SMT)是否存在空焊或斷裂
2025-01-21 16:59:521857

PCB及PCBA失效分析的流程與方法

PCB失效分析:步驟與技術(shù)作為各種元器件的載體與電路信號傳輸?shù)臉屑~PCB(PrintedCircuitBoard,印刷電路板)已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定
2025-01-20 17:47:011696

整流二極管失效分析方法

整流二極管失效分析方法主要包括對失效原因的分析以及具體的檢測方法。 一、失效原因分析 防雷、過電壓保護措施不力 : 整流裝置未設置防雷、過電壓保護裝置,或保護裝置工作不可靠,可能因雷擊或過電壓而損壞
2025-01-15 09:16:581589

LED失效分析重要手段——光熱分布檢測

光熱分布檢測意義在LED失效分析領(lǐng)域,光熱分布檢測技術(shù)扮演著至關(guān)重要的角色。LED作為一種高效的照明技術(shù),其性能和壽命受到多種因素的影響,其中光和熱的分布情況尤為關(guān)鍵。光熱分布不均可能導致芯片界面
2025-01-14 12:01:24738

ADS1248一旦配置Burnout Current,檢測到的值精度降低了很多,為什么?

跪求指點,據(jù)芯片手冊里介紹,Burnout Current是用來檢測前端傳感器失效的,但是現(xiàn)在設計RTD檢測模塊時,不配置Burnout Current檢測精度很高,但是一旦配置Burnout Current,檢測到的值精度降低了很多(采樣值偏大)。是不是配置有問題,這塊配置有沒有注意的地方,謝謝
2025-01-10 13:52:55

NVIDIA推出DRIVE AI安全檢測實驗

全新 NVIDIA 實驗室獲得美國國家標準學會國家認可委員會(ANAB)的認證,可執(zhí)行自動駕駛汽車的功能安全、網(wǎng)絡安全和 AI 檢測
2025-01-09 16:01:021262

如何有效地開展EBSD失效分析

失效分析的重要性失效分析其核心任務是探究產(chǎn)品或構(gòu)件在服役過程中出現(xiàn)的各種失效形式。這些失效形式涵蓋了疲勞斷裂、應力腐蝕開裂、環(huán)境應力開裂引發(fā)的脆性斷裂等諸多類型。深入剖析失效機理,有助于工程師
2025-01-09 11:01:46996

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