離子污染是導致PCB漏電、腐蝕等失效的關(guān)鍵“隱形殺手”,目前行業(yè)主流是通過ROSE、局部離子測試和離子色譜(IC)結(jié)合SIR/CAF試驗來實現(xiàn)“從含量到可靠性”的量化評估體系。一、離子污染如何導致
2025-12-30 11:22:39
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一、讀寫均衡失效引發(fā)的核心問題 讀寫均衡(磨損均衡,Wear Leveling)是SD卡固件通過算法將數(shù)據(jù)均勻分配到閃存芯片各單元,避免局部單元過度擦寫的關(guān)鍵機制。瀚海微SD卡出現(xiàn)讀寫均衡失效后,會
2025-12-29 15:08:07
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今天結(jié)合電子整流器的核心原理,帶大家拆解整流器內(nèi)部器件,從結(jié)構(gòu)、失效原因到檢測方法逐一講透,文末還附上實操修復案例,新手也能看懂。
2025-12-28 15:24:43
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發(fā)光二極管(LED)作為現(xiàn)代照明和顯示技術(shù)的核心元件,其可靠性直接關(guān)系到最終產(chǎn)品的性能與壽命。與所有半導體器件相似,LED在早期使用階段可能出現(xiàn)失效現(xiàn)象,對這些失效案例進行科學分析,不僅能夠定位
2025-12-24 11:59:35
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醫(yī)療設備、高精度實驗室儀器等對低頻磁場干擾極為敏感,其抗擾度直接關(guān)乎生命安全與數(shù)據(jù)準確。低頻磁場檢測-工頻磁場抗擾度試驗-醫(yī)療與實驗室設備EMC
2025-12-10 09:35:21
CW32時鐘運行中失效檢測的流程是什么?CW32時鐘運行中失效檢測注意事項有哪些?
2025-12-10 07:22:58
聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束(FocusedIonBeam,FIB)技術(shù)作為現(xiàn)代半導體失效分析的核心手段之一,通常與掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,SEM)集成
2025-12-04 14:09:25
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【博主簡介】本人“ 愛在七夕時 ”,系一名半導體行業(yè)質(zhì)量管理從業(yè)者,旨在業(yè)余時間不定期的分享半導體行業(yè)中的:產(chǎn)品質(zhì)量、失效分析、可靠性分析和產(chǎn)品基礎應用等相關(guān)知識。常言:真知不問出處,所分享的內(nèi)容
2025-12-03 08:35:54
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實驗名稱:基于掃描激光多普勒測振技術(shù)與YOLOv5s深度學習模型的鋁板盲孔損傷檢測 實驗目的:針對工程結(jié)構(gòu)損傷檢測中存在的信號復雜、成像困難及傳統(tǒng)分析方法效率低下的問題,本研究提出了一種基于全導波場
2025-12-02 11:37:20
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導波在電池中傳播特性的基礎上,搭建接觸式激勵-非接觸式接收”的超聲導波掃描實驗系統(tǒng),設計并驗證面掃描實驗方案與線掃描實驗方案,最終為后續(xù)電池SOC/SOH表征與失效分析提供穩(wěn)定的實驗系統(tǒng)、可靠的檢測方法及有效的動態(tài)導波數(shù)據(jù)。
2025-12-02 11:16:20
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于新能源汽車、工業(yè)控制及商業(yè)航天等高端領(lǐng)域。本文針對該芯片在實際應用中出現(xiàn)的三類典型失效案例,采用"外觀檢查-電性能測試-無損檢測-物理開封-材料分析"的階梯式失效分析流程,結(jié)合SEM、XRD及溫度場仿真等技術(shù)手段,系統(tǒng)揭示了過電應力導致VDMOS鍵合絲熔斷、溫度梯度引發(fā)焊盤
2025-11-30 09:33:11
1389 2025年11月,水晶光電失效分析與材料研究實驗室憑硬核實力,順利通過中國合格評定國家認可委員會(CNAS)嚴苛審核,正式獲頒CNAS認可證書。這標志著實驗室檢測能力與服務質(zhì)量已接軌國際標準,彰顯了企業(yè)核心技術(shù)創(chuàng)新力與綜合競爭力,為深耕國際市場筑牢品質(zhì)根基”。
2025-11-28 15:18:30
591 在電子制造領(lǐng)域,PCB的質(zhì)量直接影響到電子設備的性能與可靠性。紅墨水試驗,又叫染色試驗,是一種常用的電子組裝焊接質(zhì)量的分析手段,可以考察電子零件的焊接工藝是否存在虛焊,假焊,裂縫等瑕疵。因為是破壞性
2025-11-27 14:15:53
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CW32x030 支持外部時鐘(HSE 和LSE)運行中失效檢測功能。在外部時鐘穩(wěn)定運行過程中,時鐘檢測邏輯持續(xù)
以一定的檢測周期對HSE 和LSE 時鐘信號進行計數(shù):在檢測周期內(nèi)檢測到設定個數(shù)
2025-11-27 06:37:44
納米級;二是材料特殊化,超薄銅箔、高頻介電材料等廣泛應用。傳統(tǒng)檢測手段或易損傷樣品,或難以實現(xiàn)三維量化分析,而光子灣科技的共聚焦顯微鏡憑借高分辨率三維成像技術(shù),可成為
2025-11-20 18:03:17
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、冷焊或焊接強度不足等問題,在惡劣環(huán)境或機械應力下,極易導致電路失效。 為確保焊接質(zhì)量,除了常規(guī)的外觀檢查和電性能測試外,推力測試作為一種直觀、定量的機械可靠性檢測手段,在工藝驗證、來料檢驗和失效分析中扮演著不可替代
2025-11-19 10:16:44
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在生命科學、醫(yī)藥研發(fā)、環(huán)境監(jiān)測等前沿領(lǐng)域的實驗室中,樣本檢測的準確性與時效性直接關(guān)系到實驗成果的產(chǎn)出效率。然而,傳統(tǒng)人工進行檢測樣本上下料時,常面臨“樣本種類繁雜易混淆、微量樣本操作誤差大、多設備
2025-11-18 13:43:49
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近日,廣汽集團試驗檢測中心風洞實驗室成功通過中國合格評定國家認可委員會(CNAS)現(xiàn)場評審,正式躋身國家認可實驗室行列。此次獲認可,不僅是對廣汽風洞實驗室技術(shù)能力、質(zhì)量管理、服務水平的全方位肯定,更標志著實驗室出具的檢測報告權(quán)威可信,助力實驗室的公信力躍上新臺階,為汽車產(chǎn)業(yè)的高質(zhì)量發(fā)展注入了強勁動能。
2025-11-18 10:11:49
512 近日,美信檢測憑借專業(yè)的檢測技術(shù)實力、規(guī)范的質(zhì)量管理體系以及高效的服務響應機制,在柳州五菱新能源汽車有限公司的嚴格審核下,成功通過SD/WLNE06C.31-2025《供應商實驗室認可管理規(guī)定》的相關(guān)要求,正式獲得實驗室認可證書。
2025-11-12 17:16:59
779 什么是實驗的異質(zhì)性 1. 如何理解實驗結(jié)果中的指標變化 當我們看到如下試金石實驗指標結(jié)果時 在進行分析前,可能我們的第一直覺是這樣的 經(jīng)過異質(zhì)性分析后,可能會發(fā)現(xiàn)實際情況是這樣的 2. 概念解析
2025-11-12 16:28:57
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電子元器件封裝中的引線鍵合工藝,是實現(xiàn)芯片與外部世界連接的關(guān)鍵技術(shù)。其中,金鋁鍵合因其應用廣泛、工藝簡單和成本低廉等優(yōu)勢,成為集成電路產(chǎn)品中常見的鍵合形式。金鋁鍵合失效這種現(xiàn)象雖不為人所熟知,卻是
2025-10-24 12:20:57
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個微小的鍵合點失效,就可能導致整個模塊功能異常甚至徹底報廢。因此,對鍵合點進行精準的強度測試,是半導體封裝與失效分析領(lǐng)域中不可或缺的一環(huán)。 本文科準測控小編將圍繞Alpha W260推拉力測試機這一核心設備,深入淺出地
2025-10-21 17:52:43
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電子元器件失效可能導致電路功能異常,甚至整機損毀,耗費大量調(diào)試時間。部分半導體器件存在外表完好但性能劣化的“軟失效”,進一步增加了問題定位的難度。電阻器失效1.開路失效:最常見故障。由過電流沖擊導致
2025-10-17 17:38:52
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解析。其核心優(yōu)勢在于單次實驗中同時獲取質(zhì)量變化、熱流及溫度數(shù)據(jù),為材料研發(fā)、質(zhì)量控制及失效分析提供了高效、可靠的解決方案。上海和晟HS-STA-301同步熱分析儀在
2025-10-15 09:45:31
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失效和封裝失效的原因,并分析其背后的物理機制。金鑒實驗室作為一家專注于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測機構(gòu),致力于改善LED品質(zhì),服務LED產(chǎn)業(yè)鏈中各個環(huán)節(jié),使LED產(chǎn)業(yè)健康
2025-10-14 12:09:44
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PCB的優(yōu)劣。以下是具體方法與分析: ? 一、望:視覺檢測,洞察表面缺陷 核心目標:通過肉眼或儀器觀察PCB的外觀、焊點、線路等,識別顯性缺陷。 檢測要點: 表面處理質(zhì)量: 焊盤氧化:優(yōu)質(zhì)PCB焊盤應呈光亮銅色,若發(fā)暗發(fā)黑(類似生銹硬幣),說明氧化嚴重
2025-09-28 09:22:56
805 隨著封裝技術(shù)向小型化、薄型化、輕量化演進,封裝缺陷對可靠性的影響愈發(fā)凸顯,為提升封裝質(zhì)量需深入探究失效機理與分析方法。
2025-09-22 10:52:43
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分享一個在熱發(fā)射顯微鏡下(Thermal EMMI) 芯片失效分析案例,展示我們?nèi)绾瓮ㄟ^ IV測試 與 紅外熱點成像,快速鎖定 IGBT 模組的失效點。
2025-09-19 14:33:02
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近年來,隨著LED照明市場的快速擴張,越來越多的企業(yè)加入LED研發(fā)制造行列。然而行業(yè)繁榮的背后,卻隱藏著一個令人擔憂的現(xiàn)象:由于從業(yè)企業(yè)技術(shù)實力參差不齊,LED驅(qū)動電路質(zhì)量差異巨大,導致燈具失效事故
2025-09-16 16:14:52
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LED壽命雖被標稱5萬小時,但那只是25℃下的理論值。高溫、高濕、粉塵、電流沖擊等現(xiàn)場條件會迅速放大缺陷,使產(chǎn)品提前失效。統(tǒng)計表明,現(xiàn)場失效多集中在投運前三年,且呈批次性,直接推高售后成本。把常見
2025-09-12 14:36:55
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安全通訊中的失效率量化評估寫在前面:在評估硬件隨機失效對安全目標的違反分析過程中,功能安全的分析通常集中于各個ECU子系統(tǒng)的PMHF(安全目標違反的潛在失效概率)計算。通過對ECU所有子系統(tǒng)
2025-09-05 16:19:13
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從實驗室的光譜分析設備到工業(yè)檢測的激光干涉儀,微型導軌通過實現(xiàn)光路組件的精準位移與穩(wěn)定定位.
2025-09-03 17:58:30
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深圳2025年8月27日 /美通社/ -- 2025年8月27日,華測檢測認證集團股份有限公司(簡稱CTI華測檢測,股票代碼300012)與北京戴納實驗科技股份有限公司(簡稱戴納科技)在華測集團上海
2025-08-28 09:48:10
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,系統(tǒng)分析風華貼片電感的典型失效模式,并提出針對性預防措施。 ?一、典型失效模式分析 1.? 磁路破損類失效 磁路破損是貼片電感的核心失效模式之一,具體表現(xiàn)為磁芯裂紋、磁導率偏差及結(jié)構(gòu)斷裂。此類失效通常源于以下原
2025-08-27 16:38:26
658 電子元器件失效是指其在規(guī)定工作條件下,喪失預期功能或性能參數(shù)超出允許范圍的現(xiàn)象。失效可能發(fā)生于生命周期中的任一階段,不僅影響設備正常運行,還可能引發(fā)系統(tǒng)級故障。導致失效的因素復雜多樣,可系統(tǒng)性地歸納
2025-08-21 14:09:32
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短路失效網(wǎng)上已經(jīng)有很多很詳細的解釋和分類了,但就具體工作中而言,我經(jīng)常遇到的失效情況主要還是發(fā)生在脈沖階段和關(guān)斷階段以及關(guān)斷完畢之后的,失效的模式主要為熱失效和動態(tài)雪崩失效以及電場尖峰過高失效(電流分布不均勻)。理論上還有其他的一些失效情況,但我工作中基本不怎么遇到了。
2025-08-21 11:08:54
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在半導體制造領(lǐng)域,電氣過應力(EOS)和靜電放電(ESD)是導致芯片失效的兩大主要因素,約占現(xiàn)場失效器件總數(shù)的50%。它們不僅直接造成器件損壞,還會引發(fā)長期性能衰退和可靠性問題,對生產(chǎn)效率與產(chǎn)品質(zhì)量構(gòu)成嚴重威脅。
2025-08-21 09:23:05
1497 有限元仿真技術(shù),建立了CBGA焊點失效分析的完整方法體系。通過系統(tǒng)的力學性能測試與多物理場耦合仿真,揭示了溫度循環(huán)載荷下CBGA焊點的失效演化規(guī)律,為高可靠性電子封裝設計與工藝優(yōu)化提供了理論依據(jù)和技術(shù)支持。 一、CBGA焊點失效原理 1、 失效機理 CBGA焊
2025-08-15 15:14:14
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在半導體器件研發(fā)與制造領(lǐng)域,失效分析已成為不可或缺的環(huán)節(jié),F(xiàn)IB(聚焦離子束)截面分析,作為失效分析的利器,在微觀世界里大顯身手。它運用離子束精準切割樣品,巧妙結(jié)合電子束成像技術(shù),實現(xiàn)對樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)
2025-08-15 14:03:37
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限制,PCB在生產(chǎn)和應用中常出現(xiàn)失效,引發(fā)質(zhì)量糾紛。為查明原因、解決問題并明確責任,失效分析成為必不可少的環(huán)節(jié)。失效分析流程1.失效定位失效分析的首要任務是基于失效
2025-08-15 13:59:15
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降低失效成本,高精度CT檢測新能源汽車功率模塊
2025-08-08 15:56:09
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使用PCB印刷電路板。其質(zhì)量的好壞和可靠性水平?jīng)Q定了整機設備的質(zhì)量與可靠性。PCB金相切片分析是通過切割取樣、鑲嵌、磨拋、蝕刻、觀察等一系列制樣步驟獲得PCB截面結(jié)構(gòu)切
2025-08-06 13:02:33
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光子灣3D共聚焦顯微鏡不僅能夠提供超寬視野范圍和高精細彩色圖像觀察,還集成了多種分析功能,以其先進的技術(shù)為PCB翹曲檢測帶來革命性的變化。印刷電路板(Printe
2025-08-05 17:53:14
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實驗名稱: 鋼-混凝土組合結(jié)構(gòu)界面損傷檢測技術(shù) 研究方向: 無損檢測 測試目的: 針對MASW方法的界面損傷方法,開展了系統(tǒng)的理論分析、試驗研究和參數(shù)分析,提出了完整的測試流程。研究成果可進一步完善
2025-08-05 11:42:19
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PCB板與三防漆分層脫離的核心是兩者附著力不足,主要原因可從五方面分析:一、PCB表面預處理不當三防漆附著力依賴與PCB表面的結(jié)合,表面異常會直接導致結(jié)合失效;表面存在污染物:殘留助焊劑形成隔絕薄膜
2025-07-28 09:54:15
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PCB板三防漆的可靠性實驗是驗證其防護能力的“終極考驗”,但實驗結(jié)果常因細節(jié)疏漏出現(xiàn)偏差:固化不徹底的涂層在鹽霧測試中會提前失效,厚度不均會導致防護性能兩極分化,附著力不足則可能在振動測試中整片脫落
2025-07-28 09:28:01
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藍牙協(xié)議分析儀是調(diào)試藍牙設備、驗證協(xié)議合規(guī)性及解決通信問題的核心工具,能夠檢測從物理層到應用層的全鏈路問題。以下是其可檢測的主要問題類型及具體場景分析:一、物理層(PHY Layer)問題1. 信號
2025-07-15 15:52:07
芯片失效分析的主要步驟芯片開封:去除IC封膠,同時保持芯片功能的完整無損,保持die,bondpads,bondwires乃至lead-frame不受損傷,為下一步芯片失效分析實驗做準備。SEM
2025-07-11 10:01:15
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,為了弄清楚各類異常所導致的失效根本原因,IC失效分析也同樣在行業(yè)內(nèi)扮演著越來越重要的角色。一塊芯片上集成的器件可達幾千萬,因此進行集成電路失效分析必須具備先進、準確的技術(shù)和設備,并由具有相關(guān)專業(yè)知識的半導體分析人員開展分析工作。
2025-07-10 11:14:34
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在電子封裝領(lǐng)域,各類材料因特性與應用場景不同,失效模式和分析檢測方法也各有差異。
2025-07-09 09:40:52
999 本文介紹了芯片封裝失效的典型現(xiàn)象:金線偏移、芯片開裂、界面開裂、基板裂紋和再流焊缺陷。
2025-07-09 09:31:36
1505 一、芯片缺陷在LED器件的失效案例中,芯片缺陷是一個不容忽視的因素。失效的LED器件表現(xiàn)出正向壓降(Vf)增大的現(xiàn)象,在電測過程中,隨著正向電壓的增加,樣品仍能發(fā)光,這暗示著LED內(nèi)部可能存在電連接
2025-07-08 15:29:13
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芯片失效和封裝失效的原因,并分析其背后的物理機制。金鑒實驗室是一家專注于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測機構(gòu),致力于改善LED品質(zhì),服務LED產(chǎn)業(yè)鏈中各個環(huán)節(jié),使LED產(chǎn)業(yè)健康
2025-07-07 15:53:25
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連接器失效可能由電氣、機械、環(huán)境、材料、設計、使用不當或壽命到期等多種原因引起。通過電氣、機械、外觀和功能測試,可以判斷連接器是否失效。如遇到失效的情況需要及時更新,保證工序的正常進行。
2025-06-27 17:00:56
654 近日,晶科儲能檢測中心正式獲得德國萊茵TüV集團(TüV Rheinland)頒發(fā)的目擊實驗室資質(zhì)(Witness Testing Laboratory)。這是繼2025年5月獲得CSA集團WMTC
2025-06-19 16:25:53
854 和使用壽命。 PCBA在經(jīng)歷SMT、DIP、組裝和可靠性測試等階段,過大的機械應力都會導致自身失效。常見的由于機械應力導致失效的集中模式有:焊料球開裂、線路損傷、焊盤翹起、基板開裂、電容Y型開裂和45°型開裂等。 以下詳細介紹PCB分板應力測
2025-06-17 17:22:37
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中圖儀器SEM掃描電鏡斷裂失效分析采用鎢燈絲電子槍,其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對真空度要求不高,使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內(nèi)達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像,從而提高了檢測效率
2025-06-17 15:02:09
摘要:在激光掃描檢測裝置中,掃描電機轉(zhuǎn)速波動性是影響檢測裝置精度的重要原因,文中針對較為常見的掃描電機--無刷直流電機(BLDCM),在分析其工作原理的基礎之上,建立了一種考慮電機中點電壓的電機
2025-06-16 21:53:07
電磁干擾(EMI)在現(xiàn)代電子設備中是一個常見且嚴重的問題,它可能導致設備性能下降甚至完全失效。是德頻譜分析儀作為一種高精度的測試儀器,在電磁干擾的檢測與定位中發(fā)揮著重要作用。本文將詳細介紹基于是德
2025-06-12 17:02:00
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優(yōu)勢使用導入的詳細PCB設計和集成電路熱特性進行分析,省時省力將詳細的PCB數(shù)據(jù)快速導入SimcenterFLOEFD通過更詳細的電子設備熱建模提高分析精度摘要SimcenterFLOEFD軟件
2025-06-10 17:36:18
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一、前言: 一塊PCB電路板變成PCBA需要經(jīng)過很多制程,不管是手動的還是自動化產(chǎn)線上對設備的制造都需要一環(huán)一環(huán)的緊密測量。 二、背景介紹: PCB印刷電路板在生產(chǎn)測試流程中會受到不同程度的應力
2025-06-10 16:33:49
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可靠性分析中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。 隨著半導體封裝技術(shù)向高密度、微型化發(fā)展,BGA器件的焊接質(zhì)量直接影響產(chǎn)品的電氣性能和長期可靠性。傳統(tǒng)目檢、X-ray檢測等方法難以全面評估焊接界面的微觀缺陷,而紅墨水試驗通過染色滲透技術(shù),可精準識
2025-06-04 10:49:34
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近期,深圳市廣和通無線股份有限公司檢測中心正式通過中國合格評定國家認可委員會(CNAS)審核,成功獲得CNAS實驗室認可證書(注冊號:CNAS L20235)。這一里程碑標志著廣和通檢測中心在檢測
2025-05-29 09:34:19
806 想做點什么東西出來,前不久看到別人做的桌面日歷挺不錯,手里剛好也有幾個墨水屏,所以就打算也做一個,從畫PCB到焊接,再到寫代碼、建3D模型,最后呈現(xiàn)實物,一步一個腳印完成一個比較完整的項目。 實物展示 正面 背面 01、創(chuàng)意萌芽:為什么是墨
2025-05-21 14:24:37
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在電子設備中,高性能印刷電路板(PCB)就如同精密的 “千層蛋糕”,然而,當出現(xiàn)層間黏合失效,也就是 “分層爆板” 問題時,輕則導致信號失真,重則使整板報廢。接下來,SGS帶您深入了解分層爆板的成因、檢測技術(shù)以及預防措施。
2025-05-17 13:53:10
2529 在電子系統(tǒng)中,MDD穩(wěn)壓二極管(ZenerDiode)憑借其在反向擊穿區(qū)域的穩(wěn)定電壓特性,被廣泛應用于電壓參考、過壓保護和穩(wěn)壓電路中。然而在實際應用中,穩(wěn)壓管并非“永不失手”。其失效往往會直接影響
2025-05-16 09:56:08
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芯片失效分析中對芯片的截面進行觀察,需要對樣品進行截面研磨達到要觀察的位置,而后再采用光學顯微鏡(OM Optical Microscopy)或者掃描電子顯微(SEM Scanning Electron Microscopy)進行形貌觀察。
2025-05-15 13:59:00
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干擾運動員的表現(xiàn)。
Nanopaint壓阻式墨水在運動領(lǐng)域的關(guān)鍵特性
高靈敏度:可檢測極微小的壓力與應變變化,捕捉詳盡的生物力學數(shù)據(jù)。
柔韌性與貼合性:可適應人體運動,不限制動作。
耐久性:能承受
2025-05-14 13:18:31
失效分析的定義與目標失效分析是對失效電子元器件進行診斷的過程。其核心目標是確定失效模式和失效機理。失效模式指的是我們觀察到的失效現(xiàn)象和形式,例如開路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等;而失效機理則是指導
2025-05-08 14:30:23
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操作時域網(wǎng)絡分析儀(TDNA)進行故障檢測需結(jié)合儀器設置、校準、時域轉(zhuǎn)換及數(shù)據(jù)分析等步驟。以下為系統(tǒng)化操作指南,涵蓋關(guān)鍵流程、參數(shù)配置及典型案例:一、操作前準備1. 儀器連接與配置
硬件連接
2025-04-30 14:15:24
隨著頻率的提高,將出現(xiàn)與低頻PCB設計所不同的諸多干擾,歸納起來,主要有電源噪聲、傳輸線干擾、耦合、電磁干擾(EM)四個方面。通過分析高頻PCB的各種干擾問題,結(jié)合工作中實踐,提出了有效的解決方案。
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2025-04-29 17:39:53
分析方面面臨諸多挑戰(zhàn),尤其是在化學開封、X-Ray和聲掃等測試環(huán)節(jié),國內(nèi)技術(shù)尚不成熟?;诖耍瑥V電計量集成電路測試與分析研究所推出了先進封裝SiC功率模組失效分析技
2025-04-25 13:41:41
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在電子制造領(lǐng)域,PCB的質(zhì)量直接影響到電子設備的性能與可靠性。PCB紅墨水試驗的主要作用包括以下3個方面:檢測焊點完整性焊點的完整性是PCB質(zhì)量的關(guān)鍵指標之一。在PCB紅墨水試驗中,通過將PCB
2025-04-14 16:07:45
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使用環(huán)境導致失效,常見的失效模式主要包括過熱失效和短路失效。1.過熱失效及其規(guī)避措施過熱失效通常是由于功率損耗過大、散熱不良或工作環(huán)境溫度過高導致的。主要成因包括:正向
2025-04-11 09:52:17
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本資料共分兩篇,第一篇為基礎篇,主要介紹了電子元器件失效分析基本概念、程序、技術(shù)及儀器設備;第二篇為案例篇,主要介紹了九類元器件的失效特點、失效模式和失效機理以及有效的預防和控制措施,并給出九類
2025-04-10 17:43:54
(這也許就是很多封裝廠HAST實驗后不關(guān)注分層的原因),因此從可能導致的額外失效來講,HAST 96同樣強度高于雙85。
2025-04-01 10:16:11
深度分析:從IGBT模塊可靠性問題看國產(chǎn)SiC模塊可靠性實驗的重要性 某廠商IGBT模塊曾因可靠性問題導致國內(nèi)光伏逆變器廠商損失數(shù)億元,這一案例凸顯了功率半導體模塊可靠性測試的極端重要性。國產(chǎn)SiC
2025-03-31 07:04:50
1316 半導體集成電路失效機理中除了與封裝有關(guān)的失效機理以外,還有與應用有關(guān)的失效機理。
2025-03-25 15:41:37
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實驗名稱:基于LDR振型的損傷檢測方法實驗 研究方向:隨著科技的不斷進步,材料中的腐蝕、分層等缺陷是導致結(jié)構(gòu)剛度下降、破壞失效的主要原因。為保證結(jié)構(gòu)的安全性與可靠性,對其進行無損檢測是重要的。首先
2025-03-24 11:12:18
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高密度互聯(lián)(HDI)板的激光盲孔技術(shù)是5G、AI芯片的關(guān)鍵工藝,但孔底開路失效卻讓無數(shù)工程師頭疼!SGS微電子實驗室憑借在失效分析領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗,總結(jié)了一些失效分析經(jīng)典案例,旨在為工程師提供更優(yōu)
2025-03-24 10:45:39
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、嚴格質(zhì)量檢測、精選材料、高精度加工等方式,將PCB故障率控制在行業(yè)平均水平的一半以下,為客戶提供更穩(wěn)定、更耐用的電路板。 AOI自動光學檢測:捷多邦如何保證每條線路無誤? 在高端電子制造中,PCB(印制電路板)的質(zhì)量直接影響產(chǎn)
2025-03-21 17:28:07
1139 在電子制造行業(yè),PCB(印制電路板)的質(zhì)量直接影響電子產(chǎn)品的性能和壽命。如何判斷一塊PCB是否符合高標準要求?從外觀檢測到微觀結(jié)構(gòu)分析,捷多邦采用嚴格的質(zhì)量管控體系,確保每一塊PCB具備高可靠性
2025-03-20 15:45:09
650 開蓋檢測(DecapsulationTest),即Decap,是一種在電子元器件檢測領(lǐng)域中廣泛應用的破壞性實驗方法。這種檢測方式在芯片的失效分析、真?zhèn)舞b定等多個關(guān)鍵領(lǐng)域發(fā)揮著不可或缺的作用,為保障
2025-03-20 11:18:23
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問題。為了確保PCB的質(zhì)量和可靠性,失效分析技術(shù)顯得尤為重要。外觀檢查外觀檢查是失效分析的第一步,通過目測或借助簡單儀器(如立體顯微鏡、金相顯微鏡或放大鏡)對PC
2025-03-17 16:30:54
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本文首先介紹了器件失效的定義、分類和失效機理的統(tǒng)計,然后詳細介紹了封裝失效分析的流程、方法及設備。
2025-03-13 14:45:41
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太誘電容的失效分析,特別是針對裂紋與短路問題,需要從多個角度進行深入探討。以下是對這兩個問題的詳細分析: 一、裂紋問題 裂紋成因 : 熱膨脹系數(shù)差異 :電容器的各個組成部分(如陶瓷介質(zhì)、端電極
2025-03-12 15:40:02
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“ ?Inkplate 4 TEMPERA 是一款由 Soldered Electronics 推出的開源、兼容 Arduino 的 3.8 英寸電子墨水設備,具備多種外設。? ” Made
2025-03-07 11:15:51
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高密度封裝技術(shù)在近些年迅猛發(fā)展,同時也給失效分析過程帶來新的挑戰(zhàn)。常規(guī)的失效分析手段難以滿足結(jié)構(gòu)復雜、線寬微小的高密度封裝分析需求,需要針對具體分析對象對分析手法進行調(diào)整和改進。
2025-03-05 11:07:53
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試著用BW21-CBV-Kit點亮2.9寸墨水屏,開發(fā)板例程非常豐富,在arduino上開發(fā)的話上手超級容易。
2025-03-04 18:24:53
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在當今的3C行業(yè)中,視覺檢測PCB已經(jīng)成為一種常見的解決方案,它極大地提升了生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。然而,隨著電子產(chǎn)品設計的日益復雜和多樣化,特別是對于一些顏色特別或與背景相近、檢測對象多變的PCB
2025-02-25 07:34:27
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? 本文介紹了芯片失效分析的方法和流程,舉例了典型失效案例流程,總結(jié)了芯片失效分析關(guān)鍵技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)和對策,并總結(jié)了芯片失效分析的注意事項。 ? ? 芯片失效分析是一個系統(tǒng)性工程,需要結(jié)合電學測試
2025-02-19 09:44:16
2908 紅墨水滲透測試紅墨水滲透測試(RedDyePenetrationTest),也稱為LED紅墨水試驗,是一種用于評估電子電路板組裝(PCBAssembly)中表面貼裝技術(shù)(SMT)焊接質(zhì)量以及LED
2025-02-08 12:14:18
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隨著電子產(chǎn)品的廣泛普及與快速發(fā)展,PCB已成為電子設備中必不可少的部分。在PCB電路板生產(chǎn)時,焊接質(zhì)量極為關(guān)鍵,直接關(guān)乎電子產(chǎn)品的性能與可靠性。要保障PCB焊接的可靠與穩(wěn)定,就必須對焊接質(zhì)量展開嚴格
2025-02-07 14:00:05
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試驗簡介紅墨水試驗,學名DyeandPullTest,曾被稱為DyeandPry,是一種在失效分析領(lǐng)域廣泛應用的破壞性檢測手段。它主要用于檢測電子零件表面貼裝技術(shù)(SMT)是否存在空焊或斷裂
2025-01-21 16:59:52
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PCB失效分析:步驟與技術(shù)作為各種元器件的載體與電路信號傳輸?shù)臉屑~PCB(PrintedCircuitBoard,印刷電路板)已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定
2025-01-20 17:47:01
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整流二極管失效分析方法主要包括對失效原因的分析以及具體的檢測方法。 一、失效原因分析 防雷、過電壓保護措施不力 : 整流裝置未設置防雷、過電壓保護裝置,或保護裝置工作不可靠,可能因雷擊或過電壓而損壞
2025-01-15 09:16:58
1589 光熱分布檢測意義在LED失效分析領(lǐng)域,光熱分布檢測技術(shù)扮演著至關(guān)重要的角色。LED作為一種高效的照明技術(shù),其性能和壽命受到多種因素的影響,其中光和熱的分布情況尤為關(guān)鍵。光熱分布不均可能導致芯片界面
2025-01-14 12:01:24
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跪求指點,據(jù)芯片手冊里介紹,Burnout Current是用來檢測前端傳感器失效的,但是現(xiàn)在設計RTD檢測模塊時,不配置Burnout Current檢測精度很高,但是一旦配置Burnout Current,檢測到的值精度降低了很多(采樣值偏大)。是不是配置有問題,這塊配置有沒有注意的地方,謝謝
2025-01-10 13:52:55
全新 NVIDIA 實驗室獲得美國國家標準學會國家認可委員會(ANAB)的認證,可執(zhí)行自動駕駛汽車的功能安全、網(wǎng)絡安全和 AI 檢測。
2025-01-09 16:01:02
1262 失效分析的重要性失效分析其核心任務是探究產(chǎn)品或構(gòu)件在服役過程中出現(xiàn)的各種失效形式。這些失效形式涵蓋了疲勞斷裂、應力腐蝕開裂、環(huán)境應力開裂引發(fā)的脆性斷裂等諸多類型。深入剖析失效機理,有助于工程師
2025-01-09 11:01:46
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