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污染和清洗順序?qū)A性紋理化的影響

污染和清洗順序?qū)A性紋理化的影響

本文介紹了我們?nèi)A林科納研究了污染和清洗順序?qū)A性紋理化的影響。硅表面專門暴露在有機(jī)和金屬污染中,以研究它們對堿性紋理化過程的影響,由此可見,無機(jī)污染對金字塔密度的影響不小...

2022-05-18 標(biāo)簽:晶片清洗刻蝕 1060

晶片清洗和熱處理對硅片直接鍵合的影響

晶片清洗和熱處理對硅片直接鍵合的影響

本實驗通過這兩種清洗方法進(jìn)行標(biāo)識分為四個實驗組,進(jìn)行了清洗實驗及室溫接合, 以上工藝除熱處理工藝外,通過最小化工序內(nèi)部時間間隔,抑制清洗的基板表面暴露在大氣中的灰塵等雜質(zhì)...

2022-05-16 標(biāo)簽:晶片晶片硅片硅襯底鍵合 1645

一種將硅和石英玻璃晶片的鍵合方法

一種將硅和石英玻璃晶片的鍵合方法

本文展示了一種使用連續(xù)濕法化學(xué)表面活化(即SPM→RCAl清洗)結(jié)合硅和石英玻璃晶片的鍵合方法。經(jīng)過200 ℃的多步后退火,獲得了無空洞或微裂紋的牢固結(jié)合,基于詳細(xì)的表面和鍵合界面表征,...

2022-05-13 標(biāo)簽:工藝晶片鍵合 3668

詳解化學(xué)鎳沉積技術(shù)的沉積過程

詳解化學(xué)鎳沉積技術(shù)的沉積過程

本文報道了這種化學(xué)鎳的形成,包括在100pm以下的模具,通過掃描電鏡檢查,研究了各種預(yù)處理刻蝕過程和鋅酸鹽活化對最終化學(xué)鎳碰撞質(zhì)量的影響,以幫助詳細(xì)了解活化機(jī)理,并確定它們對化學(xué)...

2022-05-13 標(biāo)簽:工藝晶片刻蝕 2147

不同清洗方法對納米顆粒表征的影響

不同清洗方法對納米顆粒表征的影響

本文介紹了我們?nèi)A林科納研究不同清洗方法(離心和透析)對15納米檸檬酸鈉穩(wěn)定納米顆粒表面化學(xué)和組成的影響,關(guān)于透析過程,核磁共振分析表明,經(jīng)過9個清洗周期后,檸檬酸濃度與第一次...

2022-05-12 標(biāo)簽:清洗清洗納米 1554

三種化學(xué)溶液在InP光柵襯底清洗的應(yīng)用

三種化學(xué)溶液在InP光柵襯底清洗的應(yīng)用

我們?nèi)A林科納研究了三種化學(xué)溶液,用于在分布反饋激光器應(yīng)用的InP外延生長之前清洗光柵。這些化學(xué)物質(zhì)是濃縮的HMSO和n< SO,H2 2的混合溶液,其中n =β和...

2022-05-12 標(biāo)簽:激光器清洗光柵清洗激光器 1835

使用KOH各向異性蝕刻Si的光學(xué)器件的單掩模微制造(下)

使用KOH各向異性蝕刻Si的光學(xué)器件的單掩模微制造(下)

接上回的實驗演示 ? 實驗演示? 非球面的制造包括以下步驟: 1.光刻掩模的設(shè)計和圖案到沉積在硅晶片上的氧化層的轉(zhuǎn)移; 2.KOH蝕刻以形成金字塔形凹坑; 3.去除氧化物掩模并進(jìn)一步各向異性蝕...

2022-05-11 標(biāo)簽:蝕刻蝕刻工藝光學(xué)光學(xué)器件蝕刻蝕刻工藝 1314

使用KOH各向異性蝕刻Si的光學(xué)器件的單掩模微制造(上)

使用KOH各向異性蝕刻Si的光學(xué)器件的單掩模微制造(上)

?引言 我們報道了利用KOH水溶液中硅的各向異性腐蝕,用單掩模工藝進(jìn)行連續(xù)非球面光學(xué)表面的微加工。使用這種工藝制造了具有幾毫米量級的橫向尺度和幾微米量級的輪廓深度的精確的任意...

2022-05-11 標(biāo)簽:光學(xué)蝕刻蝕刻工藝光學(xué)器件 1579

使用n型GaSb襯底優(yōu)化干法和濕法蝕刻工藝

使用n型GaSb襯底優(yōu)化干法和濕法蝕刻工藝

基本化學(xué)成分以Cl2為基礎(chǔ),外加用于側(cè)壁鈍化的N2。優(yōu)化的ICP蝕刻工藝能夠產(chǎn)生具有光滑側(cè)壁的高縱橫比結(jié)構(gòu)。使用670nm波長的激光進(jìn)行原位反射監(jiān)測,以高精度在材料界面停止蝕刻。考慮到在...

2022-05-11 標(biāo)簽:工藝蝕刻 1809

5nm及更先進(jìn)節(jié)點上FinFET的未來:使用工藝和電路仿真來預(yù)測下一代半導(dǎo)體的性能

5nm及更先進(jìn)節(jié)點上FinFET的未來:使用工藝和電路仿真來預(yù)測下一代半導(dǎo)體的性能

雖然柵極間距(GP)和鰭片間距(FP)的微縮持續(xù)為FinFET平臺帶來更高的性能和更低的功耗,但在5nm及更先進(jìn)節(jié)點上,兼顧寄生電容電阻的控制和實現(xiàn)更高的晶體管性能變得更具挑戰(zhàn)。 ? 泛林集團(tuán)在與...

2022-05-07 標(biāo)簽:半導(dǎo)體FinFETFinFET半導(dǎo)體電路仿真 8428

超聲波頻率對化學(xué)蝕刻過程的影響實驗報告

超聲波頻率對化學(xué)蝕刻過程的影響實驗報告

超聲增強(qiáng)化學(xué)腐蝕被用來制作多孔硅層,通過使用HF溶液和HNO3在p型(111)取向硅中制備多孔硅層,發(fā)現(xiàn)超聲波改善了p型硅上多孔硅層的結(jié)構(gòu),用這種方法可以制作品質(zhì)因數(shù)高得多的多孔硅微腔,...

2022-05-06 標(biāo)簽:蝕刻蝕刻工藝蝕刻蝕刻工藝超聲波 1740

半導(dǎo)體晶片干燥場非內(nèi)部和晶片周圍的流動特性

半導(dǎo)體晶片干燥場非內(nèi)部和晶片周圍的流動特性

本研究利用CFD模擬分析了半導(dǎo)體晶片干燥場非內(nèi)部和晶片周圍的流動特性,并根據(jù)分析Case和晶片位置觀察了設(shè)計因子變化時的速度變化。...

2022-05-06 標(biāo)簽:半導(dǎo)體晶片半導(dǎo)體晶片特性 1201

多晶硅蝕刻殘留物的的形成機(jī)理

多晶硅蝕刻殘留物的的形成機(jī)理

為了闡明蝕刻殘留物的形成機(jī)理,研究了氯/氦-氧、溴化氫/氦-氧和溴化氫/氯等不同氣體混合物的影響,我們發(fā)現(xiàn)在氧的存在下,蝕刻殘留物形成良好,這表明蝕刻殘留物是由氧和非揮發(fā)性乳化...

2022-05-06 標(biāo)簽:多晶硅蝕刻 1887

金屬蝕刻殘留物對對等離子體成分和均勻性的影響

金屬蝕刻殘留物對對等離子體成分和均勻性的影響

本文研究了金屬蝕刻殘留物,尤其是鈦和鉭殘留物對等離子體成分和均勻性的影響。通過所謂的漂浮樣品的x射線光電子能譜分析來分析室壁,并且通過光發(fā)射光譜來監(jiān)測Cl2、HBr、O2和SF6等離子體...

2022-05-05 標(biāo)簽:蝕刻晶片晶片等離子蝕刻 1458

溫度對去除氮化物和氧化物層的影響

溫度對去除氮化物和氧化物層的影響

本文介紹了在緩沖氧化物腐蝕(BOE)溶液中溫度對氮化物和氧化物層腐蝕速率的影響。明確的框架結(jié)構(gòu)和減少的蝕刻時間將提高制造過程的生產(chǎn)率,該方法從圖案化氮化硅開始,以研究在BOE工藝之...

2022-05-05 標(biāo)簽:工藝蝕刻工藝氧化物蝕刻 1956

使用晶片處理技術(shù)在硅中產(chǎn)生溝槽結(jié)構(gòu)

使用晶片處理技術(shù)在硅中產(chǎn)生溝槽結(jié)構(gòu)

本文討論了一種使用容易獲得的晶片處理技術(shù)在硅中產(chǎn)生溝槽結(jié)構(gòu)的簡單技術(shù),通過使用(110)Si的取向相關(guān)蝕刻,可能在硅中產(chǎn)生具有垂直側(cè)壁的溝槽,與該技術(shù)一起使用的某些溶液的蝕刻各向...

2022-05-05 標(biāo)簽:蝕刻晶片處理技術(shù)晶片蝕刻 1436

半導(dǎo)體工藝 臭氧化去離子水去除最終拋光晶片上的顆粒

半導(dǎo)體工藝 臭氧化去離子水去除最終拋光晶片上的顆粒

摘要 本研究開發(fā)了一種低擁有成本的臭氧去離子水清洗工藝。室溫下40 ppm的臭氧濃度用于去除有機(jī)蠟?zāi)ず皖w粒。僅經(jīng)過商業(yè)脫蠟處理后,仍殘留有厚度超過200的蠟殘留物。由于臭氧的擴(kuò)散限制...

2022-04-27 標(biāo)簽:半導(dǎo)體晶片 2650

多孔GaN的結(jié)構(gòu)和光學(xué)特性

多孔GaN的結(jié)構(gòu)和光學(xué)特性

摘要 本文報道了鉑輔助化學(xué)化學(xué)蝕刻制備的多孔氮化鎵的結(jié)構(gòu)和光學(xué)性能。掃描電鏡圖像顯示,孔隙的密度隨著蝕刻時間的增加而增加,而蝕刻時間對孔隙的大小和形狀沒有顯著影響。原子力...

2022-04-27 標(biāo)簽:光學(xué)GaN 1821

半導(dǎo)體工藝中化學(xué)機(jī)械拋光后刷洗的理論分析

半導(dǎo)體工藝中化學(xué)機(jī)械拋光后刷洗的理論分析

摘要 化學(xué)機(jī)械平面化后的葉片清洗,特別是刷子擦洗,是半導(dǎo)體器件制造的一個關(guān)鍵步驟,尚未得到充分了解。臨界粒子雷諾數(shù)方法用于評估在刷擦洗過程中去除晶圓表面的粘附顆粒,或者是...

2022-04-27 標(biāo)簽:半導(dǎo)體晶片 1970

硅晶片在氫氧化鉀、TMAH和EDP溶液中的蝕刻速率

硅晶片在氫氧化鉀、TMAH和EDP溶液中的蝕刻速率

本文研究了氫氧化鉀、TMAH(C6H4(OH)2)溶液中氫氧化銨(四甲基銨)和EDP(乙烯二胺(NH2(CH2)2NH2)的濃度和溫度對硅表面的影響,制作了光滑的垂直墻和懸吊梳式結(jié)構(gòu)。...

2022-04-26 標(biāo)簽:蝕刻硅晶片 5004

通過表面分析評估Cu-CMP工藝

通過表面分析評估Cu-CMP工藝

半導(dǎo)體裝置為了達(dá)成附加值高的系統(tǒng)LSI,需要高集成化,高速化,這其中新的布線材料,絕緣膜是不可缺少的。其中,具有低電阻的Cu,作為布線材料受到關(guān)注。化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)和之后的清...

2022-04-26 標(biāo)簽:晶圓工藝CMP 2026

如何對氮化鎵基發(fā)光二極管結(jié)構(gòu)進(jìn)行干法刻蝕

如何對氮化鎵基發(fā)光二極管結(jié)構(gòu)進(jìn)行干法刻蝕

氮化鎵作為一種寬帶隙半導(dǎo)體,已被用于制造發(fā)光二極管和激光二極管等光電器件。最近已經(jīng)開發(fā)了幾種用于氮化鎵基材料的不同干蝕刻技術(shù)。電感耦合等離子體刻蝕因其優(yōu)越的等離子體均勻性...

2022-04-26 標(biāo)簽:氮化鎵蝕刻發(fā)光二極管氮化鎵蝕刻 2800

半導(dǎo)體晶片鍵合的對準(zhǔn)方法

半導(dǎo)體晶片鍵合的對準(zhǔn)方法

多年來,半導(dǎo)體晶片鍵合一直是人們感興趣的課題。使用中間有機(jī)或無機(jī)粘合材料的晶片鍵合與傳統(tǒng)的晶片鍵合技術(shù)相比具有許多優(yōu)點,例如相對較低的鍵合溫度、沒有電壓或電流、與標(biāo)準(zhǔn)互補(bǔ)...

2022-04-26 標(biāo)簽:半導(dǎo)體半導(dǎo)體晶片鍵合 4527

利用原子力顯微鏡測量硅蝕刻速率

利用原子力顯微鏡測量硅蝕刻速率

本文提出了一種利用原子力顯微鏡(AFM)測量硅蝕刻速率的簡單方法,應(yīng)用硅表面的天然氧化物層作為掩膜,通過無損摩擦化學(xué)去除部分天然氧化物,暴露底下新鮮硅。因此,可以實現(xiàn)在氫氧化鉀...

2022-04-22 標(biāo)簽:蝕刻顯微鏡測量蝕刻 1884

詳解微機(jī)械中的各向異性刻蝕技術(shù)

詳解微機(jī)械中的各向異性刻蝕技術(shù)

單晶硅, 作為IC、LSI的電子材料, 用于微小機(jī)械部件的材料,也就是說,作為結(jié)構(gòu)材料的新用途已經(jīng)開發(fā)出來了。其理由是, 除了單晶SI或機(jī)械性強(qiáng)之外,還在于通過利用僅可用于單晶的晶體...

2022-04-22 標(biāo)簽:晶圓蝕刻微機(jī)械晶圓蝕刻 4274

長電科技子公司長電先進(jìn)榮獲德州儀器TI“2021年度卓越供應(yīng)商獎”

長電科技子公司長電先進(jìn)榮獲德州儀器TI“2021年度卓越供應(yīng)商獎”

近日,全球領(lǐng)先的集成電路制造和技術(shù)服務(wù)提供商長電科技(上交所代碼:600584)子公司江陰長電先進(jìn)封裝有限公司(以下簡稱長電先進(jìn))榮獲了德州儀器(TI)頒發(fā)的“2021年度卓越供應(yīng)商獎”...

2022-04-20 標(biāo)簽:tiSiP長電科技SiPti供應(yīng)商長電科技 2888

300毫米直徑硅片的快速熱處理實驗研究

300毫米直徑硅片的快速熱處理實驗研究

在半導(dǎo)體熱處理應(yīng)用中,批處理在工業(yè)的早期階段被采用,并且仍然非常流行。我們研究了直徑為200毫米和300毫米的硅(100)晶片在單晶片爐中高溫快速熱處理過程中的熱行為,該熱行為是溫度、...

2022-04-19 標(biāo)簽:半導(dǎo)體硅晶片半導(dǎo)體熱處理硅晶片 1713

通過臭氧微氣泡進(jìn)行半導(dǎo)體晶圓的光刻膠去除實驗

通過臭氧微氣泡進(jìn)行半導(dǎo)體晶圓的光刻膠去除實驗

半導(dǎo)體的清洗在制造工序中也是非常重要的。特別是光刻膠的去除是最困難的,一般使用硫酸和過氧化氫混合的溶液(SPM)等。但是,這些廢液的處理是極其困難的,與環(huán)境污染有很大的關(guān)系,因...

2022-04-19 標(biāo)簽:半導(dǎo)體晶圓光刻膠 1551

韋爾股份2021年報正式發(fā)布 半導(dǎo)體設(shè)計收入達(dá)200億

韋爾股份2021年報正式發(fā)布 半導(dǎo)體設(shè)計收入達(dá)200億

韋爾股份2021年報正式發(fā)布 ;數(shù)據(jù)顯示韋爾股份2021年的半導(dǎo)體設(shè)計收入達(dá)200億。...

2022-04-19 標(biāo)簽:半導(dǎo)體設(shè)計半導(dǎo)體設(shè)計韋爾股份 4183

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