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電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>無(wú)紡布表面缺陷檢測(cè)設(shè)備的原理及參數(shù)

無(wú)紡布表面缺陷檢測(cè)設(shè)備的原理及參數(shù)

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水浸超聲掃描顯微鏡(C-SAM)與其他無(wú)損檢測(cè)技術(shù)對(duì)比分析

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“剛買(mǎi)的電動(dòng)牙刷,用了半年就進(jìn)水短路!”不少人都遇到過(guò)這種糟心情況,根源往往是出廠時(shí)密封缺陷沒(méi)被檢出。作為電動(dòng)牙刷品質(zhì)把控的“火眼金睛”,氣密性檢測(cè)儀到底能揪出哪些密封隱患?今天就為大家詳細(xì)拆解
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正運(yùn)動(dòng)AI外觀缺陷檢測(cè)解決方案
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2025-09-04 09:15:05573

汽車(chē)后視鏡加熱片細(xì)微缺陷檢測(cè)難題,PMS光度立體輕松拿捏

汽車(chē)在我們的生活中應(yīng)用非常廣泛,汽車(chē)加熱片生產(chǎn)過(guò)程中的輕微折痕、針孔等缺陷,會(huì)引起熱點(diǎn)聚集,熱阻增加,進(jìn)而引起后視鏡的除霜延時(shí),更嚴(yán)重的會(huì)引發(fā)事故,即使上了普通的機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備,針對(duì)表面凸起較小
2025-09-01 15:53:22466

電子束檢測(cè):攻克5nm以下先進(jìn)節(jié)點(diǎn)關(guān)鍵缺陷的利器

吞吐量仍然是一個(gè)問(wèn)題,解決方案需要多種技術(shù)的結(jié)合。事實(shí)證明,電子束檢測(cè)對(duì)于發(fā)現(xiàn)5納米以下尺寸的關(guān)鍵缺陷至關(guān)重要?,F(xiàn)在的挑戰(zhàn)是如何加快這一流程,使其在經(jīng)濟(jì)上符合晶圓廠的接受度。電子束檢測(cè)因靈敏度
2025-08-19 13:49:42655

探秘晶圓宏觀缺陷檢測(cè)技術(shù)升級(jí)與根源追蹤新突破

在晶圓加工流程中,早期檢測(cè)宏觀缺陷是提升良率與推動(dòng)工藝改進(jìn)的核心環(huán)節(jié),這一需求正驅(qū)動(dòng)檢測(cè)技術(shù)與晶圓測(cè)試圖分析領(lǐng)域的創(chuàng)新。宏觀缺陷早期檢測(cè)的重要性與挑戰(zhàn)在晶圓層面,一個(gè)宏觀缺陷可能影響多個(gè)芯片,甚至在
2025-08-19 13:48:231116

半導(dǎo)體測(cè)試的演進(jìn):從缺陷檢測(cè)到全生命周期預(yù)測(cè)性洞察

隨著半導(dǎo)體封裝復(fù)雜性的提升與節(jié)點(diǎn)持續(xù)縮小,缺陷檢測(cè)的難度呈指數(shù)級(jí)增長(zhǎng)。工程師既要應(yīng)對(duì)制造與封裝過(guò)程中出現(xiàn)的細(xì)微差異,又不能犧牲生產(chǎn)吞吐量——這一矛盾已成為行業(yè)發(fā)展的核心挑戰(zhàn)。文章目錄1、微縮時(shí)代
2025-08-19 13:46:461183

局部放電檢測(cè)設(shè)備都有哪些?

通過(guò)捕捉電、聲、光、熱等物理信號(hào),局部放電檢測(cè)設(shè)備的應(yīng)用能夠有效實(shí)現(xiàn)電力設(shè)備絕緣狀態(tài)的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。如變電站的智能運(yùn)維,覆蓋變壓器、GIS、開(kāi)關(guān)柜等核心設(shè)備,實(shí)現(xiàn)全站監(jiān)測(cè);保障工礦企業(yè)電力,通過(guò)監(jiān)測(cè)礦山
2025-08-15 09:04:49803

在3D IC封裝測(cè)試中,高低溫老化箱HAST與PCT檢測(cè)缺陷的差異分析

)。一、HAST測(cè)試檢測(cè)缺陷類(lèi)型HAST(高加速應(yīng)力測(cè)試)通過(guò)高溫(105-150℃)、高濕、高壓(2-5atm)協(xié)同作用,加速濕氣滲透與化學(xué)反應(yīng),暴露以下缺陷
2025-08-07 15:26:11598

半導(dǎo)體碳化硅SiC制造工藝CMP后晶圓表面粗糙度檢測(cè)

)技術(shù)作為實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的關(guān)鍵工藝,通過(guò)化學(xué)作用和機(jī)械摩擦的協(xié)同效應(yīng),能夠去除材料表面缺陷和不平整,從而獲得光滑平整的表面。工藝完成后,利用美能光子灣共聚焦顯微鏡
2025-08-05 17:55:36985

塑料注塑缺陷檢測(cè)的創(chuàng)新解決方案

在塑料成型領(lǐng)域,注塑制品的質(zhì)量控制至關(guān)重要。然而,塑料注塑過(guò)程中出現(xiàn)的缺陷不僅影響產(chǎn)品的外觀,還可能降低其功能性能。這些缺陷的產(chǎn)生原因復(fù)雜多樣,傳統(tǒng)的檢測(cè)方法往往難以應(yīng)對(duì)復(fù)雜多變的檢測(cè)需求,尤其是在
2025-08-05 17:52:08697

超景深顯微鏡觀測(cè)下鋰離子電池的焊接缺陷及預(yù)防

檢驗(yàn)和缺陷預(yù)防和優(yōu)化手段。結(jié)合現(xiàn)代科技力量的先進(jìn)高效檢測(cè)設(shè)備,可以有效地解決焊接過(guò)程中產(chǎn)生的缺陷問(wèn)題。#Photonixbay.01焊接工藝主流的檢測(cè)方法現(xiàn)階段對(duì)于
2025-08-05 17:49:45371

組串式el檢測(cè)

組串式el檢測(cè)儀WX-EL3通過(guò)缺陷精準(zhǔn)識(shí)別、多組件同步檢測(cè)、性能參數(shù)評(píng)估、數(shù)據(jù)智能化管理四大核心功能,實(shí)現(xiàn)對(duì)光伏組串從生產(chǎn)到運(yùn)維全生命周期的質(zhì)量管控,既滿足工廠批量檢測(cè)的高效率需求,也適配電站現(xiàn)場(chǎng)
2025-08-05 16:06:49

X-RAY檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)航空航天新材料的質(zhì)量

航空航天領(lǐng)域?qū)Σ牧闲阅芤髽O為嚴(yán)苛,X-RAY檢測(cè)設(shè)備憑借非破壞性、高精度成像優(yōu)勢(shì),成為新材料研發(fā)與生產(chǎn)的關(guān)鍵技術(shù)支撐。本文蔡司官方授權(quán)代理-廣東三本測(cè)量結(jié)合典型案例,解析其技術(shù)價(jià)值與行業(yè)趨勢(shì)。一
2025-08-02 11:59:25409

壓鑄件氣密性檢測(cè)儀的檢測(cè)流程是怎樣的-岳信儀器

壓力、保壓時(shí)間等參數(shù),并校準(zhǔn)儀器,確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。同時(shí),對(duì)壓鑄件進(jìn)行預(yù)處理,清除表面油污、雜質(zhì),避免它們干擾檢測(cè)結(jié)果,還要檢查有無(wú)明顯可見(jiàn)的裂紋或孔洞。接著進(jìn)入把
2025-08-01 11:58:00650

協(xié)議分析儀能檢測(cè)藍(lán)牙設(shè)備的哪些潛在問(wèn)題?

協(xié)議分析儀能夠檢測(cè)藍(lán)牙設(shè)備從物理層到應(yīng)用層的全鏈路潛在問(wèn)題,具體涵蓋以下方面:一、物理層(PHY Layer)問(wèn)題 信號(hào)衰減與遮擋 RSSI(接收信號(hào)強(qiáng)度)異常:識(shí)別設(shè)備距離過(guò)遠(yuǎn)、金屬障礙物阻擋或
2025-07-21 14:27:16

放棄老舊設(shè)備,電磁閥氣密性檢測(cè)設(shè)備開(kāi)啟檢測(cè)新時(shí)代

在工業(yè)制造領(lǐng)域,檢測(cè)設(shè)備的更新?lián)Q代對(duì)于提升產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率至關(guān)重要。隨著科技的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)的氣密性檢測(cè)方法已經(jīng)難以滿足現(xiàn)代工業(yè)對(duì)于高精度、高效率的需求。因此,放棄老舊設(shè)備,擁抱電磁閥氣密性檢測(cè)
2025-07-19 13:47:24298

貨比三家還是得找源頭廠家#電子負(fù)載 #負(fù)載 #檢測(cè)設(shè)備

檢測(cè)設(shè)備
深圳市威爾華電子有限公司發(fā)布于 2025-07-18 18:01:34

CMP工藝中的缺陷類(lèi)型

CMP是半導(dǎo)體制造中關(guān)鍵的平坦化工藝,它通過(guò)機(jī)械磨削和化學(xué)腐蝕相結(jié)合的方式,去除材料以實(shí)現(xiàn)平坦化。然而,由于其復(fù)雜性,CMP工藝中可能會(huì)出現(xiàn)多種缺陷。這些缺陷通??梢苑譃闄C(jī)械、化學(xué)和表面特性相關(guān)的類(lèi)別。
2025-07-18 15:14:332299

表面貼裝混頻器/檢測(cè)器肖特基二極管 skyworksinc

電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()表面貼裝混頻器/檢測(cè)器肖特基二極管相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊(cè),更有表面貼裝混頻器/檢測(cè)器肖特基二極管的引腳圖、接線圖、封裝手冊(cè)、中文資料、英文資料,表面貼裝混頻器/檢測(cè)器肖特基二極管真值表,表面貼裝混頻器/檢測(cè)器肖特基二極管管腳等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2025-07-17 18:32:15

表面貼裝混頻器和檢測(cè)器肖特基二極管 skyworksinc

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2025-07-17 18:31:22

藍(lán)牙協(xié)議分析儀能檢測(cè)哪些問(wèn)題?

。 二、鏈路層(Link Layer)問(wèn)題1. 連接建立與維護(hù) 檢測(cè)內(nèi)容: 連接參數(shù)(Interval/Latency/Timeout):驗(yàn)證設(shè)備是否協(xié)商合理參數(shù)(如連接間隔15ms±1.25ms
2025-07-15 15:52:07

電機(jī)進(jìn)水故障頻發(fā)?電機(jī)氣密檢測(cè)缺陷與閉環(huán)解決策略

電機(jī)氣密性檢測(cè)關(guān)乎設(shè)備安全與功能完整,但檢測(cè)中常因技術(shù)與管理問(wèn)題致結(jié)果失真,引發(fā)電機(jī)故障。本文梳理五大核心缺陷并提出六步閉環(huán)解決方案,為行業(yè)提供標(biāo)準(zhǔn)化框架:一、五大典型缺陷密封件與緊固件失效:密封件
2025-07-11 14:51:57449

飲料液位及瓶蓋缺陷檢測(cè)視覺(jué)系統(tǒng)

在合適的光源條件下,連接了多個(gè)相機(jī)的POC系列能夠成功檢測(cè)到隨機(jī)故意放置在產(chǎn)線上的有缺陷的瓶裝飲料(這些缺陷包括:液位過(guò)高或過(guò)低,瓶蓋未正確擰緊,標(biāo)簽打印錯(cuò)誤和瓶中液體有雜質(zhì)/沉淀物)
2025-07-09 14:28:12481

手機(jī)氣密性檢測(cè)設(shè)備的維護(hù)與保養(yǎng)指南

使用完畢后,需用干凈柔軟的布擦拭設(shè)備的外觀,清除表面的灰塵和污漬。對(duì)于檢測(cè)探頭等關(guān)鍵部位,要使用專(zhuān)用的清潔工具進(jìn)行清理,防止雜質(zhì)影響檢測(cè)精度。同時(shí),注意保持檢測(cè)
2025-07-07 11:14:48675

X-ray設(shè)備2D/3D檢測(cè)金屬材料及零部件裂紋異物的缺陷

在高端制造領(lǐng)域,金屬材料及零部件的內(nèi)部質(zhì)量直接關(guān)系到產(chǎn)品性能與安全性。X-ray設(shè)備憑借其獨(dú)特的穿透成像能力,成為檢測(cè)裂紋、異物等缺陷的關(guān)鍵工具,而2D/3D檢測(cè)技術(shù)的結(jié)合,更將檢測(cè)精度與效率提升
2025-06-27 17:23:431058

國(guó)產(chǎn)表面粗糙度輪廓度檢測(cè)儀器

和分析。可以對(duì)零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實(shí)現(xiàn)一次掃描測(cè)量,尤其是大范圍曲面、斜面進(jìn)行粗糙度及輪廓尺寸一次性檢測(cè),如圓弧面和球面、異型曲面進(jìn)行多種粗糙度參數(shù)(如R
2025-06-12 13:39:39

PanDao:確認(rèn)缺陷等級(jí)并用于加工

根據(jù)ISO101101標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,允許通過(guò)“5/y*x”參數(shù)來(lái)定義光學(xué)元件側(cè)面的最大缺陷尺寸: ? \"x\"表示缺陷對(duì)應(yīng)正方形的邊長(zhǎng):例如標(biāo)注5/0.016表示允許的缺陷面積
2025-06-03 08:51:27

晶圓表面缺陷類(lèi)型和測(cè)量方法

在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,晶圓堪稱(chēng)核心基石,其表面質(zhì)量直接關(guān)乎芯片的性能、可靠性與良品率。
2025-05-29 16:00:452842

VirtualLab:用于微結(jié)構(gòu)晶片檢測(cè)的光學(xué)系統(tǒng)

摘要 在半導(dǎo)體工業(yè)中,晶片檢測(cè)系統(tǒng)被用來(lái)檢測(cè)晶片上的缺陷并找到它們的位置。為了確保微結(jié)構(gòu)所需的圖像分辨率,檢測(cè)系統(tǒng)通常使用高NA物鏡,并且工作在UV波長(zhǎng)范圍內(nèi)。作為例子,我們建立了包括高NA聚焦
2025-05-28 08:45:08

3D光學(xué)表面輪廓檢測(cè)儀器

從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。 SuperViewW3D光學(xué)表面輪廓檢測(cè)儀器具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)
2025-05-26 16:17:36

國(guó)產(chǎn)表面輪廓粗糙度檢測(cè)儀器

SJ5800國(guó)產(chǎn)表面輪廓粗糙度檢測(cè)儀器可以對(duì)零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實(shí)現(xiàn)一次掃描測(cè)量,尤其是大范圍曲面、斜面進(jìn)行粗糙度及輪廓尺寸一次性檢測(cè),如圓弧面和球面、異型曲面進(jìn)行多種粗糙度參數(shù)(如Ra
2025-05-22 17:27:38

機(jī)器視覺(jué)助力軌道缺陷檢測(cè)

機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)助力軌道檢測(cè)
2025-05-21 16:55:07658

7大常見(jiàn)電機(jī)密封缺陷,這臺(tái)儀器為何能全部揪出?

在電機(jī)生產(chǎn)與檢測(cè)領(lǐng)域,電機(jī)密封性的優(yōu)劣直接關(guān)乎其性能與壽命。傳統(tǒng)檢測(cè)方式往往存在諸多局限,而氣密性檢測(cè)儀的出現(xiàn),尤其是岳信儀器所研發(fā)的定制化檢測(cè)設(shè)備,為精準(zhǔn)高效識(shí)別電機(jī)密封缺陷帶來(lái)了全新
2025-05-19 11:03:21502

堆焊過(guò)程熔池相機(jī)實(shí)時(shí)缺陷檢測(cè)技術(shù)

在現(xiàn)代工業(yè)制造中,堆焊技術(shù)廣泛應(yīng)用于機(jī)械、能源、化工、航空航天等領(lǐng)域,用于修復(fù)磨損部件或增強(qiáng)工件表面性能。然而,傳統(tǒng)堆焊過(guò)程的質(zhì)量控制主要依賴(lài)人工經(jīng)驗(yàn)或焊后檢測(cè),難以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)控,導(dǎo)致缺陷發(fā)現(xiàn)滯后
2025-05-15 17:34:38625

鋰電池?zé)崾Э卦砑鞍踩?b class="flag-6" style="color: red">檢測(cè)技術(shù)解析

,電解液分解產(chǎn)熱; 熱累積效應(yīng):散熱設(shè)計(jì)的缺陷導(dǎo)致局部溫度持續(xù)升高。 熱失控檢測(cè)的核心參數(shù)設(shè)備選型 為量化風(fēng)險(xiǎn)并制定防控策略,需通過(guò)專(zhuān)業(yè)設(shè)備獲取以下關(guān)鍵數(shù)據(jù): 檢測(cè)參數(shù) 物理意義 安全閾值
2025-05-12 16:51:30

EastWave應(yīng)用:垂直腔表面激光器

。 參考文獻(xiàn):Appl.Physics.B 91, 475-478(2008) 1. 計(jì)算模式及參數(shù) 2. 模型說(shuō)明 □ 采用周期陣列,創(chuàng)建光子晶體。將部分元胞刪除,形成表面腔。 □ 采用周期陣列
2025-05-12 08:57:37

電池容量檢測(cè)設(shè)備:新能源時(shí)代的“質(zhì)檢官”

。 技術(shù)內(nèi)核:多維度解碼電池性能 電池容量檢測(cè)設(shè)備的核心在于恒流放電測(cè)試技術(shù)。設(shè)備通過(guò)內(nèi)置電子負(fù)載對(duì)電池施加恒定電流,模擬實(shí)際使用場(chǎng)景下的放電過(guò)程,同時(shí)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電壓、電流、溫度等參數(shù)。例如,某款檢測(cè)儀可在0
2025-05-09 15:53:15801

PanDao:輸入形狀精度參數(shù)

的相關(guān)條目來(lái)自由設(shè)定其它檢測(cè)波長(zhǎng)。 例如,當(dāng)不規(guī)則性B對(duì)應(yīng)的高度偏差H為1微米時(shí),B = (1000/546.07)*2 = 3.66條紋;若功率誤差對(duì)應(yīng)高度偏差為2微米,則該表面的形狀精度參數(shù)為3/7.32(3.66)。
2025-05-06 08:45:53

高光譜相機(jī)在工業(yè)檢測(cè)中的應(yīng)用:LED屏檢、PCB板缺陷檢測(cè)

隨著工業(yè)檢測(cè)精度要求的不斷提升,傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)技術(shù)逐漸暴露出對(duì)非可見(jiàn)光物質(zhì)特性識(shí)別不足、復(fù)雜缺陷檢出率低等局限性。高光譜相機(jī)憑借其獨(dú)特的光譜分析能力,為工業(yè)檢測(cè)提供了革命性的解決方案。以下結(jié)合中達(dá)瑞
2025-04-23 16:36:49787

SMT貼片加工常見(jiàn)缺陷排查:哪些是錫膏“惹的禍”,如何精準(zhǔn)解決?

度、按產(chǎn)品需求確定助焊劑活性;優(yōu)化印刷與回流焊工藝參數(shù);嚴(yán)格管控存儲(chǔ)使用過(guò)程,建立實(shí)時(shí)檢測(cè)閉環(huán)。同時(shí)需結(jié)合設(shè)備維護(hù)與環(huán)境控制,多維度排查缺陷,降低錫膏相關(guān)不良率,保
2025-04-23 09:52:001573

半導(dǎo)體晶圓表面形貌量測(cè)設(shè)備

中圖儀器WD4000系列半導(dǎo)體晶圓表面形貌量測(cè)設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷
2025-04-21 10:49:55

必備!汽車(chē)油箱氣密性檢測(cè)設(shè)備的選購(gòu)要點(diǎn)

是衡量設(shè)備性能的關(guān)鍵指標(biāo)。高精度的檢測(cè)設(shè)備能夠準(zhǔn)確檢測(cè)出微小的泄漏,確保油箱的氣密性符合標(biāo)準(zhǔn)。在選購(gòu)時(shí),要關(guān)注設(shè)備檢測(cè)精度參數(shù),一般來(lái)說(shuō),精度越高越好。同時(shí),要了
2025-04-12 13:42:46505

一文搞懂波峰焊工藝及缺陷預(yù)防

波峰焊接是一種復(fù)雜的工藝過(guò)程,涉及到金屬表面、熔融焊料、空氣等多種因素。焊接質(zhì)量受到多種因素的影響,如印制板、元器件、焊料、焊劑、焊接溫度、時(shí)間等工藝參數(shù)以及設(shè)備條件等。 因此,要獲得一個(gè)優(yōu)良的焊接
2025-04-09 14:44:46

氣密性檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)結(jié)果不精準(zhǔn)?不實(shí)

在工業(yè)生產(chǎn)中,氣密性檢測(cè)是確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能的重要環(huán)節(jié)。但是,有時(shí)候我們會(huì)遇到氣密性檢測(cè)設(shè)備測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確的問(wèn)題,這可能會(huì)影響產(chǎn)品的質(zhì)量控制和生產(chǎn)成本。那么,這個(gè)問(wèn)題的真相是什么呢?首先,影響測(cè)試
2025-04-03 14:09:26603

突破14nm工藝壁壘:天準(zhǔn)科技發(fā)布TB2000晶圓缺陷檢測(cè)裝備

開(kāi)啟國(guó)產(chǎn)缺陷檢測(cè)新紀(jì)元 蘇州2025年3月26日?/美通社/ -- 3月26日,蘇州天準(zhǔn)科技股份有限公司(股票代碼:688003.SH)宣布,旗下矽行半導(dǎo)體公司研發(fā)的明場(chǎng)納米圖形晶圓缺陷檢測(cè)裝備
2025-03-26 14:40:33683

安泰電壓放大器在缺陷局部的無(wú)損檢測(cè)研究中的應(yīng)用

實(shí)驗(yàn)名稱(chēng):基于LDR振型的損傷檢測(cè)方法實(shí)驗(yàn) 研究方向:隨著科技的不斷進(jìn)步,材料中的腐蝕、分層等缺陷是導(dǎo)致結(jié)構(gòu)剛度下降、破壞失效的主要原因。為保證結(jié)構(gòu)的安全性與可靠性,對(duì)其進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)是重要的。首先
2025-03-24 11:12:18672

RFID服裝干洗店布草水洗無(wú)紡布洗衣標(biāo)簽 柔性防水智能射頻洗滌

 產(chǎn)品參數(shù) 產(chǎn)品名稱(chēng):RFID洗滌標(biāo)簽 材料:無(wú)紡布(布草)、硅膠、PPS讀寫(xiě)時(shí)間:<100ms擦寫(xiě)次數(shù):>10萬(wàn)次數(shù)據(jù)保存:>10年工作頻率:860~ 960MHz支持協(xié)議
2025-03-10 15:40:34

工業(yè)聲紋檢測(cè)設(shè)備

適用于工業(yè)企業(yè)管道、氣體泄漏檢測(cè),以及設(shè)備設(shè)施機(jī)械異響檢測(cè)等● 麥克風(fēng)陣列數(shù)量≥64 個(gè)● 最高監(jiān)測(cè)聲波頻率≥96kHz● 最大監(jiān)測(cè)距離≥150m● 支持最高、中心強(qiáng)點(diǎn)自動(dòng)追蹤● 拾音信噪比≥65dB,支持定向拾音● 識(shí)別準(zhǔn)確率≥90%
2025-03-05 15:56:06

從“被動(dòng)檢測(cè)”到“主動(dòng)預(yù)防”,上海控安TestGrid推出動(dòng)態(tài)缺陷檢測(cè)功能模塊

在嵌入式系統(tǒng)與安全關(guān)鍵領(lǐng)域,如航空航天、軌道交通、自動(dòng)駕駛、醫(yī)療設(shè)備,代碼缺陷可能引發(fā)災(zāi)難性后果。傳統(tǒng)靜態(tài)分析僅能通過(guò)源代碼語(yǔ)法、結(jié)構(gòu)和編碼規(guī)范發(fā)現(xiàn)問(wèn)題,而復(fù)雜的系統(tǒng)級(jí)交互、多線程并發(fā)及邊界條件
2025-03-04 14:43:34693

特高壓設(shè)備檢測(cè)技術(shù)演進(jìn)——從國(guó)產(chǎn)化突破到國(guó)際領(lǐng)先

技術(shù)里程碑 標(biāo)準(zhǔn)制定者 :主導(dǎo)3項(xiàng)特高壓檢測(cè)國(guó)標(biāo)修訂,專(zhuān)利布局覆蓋變頻諧振、智能診斷等核心技術(shù)?。 工程驗(yàn)證 :在1000kV武漢—黃石—南昌工程中,首創(chuàng)特高頻局放檢測(cè)技術(shù),缺陷識(shí)別準(zhǔn)確率達(dá)98
2025-02-28 10:12:37

EastWave應(yīng)用:垂直腔表面激光器

。 參考文獻(xiàn):Appl.Physics.B 91, 475-478(2008) 1. 計(jì)算模式及參數(shù) 2. 模型說(shuō)明 □ 采用周期陣列,創(chuàng)建光子晶體。將部分元胞刪除,形成表面腔。 □ 采用周期陣列
2025-02-24 09:03:48

X-Ray檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)PCBA的哪些缺陷

X-Ray檢測(cè)設(shè)備可以檢測(cè)PCB(電路板)的多種內(nèi)部及外部缺陷,如果按照區(qū)域區(qū)分的話,主要能觀測(cè)到一下幾類(lèi)缺陷: 焊接缺陷: 空洞(Voiding):焊點(diǎn)內(nèi)部出現(xiàn)的空氣或其他非金屬物質(zhì)形成的空隙
2025-02-08 11:36:061166

焊點(diǎn)能量反饋檢測(cè)設(shè)備的應(yīng)用與優(yōu)勢(shì)分析

焊點(diǎn)能量反饋檢測(cè)設(shè)備是一種用于焊接過(guò)程中的質(zhì)量控制工具,它通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)焊接過(guò)程中產(chǎn)生的熱量、電流、電壓等參數(shù),及時(shí)反饋焊接狀態(tài),確保每個(gè)焊點(diǎn)的質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)要求。這種設(shè)備在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中扮演著
2025-01-21 15:29:11590

回流焊時(shí)光學(xué)檢測(cè)方法

,是基于光學(xué)原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見(jiàn)缺陷進(jìn)行檢測(cè)設(shè)備。它使用攝像頭拍攝PCB上的元件和焊點(diǎn),并將其與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行比對(duì),從而發(fā)現(xiàn)任何差異或缺陷。 二、AOI在回流焊中的應(yīng)用 在回流焊過(guò)程中,AOI主要用于檢測(cè)SMT元件的焊接質(zhì)量。它可以檢測(cè)出多種焊接缺陷,如連錫、少
2025-01-20 09:33:461451

半導(dǎo)體晶圓幾何表面形貌檢測(cè)設(shè)備

,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。 WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何表面形貌檢測(cè)設(shè)備可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢
2025-01-06 14:34:08

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