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PVC薄膜缺陷檢測系統(tǒng)的詳細介紹

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2025-07-11 14:51:57449

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在合適的光源條件下,連接了多個相機的POC系列能夠成功檢測到隨機故意放置在產(chǎn)線上的有缺陷的瓶裝飲料(這些缺陷包括:液位過高或過低,瓶蓋未正確擰緊,標簽打印錯誤和瓶中液體有雜質(zhì)/沉淀物)
2025-07-09 14:28:12481

集裝箱殘損檢測系統(tǒng)與傳統(tǒng)人工檢測對比

檢測系統(tǒng)
jf_60141436發(fā)布于 2025-06-26 14:06:08

淺談半導體薄膜制備方法

本文簡單介紹一下半導體鍍膜的相關知識,基礎的薄膜制備方法包含熱蒸發(fā)和濺射法兩類。
2025-06-26 14:03:471347

機器學習異常檢測實戰(zhàn):用Isolation Forest快速構建無標簽異常檢測系統(tǒng)

算法進行異常檢測,并結(jié)合LightGBM作為主分類器,構建完整的欺詐檢測系統(tǒng)。文章詳細闡述了從無監(jiān)督異常檢測到人工反饋循環(huán)的完整工作流程,為實際業(yè)務場景中的風險控
2025-06-24 11:40:051267

氧化硅薄膜和氮化硅薄膜工藝詳解

氧化硅薄膜和氮化硅薄膜是兩種在CMOS工藝中廣泛使用的介電層薄膜。
2025-06-24 09:15:231750

PanDao:確認缺陷等級并用于加工

根據(jù)ISO101101標準規(guī)定,允許通過“5/y*x”參數(shù)來定義光學元件側(cè)面的最大缺陷尺寸: ? \"x\"表示缺陷對應正方形的邊長:例如標注5/0.016表示允許的缺陷面積
2025-06-03 08:51:27

薄膜電弱點測試儀的常見問題及解決方案

薄膜電弱點測試儀在薄膜生產(chǎn)、質(zhì)檢等環(huán)節(jié)起著關鍵作用,用于檢測薄膜存在的針孔、裂紋等電弱點缺陷。然而在實際使用過程中,可能會遇到各種問題影響檢測效率與準確性。以下為薄膜電弱點測試儀常見問題及對應
2025-05-29 13:26:04491

VirtualLab:用于微結(jié)構晶片檢測的光學系統(tǒng)

摘要 在半導體工業(yè)中,晶片檢測系統(tǒng)被用來檢測晶片上的缺陷并找到它們的位置。為了確保微結(jié)構所需的圖像分辨率,檢測系統(tǒng)通常使用高NA物鏡,并且工作在UV波長范圍內(nèi)。作為例子,我們建立了包括高NA聚焦
2025-05-28 08:45:08

晶圓隱裂檢測提高半導體行業(yè)效率

相機與光學系統(tǒng),可實現(xiàn)亞微米級缺陷檢測,提升半導體制造的良率和效率。SWIR相機晶圓隱裂檢測系統(tǒng),使用紅外相機發(fā)揮波段長穿透性強的特性進行材質(zhì)透檢捕捉內(nèi)部隱裂缺陷
2025-05-23 16:03:17647

PID控制原理知識詳細文檔【推薦下載】

文檔詳細介紹了控制系統(tǒng)歷程、控制系統(tǒng)概況、反饋控制原理圖、閉環(huán)控制系統(tǒng)的例子等內(nèi)容,具體的建議下載查看。 這是部分截圖:
2025-05-22 17:37:16

機器視覺助力軌道缺陷檢測

機器視覺檢測助力軌道檢測
2025-05-21 16:55:07658

電能質(zhì)量檢測前的準備工作介紹

電能質(zhì)量問題檢測測試前的準備工作詳細介紹。
2025-05-17 09:52:08554

堆焊過程熔池相機實時缺陷檢測技術

在現(xiàn)代工業(yè)制造中,堆焊技術廣泛應用于機械、能源、化工、航空航天等領域,用于修復磨損部件或增強工件表面性能。然而,傳統(tǒng)堆焊過程的質(zhì)量控制主要依賴人工經(jīng)驗或焊后檢測,難以實現(xiàn)實時監(jiān)控,導致缺陷發(fā)現(xiàn)滯后
2025-05-15 17:34:38625

LED芯片質(zhì)量檢測技術之X-ray檢測

的性能,但在高電流、高溫等極端環(huán)境下,它們可能引發(fā)功能失效,甚至導致整個LED系統(tǒng)損壞。因此,在LED芯片制造和應用過程中,利用無損檢測技術對內(nèi)部結(jié)構進行詳細檢查
2025-04-28 20:18:47692

電機控制系統(tǒng)中的電流檢測技術

指出了電流檢測技術在電機控制系統(tǒng)中的重要性,介紹了常用的兒種電流檢測手段及其工作原理。針對采樣電阻和雀爾電流傳感器,詳細給出了電流采樣信號調(diào)理電路原理圖。最后提出了元器件選型原則及使用注意事項。純
2025-04-24 21:03:19

電纜局部放電檢測的重點及難點問題

電纜局部放電檢測是一種用于評估電纜絕緣狀態(tài)的技術手段,對于保障電力系統(tǒng)的安全穩(wěn)定運行具有重要意義。通過檢測電纜在電場作用下絕緣材料中局部區(qū)域發(fā)生的放電現(xiàn)象,來判斷電纜的絕緣性能是否存在缺陷或劣化
2025-04-24 11:07:48783

高光譜相機在工業(yè)檢測中的應用:LED屏檢、PCB板缺陷檢測

隨著工業(yè)檢測精度要求的不斷提升,傳統(tǒng)機器視覺技術逐漸暴露出對非可見光物質(zhì)特性識別不足、復雜缺陷檢出率低等局限性。高光譜相機憑借其獨特的光譜分析能力,為工業(yè)檢測提供了革命性的解決方案。以下結(jié)合中達瑞
2025-04-23 16:36:49787

薄膜穿刺測試:不同類型薄膜材料在模擬汽車使用環(huán)境下的穿刺性能

在汽車行業(yè)蓬勃發(fā)展的當下,薄膜材料在汽車制造中的應用愈發(fā)廣泛,從精致的內(nèi)飾裝飾薄膜,到關乎生命安全的安全氣囊薄膜,其性能優(yōu)劣直接左右著汽車的品質(zhì)與安全。而薄膜穿刺測試,作為衡量薄膜可靠性的關鍵環(huán)節(jié)
2025-04-23 09:42:36793

IBC背接觸結(jié)構薄膜缺陷分析:多尺度表征技術(PL/AFM/拉曼)的應用

實現(xiàn)了對硅異質(zhì)結(jié)太陽能電池中薄膜厚度的快速檢測和分析,對提高太陽能電池生產(chǎn)質(zhì)量控制具有重要意義。研究背景MillennialSolar硅異質(zhì)結(jié)太陽能電池(SHJ)
2025-04-21 09:02:50974

優(yōu)可測白光干涉儀和薄膜厚度測量儀:如何把控ITO薄膜的“黃金參數(shù)”

ITO薄膜的表面粗糙度與厚度影響著其產(chǎn)品性能與成本控制。優(yōu)可測亞納米級檢測ITO薄膜黃金參數(shù),幫助廠家優(yōu)化產(chǎn)品性能,實現(xiàn)降本增效。
2025-04-16 12:03:19824

支持多項檢測的多段環(huán)形光源 助力金屬零件缺陷檢測

機器視覺光源在視覺系統(tǒng)中扮演著至關重要的角色,其核心作用是為被檢測物體提供穩(wěn)定、可控的照明環(huán)境,以突出目標特征,確保圖像采集的質(zhì)量。合理的光源方案能顯著降低系統(tǒng)成本并提高可靠性。而機器視覺光源又分
2025-04-11 17:03:51692

突破14nm工藝壁壘:天準科技發(fā)布TB2000晶圓缺陷檢測裝備

開啟國產(chǎn)缺陷檢測新紀元 蘇州2025年3月26日?/美通社/ -- 3月26日,蘇州天準科技股份有限公司(股票代碼:688003.SH)宣布,旗下矽行半導體公司研發(fā)的明場納米圖形晶圓缺陷檢測裝備
2025-03-26 14:40:33683

安泰電壓放大器在缺陷局部的無損檢測研究中的應用

實驗名稱:基于LDR振型的損傷檢測方法實驗 研究方向:隨著科技的不斷進步,材料中的腐蝕、分層等缺陷是導致結(jié)構剛度下降、破壞失效的主要原因。為保證結(jié)構的安全性與可靠性,對其進行無損檢測是重要的。首先
2025-03-24 11:12:18672

一個過零檢測電路,但有部分電路沒看明白,有大神可以詳細解釋一下嗎

一個過零檢測電路,但是沒明白粉色框部分有什么作用,有大神可以詳細解釋一下嗎
2025-03-20 00:44:58

常見的幾種薄膜外延技術介紹

薄膜外延生長是一種關鍵的材料制備方法,其廣泛應用于半導體器件、光電子學和納米技術領域。
2025-03-19 11:12:232318

Techwiz LCD 1D應用:光學薄膜設計與分析

偏光片是用二向色染料染色聚乙烯醇基薄膜,然后拉伸制成的。然后,TAC(三乙酰纖維素)附著在偏光片的頂部作為保護膜。PET(聚對苯二甲酸乙二醇酯)作為TAC薄膜的替代品,雖然性價比高,但它存在嚴重
2025-03-14 08:47:25

PVC白卡的介紹和應用

PVC白卡其標準尺寸為85.5×54mm,厚度通常在0.76mm左右,可通過覆膜、噴墨涂層等工藝實現(xiàn)多樣化表面處理,廣泛應用于會員卡、工作證、智能卡等領域一、PVC白卡的特點1.PVC噴墨白卡核心
2025-03-06 18:04:471660

從“被動檢測”到“主動預防”,上海控安TestGrid推出動態(tài)缺陷檢測功能模塊

在嵌入式系統(tǒng)與安全關鍵領域,如航空航天、軌道交通、自動駕駛、醫(yī)療設備,代碼缺陷可能引發(fā)災難性后果。傳統(tǒng)靜態(tài)分析僅能通過源代碼語法、結(jié)構和編碼規(guī)范發(fā)現(xiàn)問題,而復雜的系統(tǒng)級交互、多線程并發(fā)及邊界條件
2025-03-04 14:43:34693

芯片制造中薄膜厚度量測的重要性

本文論述了芯片制造中薄膜厚度量測的重要性,介紹了量測納米級薄膜的原理,并介紹了如何在制造過程中融入薄膜量測技術。
2025-02-26 17:30:092660

薄膜壓力分布測量系統(tǒng)鞋墊式足底壓力分布測試

的分布情況,幫助用戶了解足部受力狀態(tài),從而為步態(tài)分析、疾病診斷、運動優(yōu)化和鞋類設計提供科學依據(jù)。 薄膜壓力分布測量系統(tǒng)概述: 薄膜壓力分布測量系統(tǒng)主要由薄膜傳感器、數(shù)據(jù)采集儀和軟件組成。薄膜由壓敏電阻組成,能夠
2025-02-24 16:24:36968

PVC腕帶:簡單實用的門禁識別工具 #pvc腕帶

PVC
深圳市融智興科技有限公司發(fā)布于 2025-02-21 15:32:49

直流高壓發(fā)生器詳細介紹

直流高壓發(fā)生器(簡稱“直高發(fā)”)是電力檢測、設備維護和科研實驗等領域不可或缺的工具。正確選擇和使用直高發(fā)不僅能提高工作效率,還能確保測試結(jié)果的準確性和可靠性。本文將圍繞直流高壓發(fā)生器的核心主題
2025-02-19 09:51:07

SMA接頭的優(yōu)勢和缺陷

SMA接頭以其高精密性、良好的可靠性、穩(wěn)定性好等特點,在電子元器件領域應用廣泛。但在使用過程中,因其材質(zhì)及生產(chǎn)工藝的影響,在應用中,SMA接頭不可避免的會顯露出一些缺陷,今天我們就一起來看看SMA接頭在應用領域到底有哪些缺陷以及產(chǎn)生這些缺陷的原因。
2025-02-15 11:11:441255

PECVD中影響薄膜應力的因素

本文介紹了PECVD中影響薄膜應力的因素。 影響PECVD 薄膜應力的因素有哪些?各有什么優(yōu)缺點? 以SiH4+NH3/N2生成SiNx薄膜,SiH4+NH3+NO2生成SiON薄膜為例,我這邊歸納
2025-02-10 10:27:001660

X-Ray檢測設備能檢測PCBA的哪些缺陷

X-Ray檢測設備可以檢測PCB(電路板)的多種內(nèi)部及外部缺陷,如果按照區(qū)域區(qū)分的話,主要能觀測到一下幾類缺陷: 焊接缺陷: 空洞(Voiding):焊點內(nèi)部出現(xiàn)的空氣或其他非金屬物質(zhì)形成的空隙
2025-02-08 11:36:061166

科雅耐高溫的薄膜電容器介紹

薄膜電容相對來講,都不能耐過高的溫度,以科雅的薄膜電容為例,粉包型的一般可以耐105℃高溫,塑膠外殼包封的盒裝薄膜電容可以耐110℃高溫,薄膜電容能做到120度嗎?
2025-02-08 11:22:301113

科雅KYET系列薄膜電容介紹

在電子鎮(zhèn)流器、超聲波電路、大功率電源中,一般都需要用到薄膜電容器,而且要求它們必須耐高壓、高頻、大電流,常見可以耐高頻大電流的薄膜電容有哪些?
2025-02-08 11:10:041042

碳化硅薄膜沉積技術介紹

多晶碳化硅和非晶碳化硅在薄膜沉積方面各具特色。多晶碳化硅以其廣泛的襯底適應性、制造優(yōu)勢和多樣的沉積技術而著稱;而非晶碳化硅則以其極低的沉積溫度、良好的化學與機械性能以及廣泛的應用前景而受到關注。
2025-02-05 13:49:121950

CVD薄膜質(zhì)量的影響因素及故障排除

本文介紹了CVD薄膜質(zhì)量的影響因素及故障排除。 CVD薄膜質(zhì)量影響因素 以下將以PECVD技術沉積薄膜作為案例,闡述影響薄膜品質(zhì)的幾個核心要素。 PECVD工藝質(zhì)量主要受氣壓、射頻能量、襯底溫度
2025-01-20 09:46:473313

回流焊時光學檢測方法

回流焊時光學檢測方法主要依賴于自動光學檢測(AOI)技術。以下是對回流焊時光學檢測方法的介紹: 一、AOI技術概述 AOI(Automated Optical Inspection)即自動光學檢測
2025-01-20 09:33:461451

誰能詳細介紹一下track-and-hold

在運放和ADC芯片的數(shù)據(jù)手冊中經(jīng)??吹絫rack-and-hold,誰能詳細介紹一下track-and-hold?
2025-01-20 09:10:12

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