綜合分析。但現(xiàn)在有了大數(shù)據(jù)分析工具,一切問題都可迎刃而解。
大數(shù)據(jù)分析工具,顧名思義就是專門為分析海量數(shù)據(jù)而開發(fā)的一類工具。這類工具具有極強的大數(shù)據(jù)分析、指標計算、數(shù)據(jù)可視化能力,能在極短的時間內(nèi)統(tǒng)一
2023-12-05 09:36:05
借助先進的Docker安全管理工具,企業(yè)組織可以自動掃描Docker鏡像并查找安全漏洞,發(fā)現(xiàn)其中已過時的軟件包或已知的安全漏洞;此外,這些工具還可以有效幫助安全人員分析Docker鏡像的內(nèi)容
2023-11-27 16:12:49
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掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng),可針對無機材料和部分有機材料,迅速提供在統(tǒng)計學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù),在采礦業(yè),可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:16:41
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掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng),可針對無機材料和部分有機材料,迅速提供在統(tǒng)計學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù),在采礦業(yè),可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:02:19
459 共聚焦顯微鏡具有高分辨率和高靈敏度的特點,適用于多種不同樣品的成像和分析,能夠產(chǎn)生結(jié)果和圖像清晰,易于分析。這些特性使共聚焦顯微鏡成為現(xiàn)代科學(xué)研究中的重要工具,同時為人們解析微觀世界提供了一種強大
2023-11-21 09:21:03
0 EBSD技術(shù)是一種常用的材料顯微技術(shù),全稱電子背散射衍射。它通過測量反射電子的角度和相位差來確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等特征。與傳統(tǒng)的掃描電鏡技術(shù)相比,EBSD技術(shù)具有更高的空間分辨率,可以獲得亞微米級的晶體學(xué)數(shù)據(jù)。
2023-11-16 13:31:48
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最近收到老師同學(xué)們的許多問題,其中大家最想要了解的問題是“如何在透射電鏡下判斷位錯類型(螺位錯、刃位錯、混合位錯)”。在此,為了能快速理解并分析,我整理了三個問題,希望能幫助到大家,以下見解如有錯誤,請大家批評指正。
2023-11-13 14:37:25
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11月7日,國儀電鏡論壇暨安徽大學(xué)先進功能材料分析測試技術(shù)交流會在安徽大學(xué)磬苑校區(qū)成功舉行,來自周邊地區(qū)高校的80多位領(lǐng)域內(nèi)師生參與了本次會議,深入探討先進功能材料的分析測試技術(shù)與電子顯微鏡在研究
2023-11-10 08:24:59
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如今,不僅有能放大幾千倍的光學(xué)顯微鏡,也有能放大幾十萬倍的電子顯微鏡,讓我們對生物體的生命活動規(guī)律有了更深入的了解。普通中學(xué)生物教學(xué)大綱中規(guī)定的實驗絕大部分都是利用顯微鏡來完成的,因此顯微鏡的性能是觀察好實驗的關(guān)鍵。
2023-11-07 15:23:26
797 鎢絲掃描電子顯微鏡的總發(fā)射電流和光斑大,抗干擾能力和穩(wěn)定性好??稍诘驼婵障虏怀潆妼Ψ菍?dǎo)電樣品進行成像,并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析,以及斷口形貌分析。分析,在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機械、化學(xué)
2023-11-06 13:52:52
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電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《光伏接線盒材料分析.ppt》資料免費下載
2023-11-02 10:20:06
1 (摘要:英諾達發(fā)布了自主研發(fā)的EnFortius?凝鋒?RTL級功耗分析工具,可以在IC設(shè)計流程早期對電路設(shè)計進行優(yōu)化。) (2023年11月1日,四川成都)英諾達(成都)電子科技有限公司發(fā)布
2023-11-01 09:51:31
125 鎢絲掃描電子顯微鏡的發(fā)射電流和光斑都比較適中,抗干擾能力和穩(wěn)定性比較好。可在低真空下對非導(dǎo)電樣品進行成像,并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析,以及斷口形貌分析。分析,在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機械、化學(xué)
2023-10-31 15:17:52
249 透射電鏡圖像分為試樣的顯微像和衍射花樣,這兩種像分別為不同電子成像,前者是透射電子成像,后者為散射電子成像。
2023-10-31 14:53:50
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美國Sigmadyne公司的SigFit軟件是光機熱耦合分析工具,可以將有限元分析得到的光學(xué)表面變形等結(jié)果文件通過多項式擬合或插值轉(zhuǎn)化為光學(xué)分析軟件的輸入文件,還可實現(xiàn)動態(tài)響應(yīng)分析、光程差分析
2023-10-24 14:57:45
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普通熱發(fā)射掃描電子顯微鏡相比,場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有更高的亮度和更小的電子束直徑,即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是納米尺度微區(qū)形貌分析的首選。 2. 文書組成 場發(fā)射掃描電子顯微鏡由場發(fā)射電子槍、電子束推進器、聚光透
2023-10-23 14:56:39
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掃描電子顯微鏡是一種電子光學(xué)儀器,廣泛應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)藥、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢測等領(lǐng)域。自20世紀60年代以來,掃描電子顯微鏡一直被用作一種工具。商用電子顯微鏡問世以來,發(fā)展迅速
2023-10-19 15:38:30
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使用,使用機器學(xué)習(xí)(ML)算法從掃描電子顯微鏡( SEM )和透射電子顯微鏡(TEM)數(shù)據(jù)中提取和分析輪廓,從而減少工程師的手動測量任務(wù)。 工藝技術(shù)變得越來越復(fù)雜 現(xiàn)代芯片制造技術(shù)的研發(fā)成本高達數(shù)十億美元,而且越來越復(fù)雜和昂貴:公司需要進行研究以發(fā)現(xiàn)適合其需
2023-10-13 15:26:17
530 透射電子顯微鏡圖像的襯度來源于樣品對入射電子束的散射。電子波在穿過樣品時振幅和相位會發(fā)生變化,這兩種變化都會引起圖像襯度。因此,在TEM觀察中對振幅襯度和相位襯度進行區(qū)分尤為重要。
2023-10-10 09:26:52
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? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡,可為客戶呈現(xiàn)任意樣品表面更強的信號和更豐富的細節(jié)信息;尤其在低的加速電壓下,可在避免樣品損傷的同時,快速獲取更高
2023-09-23 09:50:44
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掃描透射電子顯微鏡(Scanning Transmission Electron Microscope,簡稱STEM),是在TEM成像技術(shù)上發(fā)展起來的一種電子顯微成像技術(shù)
2023-09-19 11:24:51
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聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
掃描電子顯微鏡-電子通道對比成像(SEM-ECCI)是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡(TEM)在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47
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透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM),是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角
2023-08-29 14:54:15
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能譜儀(EDS)是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具,通常與掃描電鏡(SEM)、透射電鏡(TEM)組合使用,實現(xiàn)形貌與成分的對照。它的工作原理是:當電子束掃描樣品時,不同元素被激發(fā)出來的x射線能量不同,通過探測這些特征X射線的能量與強度,可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:24
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在材料生產(chǎn)領(lǐng)域,共焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。在相同物鏡放大的條件下,共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細節(jié)更清晰更微細,橫向分辨率更高。VT6000材料型轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡以共聚
2023-08-29 09:03:37
。**配備高靈敏度的光電二極管探測器,使得激光共聚焦顯微鏡能夠快速并精確地檢測光信號,并將其轉(zhuǎn)換為電信號。
與傳統(tǒng)的光學(xué)觀察不同,光電二極管探測器可以實現(xiàn)單個光子的檢測,使得成像更加敏感和準確。這種
2023-08-22 15:19:49
,為電池研發(fā)提供有價值的數(shù)據(jù)。然而,受可見光波長的限制,它的觀察范圍有限,而電子顯微鏡很好地解決了這一問題 1931年問世的電子顯微鏡,利用電子束將物體放大300萬倍,達到奈米分辨率。由于電子顯微鏡的分辨率更高,在電池研發(fā)
2023-08-22 13:41:06
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TEM在半導(dǎo)體領(lǐng)域具有非常廣泛的用途,如晶圓制造工藝
分析、芯片失效
分析、芯片逆向
分析、鍍膜及刻蝕等半導(dǎo)體工藝
分析等等,客戶群體遍布晶圓廠、封裝廠、芯片設(shè)計公司、半導(dǎo)體設(shè)備研發(fā)、
材料研發(fā)、高??蒲性核取?/div>
2023-08-21 14:53:56
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的臺階高度測量;
5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量;
6、微電子表面分析和MEMS表征。
總之,白光干涉儀并非只能測量同質(zhì)材料。盡管在非同質(zhì)材料的測量中需要更多的校準和計算,但通過精確的技術(shù)和分析方法,它仍然可以提供準確、詳細而可靠的測量結(jié)果,幫助我們深入研究材料的特性和性能。
2023-08-21 13:46:12
,受可見光波長的限制,它的觀察范圍有限,而電子顯微鏡很好地解決了這一問題 1931年問世的蔡司電子顯微鏡,利用電子束將物體放大300萬倍,達到奈米分辨率。由于蔡司電子顯微鏡的分辨率更高,在電池研發(fā)中,用不同的探針,可獲得
2023-08-16 14:03:49
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。對于此類場景,常規(guī)掃描電鏡效率嚴重不足,為解決客戶痛點,國儀量子于近日推出一款專為大規(guī)模成像而生的新產(chǎn)品——高速掃描電子顯微鏡HEM6000?!备咚賿呙?b class="flag-6" style="color: red">電子顯微
2023-08-09 08:29:23
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圖形分析器是一個幫助OpenGL ES和Vulkan開發(fā)人員通過API級別的分析來充分利用其應(yīng)用程序的工具。
該工具允許您觀察API調(diào)用參數(shù)和返回值,并與正在運行的目標應(yīng)用程序交互,以調(diào)查單個API
2023-08-09 06:08:14
蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究,人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:35
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的物理過程包括電子源產(chǎn)生、透射、衍射、散射、吸收等多個過程,這些過程相互作用并共同影響圖像的形成。 2.高級光學(xué) ? TEM使用高能電子束來成像,這與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡有很大的差異。電子在樣品中的相互作用更復(fù)雜,需要理解電子的波動性和相對論
2023-08-07 09:47:06
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雖然還有其他研究石墨烯瑕疵的方法,但這些方法都有缺點。例如,拉曼光譜無法區(qū)分某些缺陷類型,而高分辨率透射電子顯微鏡能以出色的分辨率表征晶體結(jié)構(gòu)缺陷,但其使用的高能電子會使晶格退化。
2023-08-03 15:10:08
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全球排名前20的超級計算機用戶中有70%使用Arm工具來快速理解應(yīng)用程序性能,并通過調(diào)試、分析和優(yōu)化更快地獲得結(jié)果努力。
2023-08-02 09:51:51
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)是一種用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率顯微鏡。它利用電子束穿透樣品并形成投影圖像,然后通過對該圖像進行解釋
2023-08-01 10:02:15
2342 。量子技術(shù),國儀閃耀CIQTEK國儀量子在本屆大會上全面展現(xiàn)了以量子精密測量技術(shù)為核心的先進測量技術(shù)、產(chǎn)品與解決方案,量子傳感、量子教學(xué)、磁共振、電子顯微鏡、氣體
2023-07-31 23:30:51
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掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)(SEM-ECCI)是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領(lǐng)域替代了一部分透射電鏡(TEM)的功能,相對透射電鏡分析而言
2023-07-31 15:59:56
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pyverilog是一個非常強大的verilog分析工具,本節(jié)介紹pyverilog的使用
2023-07-26 17:04:44
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蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06
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波長微分干涉(DIC)顯微鏡采用緊湊穩(wěn)定的高剛性主體,滿足顯微操作的防震要求;模塊化功能設(shè)計理念,方便系統(tǒng)升級,導(dǎo)柱升降裝置,可快速調(diào)整工作臺與物鏡之間的距離,適用于不同厚度工件檢測,搭載機械移動式載物平臺,有效定位工件,適合于顯微觀察或多試樣快速檢測。人機工程學(xué)理想設(shè)計,操作更方便舒適,空間更廣闊。
2023-07-25 10:59:47
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引言綜合熱分析儀是一種多功能的熱學(xué)測量儀器,能夠同時測量樣品的多種熱學(xué)性能和物理性質(zhì)。它在材料科學(xué)、化學(xué)、冶金、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用,為研究材料的性能和反應(yīng)過程提供了強有力的支持。本文
2023-07-14 16:02:48
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今天小編三本精密儀器給大家介紹下共聚焦顯微鏡Smartproof5數(shù)碼顯微鏡可信的數(shù)據(jù)輸出1、由于其受專利保護的寬場相關(guān)孔徑共聚焦技術(shù),Smartproof5能夠有效地減少獲取分析結(jié)果的時間,從而
2023-07-12 14:40:13
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、電子順磁共振波譜儀、掃描電子顯微鏡、氣體吸附分析儀、量子測控等系列產(chǎn)品參展。誠邀您作為我司特邀觀眾蒞臨參觀!國儀量子展位號:2.2B301深耕產(chǎn)業(yè),多領(lǐng)域解決方案報告會議期
2023-07-06 10:03:56
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Veritas系列保持EMVeritas系列保持EM科特(EmCrafts)電子顯微鏡的高性能高效率,大樣品倉內(nèi)含5軸共心電動樣品臺,可更輕松地測量大尺寸樣品??铺兀‥mCrafts)電子顯微
2023-07-05 15:13:38
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這是Amanda王莉第55篇文章,點這里關(guān)注我,記得標星在當今世界,SEM掃描電子顯微鏡分析技術(shù),一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段,主要應(yīng)用在半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生命科學(xué)和納米材料
2023-07-05 10:04:06
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掃描隧道顯微鏡STM 掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫為STM) 是一種掃描探針顯微術(shù)工具,掃描隧道顯微鏡可以讓科學(xué)家觀察和定位單個原子,它具有
2023-07-04 13:12:05
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共聚焦顯微鏡的系統(tǒng)點擴散函數(shù)分布等于物鏡和點像能量分布的卷積。在物鏡相同的情況下,其橫向分辨率(x-y面)比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡提高了1.4倍,達到0.4λ/NA,如中圖儀器的VT6000材料共聚焦顯微
2023-06-20 10:19:29
產(chǎn)品介紹—— 普密斯PMS-TM200是一種新型的數(shù)字測量顯微鏡.結(jié)合了金相顯微鏡的高倍觀察能力,和影像測量儀的X、Y、Z軸表面尺寸測量功能,具備明暗場、微分干涉、偏光等多種
2023-05-31 15:19:59
產(chǎn)品介紹—— 3D視頻顯微鏡有多種3D觀察角度:30°,35°,40°,45°,直流伺服馬達驅(qū)動3D轉(zhuǎn)換鏡圍繞式樣進行360°旋轉(zhuǎn),實時將圖像傳導(dǎo)在高清顯示器上在線觀察。 3D視頻顯微
2023-05-31 15:16:47
透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結(jié)構(gòu),這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微
2023-05-31 09:20:40
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以共聚焦技術(shù)為原理的激光共聚焦顯微鏡,是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。VT6000激光共聚焦顯微鏡材料科學(xué)的目標是研究材料表面結(jié)構(gòu)對于其表面特性的影響。因此,高分辨率分析
2023-05-26 14:43:42
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在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中,共聚焦顯微鏡主要測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相比,它具有更高
2023-05-25 11:27:02
顯微光譜測試系統(tǒng) 1.輕松實現(xiàn)具有微米級空間分辨率的顯微熒光光譜。 2.簡單方便的擴展功能與設(shè)計精巧的可選模塊。 3.可實現(xiàn)微米級樣品的反射光譜,透射光譜、熒光光譜,熒光壽命,拉曼光譜等光譜分析測試
2023-05-24 07:17:23
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在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中,共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。例如,鋼的鑄造組織一般比較粗大,可直接用共聚焦顯微鏡進行觀察,同時可以利用其模擬微合金鋼在
2023-05-18 14:05:46
在調(diào)試開發(fā)藍牙Mesh產(chǎn)品時,除了打開設(shè)備端的Log外,有時還需要用到抓包工具分析空中的Mesh消息格式和交互流程是否正確。目前市面上的抓包儀器價格較貴,在缺少專業(yè)的抓包工具時,可通過泰凌自研的藍牙Mesh包解密分析工具進行初步分析。
2023-05-17 10:43:57
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研究SEI對電池性能的影響是開發(fā)穩(wěn)定鋰金屬電池的關(guān)鍵。盡管如此,SEI的確切納米結(jié)構(gòu)和工作機制仍然不清楚。
2023-05-15 18:27:53
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為了支持半導(dǎo)體制造商的自動化需求,先進的電子顯微鏡正在集成人工智能功能,以提供更快的數(shù)據(jù)生成時間并提高人力和工具資源的生產(chǎn)效率。
2023-05-05 17:17:25
500 【核芯觀察】是電子發(fā)燒友編輯部出品的深度系列專欄,目的是用最直觀的方式令讀者盡快理解電子產(chǎn)業(yè)架構(gòu),理清上、中、下游的各個環(huán)節(jié),同時迅速了解各大細分環(huán)節(jié)中的行業(yè)現(xiàn)狀。本期【核芯觀察】的主題是衛(wèi)星通信產(chǎn)業(yè),對上下游企業(yè)、技術(shù)、市場等方面進行梳理,分析當前衛(wèi)星通信產(chǎn)業(yè)中芯片的需求趨勢。
2023-04-23 00:01:00
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隨著科技的不斷進步和發(fā)展,高頻電路的應(yīng)用越來越廣泛,對于電子材料的性能要求也越來越高。為了更好地了解新材料在高頻電路中的性能表現(xiàn),矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(Vector Network Analyzer,VNA)成為了一種重要的測試工具。
2023-04-18 16:42:06
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對所有制造材料進行100%全面檢查。 制造商測試實驗室、研發(fā)中心、材料研究小組和質(zhì)量控制部門,尋找微小缺陷正在刺激對掃描聲學(xué)顯微鏡(SAM)設(shè)備的投資。失效分析和可靠性檢測計量技術(shù)已變得至關(guān)重要,現(xiàn)在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實驗室測試和測量儀器并駕齊驅(qū)。
2023-04-14 16:21:39
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場發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設(shè)計,高壓隧道技術(shù)(SuperTunnel)、低像差無漏磁物鏡設(shè)計,實現(xiàn)了低電壓高分辨率成像,同時
2023-04-12 11:38:30
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