金相分析是揭示金屬材料微觀組織結(jié)構(gòu)、建立其與性能間關(guān)聯(lián)的核心技術(shù)。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡受限于景深與分辨率，難以應(yīng)對粗糙表面及三維結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)表征。光子灣科技的共聚焦顯微鏡憑借其光學(xué)切片與三維成像能力，為金相分析
2025-12-18 18:05:52
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原子力顯微分析技術(shù)論壇”。本次會議旨在構(gòu)建高水平學(xué)術(shù)交流平臺,推動我國表界面高分辨表征技術(shù)的前沿交流與協(xié)同創(chuàng)新。牛津儀器IA中國區(qū)銷售總經(jīng)理李霄飛先生 廣東省分析測試協(xié)會表面分析專業(yè)委員會主任委員陳建教授 ? 持續(xù)推進顯微
2025-12-18 17:34:54178 
聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam,FIB）技術(shù)作為現(xiàn)代半導(dǎo)體失效分析的核心手段之一，通常與掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscope,SEM）集成
2025-12-04 14:09:25368 
電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）在材料科學(xué)的研究中，對材料的顯微結(jié)構(gòu)和晶體學(xué)特性的深入理解是至關(guān)重要的。電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）作為一種強大的顯微分析工具，它允許科學(xué)家們在原子尺度上研究材料
2025-11-26 17:13:31639 
共聚焦顯微鏡（CLSM）作為現(xiàn)代材料科學(xué)中重要的表征工具，憑借其高分辨率、三維成像與實時原位觀測能力，在鋼鐵材料的微觀組織分析、相變行為研究和工程性能評估中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。下文，光子灣科技將系統(tǒng)闡述
2025-11-25 18:05:00288 在材料科學(xué)與生命科學(xué)的研究中，透射電子顯微鏡（TEM）已成為探索微觀世界不可或缺的工具。然而，許多科研人員在TEM分析過程中常常遇到圖像質(zhì)量不理想、數(shù)據(jù)解讀困難的問題，其根源往往不在于儀器操作或分析
2025-11-25 17:10:06617 
在TEM（透射電子顯微鏡）高精度的表征和FIB（聚焦離子束）切片加工技術(shù)之前，使用等離子體進行樣品預(yù)處理是一個關(guān)鍵的步驟，主要用于清潔和表面改性，其直接目的是提升成像質(zhì)量或加工效率。
2025-11-24 17:17:031235 共聚焦顯微鏡作為一種深層形態(tài)結(jié)構(gòu)分析的重要工具，具備無損、快速、三維成像等優(yōu)勢，廣泛應(yīng)用于高分子材料的多組分體系、顆粒、薄膜、自組裝結(jié)構(gòu)等研究。下文，光子灣科技系統(tǒng)介紹其工作原理與在高分子材料
2025-11-13 18:09:27358 EBSD技術(shù)：材料顯微學(xué)的先進工具電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是材料科學(xué)中一種重要的顯微分析技術(shù)。它通過分析高能電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的背散射電子的衍射花樣，獲取樣品的晶體結(jié)構(gòu)、晶粒取向、晶界
2025-11-06 12:38:16243 
從最初的光學(xué)顯微鏡到如今的電子顯微鏡，我們觀察微觀世界的能力不斷提升，推動了材料科學(xué)、生物學(xué)、半導(dǎo)體技術(shù)等領(lǐng)域的革命性進展。本文將講解現(xiàn)代微觀分析的兩大主力工具——掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微
2025-11-06 12:36:07632 
在材料科學(xué)與生物實驗領(lǐng)域，電子顯微鏡（EM）作為關(guān)鍵的微結(jié)構(gòu)表征手段，以電子束代替可見光作為照明源，可實現(xiàn)納米級分辨能力，顯著優(yōu)于光學(xué)顯微鏡的觀測極限。掃描電子顯微鏡（SEM）1.原理SEM的核心
2025-11-05 14:39:25750 
在半導(dǎo)體材料的研究領(lǐng)域中，透射電子顯微鏡（TEM）已成為一種不可或缺的分析工具。它能夠讓我們直接觀察到氮化鎵（GaN）外延片中原子級別的排列細節(jié)——這種第三代半導(dǎo)體材料，正是現(xiàn)代快充設(shè)備、5G通信
2025-10-31 12:00:073857 
掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，簡稱SEM）是電子顯微鏡的重要類別。它擅長捕捉樣品表面的微觀形貌，能清晰呈現(xiàn)納米級別的表面起伏、結(jié)構(gòu)細節(jié)，比如觀察金屬材料的斷口形態(tài)、生物細胞的表面紋理。這種“表面成像”能力使其成為材料失效分析、生物學(xué)微觀觀察的核心工具。
2025-10-24 14:30:39661 
科技和微電子領(lǐng)域發(fā)揮著越來越重要的作用。然而，很多人對它的工作原理存在疑問：它究竟是反射顯微鏡還是透射顯微鏡？顯微鏡技術(shù)的變化要理解聚焦離子束顯微鏡的特性，我們首先需要回
2025-10-13 15:50:25452 
合適的顯微鏡成為許多科研工作者關(guān)心的問題。透射電子顯微鏡當(dāng)研究需要觀察納米尺度（通常小于100納米）的結(jié)構(gòu)細節(jié)時，透射電子顯微鏡（TEM）無疑是首選工具。這種顯微
2025-09-28 23:29:24802 
在現(xiàn)代科研與高端制作領(lǐng)域，微觀探索依賴高分辨率成像技術(shù)，共聚焦顯微鏡與電子顯微鏡是其中的核心代表。在微觀檢測中，二者均突破傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡局限，但在原理、性能及應(yīng)用場景上差異顯著，適配不同領(lǐng)域的需求
2025-09-18 18:07:56724 SEM和TEM）在制樣環(huán)節(jié)面臨的定位難、效率低和精度不足等問題，成為聯(lián)接形貌觀察與內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析不可或缺的橋梁。掃描電子顯微鏡（SEM）可用于觀察材料表面形貌與成分組
2025-09-12 14:39:33579 
中圖儀器一鍵快速成像掃描電子顯微鏡采用的鎢燈絲電子槍，發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時
2025-09-09 15:03:07
中圖儀器國產(chǎn)掃描電子顯微鏡SEM采用的鎢燈絲電子槍，發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時
2025-09-05 14:57:25
中圖儀器掃描電鏡SEM電子顯微鏡CEM3000系列采用的鎢燈絲電子槍，發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上
2025-09-01 15:51:54
很多人以為穿透式電子顯微鏡ＴＥＭ就是倍率比較高的掃描式電子顯微鏡ＳＥＭ，但其實ＴＥＭ擁有許多強大的應(yīng)用，是科技業(yè)不可或缺的研發(fā)檢測工具。
2025-08-26 09:37:251668 在微觀結(jié)構(gòu)的世界里，為了能夠清晰的觀察和方便操縱單個原子，往往需要借助一種特殊的手段---冷凍電子顯微技術(shù)，它能夠?qū)⒃永鋮s至低溫狀態(tài)，并將原子固定在光晶格中，從而實現(xiàn)對單個原子的成像和操控。而這
2025-08-22 08:55:441036 
CEM3000精密掃描電子顯微鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能
2025-08-20 11:15:48
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的精密制造與檢測體系中，超聲波掃描電子顯微鏡(SAT)設(shè)備作為一種核心的無損檢測工具，正發(fā)揮著日益關(guān)鍵的作用。它利用超聲波的特性，能夠?qū)Π雽?dǎo)體材料、晶圓、芯片以及封裝器件等進行高分辨率
2025-08-19 16:34:511063 一、什么是TEM?透射電子顯微鏡是利用波長較短的電子束作為照明源，利用電磁透鏡進行聚焦成像的高分辨本領(lǐng)和高放大倍數(shù)電子光學(xué)儀器。二、透射電子顯微鏡成像方式由電子槍發(fā)射高能、高速電子束；經(jīng)聚光鏡聚焦后
2025-08-18 21:21:55823 
中圖儀器sem電子顯微電鏡CEM3000憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空
2025-08-18 15:16:32
CEM3000國產(chǎn)掃描電子顯微電鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)
2025-08-14 14:29:44
在科研實驗室和高端制造領(lǐng)域，電子顯微鏡是不可或缺的重要設(shè)備。這類精密儀器對電力供應(yīng)的穩(wěn)定性和純凈度要求極高，任何電壓波動或電力中斷都可能導(dǎo)致設(shè)備損壞或數(shù)據(jù)丟失。因此，為電子顯微鏡配置合適的UPS
2025-08-14 09:00:00566 
CEM3000電子顯微鏡掃描電鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能
2025-08-12 15:41:44
CEM3000國產(chǎn)精密掃描電子顯微電鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空
2025-08-08 15:07:24
電子背散射衍射樣品制備工藝電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）作為一項先進的晶體微區(qū)取向和結(jié)構(gòu)分析工具，在材料科學(xué)研究中扮演著重要角色。結(jié)合掃描電子顯微鏡（SEM）和能譜儀的EBSD系統(tǒng)，能夠同時進行顯微
2025-08-07 19:55:57599 
CEM3000掃描電子顯微電鏡品牌憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)
2025-08-06 13:55:22
微觀結(jié)構(gòu)的精確測量是實現(xiàn)材料性能優(yōu)化和器件功能提升的核心，超景深顯微鏡技術(shù)以其在測量中的高精度和高景深特性，為材料科學(xué)界提供了一種新的分析工具，用以精確解析微觀世界的復(fù)雜結(jié)構(gòu)。美能光子灣將帶您了解超
2025-08-05 17:54:391337 幾乎任何與材料相關(guān)的領(lǐng)域都要用到透射電鏡，而最常用的三大透射電鏡是：普通透射電子顯微鏡（TEM）、高分辨透射電子顯微鏡（HRTEM）和掃描透射電子顯微鏡(STEM)。本期內(nèi)容介紹三者的異同點。重點
2025-08-05 15:36:522066 
，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。CEM3000SEM掃描電子顯微電鏡采用的鎢燈絲電子槍，發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高
2025-08-04 13:43:34
基本概念與光路設(shè)置透射電子顯微鏡（TEM）的成像系統(tǒng)由三級透鏡組構(gòu)成，其中物鏡后焦面是衍射譜所在的位置。在該平面上插入可移動的“物鏡光闌”（objectiveaperture）后，可以人為地限定
2025-07-28 15:34:051902 
技術(shù)本質(zhì)透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,TEM）是一種以高能電子束代替可見光、利用電磁透鏡實現(xiàn)聚焦與放大的成像系統(tǒng)。其工作邏輯可以概括為：1.電子槍發(fā)射
2025-07-25 13:28:011517 
在科研、工業(yè)檢測等領(lǐng)域，“掃描電鏡”和“掃描電子顯微鏡”這兩個術(shù)語經(jīng)常被提及。對于剛接觸相關(guān)領(lǐng)域的人來說，很容易對它們產(chǎn)生困惑，不清楚二者之間究竟存在怎樣的聯(lián)系和區(qū)別。其實，從本質(zhì)上來說，二者有著
2025-07-25 10:42:521049 
CEM3000超高分辨率掃描電子顯微鏡采用的鎢燈絲電子槍，發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊
2025-07-23 13:39:55
電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是一種高效的材料分析手段，它依賴于對電子束與材料相互作用后產(chǎn)生的背散射電子衍射圖樣進行分析，以獲得材料晶體學(xué)的特征。該技術(shù)能夠揭示材料內(nèi)部的微觀構(gòu)造、晶體的朝向、相態(tài)
2025-07-22 14:53:161290 
，SEM的圖像顆粒輪廓、裂紋走向、元素襯度一目了然。透射電鏡（TEM）則讓高能電子直接“穿墻而過”。只有當(dāng)樣品被削到百納米以下，電子才能帶著晶格間距、厚度、缺陷密
2025-07-18 21:05:211336 
中圖儀器掃描電子顯微電鏡CEM3000全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度。CEM3000系列臺式掃描電鏡，不僅擁有強大的抗振
2025-07-18 17:29:32
聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）是一種集多種先進技術(shù)于一體的微觀分析儀器，其工作原理基于離子束與電子束的協(xié)同作用。掃描電子顯微鏡（SEM）工作機制掃描電子顯微鏡（SEM）的核心成像邏輯并非
2025-07-17 16:07:54661 
圖1. (a) T-xODHCN的合成過程示意圖。掃描電子顯微鏡(SEM)圖像：(b) BCN和(c) T-0.9ODHCN。透射電子顯微鏡(TEM)圖像：(d) BCN和(e
2025-07-17 09:33:33893 
超高分辨率形貌與結(jié)構(gòu)信息1.微觀形貌TEM能夠直接觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)，包括顆粒的形狀、大小、分布、表面特征、孔洞以及缺陷（如位錯、層錯、晶界、相界等）。這些信息對于理解材料的基本性質(zhì)和性能至關(guān)重要
2025-07-10 16:01:431280 
什么是透射電子顯微鏡？透射電子顯微鏡（TEM）的原理根基在于電子與物質(zhì)的相互作用。電子槍發(fā)射出的電子束，經(jīng)由電磁透鏡系統(tǒng)聚焦與加速，達到高能量水平（80KeV到300keV），隨后精準(zhǔn)地照射到超薄
2025-07-07 15:55:461224 
隨著半導(dǎo)體器件尺寸的不斷縮小和性能要求的日益提高，應(yīng)變工程半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)構(gòu)在現(xiàn)代電子器件中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。準(zhǔn)確表征這些復(fù)雜結(jié)構(gòu)中的晶體缺陷對于理解材料性能和優(yōu)化器件設(shè)計具有重要意義。透射電子顯微鏡（TEM）的電子衍射技術(shù)為此類表征提供了強有力的分析手段。
2025-06-27 09:12:482017 
中圖儀器國內(nèi)自研高分辨率掃描電子顯微鏡采用的鎢燈絲電子槍，發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高。臺式電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊
2025-06-23 10:43:28
傳統(tǒng)的透射電鏡（TEM）技術(shù)往往只能提供材料在靜態(tài)條件下的結(jié)構(gòu)信息，無法滿足科研人員對材料在實際應(yīng)用環(huán)境中動態(tài)行為的研究需求。為了克服這一局限性，原位TEM技術(shù)應(yīng)運而生。
2025-06-19 16:28:44970 中圖儀器CEM3000系列高襯度掃描電子顯微鏡空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非?？旖莸剡M行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。
2025-06-16 14:57:49
TEM的工作原理透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,TEM）是一種利用高能電子束穿透樣品，通過電磁透鏡成像和分析的精密儀器。其工作原理基于電子束與樣品
2025-06-06 15:33:032379 
中圖儀器sem掃描電子顯微鏡儀器全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度?？臻g分辨率出色和易用性強，用戶能夠非?？旖莸剡M行各項操作
2025-05-30 10:54:19
透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡（簡稱透射電鏡）是一種利用加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，通過電子與樣品原子的碰撞產(chǎn)生立體角散射來成像的儀器。散射角的大小與樣品的密度、厚度密切相關(guān)，從而形成明暗
2025-05-23 14:25:231197 
價值的指導(dǎo)。透射電子顯微鏡的工作原理與強大功能透射電子顯微鏡是一種借助高能電子束穿透樣品，并通過電磁透鏡進行成像與分析的精密設(shè)備。其工作原理基于電子與物質(zhì)之間的相互
2025-05-22 17:33:57964 
中圖儀器CEM3000系列sem掃描電子顯微鏡空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非常快捷地進行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。采用的鎢燈絲電子槍控制
2025-05-22 17:07:41
透射電鏡的工作原理透射電鏡是基于電子束與超薄樣品相互作用。它利用電子加速槍產(chǎn)生高能電子束，經(jīng)過電磁透鏡聚焦和準(zhǔn)直后照射到超薄樣品上。樣品中不同區(qū)域的原子對電子的散射和吸收程度不同，導(dǎo)致透過樣品后
2025-05-19 15:27:531180 
中圖儀器SEM鎢燈絲掃描電子顯微鏡采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內(nèi)達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測效率
2025-05-15 14:32:49
芯片失效分析中對芯片的截面進行觀察，需要對樣品進行截面研磨達到要觀察的位置，而后再采用光學(xué)顯微鏡（OM Optical Microscopy）或者掃描電子顯微（SEM Scanning Electron Microscopy）進行形貌觀察。
2025-05-15 13:59:001657 
十九世紀(jì)末，科學(xué)家首次觀察到軸對稱磁場對陰極射線示波器中電子束產(chǎn)生的聚焦作用，這種效應(yīng)與光學(xué)透鏡對可見光的聚焦作用驚人地相似?；诖?，Ruska等人在1938年發(fā)明了利用電子束作為光源的電子顯微鏡。與光鏡利用玻璃透鏡折射光線不同，電鏡利用磁場或電場偏轉(zhuǎn)電子束。
2025-05-15 09:38:402600 
中圖儀器CEM3000掃描式電子顯微鏡憑借空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非?？旖莸剡M行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000掃描式
2025-05-12 10:58:32
中圖儀器CEM3000系列臺式掃描電子顯微鏡儀器采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內(nèi)達到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像，從而
2025-05-09 17:06:40
什么是透射電子顯微鏡（TEM）透射電子顯微鏡（TEM）是一種功能強大的分析工具，可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過三種不同的分析技術(shù)獲得固態(tài)樣品的化學(xué)信息：能量色散X射線分析（EDX）、電子
2025-05-09 16:47:20810 
計量學(xué)是推動當(dāng)前及未來幾代半導(dǎo)體器件開發(fā)與制造的重要基石。隨著技術(shù)節(jié)點不斷縮小至100納米，甚至更小的線寬，以及高深寬比結(jié)構(gòu)的廣泛應(yīng)用，掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其高分辨率和多功能性，依然在全球半導(dǎo)體制造的多個階段中占據(jù)核心地位。
2025-05-07 15:18:461602 
聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)是一種先進的微觀加工與分析手段，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域。FIB核心原理是利用離子源產(chǎn)生高能離子束
2025-05-06 15:03:01467 
彩色色度圖，并在用戶移動光標(biāo)時指示每個像素的色度坐標(biāo)。在本案例中，將觀察兩個光學(xué)系統(tǒng)的彩色圖像。第一個系統(tǒng)包括一個分色的“冷光鏡”，將白光分為兩個波長段。第二個系統(tǒng)利用線偏振器和波片來顯示雙折射材料
2025-04-28 10:13:08
透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡簡稱TEM，是一種高分辨率的微觀分析儀器，自1933年發(fā)明以來，已成為探索微觀世界的強大工具。其工作原理是在高真空環(huán)境下，電子槍發(fā)射電子束，經(jīng)過聚焦后形成細小的電子
2025-04-25 17:39:274261 
中圖儀器CEM3000系列納米尺度觀測掃描電子顯微鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能
2025-04-23 18:07:59
~150納米。它不僅可以對納米材料的指定位置進行截面處理，以供掃描電子顯微鏡（SEM）進行形貌分析，還能高效制備透射電子顯微鏡（TEM）所需的指定位置樣品，從而成
2025-04-23 14:31:251017 
透射電鏡的成像原理透射電子顯微鏡（TEM）是一種利用波長極短的電子束作為照明源的高分辨率電子光學(xué)儀器。其成像原理基于電子束與樣品的相互作用。電子槍發(fā)射出的電子束經(jīng)過加速和聚焦后照射到樣品上，電子
2025-04-22 15:47:171069 
和萃取復(fù)型主要用于金相組織觀察、斷口形貌、形變條紋、第二相形態(tài)、分布和結(jié)構(gòu)等方面的分析。透射電鏡工作原理透射電子顯微鏡（TEM）是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù)，其工作原理
2025-04-16 15:17:59829 
掃描透射電子顯微鏡（STEM）掃描透射電子顯微鏡（STEM）是一種融合了透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）部分特點的先進顯微技術(shù)。該技術(shù)對操作環(huán)境和設(shè)備要求較高，需要維持極高真空度
2025-04-07 15:55:421657 
聚焦離子束顯微鏡（FIB-SEM）作為一種前沿的微觀分析與加工工具，將聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)深度融合，兼具高分辨率成像和精密微加工能力，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子
2025-04-01 18:00:03793 
彩色色度圖，并在用戶移動光標(biāo)時指示每個像素的色度坐標(biāo)。在本案例中，將觀察兩個光學(xué)系統(tǒng)的彩色圖像。第一個系統(tǒng)包括一個分色的“冷光鏡”，將白光分為兩個波長段。第二個系統(tǒng)利用線偏振器和波片來顯示雙折射材料
2025-03-28 08:51:56
在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的諸多領(lǐng)域中，透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,TEM）以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用，成為了材料科學(xué)、生命科學(xué)以及納米科技研究中不可或缺的重要
2025-03-25 17:10:501835 
中圖儀器CEM3000系列高分辨掃描電子顯微鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析?？臻g分辨率出色和易用性強，用戶能夠非?？旖莸剡M行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到
2025-03-24 16:00:41
鋰電池材料微觀結(jié)構(gòu)研究在新能源技術(shù)迅猛發(fā)展的當(dāng)下，鋰電池材料研究的重要性日益凸顯。深入鉆研鋰電池材料的原子與電子結(jié)構(gòu)，為材料設(shè)計的優(yōu)化與電池性能的提升筑牢根基。而透射電子顯微鏡（TEM）技術(shù)，便是
2025-03-20 11:17:12904 
掃描電子顯微鏡（SEM）具有高分辨率、大景深、可觀察多種信號等特點，在多個領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用場景，以下是一些主要的應(yīng)用方面：一、材料科學(xué)領(lǐng)域-金屬材料研究：用于觀察金屬材料的微觀組織結(jié)構(gòu)，如晶粒大小
2025-03-12 15:01:222348 
離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）是將聚焦離子束（FIB）技術(shù)與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)有機結(jié)合的高端設(shè)備。什么是FIB-SEM？FIB-SEM系統(tǒng)通過聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微
2025-03-12 13:47:401075 
CEM3000桌面式能譜掃描電子顯微鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析，其抗振設(shè)計，在充滿機械振動和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山，拍攝出清晰、高分辨率的圖像。 CEM3000桌面式能譜
2025-03-11 11:12:49
透射電子顯微鏡（TEM，TransmissionElectronMicroscope），簡稱透射電鏡，是一種以波長極短的電子束作為照明源的高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。透射電子顯微鏡的工作原理
2025-03-06 17:18:441490 
掃描電子顯微鏡（SEM）原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光鏡和物鏡聚焦后，形成極細的電子束在樣品表面進行逐點掃描。電子束與樣品表面相互作用，激發(fā)出二次電子、背散射電子等信號。其中二次電子對樣品表面的形貌
2025-03-05 14:03:07
0 SEM技術(shù)及其在陶瓷電阻分析中的作用掃描電子顯微鏡（SEM）是一種強大的微觀分析工具，能夠提供高分辨率的表面形貌圖像。通過SEM測試，可以清晰地觀察到陶瓷電阻表面的微觀結(jié)構(gòu)和形態(tài)特征，從而評估其質(zhì)量
2025-03-05 12:44:38572 
掃描電子顯微鏡（SEM）有多種分類方式，具體如下：1、按電子槍種類分類（1）鎢絲槍掃描電鏡：使用熱鎢極電子槍，陰極為能加熱的鎢絲。優(yōu)點是結(jié)構(gòu)簡單、成本較低、適用性強、維護費用低；缺點是亮度有限，束斑
2025-03-04 10:01:021494 
掃描電子顯微鏡（SEM）原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光鏡和物鏡聚焦后，形成極細的電子束在樣品表面進行逐點掃描。電子束與樣品表面相互作用，激發(fā)出二次電子、背散射電子等信號。其中二次電子對樣品表面的形貌
2025-03-04 09:57:292688 
雙束聚焦離子束-掃描電鏡（DualBeamFocusedIonBeam,FIB）作為一種先進的微觀加工與分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域。其不僅可以制作常見的截面透射電子顯微
2025-02-28 16:11:341156 
微觀結(jié)構(gòu)的分析氬離子束拋光技術(shù)作為一種先進的材料表面處理方法，憑借其精確的工藝參數(shù)控制，能夠有效去除樣品表面的損傷層，為高質(zhì)量的成像和分析提供理想的樣品表面。這一技術(shù)廣泛應(yīng)用于掃描電子顯微鏡（SEM
2025-02-26 15:22:11618 
在材料科學(xué)的微觀研究領(lǐng)域，電子顯微鏡扮演著至關(guān)重要的角色。它能夠深入揭示材料樣品內(nèi)部的精細結(jié)構(gòu)，為科研人員分析組織形貌和結(jié)構(gòu)特征提供了強大的技術(shù)支持。掃描電鏡（SEM）樣品制備掃描電鏡（SEM）以其
2025-02-25 17:26:05789 
為一個完整的三維模型。這種技術(shù)不僅提升了成像的精度，還大大擴展了顯微鏡的應(yīng)用范圍。
在材料科學(xué)領(lǐng)域，超景深3D檢測顯微鏡為研究人員提供了觀察材料微觀結(jié)構(gòu)的強大工具。例如，在納米材料的研究中，科學(xué)家可以
2025-02-25 10:51:29
VT6000材料共聚焦顯微測量系統(tǒng)采用全電動化設(shè)計，并可無縫銜接位移軸與掃描軸的切換，圖像視窗和分析視窗同界面的設(shè)計風(fēng)格，實現(xiàn)了所見即所得的快速檢測效果。 VT6000材料共聚焦顯微測量
2025-02-19 14:56:59
CEM3000系列國產(chǎn)掃描電子顯微鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌
2025-02-07 14:21:21
CEM3000系列桌面式掃描電子顯微鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌
2025-02-06 15:04:09
于掃描電子顯微鏡（SEM）的強大功能，能夠深入剖析材料的微觀結(jié)構(gòu)。與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡相比，EBSD技術(shù)在高倍率下展現(xiàn)出卓越的成像能力，能夠清晰地揭示出細小晶粒、針
2025-01-26 13:37:41591 
。。FIB系統(tǒng)通常建立在掃描電子顯微鏡（SEM）的基礎(chǔ)上，結(jié)合聚焦離子束和能譜分析，能夠在微納米精度加工的同時進行實時觀察和能譜分析，廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、材料科學(xué)和半導(dǎo)
2025-01-24 16:17:291224 
電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)，作為掃描電子顯微鏡（SEM）的高端拓展工具，它能夠深入剖析材料的微觀組織，實現(xiàn)組織結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析、直觀成像和量化評估，為材料科學(xué)研究人員與工程師提供了一把開啟材料內(nèi)在
2025-01-23 15:27:141047 
透射電鏡（TEM）簡介透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope，TEM）自1932年左右問世以來，便以其卓越的性能在微觀世界的研究中占據(jù)著舉足輕重的地位。它利用
2025-01-21 17:02:432605 
電子背散射衍射（ElectronBackscatterDiffraction，簡稱EBSD）技術(shù)是一種基于掃描電子顯微鏡（SEM）的顯微分析技術(shù)，它能夠提供材料微觀結(jié)構(gòu)的詳細信息，包括晶體取向
2025-01-14 12:00:142982 
聚焦離子束（FIB）在芯片制造中的應(yīng)用聚焦離子束（FIB）技術(shù)在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色。它不僅能夠進行精細的結(jié)構(gòu)切割和線路修改，還能用于觀察和制備透射電子顯微鏡（TEM）樣品。金屬鎵
2025-01-10 11:01:381046 
無法被清晰地觀察。為了解決這一問題，科學(xué)家們開始探索使用波長更短的光源來提高顯微鏡的分辨率。1932年，德國科學(xué)家恩斯特·魯斯卡（ErnstRuska）成功發(fā)明了透射電子顯微鏡（TEM），利用電子
2025-01-09 11:05:343157 
在材料分析中的關(guān)鍵作用在材料科學(xué)領(lǐng)域，聚焦離子束（FIB）技術(shù)已經(jīng)成為一種重要的工具，尤其在制備透射電子顯微鏡（TEM）樣品時顯示出其獨特的優(yōu)勢。金鑒實驗室作為行業(yè)領(lǐng)先的檢測機構(gòu)，能夠幫助
2025-01-07 11:19:32877 
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