現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 電源質(zhì)量和能量分析儀
2024-03-14 22:33:48
網(wǎng)絡(luò)測(cè)試 NetWork 分析儀
2024-03-14 22:30:52
網(wǎng)絡(luò)測(cè)試 NetWork 分析儀
2024-03-14 22:30:52
測(cè)試元件 邏輯探針，20MHz
2024-03-14 20:50:37
測(cè)試元件 邏輯探針，50MHz
2024-03-14 20:50:37
就測(cè)試領(lǐng)域而言，光開(kāi)關(guān)一般用于光電器件測(cè)試中光信號(hào)自動(dòng)切換，以測(cè)試收發(fā)器、放大器和無(wú)源器件等。光開(kāi)關(guān)提高了可重復(fù)性和吞吐量，并支持多端口和多設(shè)備的并行測(cè)量，從而優(yōu)化了對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的投資。
2024-03-06 09:53:27
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近日，上海韜盛科技旗下的蘇州晶晟微納宣布推出其最新研發(fā)的N800超大規(guī)模AI算力芯片測(cè)試探針卡。這款高性能探針卡采用了前沿的嵌入式合金納米堆疊技術(shù)，旨在滿足當(dāng)前超大規(guī)模AI算力芯片的高精度測(cè)試需求。
2024-03-04 13:59:12201 如果應(yīng)用是慢啟動(dòng)類(lèi)型，建議配置啟動(dòng)探針或者為存活探針配置initialDelaySeconds參數(shù)，避免存活探針過(guò)早介入導(dǎo)致容器頻繁重啟。如果應(yīng)用啟動(dòng)時(shí)間不固定建議使用啟動(dòng)探針。
2024-02-26 11:08:50137 探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路（IC）的設(shè)備，工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上，然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳，以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中，探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào)，通過(guò)
2024-02-04 15:14:19234 CASCADE探針臺(tái)是一種高級(jí)的網(wǎng)絡(luò)分析工具，可以在網(wǎng)絡(luò)中捕獲和分析數(shù)據(jù)流量。它可以幫助企業(yè)識(shí)別和解決網(wǎng)絡(luò)性能問(wèn)題、網(wǎng)絡(luò)安全問(wèn)題以及網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化等方面的挑戰(zhàn)。CASCADE探針臺(tái)具有廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景，下面
2024-01-31 14:41:25270 總部位于瑞士的微型 3D 打印公司Exaddon 開(kāi)發(fā)了能夠以低于 20 μm 間距進(jìn)行細(xì)間距探測(cè)的 3D微打印探針。細(xì)間距探針測(cè)試是用于測(cè)試半導(dǎo)體芯片的極其復(fù)雜且精確的過(guò)程。
2024-01-26 18:23:071334 作為芯片晶圓測(cè)試階段的重要工具之一，探針卡在不斷更新迭代。為滿足更高需求的晶圓測(cè)試，針卡類(lèi)型也逐漸從懸臂針卡向垂直針卡升級(jí)。
2024-01-25 10:29:21658 
飛針測(cè)試是目前電氣測(cè)試一些主要問(wèn)題的最佳解決辦法。它用探針來(lái)取代針床，使用多個(gè)由馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的、能夠快速移動(dòng)的電氣探針同器件的引腳進(jìn)行接觸并進(jìn)行電氣測(cè)量。
2024-01-18 09:30:55293 ，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試的同時(shí)，也為客戶實(shí)現(xiàn)經(jīng)濟(jì)效益最大化。該系統(tǒng)的靈活性體現(xiàn)在：儀器靈活、流程靈活、分析靈活、報(bào)告靈活。
2024-01-16 16:23:40144 ACp65是一種常用的探針，被廣泛用于研究細(xì)胞衰老、疾病發(fā)展和治療等領(lǐng)域。在本文中，我們將詳細(xì)介紹ACp65探針的參數(shù)、應(yīng)用以及未來(lái)的發(fā)展。 ACp65探針的基本參數(shù) ACp65探針是一種標(biāo)記于抗原
2024-01-10 14:39:01207 持續(xù)測(cè)試(CT) 是在整個(gè)軟件開(kāi)發(fā)生命周期(SDLC) 中自動(dòng)測(cè)試軟件應(yīng)用程序和組件的實(shí)踐。在 DevOps 中，持續(xù)測(cè)試是在整個(gè)DevOps 管道中集成測(cè)試活動(dòng)的實(shí)踐。
2024-01-09 09:10:35138 
用電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試，只需要將被測(cè)品與測(cè)試設(shè)備連接，并通過(guò)通訊線纜與邊緣計(jì)算設(shè)備ATEBOX連接，再將測(cè)試PC與ATEBOX接入同一服務(wù)器，確保信號(hào)互通，一個(gè)完整的測(cè)試系統(tǒng)就連
2024-01-04 15:40:53214 
納米軟件ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備包含軟件ATE測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試中需要的硬件設(shè)備，軟硬件會(huì)集成在一個(gè)機(jī)柜中，方便測(cè)試。ATE測(cè)試系統(tǒng)采取B/S架構(gòu)，無(wú)代碼開(kāi)發(fā)，對(duì)操作人員沒(méi)有高技術(shù)要求，可快速上手測(cè)試。自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試過(guò)程中實(shí)時(shí)自動(dòng)采集記錄數(shù)據(jù)，并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析，快速定位問(wèn)題。
2023-12-28 15:55:30190 電機(jī)型式試驗(yàn)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種將電機(jī)的型式試驗(yàn)過(guò)程自動(dòng)化的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用了先進(jìn)的計(jì)算機(jī)技術(shù)和測(cè)試儀器，能夠?qū)﹄姍C(jī)進(jìn)行全面的性能檢測(cè)和安全評(píng)估。在測(cè)試過(guò)程中，該系統(tǒng)可以自動(dòng)完成電機(jī)的接線和測(cè)試
2023-12-19 16:23:07172 
電機(jī)型式試驗(yàn)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種現(xiàn)代化的測(cè)試設(shè)備，用于在電機(jī)制造過(guò)程中進(jìn)行全面的性能測(cè)試和安全檢測(cè)。該系統(tǒng)的應(yīng)用范圍非常廣泛，可以適用于不同類(lèi)型和規(guī)格的電機(jī)測(cè)試，包括直流電機(jī)、交流電機(jī)、伺服電機(jī)等等。
2023-12-19 16:21:36211 綜上所述，用電源模塊自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源，不僅提高了測(cè)試速度和測(cè)試準(zhǔn)確性，而且還可以幫助用戶實(shí)現(xiàn)智能改造，以數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)生產(chǎn)力。
2023-12-19 15:28:59239 納米軟件在電測(cè)行業(yè)深耕十余年，在行業(yè)的大背景下，為了進(jìn)一步完善自動(dòng)化測(cè)試，開(kāi)發(fā)出了新的智能化的電源模塊自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)ATECLOUD-POWER，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試，自動(dòng)采集、統(tǒng)計(jì)、分析測(cè)試數(shù)據(jù)，提高測(cè)試速度。
2023-12-15 14:40:39273 
MDO MSO DPO2000/3000/4000系列示波器，開(kāi)發(fā)一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試項(xiàng)目。該項(xiàng)目旨在自動(dòng)化執(zhí)行一系列電子信號(hào)的捕獲、分析和報(bào)告生成，提高測(cè)試過(guò)程的效率和準(zhǔn)確性。
項(xiàng)目的核心在于實(shí)現(xiàn)測(cè)試流程
2023-12-09 20:37:39
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括三類(lèi)：ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測(cè)試功能由測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn)，而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則是機(jī)械功能，將被測(cè)晶圓/芯片揀選至測(cè)試機(jī)進(jìn)行檢測(cè)。
2023-12-04 17:30:33770 ATE測(cè)試需要根據(jù)測(cè)試目標(biāo)和項(xiàng)目設(shè)計(jì)測(cè)試程序，并且準(zhǔn)備測(cè)試用到的測(cè)試儀器，比如示波器、萬(wàn)用表、頻譜分析儀等，連接測(cè)試儀器和待測(cè)品，通過(guò)ate測(cè)試設(shè)備控制并進(jìn)行測(cè)試，并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析，生成數(shù)據(jù)報(bào)告。
2023-11-24 14:51:28322 
DRAM測(cè)試發(fā)生在晶圓探針和封裝測(cè)試。最終組裝的封裝、終端系統(tǒng)要求和成本考慮推動(dòng)了測(cè)試流程，包括ATE要求和相關(guān)測(cè)試內(nèi)容。
2023-11-22 16:52:11909 
開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)開(kāi)關(guān)電源測(cè)試而開(kāi)發(fā)的一種智能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，打破傳統(tǒng)測(cè)試程序與缺陷，滿足客戶新的測(cè)試需求，助力客戶解決測(cè)試難點(diǎn)，順利完成開(kāi)關(guān)電源測(cè)試，提高測(cè)試效能。那么開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試方案的流程是什么呢?
2023-11-22 16:37:11379 
ATE(Automatic Test Equipment)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是用于檢測(cè)電子產(chǎn)品、電氣設(shè)備的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，是電測(cè)行業(yè)首選的一種測(cè)試方式，被廣泛應(yīng)用于通信、消費(fèi)電子、汽車(chē)電子、智能家居、半導(dǎo)體、電源模塊、醫(yī)療電子、航天航空等領(lǐng)域。
2023-11-16 14:31:24782 
據(jù)傳感器專(zhuān)家網(wǎng)獲悉，近日，和林微納在接受機(jī)構(gòu)調(diào)研時(shí)表示，線針、MEMS晶圓測(cè)試探針均進(jìn)入部分客戶驗(yàn)證環(huán)節(jié)。 和林微納進(jìn)一步稱(chēng)，半導(dǎo)體探針業(yè)務(wù)受行業(yè)及經(jīng)濟(jì)環(huán)境等綜合影響，營(yíng)業(yè)收入較往年有較大的變化
2023-11-16 08:38:47229 飛針式測(cè)試儀是對(duì)傳統(tǒng)針床在線測(cè)試儀的一種改進(jìn)，它用探針來(lái)代替針床，在 X-Y 機(jī)構(gòu)上裝有可分別高速移動(dòng)的4 個(gè)頭共8 根測(cè)試探針，測(cè)試間隙為0.2mm。工作時(shí)在測(cè)單元（UUT， unit under
2023-11-14 15:16:54210 電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何進(jìn)行電源模塊測(cè)試？ 電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是用于對(duì)電源模塊進(jìn)行測(cè)試和驗(yàn)證的一種設(shè)備。它能夠根據(jù)預(yù)設(shè)的測(cè)試要求，自動(dòng)完成各項(xiàng)測(cè)試任務(wù)，并給出測(cè)試結(jié)果和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。下面將詳細(xì)介紹電源自動(dòng)測(cè)試
2023-11-09 09:30:22414 開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)能測(cè)試的指標(biāo)都有什么？ 開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種用于對(duì)開(kāi)關(guān)電源進(jìn)行全面測(cè)試和評(píng)估的設(shè)備，它可以測(cè)試許多關(guān)鍵性能指標(biāo)以確保開(kāi)關(guān)電源的可靠性和穩(wěn)定性。下面將詳細(xì)介紹開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試
2023-11-09 09:18:32413 led電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何提高測(cè)試效率？ LED電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種用于測(cè)試LED電源的設(shè)備，其作用是通過(guò)自動(dòng)化的方式對(duì)LED電源進(jìn)行各項(xiàng)功能和性能的測(cè)試。使用LED電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可以提高測(cè)試
2023-11-09 09:12:04494 在選擇電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)類(lèi)型之前，首先需要了解被測(cè)電源產(chǎn)品的類(lèi)型。
2023-11-03 14:35:16255 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE)對(duì)PLL（鎖相環(huán)）進(jìn)行測(cè)試時(shí)，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）中的重要性。
2023-11-01 15:43:10683 
ATE/ATS：自動(dòng)測(cè)試設(shè)備/自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，也稱(chēng)測(cè)試機(jī)是測(cè)試工程師在IC測(cè)試中必須使用的工具，本文主要從技術(shù)層面對(duì)ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要求進(jìn)行了簡(jiǎn)明扼要的論述，以便測(cè)試工程師了解
2023-10-30 10:58:29552 
包括屏幕顯示有無(wú)壞點(diǎn)的情況，需要自動(dòng)測(cè)試
2023-10-30 08:40:47
電機(jī)型式試驗(yàn)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹：電機(jī)型式試驗(yàn)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主要適用于異步、同步、直流等多種電機(jī)的型式試驗(yàn)，系統(tǒng)主要包括試驗(yàn)電源、負(fù)載裝置、控制系統(tǒng)、測(cè)量單元及數(shù)據(jù)分析管理軟件，其各項(xiàng)性能指標(biāo)符合
2023-10-28 13:07:10
對(duì)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)進(jìn)行分析、判斷；同時(shí)具備統(tǒng)計(jì)、存儲(chǔ)，打印年、月、日?qǐng)?bào)表等功能?？深A(yù)置全部被測(cè)電機(jī)參數(shù)，以備檢測(cè)時(shí)用。一、主要特點(diǎn)1、檢測(cè)項(xiàng)目：直流電阻、絕緣電阻、匝間測(cè)
2023-10-28 10:30:18
STM32的完整啟動(dòng)流程分析
2023-10-25 16:00:29553 
ATE-8601電源適配器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)現(xiàn)有硬件配置適用于AC輸入DC輸出之電源適配器之綜合性能測(cè)試，系統(tǒng)采用PC機(jī)內(nèi)嵌式結(jié)構(gòu)，WINOOWs軟件操作界面，軟件可以按客戶要求定制或功能升級(jí)，軟件
2023-10-07 17:06:41274 高壓與絕緣自動(dòng)測(cè)試是對(duì)產(chǎn)品安規(guī)性能檢測(cè)的一套測(cè)試系統(tǒng)，模擬產(chǎn)品受到高壓沖擊時(shí)的保護(hù)性能，支持AC交流耐壓、DC直流耐壓、IR絕緣阻抗測(cè)試，由測(cè)試軟件對(duì)儀器進(jìn)行控制，并按照程序執(zhí)行測(cè)試步驟。 功能特點(diǎn)
2023-10-07 16:31:59201 
后備電源（UPS）測(cè)試系統(tǒng)是一臺(tái)主要用于30W~800W以內(nèi)大功率的戶外電源同時(shí)測(cè)試測(cè)試的功能, 后備電源（UPS）測(cè)試系統(tǒng)是適合各種1臺(tái),以及大功率具備電池充放電等功能產(chǎn)品的電源產(chǎn)品的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
2023-10-07 16:26:58527 
同一平臺(tái)，支持多品牌儀表兼容互換。
◆ 安全性：按用戶進(jìn)行權(quán)限管理，權(quán)限細(xì)化到每個(gè)功能點(diǎn)及產(chǎn)品。
◆ 高效性：產(chǎn)品自動(dòng)測(cè)試用例的快速搭建，通過(guò)引入自動(dòng)化工裝、開(kāi)關(guān)矩陣實(shí)現(xiàn)一鍵測(cè)試，提升測(cè)試效率
2023-09-26 10:09:47
的技術(shù)理解，生產(chǎn)了可對(duì)沉積ITO薄膜后的太陽(yáng)能電池實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)掃描測(cè)量的美能四探針電阻測(cè)試儀，大大提高了太陽(yáng)能電池在產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)中的質(zhì)量檢測(cè)效率。本期「美能光伏」
2023-09-23 08:36:01299 
隨著電子產(chǎn)品的不斷發(fā)展，混合信號(hào)示波器作為一種重要的測(cè)試儀器，被廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備的開(kāi)發(fā)和維修過(guò)程中。在使用混合信號(hào)示波器進(jìn)行電源測(cè)試時(shí)，我們需要遵循一定的基本流程，以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。本文將從以下幾個(gè)方面詳細(xì)介紹混合信號(hào)示波器電源測(cè)試的基本流程。
2023-09-22 14:54:44573 
本帖最后由 howele 于 2023-9-20 15:27 編輯
系統(tǒng)介紹高壓與絕緣自動(dòng)測(cè)試是對(duì)產(chǎn)品安規(guī)性能檢測(cè)的一套測(cè)試系統(tǒng)，模擬產(chǎn)品受到高壓沖擊時(shí)的保護(hù)性能，支持AC交流耐壓、DC直流
2023-09-20 15:24:23
后備電源（UPS）測(cè)試系統(tǒng)是一臺(tái)主要用于30W~800W以內(nèi)大功率的戶外電源同時(shí)測(cè)試測(cè)試的功能, 后備電源（UPS）測(cè)試系統(tǒng)是適合各種1臺(tái),以及大功率具備電池充放電等功能產(chǎn)品的電源產(chǎn)品的自動(dòng)測(cè)試
2023-09-20 15:06:59
PW-US16T 探針式初粘力測(cè)試儀又叫探針式初粘力試驗(yàn)機(jī)(ProbeTackTester)，是膠帶初粘力測(cè)試的方式之一，主要用于各種膠帶、粘合劑類(lèi)等各種不同產(chǎn)品的初始粘著力測(cè)試，產(chǎn)品滿足ASTM
2023-09-19 16:17:03
制造工藝：制造高頻探針需要高度精密的工藝。通常，鎢粉與其他金屬粉末混合，然后通過(guò)拉拔機(jī)械等工藝加工成所需的尺寸和形狀。這確保了探針的尺寸精度和表面光滑度，以滿足高頻測(cè)試的要求。
2023-09-15 17:04:07527 
? 當(dāng)前T/R組件性能測(cè)試工作的主要測(cè)試流程及數(shù)據(jù)記錄已經(jīng)逐步實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化，但是產(chǎn)品更換、型號(hào)錄入以及接口插拔等輔助準(zhǔn)備工作仍由人工完成，且1人只能同時(shí)兼顧1個(gè)T/R組件產(chǎn)品的測(cè)試，耗費(fèi)人力較多
2023-09-08 09:10:03660 
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)之可測(cè)試性評(píng)估詳解
可測(cè)試性設(shè)計(jì)的定性標(biāo)準(zhǔn)：
測(cè)試費(fèi)用：
一測(cè)試生成時(shí)間
-測(cè)試申請(qǐng)時(shí)間
-故障覆蓋
一測(cè)試存儲(chǔ)成本(測(cè)試長(zhǎng)度)
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的一可用性
2023-09-01 11:19:34459 
"去嵌"是一種高頻測(cè)試中常用的技術(shù)，旨在消除測(cè)量中探針或連接線等外部元件的影響，以便更準(zhǔn)確地測(cè)量被測(cè)試器件的性能。
2023-08-28 15:39:241152 
近年來(lái)，隨著電池廠商對(duì)太陽(yáng)能電池生產(chǎn)的要求越來(lái)越高，在生產(chǎn)中太陽(yáng)能電池的效率和性能也愈發(fā)重要。為了更好的判斷太陽(yáng)能電池的效率和性能是否符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)，「美能光伏」研發(fā)了美能四探針電阻測(cè)試儀，可對(duì)
2023-08-26 08:36:01331 四探針電阻測(cè)試儀，憑借其超寬的測(cè)量范圍、超高的測(cè)量精度，以及多種測(cè)量方案等優(yōu)點(diǎn)，致力于在測(cè)量和檢驗(yàn)方面保證產(chǎn)品質(zhì)量。本期「美能光伏」給您介紹測(cè)量薄層電阻的四探針法！四
2023-08-24 08:37:061069 
奕葉最新四向毫米波探針臺(tái) 奕葉最新的四向毫米波探針臺(tái)在IMS2023展出。該產(chǎn)品具有四向毫米波針座搭建及可以滿足客戶的東南，西南
2023-08-23 16:51:04
奕葉四向毫米波探針臺(tái)
2023-08-23 14:21:22555 
LB-8600焊點(diǎn)推力測(cè)試機(jī)是一款多功能的自動(dòng)測(cè)試儀器，可應(yīng)用于常見(jiàn)的拉力和剪切力測(cè)試應(yīng)用。并根據(jù)不同的需求可搭配多種多樣的測(cè)試模塊，可支持最大剪切力值為500KG的推力測(cè)試。
2023-08-05 15:21:14553 
自動(dòng)測(cè)試芯片測(cè)試座：自動(dòng)測(cè)試座適用于自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，可以快速、準(zhǔn)確地測(cè)試大量芯片。芯片測(cè)試座可以分為以下幾種類(lèi)型：
2023-07-31 14:42:04441 PCB應(yīng)力測(cè)試報(bào)告測(cè)試模板，軟件操作簡(jiǎn)單，上手方便，適合廠快速測(cè)量并根據(jù)IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)一鍵自動(dòng)生成報(bào)告。對(duì)生產(chǎn)測(cè)試流程進(jìn)行完整的應(yīng)力測(cè)試分析，該系統(tǒng)在滿足常規(guī)的應(yīng)力數(shù)值分析、最大
2023-07-29 11:05:55
8 接口自動(dòng)化測(cè)試是指通過(guò)編寫(xiě)腳本或使用自動(dòng)化工具，對(duì)軟件系統(tǒng)的接口進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程。接口測(cè)試是軟件測(cè)試中的一種重要測(cè)試類(lèi)型，主要用于驗(yàn)證系統(tǒng)組件之間的通信和數(shù)據(jù)交換是否正常。通過(guò)接口自動(dòng)化測(cè)試可以快速發(fā)現(xiàn)接口中的問(wèn)題，并及時(shí)進(jìn)行修復(fù)，確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性，并最終提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
2023-07-28 14:54:181046 
飛針測(cè)試：用探針來(lái)取代針床，使用多個(gè)由馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的、能夠快速移動(dòng)的電氣探針同器件的引腳進(jìn)行接觸并進(jìn)行電氣測(cè)量。
2023-07-25 11:12:151419 半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是全球技術(shù)進(jìn)步的核心引擎，其成果無(wú)處不在，從我們的智能手機(jī)到現(xiàn)代交通工具，再到各種先進(jìn)的醫(yī)療設(shè)備。而在這一巨大產(chǎn)業(yè)中，每一個(gè)微小但至關(guān)重要的部分都需經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試，以確保其性能和可靠性。這就是半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備探針臺(tái)（通常稱(chēng)為“探針卡”或“探針臺(tái)”）發(fā)揮作用的地方。
2023-07-25 09:59:13747 
來(lái)源：半導(dǎo)體芯科技編譯 安全邊緣平臺(tái)結(jié)合了先進(jìn)的數(shù)據(jù)分析解決方案和優(yōu)化測(cè)試流程。 泰瑞達(dá)推出了Teradyne Archimedes分析解決方案，這是一種開(kāi)放式架構(gòu)，可為半導(dǎo)體測(cè)試帶來(lái)實(shí)時(shí)分析、優(yōu)化
2023-07-20 18:00:27362 工作條件下的輸出光功率，達(dá)到特定輸出光功率所需要的電流，斜線效率以及光譜特性等等。聯(lián)訊儀器CoC測(cè)試聯(lián)訊儀器全自動(dòng)CoC測(cè)試系統(tǒng)CT6201，與聯(lián)訊儀器BI6201老化
2023-07-20 00:00:00438 
行業(yè)調(diào)研數(shù)據(jù)顯示，芯片行業(yè)的產(chǎn)值和營(yíng)收一直在不斷提高，同時(shí)其地位受到大眾的關(guān)注。光刻機(jī)在芯片領(lǐng)域當(dāng)然獨(dú)占鰲頭，但一顆芯片的成功不只取決于光刻部分，測(cè)試對(duì)芯片的質(zhì)量更有不容忽視的意義。
2023-07-14 15:18:30255 
在改進(jìn)功能的同時(shí)提供高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的需求促使制造商轉(zhuǎn)向可靠且保證可重復(fù)性的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）。ATE可幫助制造商執(zhí)行多項(xiàng)準(zhǔn)確的測(cè)試并減少故障和錯(cuò)誤的發(fā)生率，從而比傳統(tǒng)的手動(dòng)測(cè)試方法更快地提供測(cè)試結(jié)果。
2023-06-29 15:14:25645 據(jù)《經(jīng)濟(jì)日?qǐng)?bào)》報(bào)道，芯片測(cè)試設(shè)備制造企業(yè)穎崴科技6月14日在高雄舉行了高雄第二工廠竣工儀式。公司方面表示：“為生產(chǎn)用于半導(dǎo)體測(cè)試的探針芯片，將于今年年底在臺(tái)元科技園區(qū)建設(shè)新工廠。將擴(kuò)大現(xiàn)有生產(chǎn)能力。”繼新工廠啟動(dòng)之后，預(yù)計(jì)明年將以探針卡業(yè)績(jī)加倍為目標(biāo)。
2023-06-15 10:31:42633 先進(jìn)的數(shù)字處理器IC要求通過(guò)單獨(dú)的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)測(cè)試，以達(dá)到質(zhì)保要求。這帶來(lái)了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文介紹 ADGM1001 SPDT MEMS開(kāi)關(guān)如何助力一次性通過(guò)
2023-06-14 15:04:51328 
磁場(chǎng)探針臺(tái)主要用于半導(dǎo)體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的電、磁學(xué)特性測(cè)試,能夠提供磁場(chǎng)或變溫環(huán)境,并進(jìn)行高精度的直流/射頻測(cè)量。
2023-06-08 11:04:23258 
單/雙通道消光比測(cè)試儀可獨(dú)立進(jìn)行偏振消光比測(cè)試、光功率測(cè)試、數(shù)字校準(zhǔn)、自動(dòng)選擇量程，配備 USB(RS232) 接口，編寫(xiě)上位機(jī)軟件可自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)測(cè)試、 記錄、分析，可方便地組成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。 廣泛應(yīng)用于光通信設(shè)備、光纖、光無(wú)源器件與光有源器件的測(cè)試，功率范圍寬、測(cè)試精度高、性價(jià)比高、可靠性好。
2023-06-01 16:58:460 單/雙通道消光比測(cè)試儀可獨(dú)立進(jìn)行偏振消光比測(cè)試、光功率測(cè)試、數(shù)字校準(zhǔn)、自動(dòng)選擇量程，配備 USB(RS232) 接口，編寫(xiě)上位機(jī)軟件可自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)測(cè)試、 記錄、分析，可方便地組成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。 廣泛應(yīng)用于光通信設(shè)備、光纖、光無(wú)源器件與光有源器件的測(cè)試，功率范圍寬、測(cè)試精度高、性價(jià)比高、可靠性好。
2023-06-01 09:42:39119 
。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。探針臺(tái)的功能都有哪些？1.集成電路失效分析2.晶圓可靠性認(rèn)證3.元器件特性量測(cè)4.塑性過(guò)程測(cè)試(材料特性分析)5.制程監(jiān)控6.IC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試7.液晶面板
2023-05-31 10:29:33
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的制造流程上，主要可分成IC設(shè)計(jì)、晶圓制程、晶圓測(cè)試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測(cè)試，就是對(duì)晶圓上的每顆晶粒進(jìn)行電性特性檢測(cè)，以檢測(cè)和淘汰晶圓上的不合格晶粒。 下面我們一起來(lái)了解一下半導(dǎo)體晶圓測(cè)試的核心耗材——探針卡，以及探針卡與LTCC/HTCC技術(shù)有著怎樣的聯(lián)系。
2023-05-26 10:56:55732 
這些簡(jiǎn)單而通用的3 LED邏輯探針電路可用于測(cè)試數(shù)字電路板，如CMOS、TTL或類(lèi)似電路板，以排除IC和相關(guān)級(jí)的邏輯功能故障。
2023-05-18 17:36:48979 
Multisim的虛擬測(cè)試儀器中還有電流探針，模擬鉗式電流表，其原理是電流互感器原理。與傳統(tǒng)電流表不一樣，鉗式電流表不需要串聯(lián)接入電路中，而只需要將其前端的鉗子（電流夾）打開(kāi)，使得待測(cè)電流導(dǎo)線與鉗子相互環(huán)繞，利用變壓器變電流的原理測(cè)量電流。其特點(diǎn)就是可以實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量。
2023-05-18 11:26:007273 
力和時(shí)間，而且容易出現(xiàn)誤差。因此，開(kāi)發(fā)適配器電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)已成為必要。 電源適配器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種基于計(jì)算機(jī)技術(shù)和傳感器技術(shù)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以對(duì)適配器電源進(jìn)行全自動(dòng)化測(cè)試，包括電壓、電流、功率
2023-05-17 14:31:05453 
就微型探針而言，已經(jīng)研究了避免誤差的自動(dòng)定位技術(shù)。量化并控制傾斜誤差，對(duì)于利用微懸臂梁優(yōu)化自動(dòng)化探針測(cè)試至關(guān)重要。然而，后者的研究還沒(méi)有考量潛在的微型MEMS探針的機(jī)械柔韌性。微懸臂梁可用于制造各種微型電氣探針，包括射頻探針。
2023-05-17 09:51:30500 
電子設(shè)備測(cè)試的復(fù)雜性差異很大，從最簡(jiǎn)單的類(lèi)型（手動(dòng)測(cè)試）到最復(fù)雜的大型自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）。手動(dòng)測(cè)試通常需要在特定配置中設(shè)置DVM、示波器和其他設(shè)備。當(dāng)要測(cè)試的設(shè)備類(lèi)型發(fā)生變化時(shí)，通常需要更改測(cè)試
2023-05-16 11:39:24549 
晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:142362 
探針卡是半導(dǎo)體晶圓測(cè)試過(guò)程中需要使用的重要零部件，被認(rèn)為是測(cè)試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測(cè)試電流、測(cè)試機(jī)臺(tái)有所不同，針對(duì)不同的芯片都需要有定制化的探針卡
2023-05-08 10:38:273459 
晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885 
一個(gè)自動(dòng)化的測(cè)試流程。
2023-05-04 17:48:400 質(zhì)量問(wèn)題后，很難立刻找到問(wèn)題點(diǎn)以及問(wèn)題根源。在歐洲以及美國(guó)等地已經(jīng)逐漸變?yōu)?b class="flag-6" style="color: red">自動(dòng)/半自動(dòng)化測(cè)試。因?yàn)楦哳l線纜受到環(huán)境的干擾影響較大，測(cè)量過(guò)程中應(yīng)盡量減少人為因素對(duì)于測(cè)量的干擾?！ SAT-1000射頻無(wú)源器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)能
2023-04-27 18:14:462 ◆NSAT-8000電源模塊自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)利用可編程直流電源為被測(cè)電源模塊供電，用可編程直流電子負(fù)載模擬各種負(fù)載條件，完成對(duì)各類(lèi)電源模塊的一體化自動(dòng)化測(cè)試，并依照指定格式在本地保存測(cè)試報(bào)告。該系
2023-04-27 17:52:552 平臺(tái)型多通道消光比測(cè)試儀可獨(dú)立進(jìn)行偏振消光比測(cè)試、光功率測(cè)試、插損變化測(cè)試等，配備 USB(RS232) 接口，上位機(jī)軟件可自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)測(cè)試、 記錄、分析，可方便地組成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。 廣泛應(yīng)用于光通信設(shè)備、光纖、光無(wú)源器件與光有源器件的測(cè)試，功率范圍寬、測(cè)試精度高、性價(jià)比高、可靠性好。
2023-04-25 17:35:450 濾波器自動(dòng)化測(cè)試是一種利用頻譜分析儀自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)來(lái)測(cè)試濾波器性能的方法。濾波器自動(dòng)化測(cè)試可以在較短時(shí)間內(nèi)對(duì)多種濾波器類(lèi)型進(jìn)行測(cè)試，包括低通濾波器、高通濾波器、帶通濾波器和帶阻濾波器等。測(cè)試
2023-04-25 17:11:10713 
捉到，從而造成芯片燒壞。本篇文章納米軟件小編將帶大家全方位了解IC芯片測(cè)試流程及IC芯片自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)。 一、集成電路芯片的測(cè)試（ICtest）分類(lèi)： 1、晶圓測(cè)試（wafertest） 是在晶圓從晶圓廠生產(chǎn)出來(lái)后，切割減薄之前的測(cè)試。其
2023-04-25 15:13:122065 
0.05級(jí)標(biāo)準(zhǔn)表進(jìn)行讀數(shù)密封測(cè)試數(shù)據(jù)，并自動(dòng)記錄、存儲(chǔ)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，根據(jù)指令打印原始記錄或檢定證書(shū)。完全實(shí)現(xiàn)一鍵自動(dòng)測(cè)試過(guò)程。
2023-04-21 15:46:04356 
自動(dòng)化測(cè)試框架，即是應(yīng)用于自動(dòng)化測(cè)試所用的框架。按照框架的定義，自動(dòng)化測(cè)試框架要么是提供可重用的基礎(chǔ)自動(dòng)化測(cè)試模塊，如：selenium 、watir等，它們主要提供最基礎(chǔ)的自動(dòng)化測(cè)試功能，比如打開(kāi)一個(gè)程序，模擬鼠標(biāo)和鍵盤(pán)來(lái)點(diǎn)擊或操作被測(cè)試對(duì)象
2023-04-18 14:44:48536 思達(dá)科技多年來(lái)致力在MEMS探針的技術(shù)研發(fā)，持續(xù)推出先進(jìn)的測(cè)試探針卡，以滿足各種行業(yè)的產(chǎn)業(yè)測(cè)試需求，Virgo Prima系列是專(zhuān)為微型化程序IC而設(shè)計(jì)，用在產(chǎn)線WAT（晶圓驗(yàn)收）/ 電性測(cè)試
2023-04-13 11:24:371156 多為手動(dòng)操作儀器讀數(shù)記錄，不僅耗費(fèi)人力和時(shí)間，也容易出現(xiàn)操作失誤或數(shù)據(jù)誤判。
本文設(shè)計(jì)的基于GPIB總線的變頻器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)則實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化測(cè)試功能，系統(tǒng)通過(guò)GPIB總線將所需的儀器及射頻開(kāi)關(guān)矩陣
連接到計(jì)算機(jī)上，操作人員完
2023-04-07 11:15:540 后按小板進(jìn)行測(cè)試，目前常用都是自動(dòng)測(cè)試機(jī)，所以效率很高，節(jié)省時(shí)間。飛針測(cè)試的子流程主要有3個(gè)。1.做測(cè)試資料。根據(jù)客戶原稿制作生產(chǎn)資料，以避免用生產(chǎn)稿而生產(chǎn)稿與原稿偶有不一致導(dǎo)致的漏測(cè)。測(cè)試。飛針測(cè)試
2023-03-31 11:41:43
如圖，第十道主流程為電測(cè)。 電測(cè)的目的：電測(cè)又叫電氣性能測(cè)試、功能測(cè)試或開(kāi)短路測(cè)試等，主要是對(duì)PCB的網(wǎng)絡(luò)通過(guò)測(cè)試治具或測(cè)試針接觸網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試點(diǎn)位進(jìn)行開(kāi)短路檢測(cè)，將壞板挑選出來(lái)。是PCB生產(chǎn)過(guò)程
2023-03-31 11:39:47692 
后按小板進(jìn)行測(cè)試，目前常用都是自動(dòng)測(cè)試機(jī)，所以效率很高，節(jié)省時(shí)間。飛針測(cè)試的子流程主要有3個(gè)。1.做測(cè)試資料。根據(jù)客戶原稿制作生產(chǎn)資料，以避免用生產(chǎn)稿而生產(chǎn)稿與原稿偶有不一致導(dǎo)致的漏測(cè)。測(cè)試。飛針測(cè)試
2023-03-30 18:19:47
隨著科技的發(fā)展，電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)成為電子行業(yè)的重要組成部分。電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種用于測(cè)試電源性能的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，它可以自動(dòng)檢測(cè)電源的輸入電壓、輸出電壓、輸出電流、輸出功率、輸出頻率等參數(shù)
2023-03-28 16:24:511149 
電子設(shè)備測(cè)試的復(fù)雜性差異很大，從最簡(jiǎn)單的類(lèi)型（手動(dòng)測(cè)試）到最復(fù)雜的大型自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）。在簡(jiǎn)單的手動(dòng)測(cè)試和大規(guī)模ATE之間，是低預(yù)算和中等規(guī)模的測(cè)試，這是本應(yīng)用筆記的重點(diǎn)。這些類(lèi)型的測(cè)試系統(tǒng)
2023-03-28 11:45:111040 
高頻探針卡是芯片、晶圓測(cè)試中的重要工具，它可以將高頻信號(hào)從芯片中提取出來(lái)并進(jìn)行分析，是芯片、晶圓測(cè)試世界中的神器。
2023-03-27 14:41:431524 電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)NSAT-8000的優(yōu)勢(shì)在于，可以有效地提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本。電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的準(zhǔn)確性高，可以有效提升產(chǎn)品質(zhì)量。此外，電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)還可以提高工作效率，減少人為錯(cuò)誤。電源自動(dòng)測(cè)試
2023-03-24 17:06:10555 
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