有源探頭低電流/電容測試高壓模塊激光修復(fù)高清數(shù)字相機探針卡/封裝/PCB板夾具Hot Chuck防震桌屏蔽箱兼容測試儀器各種型號示波器 各種品牌型號的源表安捷倫B1500、安捷倫4155、安捷倫
2020-02-10 14:28:15
測試中我們利用40GHz頻率范圍的N5244A PNA-X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和PLTS物理層分析軟件，能夠?qū)?b class="flag-6" style="color: red">探針的性能做全方位的測試和分析，從而作為判斷探針質(zhì)量的一個依據(jù)。首先利用PNAX和電子校準(zhǔn)件
2019-07-18 08:14:37
`射頻探針是通過安裝在測試治具上，一端與射頻線纜組件配合連接測試儀器，另一端與客戶的被測物連接，檢查被測件的信號傳輸性能；產(chǎn)品測試端采用非標(biāo)準(zhǔn)接口，連接點采用射頻連接器的標(biāo)準(zhǔn)接口，具有使用頻率高
2019-07-25 14:21:01
N32替換STM32記錄前言目前大形勢影響，芯片價格日益上漲，采購周期變長，導(dǎo)致國產(chǎn)芯片替代進口芯片成為大趨勢，該文章記錄了使用國民技術(shù)的N32替換STM32的操作流程。話不多說，上步驟。一、工程
2022-02-22 06:35:29
）與待測芯片（DUT）的物理 “神經(jīng)中樞”，ATE 測試板（涵蓋負(fù)載板、探針卡 PCB 等核心品類）的性能表現(xiàn)，直接左右著測試數(shù)據(jù)的真?zhèn)巍?b class="flag-6" style="color: red">測試效率的高低，更深刻影響著芯片的最終量產(chǎn)良率。它早已超越傳統(tǒng)
2025-12-15 15:09:09
內(nèi)存和外存的區(qū)別是什么？SD卡啟動流程是怎樣的?
2021-10-18 07:58:11
ICT測試治具的使用通常需要用到探針，而探針是電測試的接觸媒介，是一種高端精密型電子五金元器件。那么ICT測試治具的探針類型主要有哪幾種呢？選用探針主要是根據(jù)ict測試治具線路板的中心距和被測點
2016-02-23 11:26:56
ICT測試治具的使用通常需要用到探針，而探針是電測試的接觸媒介，是一種高端精密型電子五金元器件。那么ICT測試治具的探針類型主要有哪幾種呢？選用探針主要是根據(jù)ict測試治具線路板的中心距和被測點
2016-02-23 13:50:27
四探針電阻率測試儀測試四探針筆的方法是什么？使用四探針電阻率測試儀有哪些注意事項？
2021-05-08 07:12:20
提供測試探針及各類Socket，有需要的聯(lián)系***
2021-12-15 11:55:24
1：影響探針使用壽命的主要因素測試探針的行程是否過壓，是否存在側(cè)面力介入，通過的測試電流是否大于額定值等等2：怎么使用能使探針的壽命最大化測試探針按照推薦的使用行程使用，保證探針在設(shè)備上是垂直伸縮
2019-07-22 17:39:39
射頻探針是通過安裝在測試治具上，一端與射頻線纜組件配合連接測試儀器，另一端與客戶的被測物連接，檢查被測件的信號傳輸性能；產(chǎn)品測試端采用非標(biāo)準(zhǔn)接口，連接點采用射頻連接器的標(biāo)準(zhǔn)接口，具有使用頻率高、機械
2019-12-18 17:32:00
，具有虛擬COM端口和多路橋接功能，燒寫性能是上一代探針的三倍，產(chǎn)品價格具市場競爭力，節(jié)省應(yīng)用開發(fā)時間，簡化設(shè)備現(xiàn)場重新編程流程。除提供典型的JTAG /串行線調(diào)試（SWD）和單線接口模塊（SWIM
2018-10-11 13:53:03
現(xiàn)在測試治具中，探針是作為一個媒介，探針放在套管里，探針頭接觸待測物，另一端的套管引出線將信號傳導(dǎo)出去，接收回來的信號在測試機里處理，比如電阻利用電流源計算探針兩端的壓降，電容以定電壓源不同頻率去
2016-07-05 16:20:11
顯微鏡和體式顯微鏡，顯微鏡X-Y-Z移動范圍2.5英寸，移動精度1um可搭配4~8顆探針座，進行DC或者高頻測試可選附件射頻測試探頭及電纜有源探頭低電流/電容測試高壓模塊激光修復(fù)高清數(shù)字相機探針卡/封裝
2020-03-28 12:14:08
`芯片失效分析探針臺測試簡介：可以便捷的測試芯片或其他產(chǎn)品的微區(qū)電信號引出功能，支持微米級的測試點信號引出或施加，配備硬探針和牛毛針，宜特檢測實驗室可根據(jù)樣品實際情況自由搭配使用，外接設(shè)備可自由搭配
2020-10-16 16:05:57
`特點/應(yīng)用 ◆ 2至6英寸樣品臺◆ 高真空腔體◆ 防輻射屏設(shè)計，樣品溫度均勻性更好◆ 77K-675K高低溫環(huán)境◆ 兼容IV/CV/RF測試◆ 外置多探針臂，移動行程大◆ 經(jīng)濟實用，可無縫升級
2020-03-20 16:17:48
該系列文章的第一部分介紹了電網(wǎng)換相換流器（LCC）。在這部分中，我將討論電壓源換流器（VSC）并比較兩種拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。VSC目前已成為首選實施對象，原因如下：VSC具有較低的系統(tǒng)成本，因為它們的配站
2019-03-22 06:45:12
給大家推薦一款國產(chǎn)RF射頻測試探針（6代RF測試探針）6代RF測試探針 6代射頻探針采用SMPM接口進行線纜轉(zhuǎn)接，同時自帶浮動裝置，彈簧內(nèi)置保護，使用更順暢。我們的射頻探針法蘭寬度為
2022-04-19 18:29:31
奧納科技主要為客戶提供各種RF射頻測試探針，也叫高頻探針。我們針對第6代USS天線插座定制了一款測試探針，型號為21340019601。主要是針對日本村田MURATA品牌的MM6829-2700
2022-06-02 14:51:12
介紹了基于故障字典的電路故障診斷系統(tǒng)設(shè)計及故障定位過程，提出了針對固定型故障的簡化探針測試點集合的流域覆蓋法的思想，在分析單固定型故障和多固定型故障的基礎(chǔ)上
2009-08-28 11:14:30
9 選擇用于阻抗測試的最佳IP探針:使用Polar CITS或其它TDR探針測量阻抗時，選擇尤為重要。本應(yīng)用說明將討論如何選擇最佳探針并澄清可能存在的誤區(qū)。
是否有適用于所有阻抗
2009-10-08 08:24:049 移動性管理流程分析:移動性管理流程分析6.1 概述6.2 前向切換流程6.2.1 概述6.2.2 小區(qū)更新6.2.3 URA更新6.2.4 CELL UPDATE消息6.2.5 URA UPDATE消息6.3 軟切換流程6.3.1
2009-11-28 17:55:3515 摘 要： 本文介紹了在斜置式方形探針測試系統(tǒng)中，如何應(yīng)用圖像識別技術(shù)來判定探針在微區(qū)的位置，進而控制步進電機，使探針自動定位成方形結(jié)構(gòu)，從而保證測試的準(zhǔn)確性
2006-03-24 13:13:33
990 
在我國的靶場測控領(lǐng)域，所有的數(shù)據(jù)交換都是基于簡化版的HDLC規(guī)程進行的，因此我們自行研制開發(fā)了基于簡化HDLC規(guī)程的通信卡。簡化HDLC規(guī)程主要是為了提高通信的實時性，將HDLC
2009-02-17 10:43:02885 
Cypress全新套件簡化LCD驅(qū)動應(yīng)用設(shè)計流程
Cypress Semiconductor公司推出兩款評估套件，可簡化LCD Segment驅(qū)動裝置設(shè)計流程，提供了PSoC 3架構(gòu)容易上手、快速設(shè)計時程以及高彈
2009-12-01 08:33:281039 通常，參數(shù)測試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測器件（DUT），然后測量該器件對于此輸入信號的響應(yīng)。這些信號的路徑為：從測試儀通過電纜束至測試頭，再通過測試頭至探針卡，然后
2012-03-28 11:36:189133 高效設(shè)計：簡化工程師設(shè)計流程
2017-01-24 17:21:0410 PCBA測試一般根據(jù)客戶的測試方案制定具體的測試流程，基本的PCBA測試流程如下：程序燒錄→ICT測試→FCT測試→老化測試。
2019-05-23 17:00:3318975 實際上，飛針測試可以作為飛針測試的升級，飛針測試儀利用探針替換釘床。飛針測試儀沿XY軸配備四個接頭，可以高速移動。
2019-08-02 16:08:1625859 10月30日消息，半導(dǎo)體測試探針卡領(lǐng)導(dǎo)廠商—思達科技，今天宣布推出新款測試探針卡—思達牡羊座Aries Sigma-M。此系列探針卡是采用微電子機械系統(tǒng)工藝制造的微懸臂式測試探針卡 ，主要是針對圖像
2019-10-30 15:30:134832 什么是探針？探針其實就是一種高端精密型的電子元件，主要應(yīng)用于手機等電子產(chǎn)品中，起連接作用。文中介紹的測試探針相當(dāng)于一個媒介，測試時可用探針的頭部去接觸待測物，另一端則用來傳導(dǎo)信號，進行電流的傳輸
2020-03-30 14:26:236418 探針是什么？探針是一個多義詞，在不同的領(lǐng)域中，探針的含義和作用也不相同。那么到底探針是什么呢？主要可以分為以下幾類： 信息探測工具 探針是什么？作為信息探測工具來說，探針卡是一種測試接口，主要對裸芯
2020-03-30 14:27:2730308 換流變壓器保護功能配置的流程：
2020-06-18 14:24:492413 PCB探針是電測試的接觸謀介，屬于重要的電子部件，是電子元器件連接導(dǎo)電的載體。PCB探針廣泛用于測試PCBA的一種數(shù)據(jù)傳送，導(dǎo)電接觸，通過探針導(dǎo)電傳輸功能體的數(shù)據(jù)判斷產(chǎn)品是否正常接觸以及運作數(shù)據(jù)正常。
2020-07-25 11:38:226298 HC-Z4 直線四探針電阻率測試儀，包含直線直線四探針夾具、雙探針自動切換開關(guān)和測試軟件組成。使用時需要有一臺計算機安裝測試軟件，可以通過 R232 串行接口、以太網(wǎng)接口、USB 口和 GPIB
2021-05-06 09:20:2754 眾所周知，季豐歷年來推出了多款平臺的探針卡公板，涵蓋了多種測試機平臺，如：93K、J750HD、J750、Chroma3360/3380、D10、ETS364等，客戶使用體驗良好，能夠兼容各種
2021-12-17 16:53:4210649 集成電路測試是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的重要組成部分。在對集成電路進行在片測試時，需要對整個晶圓進 行測試。文中以 Cascade Summit 12000 半自動探針臺為例，設(shè)計一個由計算機、探針臺、單片機
2022-06-02 10:04:415408 內(nèi)部抽成真空后，對晶圓上的芯片加上壓力、聲、振動、液體、溫度等影響因素，在這些因素環(huán)境中進行電性能 測試，對測試芯片的優(yōu)劣進行判斷。那么真空探針臺的測試流程以及要點是怎樣的那，下面我們進行一個簡單的介紹。
2022-06-06 10:44:303169 測試效率是探針臺除定位精度外的一個重要 指標(biāo)。探針臺用戶希望在保證精度、穩(wěn)定性的前提 下，最大限度地提高探針臺的測試效率，來縮短生 產(chǎn)周期，降低成本。本文將從分析探針臺自動測試 的流程入手，提出幾種
2022-06-06 10:50:072011 FormFactor最近發(fā)布了新上市的Altius?垂直MEMS探針卡，旨在解決與2.5 / 3D先進封裝技術(shù)相關(guān)的晶圓測試問題。先進封裝技術(shù)的使用范圍正在快速擴大，這得益于經(jīng)典摩爾定律和晶體管體積
2022-06-06 10:53:181797 。 Altius探針卡用于滿足測試高端邏輯和硅中介層應(yīng)用的挑戰(zhàn)性需求。憑借溜冰鞋形的探針尖端，45 um的螺距能力，低阻力和漏電，當(dāng)今市場上全球領(lǐng)先的性能最高的商用邏輯器件制造商都選擇Altius針卡。 Altius探針卡主要特征： 最小柵格陣列間距為45 μm 超低探
2022-06-07 15:24:05963 圓測試提出了重大的挑戰(zhàn)。例如，晶圓測試面臨著嚴(yán)格的電氣性能要求，而且焊盤間距、密度和探針壓力持續(xù)調(diào)整，這些組合起來以降低成本和縮短周轉(zhuǎn)時間，從而滿足消費終端的市場需求。 FormFactor 擁有業(yè)界最廣泛的非存儲器型晶圓測試探針卡
2022-06-09 15:05:361152 TrueScale 探針卡概述 為了滿足消費者對于低價、低功耗和高連接性的便攜式計算產(chǎn)品的需求，半導(dǎo)體行業(yè)加快了工藝和封裝技術(shù)的發(fā)展。 雖然尖端半導(dǎo)體技術(shù)為低成本和低功耗應(yīng)用提供了重要優(yōu)勢，但是它們
2022-06-13 09:50:51872 Vx-MP 探針卡概述 ? ? 為了滿足消費者對于低價、低功耗和高連接性的便攜式計算產(chǎn)品的需求，半導(dǎo)體行業(yè)加快了工藝和封裝技術(shù)的發(fā)展。 ? ? 雖然尖端半導(dǎo)體技術(shù)為低成本和低功耗應(yīng)用提供了重要優(yōu)勢
2022-06-13 10:06:04888 Parametric 系列 Pyramid 探針卡概述 Parametric 系列 Pyramid 探針卡是高性價比的測試解決方案，兼容所有主流的參數(shù)測試機平臺，實現(xiàn) 65 nm 和 45 nm等
2022-06-13 10:06:36780 Katana-RF 探針卡概述 Katana-RF 探針卡能滿足最高10 GHz 頻率的射頻芯片和對寄生電感敏感的芯片的測試要求， 其特點是出色的信號完整性、極低的寄生電感及較長的使用壽命
2022-06-13 10:09:15966 Pyrana 探針卡概述 對于高達 10 GHz 的 RF 器件和對電感敏感的應(yīng)用，Pyrana 探針卡提供了出色的信號完整性、低寄生電感及較長使用壽命。Pyrana 探針卡整合了 Katana
2022-06-13 10:11:231036 RFIC 的高可靠性、低成本、較長時間壽命的生產(chǎn)測試，確保高重復(fù)穩(wěn)定的測量結(jié)果，這對于實現(xiàn)高良率測試是至關(guān)重要的。Pyramid-MW 探針卡采用光刻法技術(shù)制造出超級耐磨的細(xì)小的針尖結(jié)構(gòu)（用于探測較小
2022-06-13 10:12:04775 高級精細(xì)的工具簡化了超低溫測試 低溫工具軟件是一種Velox應(yīng)用程序，通過控制真空泵和冷卻液參數(shù)，可在極端環(huán)境中進行精確的晶圓上測量。它是為低溫探針臺系統(tǒng)開發(fā)的，可以測試冷卻紅外傳感器和需要低溫
2022-06-24 18:15:411357 
隨著晶圓尺寸的增大和同時測量 DUT 的增加，對具有巨大布線能力的大型探針卡 PCB 的需求也在增長。FICT為最先進的設(shè)備的晶圓測試提供各種無存根 VIA 結(jié)構(gòu)和高速傳輸技術(shù)。
2022-07-15 10:45:262989 晶圓探針測試也被稱為中間測試（中測），是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測試的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來以節(jié)約封裝費用。
2022-08-09 09:21:105464 以上6種粉末材料在使用兩種測試方法測得的電阻率均隨壓力的增大而呈現(xiàn)遞減趨勢，且趨勢一致（如圖2左圖）。取90MPa壓強下的電阻率值進行對比分析，GR/LFP/LRM/PBF/LCO四探針測試結(jié)果均小于兩探針的測試結(jié)果
2022-09-22 11:52:276272 探針卡是由探針（probe pin）、電子元件（component）、線材（wire）與印刷電路板（PCB）組成的一種測試接口，根據(jù)不同的情況，還會有電子元件、補強板（Stiffener）等的需求，主要對裸芯進行測試，即wafer level測試。
2022-10-17 17:44:423888 單插入測試，以幫助進行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試，從而降低測試成本，簡化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)（SoC）的測試流程。
2022-11-30 09:39:211510 測試一：先將網(wǎng)分與線纜校準(zhǔn)后，然后連接兩個探針測試DUT，將兩個探針的S參數(shù)、兩個探針+DUT的整體S參數(shù)分別導(dǎo)出，然后使用PLTS校準(zhǔn)軟件將探針本身S參數(shù)去嵌，得到單獨DUT的S參數(shù)。
2022-12-08 15:55:4212491 得益于MEMS探針卡技術(shù)的創(chuàng)新，F(xiàn)ormFactor的產(chǎn)品可以幫助客戶實現(xiàn)全流程的KGD測試（例如支持45μm柵格陣列間距微凸點測試的Altius探針卡，用于高速HBM和Interposer插入
2022-12-19 15:03:291231 在ICT或者FCT測試中，治具上的探針總歸會測試到一定的壽命時候變得臟污，造成測試不通，通常的情況下也許探針本身的彈性和力量還是比較好的狀態(tài)，但是因為臟污的存在造成針頭和被測試物的接觸形成很大的電阻
2022-12-28 10:15:323800 
測試探針工作在測試夾具板上，與安裝的探針針套相配合。探針通過壓縮到工作行程與PCB上的元件接觸，然后接觸器將PCB信號從探針傳到安裝在接收板上的終端。 根據(jù)零件的不同，夾具設(shè)計人員可以選擇相應(yīng)的探針
2022-12-30 09:49:142478 
晶圓探針測試也被稱為中間測試（中測），是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測試的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來以節(jié)約封裝費用。
2023-01-04 16:11:502872 隨著集成電路的快速發(fā)展，許多電氣和汽車應(yīng)用都采用了大電流功能。如何安全有效地測試這類產(chǎn)品正在成為一個新的挑戰(zhàn)。 我們還開發(fā)了大電流測試探針，通常用于測試大型充放電設(shè)備。 從參數(shù)特性來看，要傳遞的電流
2023-01-10 08:40:053888 
探針卡（Probe card）或許很多人沒有聽過，但看過關(guān)于，也就是晶圓測試方面文章的人應(yīng)該不會陌生，其中就有提到過探針卡。
2023-02-27 17:48:495297 高頻探針卡是芯片、晶圓測試中的重要工具，它可以將高頻信號從芯片中提取出來并進行分析，是芯片、晶圓測試世界中的神器。
2023-03-27 14:41:433757 思達科技多年來致力在MEMS探針的技術(shù)研發(fā)，持續(xù)推出先進的測試探針卡，以滿足各種行業(yè)的產(chǎn)業(yè)測試需求，Virgo Prima系列是專為微型化程序IC而設(shè)計，用在產(chǎn)線WAT（晶圓驗收）/ 電性測試
2023-04-13 11:24:373010 晶圓測試的方式主要是通過測試機和探針臺的聯(lián)動，在測試過程中，測試機臺并不能直接對待測晶圓進行量測，而是透過探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:022340 
探針卡是半導(dǎo)體晶圓測試過程中需要使用的重要零部件，被認(rèn)為是測試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測試電流、測試機臺有所不同，針對不同的芯片都需要有定制化的探針卡
2023-05-08 10:38:278672 
晶圓測試的方式主要是通過測試機和探針臺的聯(lián)動，在測試過程中，測試機臺并不能直接對待測晶圓進行量測，而是透過探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:145904 
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的制造流程上，主要可分成IC設(shè)計、晶圓制程、晶圓測試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測試，就是對晶圓上的每顆晶粒進行電性特性檢測，以檢測和淘汰晶圓上的不合格晶粒。 下面我們一起來了解一下半導(dǎo)體晶圓測試的核心耗材——探針卡，以及探針卡與LTCC/HTCC技術(shù)有著怎樣的聯(lián)系。
2023-05-26 10:56:552504 
近日，浙江微針半導(dǎo)體有限公司宣布，其2D CMOS圖像傳感器（CIS）MEMS探針卡產(chǎn)品已成功交付給國內(nèi)頭部CIS公司，公司2D MEMS探針卡進入量產(chǎn)階段！
2023-06-02 16:42:091657 據(jù)《經(jīng)濟日報》報道，芯片測試設(shè)備制造企業(yè)穎崴科技6月14日在高雄舉行了高雄第二工廠竣工儀式。公司方面表示：“為生產(chǎn)用于半導(dǎo)體測試的探針芯片，將于今年年底在臺元科技園區(qū)建設(shè)新工廠。將擴大現(xiàn)有生產(chǎn)能力?！崩^新工廠啟動之后，預(yù)計明年將以探針卡業(yè)績加倍為目標(biāo)。
2023-06-15 10:31:421459 供應(yīng)電連ECT品牌Mini RF Test Cable Series（測試探針與測試線纜）
2022-03-02 11:40:112346 
了解RF射頻測試座的用途及如何選擇合適的測試探針
2023-02-24 11:03:173057 
5代IPEX天線座專用測試探針，同時兼容4代天線座。
使用壽命大于10000次。
測試性能穩(wěn)定。
2023-03-15 14:19:043837 
通過RA MCU和微型ROS簡化機器人設(shè)計流程
2023-10-24 17:55:261402 
針對目前主流使用的RF射頻測試座與USS天線插座進行射頻測試時如何匹配合適的射頻探針進行選型推薦，歡迎交流合作。
2021-10-11 17:21:0340 便攜式光伏組件測試儀簡化光伏組件測試流程，提高測試效率。它基于光伏效應(yīng)原理，通過測量輸出電流和電壓變化來計算光伏組件的輸出功率和效率。測試儀小巧便攜，操作簡單，高可靠，在光伏能源行業(yè)中發(fā)揮重要作用。
2023-12-14 14:48:512053 作為芯片晶圓測試階段的重要工具之一，探針卡在不斷更新迭代。為滿足更高需求的晶圓測試，針卡類型也逐漸從懸臂針卡向垂直針卡升級。
2024-01-25 10:29:2115546 
探針測試臺是一種用于測試集成電路（IC）的設(shè)備，工作原理是將待測試的IC芯片安裝在測試座上，然后通過探針接觸到芯片的引腳，以測試芯片的功能和性能。在測試過程中，探針測試臺會生成一系列的測試信號，通過
2024-02-04 15:14:195565 近日，上海韜盛科技旗下的蘇州晶晟微納宣布推出其最新研發(fā)的N800超大規(guī)模AI算力芯片測試探針卡。這款高性能探針卡采用了前沿的嵌入式合金納米堆疊技術(shù)，旨在滿足當(dāng)前超大規(guī)模AI算力芯片的高精度測試需求。
2024-03-04 13:59:121846 在用NSAT-1000系統(tǒng)測試時，實現(xiàn)了測試系統(tǒng)與ACCRETECH探針臺和網(wǎng)絡(luò)分析儀之間的通訊，通過探針臺獲取產(chǎn)品狀態(tài)、位置信息，配合網(wǎng)絡(luò)分析儀完成產(chǎn)品測試。
2024-03-25 16:07:22984 
水凝膠電導(dǎo)率測試常用四探針法進行測試，優(yōu)勢在于分離電流和電壓電極，消除布線及探針接觸電阻的阻抗影響。
2024-04-01 11:19:342738 
開關(guān)電源測試涉及的項目較多，因此，采用一套易于操作和便于維護的測試系統(tǒng)至關(guān)重要，簡化整個測試流程，提高測試效率，讓測試更便捷。NSAT-8000電源綜合測試系統(tǒng)適用于AC-DC、DC-DC電源模塊
2024-04-17 11:38:26900 
在光伏行業(yè)的競爭日益激烈的今天，優(yōu)化制造流程和提升產(chǎn)品質(zhì)量成為關(guān)鍵。美能在線四探針方阻測試儀，通過其自動化與無損檢測技術(shù)，為光伏電池制造提供了革命性的解決方案該設(shè)備不僅大幅提高了生產(chǎn)效率，而且確保了
2024-04-20 08:32:452014 
探針間距是指在電路板測試過程中，探針之間的中心到中心距離。在理想情況下，電路板應(yīng)使用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的100mil彈簧探針進行測試。
2024-04-26 16:07:572439 
探針卡是晶圓功能驗證測試的關(guān)鍵工具，通常是由探針、電子元件、線材與印刷電路板（PCB）組成的一種測試接口，主要對裸die進行測試。探針卡上的探針與芯片上的焊點或者凸起直接接觸，導(dǎo)出芯片信號，再配
2024-05-11 08:27:301802 
NSAT-1000射頻測試系統(tǒng)在ATECLOUD測試平臺基礎(chǔ)上開發(fā)而成，具有強大的兼容性，可以靈活快速接入設(shè)備，自動識別儀器，探針臺就是其中之一。平臺會封裝探針臺的儀器指令，對其進行兼容，以此實現(xiàn)對探針臺的程控。
2024-07-18 17:50:271175 
開爾文探針測試（Kelvin Probe Force Microscopy，KPFM）是一種非接觸式表面電勢測量技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、表面科學(xué)、納米技術(shù)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。KPFM技術(shù)通過測量探針
2024-08-27 15:29:147981 探針頭型的選擇尺寸是一個復(fù)雜的過程，需要考慮多個因素，包括被測點的形狀、大小、間距、測試環(huán)境以及測試要求等。以下是一些選擇探針頭型尺寸的基本原則和步驟： 一、基本原則 測量精度 ：首先，需要明確測試
2024-09-07 10:48:182355 探針式溫度計，也稱為溫度探頭或熱電偶，是一種用于測量溫度的設(shè)備。它們廣泛應(yīng)用于工業(yè)、醫(yī)療和科學(xué)領(lǐng)域。以下是使用探針式溫度計的正確流程的概述： 選擇合適的探針式溫度計 ： 根據(jù)測量需求選擇合適的溫度
2024-09-07 10:51:383064 類型、觸點尺寸可選，可通用適配多種探針臺、探針臂，適用于微波集成電路在片測試、管結(jié)參數(shù)提取、MEMS產(chǎn)品測試及片上天線測試等領(lǐng)域。 編輯 ? 技術(shù)指標(biāo) 微波測量探針 編輯 ? 編輯 審核編輯 黃宇
2024-11-27 17:28:53865 
尼得科精密檢測科技株式會社的子公司尼得科SV Probe，近日正式推出了兩款創(chuàng)新產(chǎn)品，以滿足市場對高電壓、大電流功率半導(dǎo)體檢測需求的日益增長。 第一款產(chǎn)品是半導(dǎo)體設(shè)備溫度測量探針卡“TC(熱電偶
2024-12-18 14:08:561226 在高溫電阻測試儀的四探針法中，探針的間距對測量結(jié)果確實存在影響，但這一影響可以通過特定的測試方法和儀器設(shè)計來最小化或消除。 探針間距對測量結(jié)果的影響 在經(jīng)典直排四探針法中，要求使用等間距的探針進行
2025-01-21 09:16:111240 
在炭黑生產(chǎn)與應(yīng)用的各個環(huán)節(jié)，精準(zhǔn)把控其性能至關(guān)重要，而炭黑電阻率是衡量質(zhì)量與應(yīng)用潛力的關(guān)鍵指標(biāo)。兩探針粉末電阻率測試儀憑借獨特技術(shù)與高效檢測能力，在炭黑測試中發(fā)揮著不可或缺的作用。 一、工作原理
2025-03-21 09:16:34825 
探針卡, WAT,PCM測試
2025-06-26 19:23:17673 在半導(dǎo)體芯片的制造流程中，探針可以對芯片進行性能檢驗；在新材料研發(fā)的實驗室中，探針與樣品表面的納米級接觸，解鎖材料的電學(xué)、光學(xué)特性；在生物研究室中，探針正在以極快且細(xì)微的運動對細(xì)胞進行穿透。這些精密
2025-07-10 08:49:29632 
視頻卡頓分析流程
2025-11-10 16:55:120 ATE的探針卡，在晶圓測試中被稱為定海神針，有著不可替代價值，那么在設(shè)計和生產(chǎn)階段有哪些注意事項，點開今天的文章，有你需要的答案。
2025-12-15 15:07:36228 
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