比利時(shí)微電子(IMEC)在2016國(guó)際電子元件會(huì)議(IEEE International Electron Devices Meeting ; IEDM)中首度提出由硅納米線垂直堆疊的環(huán)繞式閘極(GAA)金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效電晶體(MOSFETs)的CMOS集成電路,其關(guān)鍵技術(shù)在于雙功率金屬閘極,使得n型和p型裝置的臨界電壓得以相等,且針對(duì)7納米以下技術(shù)候選人,IMEC看好環(huán)繞式閘極納米線電晶體(GAA NWFET)會(huì)雀屏中選。
比利時(shí)微電子研究中心與全球許多半導(dǎo)體大廠、系統(tǒng)大廠均為先進(jìn)制程和創(chuàng)新技術(shù)的合作伙伴;其中,在CMOS先進(jìn)邏輯微縮技術(shù)研究的關(guān)鍵伙伴包括有臺(tái)積電、三星電子(Samsung Electronics)、高通(Qualcomm)、GlobalFoundries、美光(Micron)、英特爾(Intel)、SK海力士(SK Hynix)、Sony、華為等。
針對(duì)半導(dǎo)體7納米以下制程,究竟誰(shuí)可以接棒FinFET技術(shù)?比利時(shí)微電子研究中心表示,目前看起來(lái)環(huán)繞式閘極納米線電晶體(GAA NWFET)是最有可能成功突破7納米以下FinFET制程的候選人。
比利時(shí)微電子進(jìn)一步分析,因?yàn)镚AA NWFET擁有高靜電掌控能力,可以實(shí)現(xiàn)CMOS微縮,在水平配置中,也是目前主流FinFET技術(shù)的自然延伸,可以通過(guò)垂直堆疊多條水平納米線來(lái)最大化每個(gè)覆蓋區(qū)的驅(qū)動(dòng)電流。
再者,比利時(shí)微電子研究中心也研究新的結(jié)構(gòu)對(duì)于原來(lái)靜電放電(ESD)表現(xiàn)的影響,且發(fā)表靜電放電防護(hù)二極體,讓GAA納米MOSFETs的發(fā)展有突破,間接幫助鰭式場(chǎng)效電晶體(FinFET)持續(xù)往更先進(jìn)制程技術(shù)發(fā)展。
2016年比利時(shí)微電子研究中心展示了垂直堆疊、由直徑8納米的硅納米線所制成的GAA FET,這些電晶體的靜電控制由n-FETs和p-FETs制作而成,具有n型和p型元件的相同臨界電壓,因?yàn)榉e體電路技術(shù)中的關(guān)鍵是雙功函數(shù)金屬閘極的使用,使得n-FET和p-FET的臨界電壓得以獨(dú)立設(shè)置。
且在該步驟中,P型功函數(shù)金屬(PWFM)在所有元件中的溝槽式閘極使用,然后使用選擇性蝕刻P型功函數(shù)金屬到納米結(jié)晶性鉿氧化物(HfO2)到n-FET,隨后利用N型功函數(shù)金屬。
另外,針對(duì)關(guān)鍵靜電放電(ESD)影響,比利時(shí)微電子提出兩種不同的靜電放電防護(hù)二極管,分別為閘二極體和淺溝槽隔離(STI)二極體。其中,STI二極體因?yàn)樵诙伪罎?a href="http://www.brongaenegriffin.com/tags/電流/" target="_blank">電流(It2)與寄生電容的比率上表現(xiàn)較佳,所以認(rèn)為是較好的靜電放電防護(hù)元件。
再者,測(cè)量和TCAD模擬也證明,與塊狀基板式鰭式電晶體(Bulk FinFET)二極體相比,GAA納米線二極體維持了靜電放電的表現(xiàn)。
比利時(shí)微電子研究中心的邏輯裝置與積體電路總監(jiān)Dan Mocuta表示,在GAA硅質(zhì)CMOS技術(shù)、靜電放電防護(hù)結(jié)果方面的積體電路技術(shù),是實(shí)現(xiàn)7納米或以下制程的重要成就。
圖1-(a) PWFM 被 n-FET 蝕刻后的 Top View 掃描電子顯微鏡(SEM)影像,和 (b) p-FET和 n-FET 在制程結(jié)束后的穿透式電子顯微鏡(TEM)影像 (LG = 30nm)
*〈搭載雙功函數(shù)金屬柵極的垂直堆棧環(huán)繞式柵極(GAA)硅納米 CMOS 晶體管〉H. Mertens 等,IEDM 2016
**〈以本體硅環(huán)繞式柵極垂直堆棧之水平納米線技術(shù)中的靜電放電二極管〉S.-H. Chen 等,IEDM 2016
延伸閱讀:臺(tái)積電7nm制程新技術(shù),速度提升4倍
在12月3~7日于美國(guó)舉行的IEEE國(guó)際電子元件會(huì)議上,臺(tái)積電宣布以其最新版3D FinFET電晶體,可用于生產(chǎn)更新一代智能手機(jī)及其他移動(dòng)裝置處理器的首個(gè)全新7納米制程技術(shù),借此正式加入全球7納米制程技術(shù)競(jìng)爭(zhēng)戰(zhàn)場(chǎng),并彰顯其較英特爾更快的制程技術(shù)進(jìn)展,顯示晶圓代工廠。。.
OFweek電子工程網(wǎng)訊 據(jù)海外媒體報(bào)道,即使近年摩爾定律(Moore’s Law)進(jìn)展速度趨緩,但全球各家芯片制造商仍持續(xù)開發(fā)新一代制程技術(shù)。在12月3~7日于美國(guó)舉行的IEEE國(guó)際電子元件會(huì)議(IEDM)上,臺(tái)積電宣布以其最新版3D FinFET電晶體,可用于生產(chǎn)更新一代智能手機(jī)及其他移動(dòng)裝置處理器的首個(gè)全新7納米制程技術(shù),借此正式加入全球7納米制程技術(shù)競(jìng)爭(zhēng)戰(zhàn)場(chǎng),并彰顯其較英特爾(Intel)更快的制程技術(shù)進(jìn)展,顯示晶圓代工廠具備的技術(shù)優(yōu)勢(shì)。
根據(jù)科技網(wǎng)站ZD Net及EETimes報(bào)導(dǎo),臺(tái)積電為了展示7納米制程技術(shù),在會(huì)議中介紹一款由7納米制程生產(chǎn)的全功能256MB SRAM測(cè)試芯片,據(jù)稱該芯片存儲(chǔ)器細(xì)胞(Memory Cell)尺寸僅0.027平方微米,可提供相較于現(xiàn)有16納米FinFET制程高達(dá)4成的性能速度提升,以及高達(dá)65%的功耗節(jié)省。
臺(tái)積電7納米制程技術(shù)采用當(dāng)前的193納米浸潤(rùn)式微影技術(shù)(Immersion Lithography),與三星、GlobalFoundries以及IBM等競(jìng)爭(zhēng)業(yè)者宣布的7納米制程技術(shù),是采用新型態(tài)極紫外光微影技術(shù)(EUV)有所差異。有鑒于EUV技術(shù)至少要等到2018~2019年以后才可能見(jiàn)到量產(chǎn)就緒,因此要等到EUV技術(shù)成熟問(wèn)世可能仍需一段時(shí)間,不過(guò)EUV具備成本降低等優(yōu)勢(shì)。
值得注意的是,臺(tái)積電7納米制程技術(shù)并非與目前最新的10納米制程技術(shù)做比較,而是與16納米進(jìn)行規(guī)格比較,這意謂臺(tái)積電等于一次跳了2個(gè)甚至3個(gè)制程世代達(dá)7納米技術(shù)水準(zhǔn)。臺(tái)積電在會(huì)中也透露,該公司7納米制程SRAM良率已達(dá)50%,外媒分析稱這是值得注意的成就。
外界多半認(rèn)為10納米只是一個(gè)壽命短的過(guò)渡制程技術(shù),目前三星電子(Samsung Electronics)已開始以10納米制程量產(chǎn),首款10納米處理器可能將于2017年初發(fā)布;GlobalFoundries計(jì)劃直接跳過(guò)10納米,直攻7納米制程技術(shù),并計(jì)劃將從2018年初開始進(jìn)行7納米制程風(fēng)險(xiǎn)生產(chǎn)。
臺(tái)積電則計(jì)劃從2016年第4季開始采10納米制程技術(shù)量產(chǎn),預(yù)計(jì)2017年底才會(huì)見(jiàn)到7納米制程導(dǎo)入生產(chǎn),臺(tái)積電強(qiáng)調(diào),該公司正將重心放在協(xié)助客戶盡速面向市場(chǎng)推出7納米芯片產(chǎn)品。
由此快速的制程技術(shù)進(jìn)展步伐,也意謂晶圓代工廠商已在半導(dǎo)體制程技術(shù)上取得技術(shù)領(lǐng)先優(yōu)勢(shì),如英特爾已延后10納米生產(chǎn)進(jìn)程,并預(yù)計(jì)2017年底以后才會(huì)發(fā)布首款桌上型電腦(DT)處理器“Cannonlake”。作為此進(jìn)程延后下的過(guò)渡權(quán)宜策略,英特爾改發(fā)布采14納米制程的Kaby Lake處理器。
另外,雖然ASML的EUV系統(tǒng)至今仍僅在量產(chǎn)前的發(fā)布階段,不過(guò)臺(tái)積電已宣布自有5納米制程節(jié)點(diǎn)將開始采用EUV技術(shù)。
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