導(dǎo)通電阻測(cè)試就是用來檢測(cè)導(dǎo)線或連線情況是否正常的一種方法，是指兩個(gè)導(dǎo)體間在一定電壓下通過的電流所引起的電壓降之比，通俗的說就是導(dǎo)線通電后的電阻值。芯片引腳導(dǎo)通性測(cè)試是一個(gè)必要的步驟，用于驗(yàn)證和檢測(cè)芯片引腳之間的連接是否正確，以確保芯片的正常工作。

具體測(cè)試過程與方法

芯片引腳導(dǎo)通性測(cè)試的目的是檢測(cè)芯片引腳之間的電氣連通是否良好，測(cè)試可以幫助工程師們確定芯片是否正常，以及在產(chǎn)品中使用期間是否會(huì)出現(xiàn)連接問題。

導(dǎo)通電阻測(cè)試

首先，在進(jìn)行芯片引腳導(dǎo)通性測(cè)試之前，工程師們需要準(zhǔn)備好測(cè)試所需的設(shè)備和工具。有測(cè)試臺(tái)柜、測(cè)試儀器、測(cè)試座、測(cè)試夾具治具、測(cè)試程序等。在選擇測(cè)試設(shè)備和工具時(shí)，需要考慮測(cè)試的精度和穩(wěn)定性，以確保測(cè)試結(jié)果的可靠性。同時(shí)，還需要根據(jù)芯片的設(shè)計(jì)特點(diǎn)和測(cè)試要求來確定適合的測(cè)試方法和策略。

其次，芯片引腳導(dǎo)通性測(cè)試的過程需要根據(jù)具體的芯片設(shè)計(jì)和連接結(jié)構(gòu)來確定，這些測(cè)試步驟包括引腳電壓測(cè)試、引腳電流測(cè)試、引腳開關(guān)測(cè)試等。

在進(jìn)行引腳電壓測(cè)試時(shí)，測(cè)試儀器會(huì)通過接觸引腳并施加一定的電壓，然后檢測(cè)是否有電流通過引腳。如果有電流通過，則說明引腳連通正常;如果沒有電流通過，則說明引腳存在連接問題。引腳電壓測(cè)試可以幫助工程師們了解芯片內(nèi)部各個(gè)模塊的工作狀態(tài)。引腳電阻測(cè)試是用來檢測(cè)芯片引腳之間的電阻情況。

最后，測(cè)試儀器會(huì)通過接觸引腳并施加一定的電流，然后測(cè)量引腳電壓，通過測(cè)量電壓降和電流值，根據(jù)歐姆定律，可以計(jì)算出引腳之間的電阻大小。引腳電阻測(cè)試可以幫助工程師們確定引腳連接是否存在異常。

ATECLOUD-IC測(cè)試系統(tǒng)如何進(jìn)行導(dǎo)通電阻測(cè)試?

使用ATECLOUD進(jìn)行芯片導(dǎo)通電阻測(cè)試的步驟如下：

連接測(cè)試設(shè)備，登錄ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)。

創(chuàng)建測(cè)試項(xiàng)目，項(xiàng)目名稱為導(dǎo)通電阻測(cè)量。

在右側(cè)添加本次測(cè)試需要用到的測(cè)試儀器數(shù)字萬用表，電子負(fù)載，可編程直流電源，并對(duì)其型號(hào)進(jìn)行配置。ATECLOUD平臺(tái)支持市場(chǎng)主流品牌商儀器，支持20+儀器種類，支持2000+儀器型號(hào)，用戶可直接在儀器庫(kù)進(jìn)行儀器名稱的搜索即可添加。

搭建測(cè)試工步，ATECLOUD云測(cè)試平臺(tái)采用圖標(biāo)拖拽測(cè)試流程代替編程語言，讓用戶可以快速上手，快速進(jìn)行測(cè)試工步的搭建工作。

啟動(dòng)測(cè)試，輸入產(chǎn)品編號(hào)后，啟動(dòng)測(cè)試，即可看到隨時(shí)間變化數(shù)字萬用表與電子負(fù)載自動(dòng)測(cè)量電壓值與電流值，系統(tǒng)自動(dòng)根據(jù)歐姆定律計(jì)算出電阻值，通過數(shù)據(jù)洞察功能，數(shù)值模式可自由切換圖表模式，即可實(shí)時(shí)顯示電阻值的曲線圖。

導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告，測(cè)試報(bào)告靈活定義，可實(shí)現(xiàn)報(bào)告自動(dòng)取數(shù)，報(bào)告自動(dòng)生成。在測(cè)試報(bào)告需要重新設(shè)計(jì)時(shí)，可快速自定義修改，脫離對(duì)開發(fā)的依賴，提高效率，降低成本!

ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)

關(guān)于納米軟件

納米軟件作為國(guó)內(nèi)知名的測(cè)試儀器軟件服務(wù)開發(fā)商，在測(cè)試行業(yè)深耕十余年，專注于電源模塊與IC芯片測(cè)試，為上千家用戶提供可靠的測(cè)試系統(tǒng)及解決方案。此外納米還開發(fā)設(shè)計(jì)了國(guó)內(nèi)首款智能云測(cè)試平臺(tái)ATECLOUD，填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)測(cè)試軟件行業(yè)的空白。

審核編輯：湯梓紅