盲孔顯微鏡主要用于對各種材料和器件中的“盲孔/埋孔”進行放大觀察、測量和缺陷分析，典型場景集中在PCB、電路封裝、半導體和精密機械等行業(yè)。作為國內(nèi)領先的PCB測量儀器、智能檢測設備等專業(yè)解決方案
2026-01-05 17:25:54
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鏡面鋁憑借優(yōu)異反光性能，廣泛應用于照明設備、汽車及建筑裝飾等領域，是鋁加工行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要方向。光子灣科技深耕精密檢測技術領域，研發(fā)的共聚焦顯微鏡可精準觀測材料表面的微觀形貌。為優(yōu)化鏡面鋁表面光
2025-12-25 18:04:4565 
金相顯微鏡是一種專門用于觀察和分析金屬及其合金微觀結(jié)構(gòu)的顯微鏡。它通過高倍放大的光學系統(tǒng)，幫助用戶研究材料的金相組織、晶粒大小、相分布、缺陷（如裂紋、氣孔）以及其它微觀特征。目前行業(yè)內(nèi)公認的國、內(nèi)外
2025-12-25 16:27:49683 
共聚焦顯微成像技術憑借其優(yōu)異的光學切片能力和三維分辨率，已成為微觀結(jié)構(gòu)觀測與表面形貌測量中的重要工具。下文，光子灣科技將系統(tǒng)梳理共聚焦顯微鏡的核心組成與關鍵掃描方式，并探討其在材料檢測、工業(yè)集成等
2025-12-23 18:02:121039 金相分析是揭示金屬材料微觀組織結(jié)構(gòu)、建立其與性能間關聯(lián)的核心技術。傳統(tǒng)光學顯微鏡受限于景深與分辨率，難以應對粗糙表面及三維結(jié)構(gòu)的精準表征。光子灣科技的共聚焦顯微鏡憑借其光學切片與三維成像能力，為金相
2025-12-18 18:05:52110 系統(tǒng)梳理二者的差異，為科研與工業(yè)領域的相關工作者提供清晰的參考。#Photonixbay.成像原理與光學路徑共聚焦原理示意圖傳統(tǒng)顯微鏡：主要基于透射或反射光學原理。
2025-12-12 18:03:34304 無損檢測技術是現(xiàn)代工業(yè)質(zhì)量控制與安全評估中不可或缺的一環(huán)，它能夠在不對材料或構(gòu)件造成破壞的前提下，檢測其內(nèi)部或表面的缺陷，從而保障產(chǎn)品的可靠性與安全性。在各種無損檢測方法中，水浸超聲掃描顯微鏡
2025-12-04 14:08:29144 
掃描隧道顯微鏡，利用量子隧道效應，獲取樣本表面立體形狀，是研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)外貌的利器。用戶希望構(gòu)建一套靈活可重構(gòu)的電子學系統(tǒng)，通過軟件快速原型技術，設計性能更好，適用材料更廣的掃描隧道顯微鏡。
2025-11-27 10:03:17319 
顯示異常。光子灣科技的共聚焦顯微鏡可憑借高分辨率、三維成像及非破壞性檢測優(yōu)勢，成為OLED面板研發(fā)與量產(chǎn)中不可或缺的檢測設備，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供關鍵技術支撐。#P
2025-11-18 18:04:15265 中的典型應用，為相關研究提供參考。#Photonixbay.共聚焦顯微鏡的工作原理共聚焦顯微鏡的工作光路示意圖共聚焦顯微鏡系統(tǒng)由激光光源、照明針孔、分光鏡、物鏡、探測針
2025-11-13 18:09:27358 在工業(yè)制造領域，質(zhì)量檢測是保障產(chǎn)品可靠性、提升市場競爭力的關鍵環(huán)節(jié)。然而，傳統(tǒng)檢測設備往往受限于固定的工作空間和復雜的操作流程，難以滿足現(xiàn)代工業(yè)靈活、高效、現(xiàn)場化的檢測需求。如今，隨著便攜式顯微鏡
2025-11-12 15:44:36480 
超景深顯微鏡是顯微成像領域的關鍵技術突破，通過特殊光學設計與先進圖像處理算法，實現(xiàn)大景深成像，單一視場即可獲取整體清晰的樣本圖像，大幅提升顯微觀察的精準度與效率。超景深技術通過采集多焦平面圖像，經(jīng)
2025-11-11 18:03:411211 共聚焦顯微鏡作為一種高分辨率三維成像工具，已在半導體、材料科學等領域廣泛應用。憑借其精準的光學切片與三維重建功能，研究人員能夠獲取納米尺度結(jié)構(gòu)的高清圖像。下文，光子灣科技將系統(tǒng)解析共聚焦顯微鏡的核心
2025-11-04 18:05:19470 的失效機理。
#芯片分析 #熱成像 #失效分析 #漏電測試 #紅外顯微鏡 #MOS管#iv曲線
致晟光電每一次定位、每一張熱像，
都在推動失效分析往更精準、更科學的方向邁進
2025-10-31 16:08:331256 
梳理共聚焦顯微鏡不同主分光裝置的原理與性能，為相關領域研究提供設備技術應用參考。#Photonixbay.共聚焦顯微鏡為何需要“分光”？共聚焦顯微鏡的主分光裝置共聚
2025-10-30 18:04:56790 介觀物鏡，因其具有復雜的光學結(jié)構(gòu)和出色的像差優(yōu)化，可以實現(xiàn)高NA和超大成像FOV，顯著提高光學顯微鏡成像通量的特點而被人們熟知。介觀顯微物鏡可用于廣域成像系統(tǒng)、激光共焦掃描成像系統(tǒng)和雙光子成像等系統(tǒng)
2025-10-29 11:06:07239 
在現(xiàn)代微觀分析檢測技術體系中，共聚焦顯微鏡與熒光顯微鏡是支撐材料科學、工業(yè)質(zhì)檢及生命科學領域的核心成像工具。二者均以熒光信號為檢測基礎實現(xiàn)特異性標記成像，但光學設計、性能指標及應用場景的差異，決定了
2025-10-23 18:05:15783 共聚焦顯微鏡（LSCM）的核心優(yōu)勢源于其針孔效應。該效應基于光的衍射與共軛聚焦原理，通過空間濾波實現(xiàn)焦平面信號的精準捕獲，徹底改變了傳統(tǒng)光學顯微鏡的成像局限。其本質(zhì)是利用針孔對光路進行選擇性篩選
2025-10-21 18:03:16438 共聚焦顯微鏡作為半導體、材料科學等領域的重要成像設備，其核心優(yōu)勢在于突破傳統(tǒng)光學顯微鏡的焦外模糊問題。光子灣科技深耕光學測量領域，其共聚焦顯微鏡技術優(yōu)勢落地為亞微米級精準測量、高對比度成像的實際能力
2025-10-16 18:03:20384 半導體制造工藝中，經(jīng)晶棒切割后的硅晶圓尺寸檢測，是保障后續(xù)制程精度的核心環(huán)節(jié)。共聚焦顯微鏡憑借其高分辨率成像能力與無損檢測特性，成為檢測過程的關鍵分析工具。下文，光子灣科技將詳解共聚焦顯微鏡檢測硅晶
2025-10-14 18:03:26448 科技和微電子領域發(fā)揮著越來越重要的作用。然而，很多人對它的工作原理存在疑問：它究竟是反射顯微鏡還是透射顯微鏡？顯微鏡技術的變化要理解聚焦離子束顯微鏡的特性，我們首先需要回
2025-10-13 15:50:25452 
在微觀檢測領域，傳統(tǒng)顯微鏡常受限于景深較短的問題，難以同時清晰呈現(xiàn)樣品不同深度的結(jié)構(gòu)細節(jié)，而超景深顯微鏡憑借獨特的技術優(yōu)勢，有效突破這一局限，廣泛應用于材料科學、電子制造等領域。深入理解其工作原理
2025-10-09 18:02:14519 在科學研究與分析測試領域，顯微鏡無疑是不可或缺的利器，被譽為“科學之眼”。它使人類能夠探索肉眼無法分辨的微觀世界，為材料研究、生物醫(yī)學、工業(yè)檢測等領域提供了關鍵技術支持。面對不同的研究需求，如何選擇
2025-09-28 23:29:24801 
共聚焦顯微鏡的核心使用技巧圍繞“如何優(yōu)化成像質(zhì)量”展開，涵蓋四大關鍵內(nèi)容：一是成像參數(shù)的動態(tài)調(diào)控，需在亮度、分辨率與成像速度間找到適配平衡；二是針對弱熒光、易淬滅等不同特性的樣品，提供差異化拍攝策略
2025-09-25 18:03:18690 共聚焦顯微鏡是一種先進的光學成像設備，其設計核心在于通過消除離焦光，顯著提升顯微圖像的分辨率與對比度。與傳統(tǒng)顯微鏡不同，共聚焦顯微鏡采用點照明技術與空間針孔結(jié)構(gòu)，僅聚焦于樣本的單個平面，該特性使其在
2025-09-23 18:03:471147 分享一個在熱發(fā)射顯微鏡下（Thermal EMMI) 芯片失效分析案例，展示我們?nèi)绾瓮ㄟ^ IV測試 與 紅外熱點成像，快速鎖定 IGBT 模組的失效點。
2025-09-19 14:33:022288 
在現(xiàn)代科研與高端制作領域，微觀探索依賴高分辨率成像技術，共聚焦顯微鏡與電子顯微鏡是其中的核心代表。在微觀檢測中，二者均突破傳統(tǒng)光學顯微鏡局限，但在原理、性能及應用場景上差異顯著，適配不同領域的需求
2025-09-18 18:07:56724 VT6000精密共聚焦顯微鏡結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設計和3D重建算法，共同組成測量系統(tǒng)，主要用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細節(jié)更清晰更微細
2025-09-17 16:00:33
共聚焦顯微鏡作為微觀檢測領域的核心技術工具，憑借獨特的“點照明”機制與三維成像能力，突破了傳統(tǒng)寬場顯微鏡成像模糊、對比度低的局限，廣泛應用于半導體、鋰電、航天航空等工業(yè)領域。本文光子灣科技將從
2025-09-16 18:05:111384 目前，固體顆粒沖蝕研究多集中于航空航天與設備工程領域，針對玻璃研究較少，現(xiàn)有玻璃沖蝕研究多停留在宏觀層面，微觀損傷機理分析不足。光子灣科技深耕高端光學精密測量技術，其共聚焦顯微鏡可清晰捕捉材料表面
2025-09-09 18:02:56475 共聚焦顯微鏡由顯微鏡光學系統(tǒng)、激光光源、掃描器及檢測及處理系統(tǒng)4部分組成，采用相干性較好的激光作為光源，在傳統(tǒng)光學顯微鏡基礎上采用共軛聚焦原理和裝置，并利用計算機對圖像進行處理的一套觀察、分析和輸出
2025-09-04 18:02:151797 ，簡單高效。光子灣科技超景深顯微鏡在材料微觀觀測與評估中表現(xiàn)優(yōu)異，可為高端領域工藝優(yōu)化提供支撐。本文以碳鋼氨基漆激光除漆為對象，結(jié)合超景深顯微鏡觀測技術，通過正交試驗
2025-09-02 18:02:51681 VT6000材料顯微成像共聚焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量?？蓽y各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等
2025-09-02 13:57:44
橡膠密封件作為核心密封部件，廣泛應用于汽車、航空航天、液壓設備及機械制造行業(yè)，其密封可靠性直接影響設備運行穩(wěn)定性。共聚焦顯微鏡憑借高精度表面三維成像能力，成為解析橡膠磨損機理的關鍵工具。光子灣科技專
2025-08-28 18:07:58604 陶瓷定位技術，則以其天生的納米基因，成為了探索微觀世界不可或缺的“舞者”。 一、挑戰(zhàn)極限：為何需要納米級運動？ · 光學顯微鏡的對焦與像差校正 ：需要移動透鏡組實現(xiàn)納米步進的精確對焦。 · · 掃描電子顯微鏡（ SEM）
2025-08-27 09:01:49476 很多人以為穿透式電子顯微鏡ＴＥＭ就是倍率比較高的掃描式電子顯微鏡ＳＥＭ，但其實ＴＥＭ擁有許多強大的應用，是科技業(yè)不可或缺的研發(fā)檢測工具。
2025-08-26 09:37:251665 VT6000材料三維輪廓共聚焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等
2025-08-25 11:27:20
項技術的核心挑戰(zhàn)之一，便是在原子冷凍的狀態(tài)下，也能實現(xiàn)極高的成像精度。 一、冷凍電子顯微鏡：窺探原子結(jié)構(gòu)的眼睛 冷凍電子顯微鏡（Cryo-electron microscopy，簡稱cryo-EM）是一種利用電子顯微鏡觀察生物大分子、病毒、細胞等樣品的尖
2025-08-22 08:55:441036 
VT6000三維表面形貌共聚焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量?？蓽y各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等
2025-08-21 14:45:15
NPI周期=設計速度×制造精度×反饋速度。盲孔顯微鏡把“精度”和“反饋”同時拉滿，PCB制造商才能在5G、AiP、車載板等高端市場搶到首發(fā)權(quán)。
2025-08-16 11:26:16683 共聚焦顯微鏡之所以能在生命科學、材料研究與半導體檢測領域成為重要的探索、研究工具，主要因為其三維層析成像的能力與其能達到亞細胞級分辨率的特點。共聚焦顯微鏡讓科研人員可以逐層拆解微觀世界，而壓電物鏡
2025-08-15 16:37:331885 
水系鋅離子電池（ZIBs）因成本低、安全性高、環(huán)境友好等優(yōu)勢，成為極具潛力的新型電化學儲能裝置，但鋅負極的枝晶生長、腐蝕等問題嚴重制約其發(fā)展。精準解析鋅負極表面結(jié)構(gòu)對優(yōu)化其性能至關重要，共聚焦顯微鏡
2025-08-14 18:05:511118 在科研實驗室和高端制造領域，電子顯微鏡是不可或缺的重要設備。這類精密儀器對電力供應的穩(wěn)定性和純凈度要求極高，任何電壓波動或電力中斷都可能導致設備損壞或數(shù)據(jù)丟失。因此，為電子顯微鏡配置合適的UPS
2025-08-14 09:00:00566 
高精度壓電納米位移臺：AFM顯微鏡的精密導航系統(tǒng)為生物納米研究提供終極定位解決方案在原子力顯微鏡（AFM）研究中，您是否常被這些問題困擾？→樣品定位耗時過長，錯過關鍵動態(tài)過程？→掃描圖像漂移失真
2025-08-13 11:08:56924 /鎂、鈦/鎂/鋁三層復合板的制備工藝與組織性能，結(jié)合超景深顯微鏡揭示復合機理。光子灣科技的超景深顯微鏡憑借高分辨率三維成像能力，可為復合板界面微觀形貌、斷口特征的
2025-08-07 18:03:26569 在微觀世界中，細節(jié)決定成敗。共聚焦顯微鏡技術，作為一項突破性的成像技術，正引領著納米級成像的新紀元。它不僅提供了前所未有的高分辨率和對比度，而且能夠在無需樣品預處理的情況下，清晰地揭示樣品
2025-08-05 17:55:271431 共聚焦顯微技術，作為光學顯微鏡領域的一項里程碑式創(chuàng)新，為科學家們提供了一種全新的視角，以前所未有的清晰度觀察微觀世界。美能光子灣3D共聚焦顯微鏡，作為光學顯微鏡領域的革命性工具，不僅能夠捕捉到傳統(tǒng)寬
2025-08-05 17:54:491057 景深顯微鏡的成像機制以及工作原理，并展示其在各領域的實際應用。Part.01超景深顯微鏡超景深顯微鏡是指一種利用激光束進行三維成像的高級顯微鏡。超景深顯微鏡的原理
2025-08-05 17:54:391337 隨著科技的飛速發(fā)展，精密測量領域對于高分辨率和高精度的需求日益增長。在這一背景下，共聚焦顯微鏡技術以其獨特的優(yōu)勢脫穎而出，成為3D表面測量的前沿技術。美能光子灣3D共聚焦顯微鏡作為這一領域的佼佼者
2025-08-05 17:53:241333 在汽車制造這一精密而復雜的工業(yè)領域，每一個零部件的質(zhì)量都關乎整車的性能與安全。而超景深顯微鏡，正以其卓越的性能，成為汽車行業(yè)質(zhì)量把控與創(chuàng)新研發(fā)的得力助手，為汽車的高品質(zhì)生產(chǎn)保駕護航。今天，就讓
2025-08-05 17:51:58885 在科技飛速發(fā)展的今天，光學技術作為現(xiàn)代科學研究與工業(yè)生產(chǎn)的關鍵支撐。超景深顯微鏡，作為光學精密測量領域的核心技術裝備，憑借其卓越的三維成像能力，正成為眾多科研與工業(yè)領域不可或缺的重要工具。光子灣
2025-08-05 17:47:191616 及量化參數(shù)，已從生物領域拓展至金屬材料分析，成為汽車鋼表面研究的重要工具。本文將聚焦共聚焦顯微鏡在冷軋汽車鋼（DC04）表面形貌表征中的應用，展現(xiàn)其在材料微觀分析中
2025-08-05 17:46:34748 高端光學精密測量技術，其超景深顯微鏡等設備可為材料磨損三維輪廓分析提供精準支持。本文通過改變載荷與轉(zhuǎn)速，結(jié)合超景深顯微鏡等設備分析其磨損三維形貌與機制，為其在高端
2025-08-05 17:46:08672 在科研、工業(yè)檢測等領域，“掃描電鏡”和“掃描電子顯微鏡”這兩個術語經(jīng)常被提及。對于剛接觸相關領域的人來說，很容易對它們產(chǎn)生困惑，不清楚二者之間究竟存在怎樣的聯(lián)系和區(qū)別。其實，從本質(zhì)上來說，二者有著
2025-07-25 10:42:521049 
為什么說高光譜成像是“超級顯微鏡”
2025-07-22 13:31:58962 中圖儀器VT6000系列共聚焦顯微鏡精密測量儀器結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設計和3D重建算法，共同組成測量系統(tǒng)，主要用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像
2025-07-21 15:54:21
VT6000微觀幾何輪廓共聚焦顯微鏡結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設計和3D重建算法，共同組成測量系統(tǒng)，主要用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細節(jié)更
2025-07-09 14:57:31
什么是透射電子顯微鏡？透射電子顯微鏡（TEM）的原理根基在于電子與物質(zhì)的相互作用。電子槍發(fā)射出的電子束，經(jīng)由電磁透鏡系統(tǒng)聚焦與加速，達到高能量水平（80KeV到300keV），隨后精準地照射到超薄
2025-07-07 15:55:461224 
金相測量顯微鏡，作為工業(yè)精密檢測的利器，正在為半導體行業(yè)及其他高精尖領域注入新的活力。測量顯微鏡采用精密高清光學鏡頭，配合工業(yè)級彩色CCD影像系統(tǒng)，將被測工件的表面紋理清晰地呈現(xiàn)，輪廓層次分明，精確
2025-07-04 17:34:451231 
VT6000材料形貌檢測共聚焦顯微鏡結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設計和3D重建算法，共同組成測量系統(tǒng)，主要用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細節(jié)更
2025-06-19 16:21:13
技術原理聚焦離子束顯微鏡（FocusedIonBeam,FIB）的核心在于其獨特的鎵（Ga）離子源。鎵金屬因其較低的熔點（29.76°C）和在該溫度下極低的蒸氣壓（?10^-13Torr），成為理想
2025-06-12 14:05:51683 
摘要
在單分子顯微成像應用中，定位精度是一個關鍵問題。由于某一方向上的定位精度與該方向上圖像的點擴散函數(shù)（PSF）的寬度成正比，因此具有更高數(shù)值孔徑（NA）的顯微鏡可以減小PSF的寬度，從而
2025-06-05 08:49:03
中圖儀器sem掃描電子顯微鏡儀器全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B基于復合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度。空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非?？旖莸剡M行各項操作
2025-05-30 10:54:19
VT6000系列共聚焦大傾角粗糙度測量顯微鏡結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設計和3D重建算法，共同組成測量系統(tǒng)，主要用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)
2025-05-29 14:57:19
透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡（簡稱透射電鏡）是一種利用加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，通過電子與樣品原子的碰撞產(chǎn)生立體角散射來成像的儀器。散射角的大小與樣品的密度、厚度密切相關，從而形成明暗
2025-05-23 14:25:231193 
價值的指導。透射電子顯微鏡的工作原理與強大功能透射電子顯微鏡是一種借助高能電子束穿透樣品，并通過電磁透鏡進行成像與分析的精密設備。其工作原理基于電子與物質(zhì)之間的相互
2025-05-22 17:33:57964 
在電子封裝、材料科學以及芯片制造等前沿領域，超聲波掃描顯微鏡（Scanning Acoustic Microscopy，簡稱 SAM）作為一種基于超聲波技術的非破壞性檢測工具，發(fā)揮著至關重要的作用
2025-05-14 10:03:472017 
透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡簡稱TEM，是一種高分辨率的微觀分析儀器，自1933年發(fā)明以來，已成為探索微觀世界的強大工具。其工作原理是在高真空環(huán)境下，電子槍發(fā)射電子束，經(jīng)過聚焦后形成細小的電子束
2025-04-25 17:39:274260 
中圖儀器CEM3000系列納米尺度觀測掃描電子顯微鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。在工業(yè)領域展現(xiàn)出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能
2025-04-23 18:07:59
引言：在刀具制造、維修、收藏及日常使用中，刀具的刃口質(zhì)量、磨損情況、微觀裂紋等細節(jié)直接影響其性能和使用壽命。傳統(tǒng)的肉眼觀察往往難以發(fā)現(xiàn)細微缺陷，而專業(yè)檢測設備又體積龐大、操作復雜。微型顯微鏡憑借其
2025-04-23 16:48:02798 
掃描透射電子顯微鏡（STEM）掃描透射電子顯微鏡（STEM）是一種融合了透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）部分特點的先進顯微技術。該技術對操作環(huán)境和設備要求較高，需要維持極高真空度
2025-04-07 15:55:421655 
特性、光刻、數(shù)據(jù)存儲以及原子和納米級結(jié)構(gòu)的操作。原子力顯微鏡在研究中的應用盡管原子力顯微鏡技術已經(jīng)取得了長足的進步，但對于需要使用它的研究人員來說，并不總是能夠輕
2025-04-02 11:03:46699 聚焦離子束顯微鏡（FIB-SEM）作為一種前沿的微觀分析與加工工具，將聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）技術深度融合，兼具高分辨率成像和精密微加工能力，廣泛應用于材料科學、電子工業(yè)
2025-04-01 18:00:03793 
工具顯微鏡通過將微觀世界可視化與數(shù)據(jù)化，幫助企業(yè)實現(xiàn)質(zhì)量管控前移，減少返工成本；其高效、非接觸的測量方式，尤其適合精密零部件、微型電子元件等領域的全生命周期質(zhì)量監(jiān)控。
2025-04-01 16:08:05894 
證明，當偶極子源的方向發(fā)生變化時，會獲得不同的非對稱PSF（不是艾里斑）。 此外，可通過在顯微鏡系統(tǒng)的光瞳平面中插入一定的相位掩模來獲得雙螺旋PSF [Ginni Grover et al., Opt.
2025-03-26 08:47:25
Fusion中內(nèi)置了偶極子源。通過連接復雜的高數(shù)值孔徑顯微鏡系統(tǒng)，可以在VirtualLab Fusion中直接計算其PSF。
2.建模任務
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VirtualLab Fusion 構(gòu)建系統(tǒng)
1.系統(tǒng)構(gòu)建
2025-03-26 08:45:18
在現(xiàn)代科學技術的諸多領域中，透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,TEM）以其卓越的性能和廣泛的應用，成為了材料科學、生命科學以及納米科技研究中不可或缺的重要
2025-03-25 17:10:501833 
摘要
與阿貝理論預測的分辨率相比，用于熒光樣品的結(jié)構(gòu)照明顯微鏡系統(tǒng)可以將顯微鏡系統(tǒng)的分辨率提高2倍。 VirutualLab Fusion提供了一種通過入射波屬性來研究結(jié)構(gòu)化照明模式的快速方法
2025-03-21 09:26:33
掃描電子顯微鏡（SEM）具有高分辨率、大景深、可觀察多種信號等特點，在多個領域都有廣泛的應用場景，以下是一些主要的應用方面：一、材料科學領域-金屬材料研究：用于觀察金屬材料的微觀組織結(jié)構(gòu)，如晶粒大小
2025-03-12 15:01:222347 
離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）是將聚焦離子束（FIB）技術與掃描電子顯微鏡（SEM）技術有機結(jié)合的高端設備。什么是FIB-SEM？FIB-SEM系統(tǒng)通過聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡
2025-03-12 13:47:401075 
前言高度測量顯微鏡顯微鏡配備了操作簡單，功能強大的測量軟件，客戶可根據(jù)需要設置測試偏好。軟 件附帶了各類手動取點與自動取點的測量功能，適功能高度集成的一體式設計使用范圍更廣，即使對復雜的形狀，也可以
2025-03-07 10:58:49
掃描電子顯微鏡（SEM）原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光鏡和物鏡聚焦后，形成極細的電子束在樣品表面進行逐點掃描。電子束與樣品表面相互作用，激發(fā)出二次電子、背散射電子等信號。其中二次電子對樣品表面的形貌
2025-03-05 14:03:07
0 掃描電子顯微鏡（SEM）原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光鏡和物鏡聚焦后，形成極細的電子束在樣品表面進行逐點掃描。電子束與樣品表面相互作用，激發(fā)出二次電子、背散射電子等信號。其中二次電子對樣品表面的形貌
2025-03-04 09:57:292686 
在提出需求之前，想明確一個問題，我們希望開發(fā)DLPC150+DLP2010NIR的光譜平臺，有個問題是，我們不知道如何check是否成功實現(xiàn)微鏡的翻轉(zhuǎn)。
問題如下：
1.請問，使用顯微鏡能看
2025-02-28 08:25:01
在微觀世界的探索中，精準定位是成功的關鍵。壓電物鏡定位器在生命科學、材料科學、半導體等領域提供了高精度、高穩(wěn)定性的物鏡定位解決方案，已成為眾多精密操作的得力助手。它采用先進的壓電陶瓷驅(qū)動技術，通過
2025-02-27 16:09:41901 
細胞和組織的三維立體圖像，從而更準確地分析其形態(tài)和功能。這對于疾病診斷、藥物研發(fā)以及生物醫(yī)學工程等領域具有重要的推動作用。例如，在癌癥研究中，科學家可以通過這種顯微鏡觀察癌細胞的立體結(jié)構(gòu)，為個性化治療
2025-02-25 10:51:29
自旋測試多功能克爾顯微鏡以自主設計的光路結(jié)構(gòu)及奧林巴斯、索萊博光電元件為基礎制造；用于磁性材料/自旋電子器件的磁疇成像和動力學研究。
2025-02-10 14:32:35667 
電子背散射衍射（EBSD）技術，作為掃描電子顯微鏡（SEM）的高端拓展工具，它能夠深入剖析材料的微觀組織，實現(xiàn)組織結(jié)構(gòu)的精準分析、直觀成像和量化評估，為材料科學研究人員與工程師提供了一把開啟材料內(nèi)在
2025-01-23 15:27:141047 
隨著生物和化學領域新技術的出現(xiàn)，對更精確顯微鏡的需求穩(wěn)步增加。因此，研制出觀察單個熒光分子的單分子顯微鏡。利用快速物理光學建模和設計軟件VirtualLab Fusion，我們可以模擬普遍用于單分子
2025-01-16 09:52:53
摘要
在單分子顯微鏡成像應用中，定位精度是一個關鍵問題。由于在某一方向上的定位精度與圖像在同一方向上的點擴散函數(shù)(point spread function, PSF)的寬度成正比，因此具有較高
2025-01-16 09:50:45
1.摘要
傅里葉顯微術廣泛應用于單分子成像、表面等離子體觀測、光子晶體成像等領域。它使直接觀察空間頻率分布成為可能。在高NA傅里葉顯微鏡中，不同的效應(每個透鏡表面上角度相關的菲涅耳損耗、衍射等)會
2025-01-15 09:39:56
無法被清晰地觀察。為了解決這一問題，科學家們開始探索使用波長更短的光源來提高顯微鏡的分辨率。1932年，德國科學家恩斯特·魯斯卡（ErnstRuska）成功發(fā)明了透射電子顯微鏡（TEM），利用
2025-01-09 11:05:343156 
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