在現(xiàn)代高科技產(chǎn)業(yè)如半導(dǎo)體和新能源領(lǐng)域，厚度低于一微米的薄膜被廣泛應(yīng)用，其厚度精確測量是確保器件性能和質(zhì)量控制的核心挑戰(zhàn)。面對超薄、多層、高精度和非破壞性的測量需求，傳統(tǒng)的接觸式或破壞性方法已難以勝任
2025-12-22 18:04:28
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Structure） 時存在天然物理瓶頸。本白皮書論述了光譜共焦（Chromatic Confocal）位移傳感器技術(shù)原理，并依據(jù) LTC系列產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)格，為半導(dǎo)體行業(yè)的關(guān)鍵測控環(huán)節(jié)提供量得準、測得快的選型指導(dǎo)與解決方案。
2025-12-21 19:01:03219 
鑰匙”。分辨率越高，我們就越能像擁有“火眼金睛”般，清晰區(qū)分相似化合物、辨別分子結(jié)構(gòu)的細微差異，還能精準測量材料的應(yīng)力和壓力變化?？梢哉f，選對光譜分辨率，拉曼測量
2025-12-17 11:35:19288 
傳統(tǒng)檢測方式面臨挑戰(zhàn)： × ?? 接觸損傷風(fēng)險 ：傳統(tǒng)接觸式測量易劃傷光學(xué)膜層 × ? 數(shù)據(jù)可靠性低 ：高反光與透明層疊結(jié)構(gòu)使傳統(tǒng)光學(xué)測量受干擾 × ?? 多層測量難 ：偏振片的多層復(fù)合結(jié)構(gòu)使單層厚度測量困難 × ? 生產(chǎn)效率低 ：難以適配高速產(chǎn)
2025-12-04 08:10:33157 
為您的應(yīng)用添加自定義圖像，能夠顯著改善和個性化用戶體驗，有效提高用戶參與度。本文將探討使用 Firebase AI Logic 生成圖像的兩種新功能: 其一是 Imagen 專屬編輯功能預(yù)覽版;其二
2025-11-30 09:28:30284 ，而且范圍相當寬廣，從 65 MHz 一直到 400 MHz。這個頻率范圍并不是固定的，而是通過外部電路來設(shè)定的。具體來說，你需要在芯片的兩個特定引腳（L1 和 L
2025-11-24 16:37:50
常用的電流檢測電路有兩種，一種是低壓側(cè)電流檢測，另一種是高壓側(cè)電流檢測。 實現(xiàn)方法： 兩種電流檢測電路工作原理一致，都是將采集到的電流以電壓的形式呈現(xiàn)，對電壓信號進行放大，送入ADC處理。最后
2025-11-24 16:16:51954 
卷徑計算，是動態(tài)計算如鋼卷，紙卷等存料量的一種方法，它是實現(xiàn)張力控制和自動充放料、以及甩尾控制的重要前提。卷徑計算目前主流的方法有兩種，一種是根據(jù)機列速度(產(chǎn)線速度)和和被測卷的轉(zhuǎn)動角速度求得；另一種是根據(jù)被測卷的轉(zhuǎn)動圈數(shù)和測長裝置實測的被測卷轉(zhuǎn)動圈數(shù)下的距離計算得到。
2025-11-14 16:54:511619 
共焦測量技術(shù)作為一種非接觸式光學(xué)測量方法，因其高精度和抗干擾能力強等特點，逐漸成為精密測量領(lǐng)域的研究熱點。本文首先從物理光學(xué)與信息論角度解釋其原理；其次闡述海伯森
2025-11-07 17:22:06669 
在電子設(shè)備和電力系統(tǒng)的運行過程中，電流信號通常包含共模電流和差模電流兩種成分。共模電流是流經(jīng)設(shè)備對地回路的非有用電流，容易引發(fā)電磁干擾（EMI）和設(shè)備異常發(fā)熱等問題；而差模電流是參與能量傳輸或信號
2025-10-29 09:10:31293 
共焦測量技術(shù)作為一種非接觸式光學(xué)測量方法，因其高精度和抗干擾能力強等特點，逐漸成為精密測量領(lǐng)域的研究熱點。
2025-10-24 16:49:211232 
在現(xiàn)代科學(xué)研究與工業(yè)應(yīng)用中，光纖光譜儀作為一種高效的分析工具，正在迅速崛起。然而，用戶常常在選擇光纖光譜儀時面臨著許多問題，諸如如何選擇最適合的設(shè)備?如何確保測量結(jié)果的準確性?這部分問題的根源在于
2025-10-21 14:49:52247 出發(fā)，深入探討其測量原理、常用方法以及在不同領(lǐng)域的應(yīng)用。 一、共模電壓的基本概念 共模電壓（Common-Mode Voltage）是指在差分信號對的兩根導(dǎo)線上，相對于公共參考點（通常為地）同時存在的相同幅度、相同相位的電壓。在理想的差分
2025-10-14 09:13:28798 
本文深入介紹GMSL技術(shù)，重點說明用于視頻數(shù)據(jù)傳輸?shù)南袼?b class="flag-6" style="color: red">模式和隧道模式之間的差異。文章將闡明這兩種模式之間的主要區(qū)別，并探討成功實施需要注意的具體事項。
2025-10-10 13:49:022004 
Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術(shù)測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等參數(shù)，同
2025-09-17 16:05:18
當我們查看TVS二極管的規(guī)格書,常會看到有以下兩種種引腳功能標識圖：對于初學(xué)者，看到感到疑惑，他們一樣嗎？他們有啥區(qū)別？為啥有的兩個尖頭往外，陽極連在一起，有的兩個尖頭往里，陰極連在一起？一連三問。EMC小哥根據(jù)自己經(jīng)驗略作分析。使用這
2025-09-15 20:27:06678 
背景：兩種常見的散熱設(shè)計思路 在大電流或高功率器件應(yīng)用中，散熱和載流能力是PCB設(shè)計中必須解決的難題。常見的兩種思路分別是： 厚銅板方案：通過整體增加銅箔厚度（如3oz、6oz甚至更高），增強導(dǎo)熱
2025-09-15 14:50:39582 三維形貌膜厚測量系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術(shù)測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、
2025-09-11 16:41:24
摩爾定律正在減速。過去我們靠不斷縮小晶體管尺寸提升芯片性能，但如今物理極限越來越近。在這樣的背景下，兩種創(chuàng)新技術(shù)站上舞臺：CMOS 2.0 和 Chiplet（芯粒）。它們都在解決 “如何讓芯片更強” 的問題，但思路卻大相徑庭。
2025-09-09 15:42:40813 薄膜厚度的測量在芯片制造和集成電路等領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。橢偏法具備高測量精度的優(yōu)點，利用寬譜測量方式可得到全光譜的橢偏參數(shù)，實現(xiàn)納米級薄膜的厚度測量。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對薄膜
2025-09-08 18:02:421463 工業(yè)測量的終極目標不是追求極致精度，而是實現(xiàn)恰到好處的質(zhì)量控制。光子精密 CD-5000 與 PDH 系列的技術(shù)分化，正體現(xiàn)了這一理念 —— 在高精度與高效率之間，為每個制造場景找到最優(yōu)解。隨著智能
2025-09-05 08:00:001007 
形貌測量系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術(shù)測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP
2025-08-20 11:26:59
系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術(shù)測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR
2025-08-12 15:47:19
WD4000晶圓三維顯微形貌測量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D
2025-08-04 13:59:53
精密測量領(lǐng)域再添利器深視智能重磅發(fā)布光譜共焦位移傳感器SCI系列全新型號SCI04020，這是高要求及嚴苛環(huán)境下精密測量的突破性升級，在影像儀檢測等需要大工作距離的場景中表現(xiàn)突出，切實解決碰撞風(fēng)險痛
2025-07-28 08:17:36724 
為多領(lǐng)域提供高標準的模擬解決方案。下文Luminbox將帶大家了解光譜匹配度測量的關(guān)鍵技術(shù)與標準。光譜匹配度測量的關(guān)鍵技術(shù)luminbox光譜測量示意圖1.測量前
2025-07-24 10:23:35587 
拉曼光譜專題2|拉曼光譜中的共聚焦方式，您選對了嗎？——共聚焦技術(shù)與AUT-XperRam共聚焦顯微拉曼光譜儀系統(tǒng)什么是共聚焦技術(shù)：共聚焦技術(shù)的核心就像給相機和探測器配備了一對“精準定位的眼睛
2025-07-23 11:05:512059 
光子精密推出了QM系列閃測儀?+?CD-5000系列光譜共焦位移傳感器的組合，以高性價比的解決方案，滿足用戶的多重測量需求。
這一方案既能助用戶精準完成輪廓與高度測量、也滿足了便捷式使用需求，同時還能有效降低成本，為企業(yè)的生產(chǎn)檢測環(huán)節(jié)提供更經(jīng)濟高效的選擇。
2025-07-23 09:23:02549 
在現(xiàn)代半導(dǎo)體和顯示面板制造中，薄膜厚度的精確測量是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)方法如掃描電子顯微鏡（SEM）雖可靠，但無法用于在線檢測；橢圓偏振儀和光譜反射法（SR）雖能無損測量，卻受限于計算效率
2025-07-22 09:54:461178 在半導(dǎo)體芯片制造中，薄膜厚度的精確測量是確保器件性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著工藝節(jié)點進入納米級，單顆芯片上可能需要堆疊上百層薄膜，且每層厚度僅幾納米至幾十納米。光譜橢偏儀因其非接觸、高精度和快速測量的特性
2025-07-22 09:54:19881 被廣泛采用。Flexfilm全光譜橢偏儀不僅能夠滿足工業(yè)生產(chǎn)中對薄膜厚度和光學(xué)性質(zhì)的高精度測量需求，還能為科研人員提供豐富的光譜信息，助力新材料的研發(fā)和應(yīng)用。1光
2025-07-22 09:54:082166 在半導(dǎo)體和顯示器件制造中，薄膜與基底的厚度精度直接影響器件性能?，F(xiàn)有的測量技術(shù)包括光譜橢偏儀（SE）和光譜反射儀（SR）用于薄膜厚度的測量，以及低相干干涉法（LCI）、彩色共焦顯微鏡（CCM）和光譜
2025-07-22 09:53:091468 。本文本文基于FlexFilm單點膜厚儀的光學(xué)干涉技術(shù)框架，提出一種基于共焦光譜成像與薄膜干涉原理的微型化測量系統(tǒng)，結(jié)合相位功率譜（PPS）算法，實現(xiàn)了無需校準的高效
2025-07-21 18:17:571456 缺失，將引發(fā)測試數(shù)據(jù)失真：例如缺失 320-400nm 波段的模擬器，在測試紫外固化材料時，其固化速率測量值將偏低 40% 以上，形成對材料性能的誤判。
三、光譜偏離率SPD：揭示光譜絕對偏差的參數(shù)
2025-07-21 15:35:58
當 3C 制造邁入 “納米級精度” 新紀元，消費者對屏幕顯示效果與設(shè)備輕薄化的極致追求，正倒逼制造環(huán)節(jié)升級 ——0.1 微米級質(zhì)量控制已成為行業(yè)硬性指標。作為國產(chǎn)光譜共焦技術(shù)引領(lǐng)者，立儀光譜共焦
2025-07-15 17:00:10390 深視智能光譜共焦位移傳感器定時觸發(fā)功能操作指南旨在協(xié)助用戶更加全面地了解我們的傳感器設(shè)備。操作步驟一：打開SG-Imaging，連接控制器。操作步驟二：在主界面選擇【環(huán)境設(shè)定】，打開【編碼器設(shè)定
2025-07-14 08:18:37429 
重要的光學(xué)檢測工具——光纖光譜儀。 光纖光譜儀以其結(jié)構(gòu)緊湊、響應(yīng)快速、操作靈活等優(yōu)勢，已廣泛應(yīng)用于薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、均勻性等參數(shù)的測量中，是當前實現(xiàn)非接觸、非破壞性測量的重要手段之一。本文將圍繞光纖光譜
2025-07-08 10:29:37406 系列正以50納米重復(fù)精度和多材質(zhì)適應(yīng)性，成為3C行業(yè)質(zhì)檢環(huán)節(jié)的"終極武器"。本期小明就來分享明治光譜共焦在3C行業(yè)中的經(jīng)典應(yīng)用案例手機攝像頭點膠厚度測量在手機制造過程中，攝像頭模組的點
2025-07-08 07:34:52641 
貼片晶體振蕩器作為關(guān)鍵的時鐘頻率元件，其性能直接關(guān)系到系統(tǒng)運行的穩(wěn)定性。今天，凱擎小妹帶大家聊聊貼片晶振中兩種常見封裝——金屬面封裝與陶瓷面封裝。
2025-07-04 11:29:591056 
光譜共焦傳感器是一種新型高精度非接觸式的光電位移傳感器。光譜共焦傳感技術(shù)以其具備高精度、高分辨率、可用于多維數(shù)字化成像分析等獨特優(yōu)勢，被廣泛應(yīng)用于手機/3C行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)、材料科學(xué)研究和微觀
2025-06-30 15:28:30975 
WD4000全自動晶圓厚度測量設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D
2025-06-27 11:43:16
智能點光譜共焦位移傳感器，正是為破解這些行業(yè)痛點而生。它以光學(xué)技術(shù)為核心，重新定義了精密測量的標準，成為手機鏡頭、VR/AR光機等高端光學(xué)制造領(lǐng)域的“標尺”。三大
2025-06-23 08:18:14534 
在光學(xué)元件制造領(lǐng)域，4-5mm 厚度玻璃鏡片的高精度測量面臨顯著挑戰(zhàn)：傳統(tǒng)滿足 1μm 精度的光譜共焦傳感器量程僅 2.6mm，無法直接覆蓋測量范圍，而單一傳感器搭配位移機構(gòu)又難以兼顧精度與效率
2025-06-19 17:14:25863 
深視智能光譜共焦位移傳感器SCI系列透明物體厚度測量操作指南旨在協(xié)助用戶更加全面地了解我們的傳感器設(shè)備。為方便后續(xù)
2025-06-16 08:19:40880 
光譜共焦位移傳感器采用同軸測量原理，克服了傳統(tǒng)激光三角測量傳感器的角度限制，顯著減少了測量盲區(qū)。同時擁有多種優(yōu)勢，能夠更精確地測量深孔、盲孔等復(fù)雜結(jié)構(gòu)。
2025-06-13 09:08:29849 
摘要:永磁開關(guān)磁鏈電機數(shù)學(xué)模型可以等效為永磁無刷電機,普遍采用方波驅(qū)動方式。在有限元基礎(chǔ)上分析6/7極直線式磁鏈電機反電勢波形,采用方波和正弦波驅(qū)動方式,比較兩種方式下的電流、電壓、平均推力大小
2025-06-09 16:18:19
模式和發(fā)電模式下對閉環(huán)電壓電流模型磁鏈觀測器和滑模磁鏈觀測器參數(shù)敏感性進行了研究,通過仿真和實驗比較了這兩種觀測器對定、轉(zhuǎn)子電阻及勵磁電感的敏感性。同時還研究了基于這兩種觀測器的模型參考自適應(yīng)系統(tǒng)
2025-06-09 16:16:52
形成兩種焦段。 其中，兩種焦段創(chuàng)新的共用一塊大底CMOS傳感器和傳感器防抖模塊，相較于傳統(tǒng)的雙大底長焦鏡頭來說，這樣既節(jié)省了一些內(nèi)部空間和一顆傳感器，又能得到雙原生焦段。而這項專利將首發(fā)應(yīng)用于華為Pura 80系列上，可以說
2025-06-07 18:48:571190 
厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術(shù)測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等參數(shù)，同時
2025-06-03 15:52:50
·系統(tǒng)包含控制器、光纖、傳感頭·控制器具有出色的信噪比,適合高動態(tài)測量任務(wù)。優(yōu)異的表面補光技術(shù)可以快速調(diào)節(jié)曝光時間,適應(yīng)快速變化表面的反光特性確保高精度測量。光纖采用不銹鋼套管及特殊硅膠材質(zhì)包裹
2025-05-28 10:41:13
光譜共焦原理簡介產(chǎn)品優(yōu)勢與傳統(tǒng)方式對比應(yīng)用范圍
2025-05-26 14:31:28367 較大。同時，鏡頭模組的形狀也較為復(fù)雜，存在曲面、臺階等多種結(jié)構(gòu)，增加測量的難度。深視智能SCI01045光譜共焦位移傳感器集成多項核心技術(shù)優(yōu)勢，以0.006μm分
2025-05-26 08:18:57744 
在物理學(xué)的世界中，精密的時間測量是至關(guān)重要的。這就需要一個高度準確且穩(wěn)定的時間標準，這就是原子鐘。今天我們將探討兩種重要的原子鐘：銣原子鐘和CPT原子鐘，以及它們之間的主要區(qū)別。首先，我們來了解一下
2025-05-22 15:49:52593 
一、串聯(lián)（CS）與并聯(lián)（CP）模式的核心原理與差異 在理解如何選擇測量模式之前，首先需要明確兩種模式的電路模型和物理意義。 1. 串聯(lián)模式（Series, CS） 電路模型：將電容器視為一個“理想
2025-05-22 10:29:064326 
，分析了這種系統(tǒng)的經(jīng)典設(shè)計。然后，通過考慮衍射效應(yīng)并在系統(tǒng)中包括散焦或腰移，可以進一步減小幾何光學(xué)優(yōu)化給出的最小光斑尺寸。
建模任務(wù) #1-簡單的無焦系統(tǒng)
?
激光無焦系統(tǒng)分析
簡單無焦系統(tǒng)設(shè)計w0
2025-05-22 08:49:36
本文介紹了超聲波的T-SAM與C-SAM兩種模式的區(qū)別。
2025-05-21 15:26:461319 
滲壓計是監(jiān)測巖土工程、大壩滲流壓力變化的核心設(shè)備，其測量精度和效率直接影響工程安全評估的可靠性。目前主流的測量方式分為現(xiàn)場手動測量與自動化監(jiān)測兩類，分別適用于不同的工程場景。一、現(xiàn)場測量：智能讀數(shù)儀
2025-05-20 16:17:22599 
概況及原理海伯森HPS-LC系列3D線光譜共焦傳感器突破傳統(tǒng)檢測方式的限制，為工業(yè)4.0時代提供更高測量精度、更快測量速度的光學(xué)精密檢測傳感器。針對透明玻璃薄膜的透光特性、鋰電產(chǎn)品的復(fù)雜曲面結(jié)構(gòu)
2025-05-19 16:57:30125 
概況及原理海伯森HPS-LC系列3D線光譜共焦傳感器突破傳統(tǒng)檢測方式的限制，為工業(yè)4.0時代提供更高測量精度、更快測量速度的光學(xué)精密檢測傳感器。針對透明玻璃薄膜的透光特性、鋰電產(chǎn)品的復(fù)雜曲面結(jié)構(gòu)
2025-05-19 16:40:4819 
概況及原理海伯森HPS-LC系列3D線光譜共焦傳感器突破傳統(tǒng)檢測方式的限制，為工業(yè)4.0時代提供更高測量精度、更快測量速度的光學(xué)精密檢測傳感器。針對透明玻璃薄膜的透光特性、鋰電產(chǎn)品的復(fù)雜曲面結(jié)構(gòu)
2025-05-19 15:55:5816 
VT6000系列國產(chǎn)中圖共焦顯微鏡主要用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。它以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計和3D重建算法，共同組成測量系統(tǒng)，保證儀器的高測量精度。國產(chǎn)中圖
2025-05-15 14:44:11
測量可能損傷鏡片、測量精度受人為因素影響大等問題。光譜共焦傳感器作為一種非接觸式、高精度的測量技術(shù)，在鏡片厚度測量領(lǐng)域展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢。本期小明就來分享一下明治光譜共
2025-05-06 07:33:24822 
表磁測量是對磁性材料或磁體表面磁場強度的測量，表磁測量設(shè)備中有不同的測試模式適用于不同的樣品形狀、尺寸和測量目的。該如何選擇？以下是對各種測試模式的介紹及適用場景： 測試模式 維度 定義 適用
2025-04-22 09:24:01594 光譜共焦位移傳感器通過亞微米級精度、強材質(zhì)適應(yīng)性、超高速采樣頻率及非接觸式測量技術(shù)，解決晶圓表面平整度檢測的行業(yè)痛點，為半導(dǎo)體制造企業(yè)提供高效、精準的檢測手段。檢
2025-04-21 08:18:31783 
激光束的輸出實際上由在寬頻率范圍內(nèi)的許多不同頻率的緊密間隔的光譜線組成。離散光譜分量稱為激光模式laser modes，覆蓋范圍是負責(zé)激光輸出的原子躍遷的線寬。
2025-04-15 10:18:161606 
在精密測量領(lǐng)域，明治的ADK系列與ACC系列光譜共焦傳感器以各自獨特的技術(shù)優(yōu)勢廣泛應(yīng)用于工業(yè)檢測、科研實驗等高精度位移測量場景。ADK系列一拖二雙探頭;最小分辨率0.02um可穩(wěn)定測量金屬、陶瓷
2025-04-15 07:32:57730 
WD4000系列晶圓微觀幾何輪廓測量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI
2025-03-19 17:36:45
光弱、縫隙干擾等問題難以精準識別晶圓搭邊狀態(tài)。針對這一難題，深視智能SCI系列光譜共焦位移傳感器憑借33kHz超高速采樣、自研超強感光算法及高兼容性設(shè)計，突破了動
2025-03-10 08:17:57705 
。成像與光譜共焦技術(shù)，結(jié)合專業(yè)測量軟件，把測量結(jié)果可以上傳數(shù)字化、數(shù)據(jù)化。一、產(chǎn)品描述1.產(chǎn)品特性武漢易之測儀器生產(chǎn)的全自動臥式光學(xué)投影像測量儀基于光學(xué)尺的全閉環(huán)
2025-03-07 10:15:17
你好，請問，在DLP相關(guān)文檔中，有提到video模式與 pattern模式，請問這兩種模式有什么區(qū)別？
2025-03-03 08:32:13
，是否會造成數(shù)據(jù)過擬合或是導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？
另，在選擇scan configurations 時，有兩種模式 Hadamard & Column，同樣的波長范圍（比如900-1700），同樣的檢測條件，為什么 Column 的響應(yīng)強度高于 Hadamard？
2025-02-28 07:15:17
有人知道怎么通過圖案模式軟件觸發(fā)光譜儀嗎，光譜儀不能硬件觸發(fā)，控制光譜儀去單次測量，在特定圖片下光譜儀測量。
2025-02-24 08:31:23
一、無錫泓川科技（國產(chǎn)品牌，性價比高） 無錫泓川科技有限公司專注于光學(xué)測量與檢測領(lǐng)域，其核心產(chǎn)品LTC系列光譜共焦位移傳感器以高精度、強適應(yīng)性為特色。該系列具備亞微米級測量精度（最小靜態(tài)噪聲僅3nm
2025-02-20 08:17:254461 
摘要 本研究基于泓川科技LTC型光譜共焦傳感器，針對冷軋無取向硅鋼（牌號35W300，厚度0.35mm）的在線厚度檢測需求，提出基于光-熱-力耦合模型的動態(tài)補償方案。通過六傳感器陣列協(xié)同測量技術(shù)
2025-02-11 06:45:55761 
我在使用ADS1258的時候調(diào)試了它的兩種工作方式，一是auto channel，一種是fix channel；使用第一種方式都是正常的，但是用第二種方式是，總是會出現(xiàn)bug，在程序運行一段時間后
2025-02-10 08:21:28
在工業(yè)自動化和數(shù)據(jù)采集領(lǐng)域，傳感器扮演著至關(guān)重要的角色，它們將各種物理量（如溫度、壓力、流量等）轉(zhuǎn)換為可被測量和分析的電信號。而傳感器的輸出信號主要分為兩種模式：電流輸出和電壓輸出。理解這兩種輸出
2025-02-08 18:21:132290 
白光干涉儀的光譜干涉模式原理主要基于光的干涉和光譜分析。以下是對該原理的詳細解釋：
一、基本原理
白光干涉儀利用干涉原理測量光程之差，從而測定有關(guān)物理量。在光譜干涉模式中，白光作為光源，其發(fā)出的光
2025-02-07 15:11:00563 
大家好
我想請教一下大家關(guān)于TLV5616和TLV5636的工作模式，具體就是兩種工作模式FAST和SLOW分別有什么特點，優(yōu)勢，選擇時應(yīng)該注意什么？謝謝！
2025-02-07 07:02:58
由浦項科技大學(xué)的 Dong Eon Kim 教授和精密測量科學(xué)與技術(shù)創(chuàng)新研究院的 X. Lai 教授領(lǐng)導(dǎo)的科學(xué)家團隊在超快成像領(lǐng)域取得了突破性進展，首次分別清晰地觀測到了蜘蛛腿和魚骨狀兩種截然不同
2025-02-07 06:37:15568 
「五臟六腑」是否健康（防泄漏能力）。強度試驗和密封性測試對比表評估設(shè)備承壓性能需要針對性測試設(shè)備。針對您提到的兩種測試需求，精誠工科氣密性團隊結(jié)合十余年行業(yè)經(jīng)驗，
2025-02-06 11:39:21564 
用TLC2551采外部電壓，只有0和2096兩種值是怎么回事？求解決辦法。
2025-02-06 07:31:34
在電子電路設(shè)計與制造領(lǐng)域，覆銅的實現(xiàn)形式多樣，其中大面積的覆銅和網(wǎng)格銅是最為常見且各具特色的兩種，它們在不同的應(yīng)用場景下發(fā)揮著關(guān)鍵作用。 大面積的覆銅，顧名思義，是指在印刷電路板（PCB）的特定區(qū)域
2025-02-04 14:10:001001 光譜測試儀，也被稱為光譜儀或分光儀，是一種用于將成分復(fù)雜的光分解為光譜線的科學(xué)儀器。它的測量對象非常廣泛，以下是對光譜測試儀測量內(nèi)容的詳細歸納：
2025-01-28 14:10:002507 光譜儀是一種用于分析和測量光的性質(zhì)和特征的科學(xué)儀器，其作用和功能十分廣泛，具體如下：
2025-01-28 14:03:004384 光譜傳感器是一種高科技設(shè)備，它通過測量物體的光譜特征，能夠更準確地判斷物體的顏色、成分及其他相關(guān)信息。光譜傳感器的用途非常廣泛，涵蓋了許多重要領(lǐng)域，以下是對其主要用途的詳細歸納：
2025-01-27 15:31:001417 光譜傳感器是一種能夠檢測多種顏色和光譜信息的傳感器，通過測量物體的光譜特征，可以實現(xiàn)對物體的顏色、成分等屬性的準確判斷。以下是對光譜傳感器具體應(yīng)用的詳細介紹：
2025-01-27 14:19:001372 光譜傳感器是一種光譜分析儀，它通過將光照射到物質(zhì)上并測量光的反射、散射和吸收來獲取分子信息。以下是關(guān)于光譜傳感器的詳細介紹：
2025-01-27 14:18:001846 ，我們以太陽光為例，說明了如何將測量到的光譜導(dǎo)入VirtualLab Fusion中，然后介紹了如何使用所述數(shù)據(jù)用作光學(xué)系統(tǒng)中光源的光譜組成。
建模任務(wù)
如何將測量到的太陽光光譜(見下圖)導(dǎo)入到
2025-01-23 10:22:34
咨詢下ADS1259讀取模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果的時候是否是兩種讀取模式，一種是讀引腳（DIN）,一種是讀寄存器，讀寄存器的數(shù)據(jù)是進行數(shù)據(jù)校驗？
還有不明白的是讀寄存器的內(nèi)容時，模數(shù)轉(zhuǎn)化后的數(shù)據(jù)是放在9個寄存器哪幾個里面呢？是否是可以隨意設(shè)置的？英文水平很差，只好請教了，也是第一次用串行AD,
謝謝各位
2025-01-22 07:18:11
。 ? ? ?而在生產(chǎn)階段需要將原料進行混合、熔化、壓延、退火和切割等工藝才能制成光伏原片半成品。而在壓延的過程中，產(chǎn)品的厚度往往關(guān)系到產(chǎn)品的合格度。 項目需求 1、已知玻璃的厚度大約為2-3.5mm，需要測量出玻璃的精確厚度，并保證測
2025-01-14 16:43:52850 
儀的基本原理 地物光譜儀是一種用于測量物體反射光譜特性的儀器。它通過捕捉從地表植被、土壤等對象反射的光波，獲得不同波長的光譜數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)可以反映地物的物理和化學(xué)特性，為生態(tài)研究提供詳細的信息。 2.提升植物健康檢測精
2025-01-10 13:44:31649 
請教一下
使用ADS1258的內(nèi)部差分模式測量電阻兩端的電壓，
用到AIN14和AIN15兩個腳分別接到電阻兩端，
內(nèi)部電流使用1.5UA（sensor bias current source
2025-01-10 12:51:22
您好，板子之前采用的是ADC12D1600，現(xiàn)在想換ADC12D1600RF；
請問：
1.這兩種型號之間有什么區(qū)別？（一個高速采樣，一個射頻采樣）
2.ADC12D1600RF是pin compatible的，能否在不改變已有的PCB上直接進行替換？
2025-01-10 06:10:34
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