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中科院半導(dǎo)體所

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宇航級封裝簡介

在現(xiàn)代電子工業(yè)領(lǐng)域,依據(jù)使用環(huán)境、性能參數(shù)及可靠性標(biāo)準(zhǔn),電子器件可以被系統(tǒng)劃分為商業(yè)級、工業(yè)級、汽車....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-14 11:13 ?747次閱讀

封裝工藝中的晶圓級封裝技術(shù)

我們看下一個先進(jìn)封裝的關(guān)鍵概念——晶圓級封裝(Wafer Level Package,WLP)。
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-14 10:32 ?1267次閱讀
封裝工藝中的晶圓級封裝技術(shù)

硅片不同晶向的區(qū)別

簡單來說:晶向就是晶體內(nèi)部原子沿某種方向排列的“路徑”。晶向通常用方括號 [hkl] 表示方向,用圓....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-14 10:31 ?2190次閱讀
硅片不同晶向的區(qū)別

詳解原子層沉積薄膜制備技術(shù)

CVD 技術(shù)是一種在真空環(huán)境中通過襯底表面化學(xué)反應(yīng)來進(jìn)行薄膜生長的過程,較短的工藝時間以及所制備薄膜....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-14 10:18 ?908次閱讀
詳解原子層沉積薄膜制備技術(shù)

淺談光纖激光器的工作原理

光纖激光器是一種放大介質(zhì)為光纖的激光器。它是一個需要供電的有源模塊(就像電子產(chǎn)品中的有源電子元件),....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-13 15:34 ?1409次閱讀
淺談光纖激光器的工作原理

芯片傳統(tǒng)封裝形式介紹

微電子封裝技術(shù)每15年左右更新迭代一次。1955年起,晶體管外形(TO)封裝成為主流,主要用于封裝晶....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-13 10:10 ?2067次閱讀
芯片傳統(tǒng)封裝形式介紹

封裝工藝中的倒裝封裝技術(shù)

業(yè)界普遍認(rèn)為,倒裝封裝是傳統(tǒng)封裝和先進(jìn)封裝的分界點。
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-13 10:01 ?1146次閱讀
封裝工藝中的倒裝封裝技術(shù)

FPGA芯片的概念和結(jié)構(gòu)

FPGA(Field Programmable Gate Array,現(xiàn)場可編程門陣列),是一種可在....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-12 09:30 ?1952次閱讀

半導(dǎo)體芯片中的互連層次

在半導(dǎo)體芯片中,數(shù)十億晶體管需要通過金屬互連線(Interconnect)連接成復(fù)雜電路。隨著制程進(jìn)....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-12 09:29 ?1380次閱讀
半導(dǎo)體芯片中的互連層次

硅單晶片電阻率均勻性的影響因素

直拉硅單晶生長的過程是熔融的多晶硅逐漸結(jié)晶生長為固態(tài)的單晶硅的過程,沒有雜質(zhì)的本征硅單晶的電阻率很高....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-09 13:58 ?819次閱讀
硅單晶片電阻率均勻性的影響因素

簡單認(rèn)識晶圓減薄技術(shù)

在半導(dǎo)體制造流程中,晶圓在前端工藝階段需保持一定厚度,以確保其在流片過程中的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性,避免彎曲變形....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-09 13:55 ?1265次閱讀

半導(dǎo)體電鍍工藝介紹

Plating(電鍍)是一種電化學(xué)過程,通過此過程在基片(wafer)表面沉積金屬層。在微電子領(lǐng)域,....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-09 10:22 ?1117次閱讀

詳談X射線光刻技術(shù)

隨著極紫外光刻(EUV)技術(shù)面臨光源功率和掩模缺陷挑戰(zhàn),X射線光刻技術(shù)憑借其固有優(yōu)勢,在特定領(lǐng)域正形....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-09 10:08 ?966次閱讀
詳談X射線光刻技術(shù)

通過LPCVD制備氮化硅低應(yīng)力膜

本文介紹了通過LPCVD制備氮化硅低應(yīng)力膜 氮化硅膜在MEMS中應(yīng)用十分廣泛,可作為支撐層、....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-09 10:07 ?763次閱讀
通過LPCVD制備氮化硅低應(yīng)力膜

CPU Socket的基本結(jié)構(gòu)和工作原理

CPU Socket是連接中央處理單元(CPU)與計算機(jī)主板之間的關(guān)鍵部件,它充當(dāng)著傳遞電信號、電源....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-08 17:14 ?1415次閱讀

半導(dǎo)體封裝工藝流程的主要步驟

半導(dǎo)體的典型封裝工藝流程包括芯片減薄、芯片切割、芯片貼裝、芯片互連、成型固化、去飛邊毛刺、切筋成型、....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-08 15:15 ?3136次閱讀
半導(dǎo)體封裝工藝流程的主要步驟

淺談光通信激光器的關(guān)鍵特性

當(dāng)激光器導(dǎo)通時,開始產(chǎn)生自發(fā)輻射的光子直到載流子密度超過一個閾值。因而,產(chǎn)生受激輻射,也就是說,真實....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-08 15:12 ?631次閱讀
淺談光通信激光器的關(guān)鍵特性

晶圓級封裝技術(shù)的概念和優(yōu)劣勢

圓片級封裝(WLP),也稱為晶圓級封裝,是一種直接在晶圓上完成大部分或全部封裝測試程序,再進(jìn)行切割制....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-08 15:09 ?1303次閱讀
晶圓級封裝技術(shù)的概念和優(yōu)劣勢

關(guān)鍵尺寸掃描電子顯微鏡技術(shù)解讀

計量學(xué)是推動當(dāng)前及未來幾代半導(dǎo)體器件開發(fā)與制造的重要基石。隨著技術(shù)節(jié)點不斷縮小至100納米,甚至更小....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-07 15:18 ?1349次閱讀
關(guān)鍵尺寸掃描電子顯微鏡技術(shù)解讀

晶圓制備工藝與清洗工藝介紹

晶圓制備是材料科學(xué)、熱力學(xué)與精密控制的綜合體現(xiàn),每一環(huán)節(jié)均凝聚著工程技術(shù)的極致追求。而晶圓清洗本質(zhì)是....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-07 15:12 ?1787次閱讀
晶圓制備工藝與清洗工藝介紹

半導(dǎo)體存儲器測試圖形技術(shù)解析

在半導(dǎo)體存儲器測試中,測試圖形(Test Pattern)是檢測故障、驗證可靠性的核心工具。根據(jù)測試....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-07 09:33 ?776次閱讀
半導(dǎo)體存儲器測試圖形技術(shù)解析

芯片制造中的阻擋層沉積技術(shù)介紹

本文介紹了在芯片銅互連工藝中需要阻擋層的原因以及關(guān)鍵工藝流程。
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-03 12:56 ?2237次閱讀
芯片制造中的阻擋層沉積技術(shù)介紹

半導(dǎo)體選擇性外延生長技術(shù)的發(fā)展歷史

選擇性外延生長(SEG)是當(dāng)今關(guān)鍵的前端工藝(FEOL)技術(shù)之一,已在CMOS器件制造中使用了20年....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 05-03 12:51 ?3121次閱讀
半導(dǎo)體選擇性外延生長技術(shù)的發(fā)展歷史

晶圓揀選測試的具體過程和核心要點

在半導(dǎo)體制造流程中,晶圓揀選測試(Wafer Sort)堪稱芯片從“原材料”到“成品”的關(guān)鍵質(zhì)控節(jié)點....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 04-30 15:48 ?5284次閱讀
晶圓揀選測試的具體過程和核心要點

一文詳解電子束光刻技術(shù)

本文系統(tǒng)梳理了直寫式、多電子束與投影式EBL的關(guān)鍵技術(shù)路徑,涵蓋掃描策略、束流整形、鄰近效應(yīng)校正與系....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 04-30 11:00 ?2804次閱讀
一文詳解電子束光刻技術(shù)

FPGA芯片選型的核心原則

本文總結(jié)了FPGA選型的核心原則和流程,旨在為設(shè)計人員提供決策依據(jù),確保項目成功。
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 04-30 10:58 ?944次閱讀

光刻膠的類型及特性

光刻膠類型及特性光刻膠(Photoresist),又稱光致抗蝕劑,是芯片制造中光刻工藝的核心材料。其....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 04-29 13:59 ?5385次閱讀
光刻膠的類型及特性

TSSG生產(chǎn)碳化硅的優(yōu)勢

微管是SiC晶體中極為有害的缺陷,哪怕數(shù)量極少,也會對SiC器件的性能產(chǎn)生毀滅性打擊。在傳統(tǒng)物理氣相....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 04-24 11:07 ?596次閱讀
TSSG生產(chǎn)碳化硅的優(yōu)勢

基于自由空間光學(xué)的通信非地面網(wǎng)絡(luò)

本文介紹了6G技術(shù)的關(guān)鍵技術(shù)之一:通訊非地面網(wǎng)絡(luò)。
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 04-23 10:58 ?579次閱讀
基于自由空間光學(xué)的通信非地面網(wǎng)絡(luò)

芯片離子注入后退火會引入的工藝問題

本文簡單介紹了芯片離子注入后退火會引入的工藝問題:射程末端(EOR)缺陷、硼離子注入退火問題和磷離子....
的頭像 中科院半導(dǎo)體所 發(fā)表于 04-23 10:54 ?1143次閱讀
芯片離子注入后退火會引入的工藝問題