SOI晶圓片結(jié)構(gòu)特性由硅層厚度、BOX層厚度、Si-SiO?界面狀態(tài)及薄膜缺陷與應(yīng)力分布共同決定,其厚度調(diào)控范圍覆蓋MEMS應(yīng)用的微米級至先進(jìn)CMOS的納米級。
2025-12-26 15:21:23
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大尺寸硅晶圓槽式清洗機(jī)的參數(shù)化設(shè)計是一個復(fù)雜而精細(xì)的過程,它涉及多個關(guān)鍵參數(shù)的優(yōu)化與協(xié)同工作,以確保清洗效果、設(shè)備穩(wěn)定性及生產(chǎn)效率。以下是對這一設(shè)計過程的詳細(xì)闡述:清洗對象適配性晶圓尺寸與厚度兼容性
2025-12-17 11:25:31
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、工業(yè)生產(chǎn)線等多個關(guān)鍵場景,為不同領(lǐng)域的數(shù)字化轉(zhuǎn)型注入強(qiáng)勁動力。醫(yī)藥行業(yè)對產(chǎn)品追溯與信息準(zhǔn)確性的要求極為嚴(yán)苛,新大陸掃描設(shè)備在此領(lǐng)域展現(xiàn)出獨(dú)特優(yōu)勢。針對藥品追溯需求,F(xiàn)M
2025-12-02 15:22:05
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格羅方德(GlobalFoundries,納斯達(dá)克代碼:GFS)宣布收購總部位于新加坡的硅光晶圓代工廠Advanced Micro Foundry(AMF),此舉標(biāo)志著格羅方德在推進(jìn)硅光技術(shù)創(chuàng)新
2025-11-19 10:54:53
430 12寸晶圓(直徑300mm)的制造工藝是一個高度復(fù)雜且精密的過程,涉及材料科學(xué)、半導(dǎo)體物理和先進(jìn)設(shè)備技術(shù)的結(jié)合。以下是其核心工藝流程及關(guān)鍵技術(shù)要點(diǎn): 一、單晶硅生長與晶圓成型 高純度多晶硅提純 原料
2025-11-17 11:50:20
327 在超高純度晶圓制造過程中,盡管晶圓本身需達(dá)到11個9(99.999999999%)以上的純度標(biāo)準(zhǔn)以維持基礎(chǔ)半導(dǎo)體特性,但為實(shí)現(xiàn)集成電路的功能化構(gòu)建,必須通過摻雜工藝在硅襯底表面局部引入特定雜質(zhì)。
2025-10-29 14:21:31
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在現(xiàn)代倉儲管理中,效率與準(zhǔn)確性是企業(yè)降本增效的關(guān)鍵,而新大陸智能終端pda的出現(xiàn),正為倉儲管理的數(shù)字化升級提供了強(qiáng)有力的支撐。作為專為倉儲場景設(shè)計的智能設(shè)備,新大陸pda憑借強(qiáng)大的功能,從庫存管理
2025-10-22 16:04:34
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關(guān)于晶圓和芯片哪個更難制造的問題,實(shí)際上兩者都涉及極高的技術(shù)門檻和復(fù)雜的工藝流程,但它們的難點(diǎn)側(cè)重不同。以下是具體分析:晶圓制造的難度核心材料提純與單晶生長超高純度要求:電子級硅需達(dá)到
2025-10-15 14:04:54
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半導(dǎo)體制造工藝中,經(jīng)晶棒切割后的硅晶圓尺寸檢測,是保障后續(xù)制程精度的核心環(huán)節(jié)。共聚焦顯微鏡憑借其高分辨率成像能力與無損檢測特性,成為檢測過程的關(guān)鍵分析工具。下文,光子灣科技將詳解共聚焦顯微鏡檢測硅晶
2025-10-14 18:03:26
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再生晶圓與普通晶圓在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈中扮演著不同角色,二者的核心區(qū)別體現(xiàn)在來源、制造工藝、性能指標(biāo)及應(yīng)用場景等方面。以下是具體分析:定義與來源差異普通晶圓:指全新生產(chǎn)的硅基材料,由高純度多晶硅經(jīng)拉單晶
2025-09-23 11:14:55
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在半導(dǎo)體制造中,不同尺寸的晶圓對甩干機(jī)的轉(zhuǎn)速需求存在差異,但通常遵循以下規(guī)律:小尺寸晶圓(如≤8英寸)這類晶圓由于質(zhì)量較輕、結(jié)構(gòu)相對簡單,可采用較高的轉(zhuǎn)速進(jìn)行離心甩干。常見范圍為3000–10000
2025-09-17 10:55:54
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本文主要講述什么是晶圓級芯粒封裝中的分立式功率器件。 分立式功率器件作為電源管理系統(tǒng)的核心單元,涵蓋二極管、MOSFET、IGBT等關(guān)鍵產(chǎn)品,在個人計算機(jī)、服務(wù)器等終端設(shè)備功率密度需求攀升的當(dāng)下,其封裝技術(shù)正加速向晶圓級芯片級封裝演進(jìn)——通過縮小體積、提升集成效率,滿足設(shè)備小型化與高性能的雙重需求。
2025-09-05 09:45:40
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MEMS晶圓級電鍍是一種在微機(jī)電系統(tǒng)制造過程中,整個硅晶圓表面通過電化學(xué)方法選擇性沉積金屬微結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵工藝。該技術(shù)的核心在于其晶圓級和圖形化特性:它能在同一時間對晶圓上的成千上萬個器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行批量加工,極大地提高了生產(chǎn)效率和一致性,是實(shí)現(xiàn)MEMS器件低成本、批量化制造的核心技術(shù)之一。
2025-09-01 16:07:28
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WD4000晶圓厚度翹曲度測量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度,TTV
2025-08-25 11:29:30
簡單來說,Die(發(fā)音為/da?/,中文常稱為裸片、裸晶、晶粒或晶片)是指從一整片圓形硅晶圓(Wafer)上,通過精密切割(Dicing)工藝分離下來的、單個含有完整集成電路(IC)功能的小方塊。
2025-08-21 10:46:54
3211 WD4000晶圓顯微形貌測量系統(tǒng)通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。WD4000晶圓顯微
2025-08-20 11:26:59
WD4000晶圓膜厚測量系統(tǒng)通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。WD4000晶圓膜厚測量
2025-08-12 15:47:19
晶棒需要經(jīng)過一系列加工,才能形成符合半導(dǎo)體制造要求的硅襯底,即晶圓。加工的基本流程為:滾磨、切斷、切片、硅片退火、倒角、研磨、拋光,以及清洗與包裝等。
2025-08-12 10:43:43
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本文主要講述TSV工藝中的硅晶圓減薄與銅平坦化。 硅晶圓減薄與銅平坦化作為 TSV 三維集成技術(shù)的核心環(huán)節(jié),主要應(yīng)用于含銅 TSV 互連的減薄芯片制造流程,為該技術(shù)實(shí)現(xiàn)短互連長度、小尺寸、高集成度等特性提供了重要支撐。
2025-08-12 10:35:00
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晶圓清洗工藝是半導(dǎo)體制造中的關(guān)鍵步驟,用于去除晶圓表面的污染物(如顆粒、有機(jī)物、金屬離子和氧化物),確保后續(xù)工藝(如光刻、沉積、刻蝕)的良率和器件性能。根據(jù)清洗介質(zhì)、工藝原理和設(shè)備類型的不同,晶圓
2025-07-23 14:32:16
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晶圓清洗機(jī)中的晶圓夾持是確保晶圓在清洗過程中保持穩(wěn)定、避免污染或損傷的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。以下是晶圓夾持的設(shè)計原理、技術(shù)要點(diǎn)及實(shí)現(xiàn)方式: 1. 夾持方式分類 根據(jù)晶圓尺寸(如2英寸到12英寸)和工藝需求,夾持
2025-07-23 14:25:43
928 不同晶圓尺寸的清洗工藝存在顯著差異,主要源于其表面積、厚度、機(jī)械強(qiáng)度、污染特性及應(yīng)用場景的不同。以下是針對不同晶圓尺寸(如2英寸、4英寸、6英寸、8英寸、12英寸等)的清洗區(qū)別及關(guān)鍵要點(diǎn):一、晶圓
2025-07-22 16:51:19
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晶圓蝕刻與擴(kuò)散是半導(dǎo)體制造中兩個關(guān)鍵工藝步驟,分別用于圖形化蝕刻和雜質(zhì)摻雜。以下是兩者的工藝流程、原理及技術(shù)要點(diǎn)的詳細(xì)介紹:一、晶圓蝕刻工藝流程1.蝕刻的目的圖形化轉(zhuǎn)移:將光刻膠圖案轉(zhuǎn)移到晶圓表面
2025-07-15 15:00:22
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WD4000晶圓厚度THK幾何量測系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度,TTV
2025-07-10 13:42:33
超薄晶圓因其厚度極薄,在切割時對振動更為敏感,易影響厚度均勻性。我將從分析振動對超薄晶圓切割的影響出發(fā),探討針對性的振動控制技術(shù)和厚度均勻性保障策略。
超薄晶圓(
2025-07-09 09:52:03
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On Wafer WLS無線晶圓測溫系統(tǒng)通過自主研發(fā)的核心技術(shù)將傳感器嵌入晶圓集成,實(shí)時監(jiān)控和記錄晶圓在制程過程中的溫度變化數(shù)據(jù),為半導(dǎo)體制造過程提供一種高效可靠的方式來監(jiān)測和優(yōu)化關(guān)鍵
2025-06-27 10:37:30
的實(shí)時監(jiān)測。從物理結(jié)構(gòu)看,TCWafer由作為基底的晶圓片(硅、藍(lán)寶石或碳化硅材質(zhì))和分布式溫度傳感器網(wǎng)絡(luò)組成,通過特殊加工工藝將耐高溫傳感器以焊接方式固定在晶圓特
2025-06-27 10:03:14
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在半導(dǎo)體制造的精密流程中,晶圓載具清洗機(jī)是確保芯片良率與性能的關(guān)鍵設(shè)備。它專門用于清潔承載晶圓的載具(如載具、花籃、托盤等),避免污染物通過載具轉(zhuǎn)移至晶圓表面,從而保障芯片制造的潔凈度與穩(wěn)定性。本文
2025-06-25 10:47:33
WD4000晶圓厚度測量設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度,TTV,BOW
2025-06-18 15:40:06
摘要:本文探討晶圓邊緣 TTV 測量在半導(dǎo)體制造中的重要意義,分析其對芯片制造工藝、器件性能和生產(chǎn)良品率的影響,同時研究測量方法、測量設(shè)備精度等因素對測量結(jié)果的作用,為提升半導(dǎo)體制造質(zhì)量提供理論依據(jù)
2025-06-14 09:42:58
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硅晶圓揀選測試作為半導(dǎo)體制造流程中的關(guān)鍵質(zhì)量控制環(huán)節(jié),旨在通過系統(tǒng)性電氣檢測篩選出功能異常的芯片。該測試體系主要包含直流特性分析、輸出驅(qū)動能力驗(yàn)證和功能邏輯驗(yàn)證三大核心模塊,各模塊依據(jù)器件物理特性與功能需求設(shè)計了差異化的檢測方法與技術(shù)路徑。
2025-06-11 09:49:44
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貼膜是指將一片經(jīng)過減薄處理的晶圓(Wafer)固定在一層特殊的膠膜上,這層膜通常為藍(lán)色,業(yè)內(nèi)常稱為“ 藍(lán)膜 ”。貼膜的目的是為后續(xù)的晶圓切割(劃片)工藝做準(zhǔn)備。
2025-06-03 18:20:59
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晶圓是半導(dǎo)體制造的核心基材,所有集成電路(IC)均構(gòu)建于晶圓之上,其質(zhì)量直接決定芯片性能、功耗和可靠性,是摩爾定律持續(xù)推進(jìn)的物質(zhì)基礎(chǔ)。其中晶圓的厚度(THK)、翹曲度(Warp) 和彎曲度(Bow
2025-05-28 16:12:46
表面與清洗設(shè)備(如夾具、刷子、兆聲波噴嘴)或化學(xué)液膜接觸時,因材料電子親和力差異(如半導(dǎo)體硅與金屬夾具的功函數(shù)不同),發(fā)生電荷轉(zhuǎn)移。例如,晶圓表面的二氧化硅(SiO?)與聚丙烯(PP)材質(zhì)的夾具摩擦后,可能因電子轉(zhuǎn)移產(chǎn)生凈電荷。 液體介質(zhì)影響:清洗
2025-05-28 13:38:40
737 關(guān)鍵詞:鍵合晶圓;TTV 質(zhì)量;晶圓預(yù)處理;鍵合工藝;檢測機(jī)制 一、引言 在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,鍵合晶圓技術(shù)廣泛應(yīng)用于三維集成、傳感器制造等領(lǐng)域。然而,鍵合過程中諸多因素會導(dǎo)致晶圓總厚度偏差(TTV
2025-05-26 09:24:36
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摘要:本文針對濕法腐蝕工藝后晶圓總厚度偏差(TTV)的管控問題,探討從工藝參數(shù)優(yōu)化、設(shè)備改進(jìn)及檢測反饋機(jī)制完善等方面入手,提出一系列優(yōu)化方法,以有效降低濕法腐蝕后晶圓 TTV,提升晶圓制造質(zhì)量
2025-05-22 10:05:57
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摘要:本文針對晶圓切割過程中 TTV(總厚度偏差)控制難題,提出一種用于切割晶圓 TTV 控制的硅棒安裝機(jī)構(gòu)。詳細(xì)介紹該機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)設(shè)計、工作原理及其在控制 TTV 方面的技術(shù)優(yōu)勢,為提升晶圓切割質(zhì)量
2025-05-21 11:00:27
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摘要:本文聚焦于降低晶圓 TTV(總厚度偏差)的磨片加工方法,通過對磨片設(shè)備、工藝參數(shù)的優(yōu)化以及研磨拋光流程的改進(jìn),有效控制晶圓 TTV 值,提升晶圓質(zhì)量,為半導(dǎo)體制造提供實(shí)用技術(shù)參考。 關(guān)鍵詞:晶
2025-05-20 17:51:39
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?隨著半導(dǎo)體制造工藝的生產(chǎn)自動化需求以及生產(chǎn)精度、流程可控性的需求,晶圓卡塞盒作為承載晶圓的核心載體,其管理效率直接影響到生產(chǎn)流程的穩(wěn)定性和產(chǎn)品質(zhì)量。本文將結(jié)合RFID技術(shù)與半導(dǎo)體行業(yè)的需求,闡述
2025-05-20 14:57:31
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前言在半導(dǎo)體制造的前段制程中,晶圓需要具備足夠的厚度,以確保其在流片過程中的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。盡管芯片功能層的制備僅涉及晶圓表面幾微米范圍,但完整厚度的晶圓更有利于保障復(fù)雜工藝的順利進(jìn)行,直至芯片前制程
2025-05-16 16:58:44
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在半導(dǎo)體制造流程中,晶圓在前端工藝階段需保持一定厚度,以確保其在流片過程中的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性,避免彎曲變形,并為芯片制造工藝提供操作便利。不同規(guī)格晶圓的原始厚度存在差異:4英寸晶圓厚度約為520微米,6
2025-05-09 13:55:51
1975 本文介紹了半導(dǎo)體集成電路制造中的晶圓制備、晶圓制造和晶圓測試三個關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
2025-04-15 17:14:37
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晶圓高溫清洗蝕刻工藝是半導(dǎo)體制造過程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),對于確保芯片的性能和質(zhì)量至關(guān)重要。為此,在目前市場需求的增長情況下,我們來給大家介紹一下詳情。 一、工藝原理 清洗原理 高溫清洗利用物理和化學(xué)的作用
2025-04-15 10:01:33
1096 晶圓浸泡式清洗方法是半導(dǎo)體制造過程中的一種重要清洗技術(shù),它旨在通過將晶圓浸泡在特定的化學(xué)溶液中,去除晶圓表面的雜質(zhì)、顆粒和污染物,以確保晶圓的清潔度和后續(xù)加工的質(zhì)量。以下是對晶圓浸泡式清洗方法的詳細(xì)
2025-04-14 15:18:54
766 芯片制造的畫布 芯片制造的畫布:晶圓的奧秘與使命 在芯片制造的宏大舞臺上,晶圓(Wafer)扮演著至關(guān)重要的角色。它如同一張潔白的畫布,承載著無數(shù)工程師的智慧與夢想,見證著從砂礫到智能的奇跡之旅。晶
2025-03-10 17:04:25
1542 硅片,作為制造硅半導(dǎo)體電路的基礎(chǔ),源自高純度的硅材料。這一過程中,多晶硅被熔融并摻入特定的硅晶體種子,隨后緩緩拉制成圓柱狀的單晶硅棒。經(jīng)過精細(xì)的研磨、拋光及切片步驟,這些硅棒被轉(zhuǎn)化為硅片,業(yè)界通常稱之為晶圓,其中8英寸和12英寸規(guī)格在國內(nèi)生產(chǎn)線中占據(jù)主導(dǎo)地位。
2025-03-01 14:34:51
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日本硅晶圓制造商Sumco宣布,將在2026年底前停止宮崎工廠的硅晶圓生產(chǎn)。 Sumco報告稱,主要用于消費(fèi)、工業(yè)和汽車應(yīng)用的小直徑晶圓需求仍然疲軟。具體而言,隨著客戶要么轉(zhuǎn)向200毫米晶圓,要么在
2025-02-20 16:36:31
815 隨著半導(dǎo)體器件的復(fù)雜性不斷提高,對精確可靠的晶圓測試解決方案的需求也從未像現(xiàn)在這樣高。從5G、物聯(lián)網(wǎng)和人工智能應(yīng)用,到先進(jìn)封裝和高帶寬存儲器(HBM),在晶圓級確保設(shè)備性能和產(chǎn)量是半導(dǎo)體制造過程中的關(guān)鍵步驟。
2025-02-17 13:51:16
1331 下降了2.7%,總量達(dá)到122.66億平方英寸,顯示出市場需求的一定疲軟,但這一數(shù)據(jù)卻預(yù)示著市場正逐步走出低谷。與此同時,硅晶圓行業(yè)的營收也受到了一定程度的影響,同比下降6.5%,降至115億美元。然而,隨著下半年市場需求的逐漸回暖,這一趨勢有望得到逆轉(zhuǎn)。
2025-02-17 10:44:17
840 在當(dāng)今智能化、自動化的浪潮中,新大陸條碼掃描模塊憑借其卓越的識讀性能與高度靈活性,成為了眾多設(shè)備制造商首選的嵌入式組件。如何精準(zhǔn)地選擇一款適合自身產(chǎn)品需求的條碼掃描模塊,是每位制造商在提升產(chǎn)品競爭力
2025-02-14 13:40:10
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近日,日本知名硅晶圓制造商Sumco宣布了一項(xiàng)重要戰(zhàn)略決策,計劃于2026年底前停止其宮崎工廠的硅晶圓生產(chǎn)。這一舉措是Sumco為優(yōu)化產(chǎn)品組合、提高盈利能力而采取的關(guān)鍵步驟。
2025-02-13 16:46:52
1215 大家元宵節(jié)快樂!
半導(dǎo)體新人,想尋求一家紙箱供應(yīng)商。
用于我司成品晶圓發(fā)貨,主要是6寸和8寸晶圓。
我司成立尚短,采購供應(yīng)商庫里沒有合適的廠家,因此來求助發(fā)燒友們。
我們的需求是:
瓦楞紙箱(質(zhì)量
2025-02-12 18:04:36
據(jù)SEMI(國際半導(dǎo)體材料產(chǎn)業(yè)協(xié)會)近日發(fā)布的硅片行業(yè)年終分析報告顯示,2024年全球硅晶圓出貨量預(yù)計將出現(xiàn)2.7%的同比下降,總量達(dá)到122.66億平方英寸(MSI)。與此同時,硅晶圓的銷售額也呈現(xiàn)出下滑趨勢,同比下降6.5%,預(yù)計總額約為115億美元。
2025-02-12 17:16:27
890 Dicing 是指將制造完成的晶圓(Wafer)切割成單個 Die 的工藝步驟,是從晶圓到獨(dú)立芯片生產(chǎn)的重要環(huán)節(jié)之一。每個 Die 都是一個功能單元,Dicing 的精準(zhǔn)性直接影響芯片的良率和性能。
2025-02-11 14:28:49
2943 在半導(dǎo)體制造的復(fù)雜流程中,晶圓歷經(jīng)前道工序完成芯片制備后,劃片工藝成為將芯片從晶圓上分離的關(guān)鍵環(huán)節(jié),為后續(xù)封裝奠定基礎(chǔ)。由于不同厚度的晶圓具有各異的物理特性,因此需匹配不同的切割工藝,以確保切割效果與芯片質(zhì)量。
2025-02-07 09:41:00
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在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,晶圓作為芯片的基礎(chǔ)母材,其質(zhì)量把控的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一便是對 BOW(彎曲度)的精確測量。而在測量過程中,特氟龍夾具的晶圓夾持方式與傳統(tǒng)的真空吸附方式有著截然不同的特性,這些差異深刻影響
2025-01-21 09:36:24
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新大陸工業(yè)讀碼器,作為現(xiàn)代自動化與信息化融合的杰出代表,其應(yīng)用范圍之廣、功能之強(qiáng),正深刻改變著多個行業(yè)的運(yùn)作模式。從繁忙的工業(yè)生產(chǎn)線到靜謐的圖書館書架,從商品琳瑯滿目的零售倉庫到精密復(fù)雜的醫(yī)藥倉儲
2025-01-14 15:18:43
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都說晶圓清洗機(jī)是用于晶圓清洗的,既然說是全自動的。我們更加好奇的點(diǎn)一定是如何自動實(shí)現(xiàn)晶圓清洗呢?效果怎么樣呢?好多疑問。我們先來給大家介紹這個根本問題,就是全自動晶圓清洗機(jī)的工作是如何實(shí)現(xiàn)
2025-01-10 10:09:19
1113 在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,晶圓的加工精度和質(zhì)量控制至關(guān)重要,其中對晶圓 BOW(彎曲度)和 WARP(翹曲度)的精確測量更是關(guān)鍵環(huán)節(jié)。不同的吸附方案被應(yīng)用于晶圓測量過程中,而晶圓的環(huán)吸方案因其獨(dú)特
2025-01-09 17:00:10
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近日,比特大陸宣布與意大利知名加密貨幣挖礦公司Alps Blockchain達(dá)成了一項(xiàng)重要合作。根據(jù)協(xié)議,Alps Blockchain將采購萬余臺比特大陸先進(jìn)的水冷礦機(jī)ANTMINER S21+
2025-01-09 16:12:39
1201 第一個工藝過程:晶圓及其制造過程。 ? 為什么晶圓制造如此重要 隨著技術(shù)進(jìn)步,晶圓的需求量持續(xù)增長。目前國內(nèi)市場硅片尺寸主流為100mm、150mm和200mm,硅片直徑的增大會導(dǎo)致降低單個芯片制造成本的降低,所以目前300mm硅片的需求量也在
2025-01-09 09:59:26
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。在此之前,皖芯集成的注冊資本僅為5000.01萬元。 本次增資完成后,晶合集成持有皖芯集成的股權(quán)比例變更為43.75%,仍為第一大股東。 據(jù)TrendForce公布的24Q1全球晶圓代工廠商營收排名,晶合集成位居全球前九,是中國大陸本土第三的晶圓代工廠商。
2025-01-07 17:33:09
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? 1、不同型號的8寸晶圓清洗機(jī),其清洗槽的尺寸可能會有所不同。例如,某些設(shè)備可能具有較大的清洗槽以容納更多的晶圓或提供更復(fù)雜的清洗工藝。 2、不同的制造商在設(shè)計8寸晶圓清洗機(jī)時,可能會根據(jù)其技術(shù)特點(diǎn)、市場需求和客戶反
2025-01-07 16:08:37
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