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金相顯微組織分析

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2026-01-05 17:25:54102

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一文快速了解金相顯微鏡:基本原理、構(gòu)造及應(yīng)用

金相顯微鏡(MetallographicMicroscope)是專(zhuān)門(mén)用于觀察金屬和合金微觀組織結(jié)構(gòu)的光學(xué)儀器。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),它就像是材料科學(xué)家的“眼睛”,能將金屬材料放大50~1000倍,讓我們看清肉眼
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共聚焦顯微鏡三維表征:鏡面鋁光澤度研究

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2025-12-25 18:04:4565

從入門(mén)到高端:金相顯微鏡十大品牌選購(gòu)全攻略

金相顯微鏡是一種專(zhuān)門(mén)用于觀察和分析金屬及其合金微觀結(jié)構(gòu)的顯微鏡。它通過(guò)高倍放大的光學(xué)系統(tǒng),幫助用戶研究材料的金相組織、晶粒大小、相分布、缺陷(如裂紋、氣孔)以及其它微觀特征。目前行業(yè)內(nèi)公認(rèn)的國(guó)、內(nèi)外
2025-12-25 16:27:49686

一文讀懂:共聚焦顯微鏡的六種掃描方法

共聚焦顯微成像技術(shù)憑借其優(yōu)異的光學(xué)切片能力和三維分辨率,已成為微觀結(jié)構(gòu)觀測(cè)與表面形貌測(cè)量中的重要工具。下文,光子灣科技將系統(tǒng)梳理共聚焦顯微鏡的核心組成與關(guān)鍵掃描方式,并探討其在材料檢測(cè)、工業(yè)集成等
2025-12-23 18:02:121039

共聚焦顯微鏡在金相分析中的應(yīng)用與優(yōu)勢(shì)

金相分析是揭示金屬材料微觀組織結(jié)構(gòu)、建立其與性能間關(guān)聯(lián)的核心技術(shù)。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡受限于景深與分辨率,難以應(yīng)對(duì)粗糙表面及三維結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)表征。光子灣科技的共聚焦顯微鏡憑借其光學(xué)切片與三維成像能力,為金相分析
2025-12-18 18:05:52111

加速突破:2025 全國(guó)表界面高分辨表征技術(shù)研討會(huì)暨原子力顯微分析技術(shù)論壇完美收官

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共聚焦顯微鏡和傳統(tǒng)顯微鏡有什么區(qū)別

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2025-12-12 18:03:34304

三維表面形貌測(cè)量中的共聚焦顯微成像技術(shù)研究

,光子灣科技將系統(tǒng)綜述共聚焦顯微成像在三維形貌測(cè)量中的技術(shù),重點(diǎn)圍繞掃描方法、探測(cè)數(shù)據(jù)分析及光譜編碼技術(shù)三個(gè)方面展開(kāi)。#Photonixbay.共聚焦掃描方法單點(diǎn)掃描
2025-12-09 18:05:46189

NS3500 激光共聚焦顯微

顯微
jf_63802704發(fā)布于 2025-12-05 13:32:54

水浸超聲掃描顯微鏡(C-SAM)與其他無(wú)損檢測(cè)技術(shù)對(duì)比分析

無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是現(xiàn)代工業(yè)質(zhì)量控制與安全評(píng)估中不可或缺的一環(huán),它能夠在不對(duì)材料或構(gòu)件造成破壞的前提下,檢測(cè)其內(nèi)部或表面的缺陷,從而保障產(chǎn)品的可靠性與安全性。在各種無(wú)損檢測(cè)方法中,水浸超聲掃描顯微
2025-12-04 14:08:29144

使用簡(jiǎn)儀科技產(chǎn)品構(gòu)建掃描隧道顯微鏡控制快速原型系統(tǒng)

掃描隧道顯微鏡,利用量子隧道效應(yīng),獲取樣本表面立體形狀,是研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)外貌的利器。用戶希望構(gòu)建一套靈活可重構(gòu)的電子學(xué)系統(tǒng),通過(guò)軟件快速原型技術(shù),設(shè)計(jì)性能更好,適用材料更廣的掃描隧道顯微鏡。
2025-11-27 10:03:17320

鋼鐵材料的微觀結(jié)構(gòu)三維成像分析

共聚焦顯微鏡(CLSM)作為現(xiàn)代材料科學(xué)中重要的表征工具,憑借其高分辨率、三維成像與實(shí)時(shí)原位觀測(cè)能力,在鋼鐵材料的微觀組織分析、相變行為研究和工程性能評(píng)估中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。下文,光子灣科技將系統(tǒng)闡述
2025-11-25 18:05:00288

南昌大學(xué)在高分辨率光聲顯微成像方面獲得突破

圖1.(a)自主研發(fā)的PAM系統(tǒng)。(b)利用均值擴(kuò)散模型對(duì)稀疏采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行重建,獲得高質(zhì)量圖像 研究背景 光聲顯微術(shù)成像(Photoacoustic Microscopy,PAM)是一種非侵入性
2025-11-20 07:36:17101

共聚焦顯微鏡在高分子材料研究中的應(yīng)用

共聚焦顯微鏡作為一種深層形態(tài)結(jié)構(gòu)分析的重要工具,具備無(wú)損、快速、三維成像等優(yōu)勢(shì),廣泛應(yīng)用于高分子材料的多組分體系、顆粒、薄膜、自組裝結(jié)構(gòu)等研究。下文,光子灣科技系統(tǒng)介紹其工作原理與在高分子材料
2025-11-13 18:09:27358

超景深顯微鏡在材料學(xué)中的應(yīng)用

超景深顯微鏡是顯微成像領(lǐng)域的關(guān)鍵技術(shù)突破,通過(guò)特殊光學(xué)設(shè)計(jì)與先進(jìn)圖像處理算法,實(shí)現(xiàn)大景深成像,單一視場(chǎng)即可獲取整體清晰的樣本圖像,大幅提升顯微觀察的精準(zhǔn)度與效率。超景深技術(shù)通過(guò)采集多焦平面圖像,經(jīng)
2025-11-11 18:03:411211

共聚焦顯微鏡(LSCM)的關(guān)鍵參數(shù)解析

共聚焦顯微鏡作為一種高分辨率三維成像工具,已在半導(dǎo)體、材料科學(xué)等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。憑借其精準(zhǔn)的光學(xué)切片與三維重建功能,研究人員能夠獲取納米尺度結(jié)構(gòu)的高清圖像。下文,光子灣科技將系統(tǒng)解析共聚焦顯微鏡的核心
2025-11-04 18:05:19470

晶背暴露的MOS管漏電怎么查?熱紅外顯微鏡Thermal EMMI 熱點(diǎn)分析案例

分享來(lái)自一次用熱紅外顯微鏡Thermal EMMI日常測(cè)試的記錄#工程師的日常 通過(guò)IV曲線和紅外熱像分析,發(fā)熱點(diǎn)位置清晰呈現(xiàn)。 不同材質(zhì)、不同結(jié)構(gòu)帶來(lái)的熱分布差異,讓我們能更直觀地理解器件內(nèi)部
2025-10-31 16:08:331256

一文讀懂共聚焦顯微鏡的主分光裝置

共聚焦顯微鏡(CLSM)是對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器,其“光學(xué)切片”能力的實(shí)現(xiàn)高度依賴光路中激發(fā)光與發(fā)射光的精準(zhǔn)分離——這一功能由主分光裝置主導(dǎo)完成。下文,光子灣科技將系統(tǒng)
2025-10-30 18:04:56792

晶圓清洗后如何判斷是否完全干燥

判斷晶圓清洗后是否完全干燥需要綜合運(yùn)用多種物理檢測(cè)方法和工藝監(jiān)控手段,以下是具體的實(shí)施策略與技術(shù)要點(diǎn):1.目視檢查與光學(xué)顯微分析表面反光特性觀察:在高強(qiáng)度冷光源斜射條件下,完全干燥的晶圓呈現(xiàn)均勻
2025-10-27 11:27:01258

簡(jiǎn)儀PCIe-9604DC模塊在掃描電子顯微鏡中的應(yīng)用

掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,簡(jiǎn)稱SEM)是電子顯微鏡的重要類(lèi)別。它擅長(zhǎng)捕捉樣品表面的微觀形貌,能清晰呈現(xiàn)納米級(jí)別的表面起伏、結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié),比如觀察金屬材料的斷口形態(tài)、生物細(xì)胞的表面紋理。這種“表面成像”能力使其成為材料失效分析、生物學(xué)微觀觀察的核心工具。
2025-10-24 14:30:39661

共聚焦顯微鏡與熒光顯微鏡有何區(qū)別?

在現(xiàn)代微觀分析檢測(cè)技術(shù)體系中,共聚焦顯微鏡與熒光顯微鏡是支撐材料科學(xué)、工業(yè)質(zhì)檢及生命科學(xué)領(lǐng)域的核心成像工具。二者均以熒光信號(hào)為檢測(cè)基礎(chǔ)實(shí)現(xiàn)特異性標(biāo)記成像,但光學(xué)設(shè)計(jì)、性能指標(biāo)及應(yīng)用場(chǎng)景的差異,決定了
2025-10-23 18:05:15783

共聚焦顯微鏡(LSCM)的針孔效應(yīng)

共聚焦顯微鏡(LSCM)的核心優(yōu)勢(shì)源于其針孔效應(yīng)。該效應(yīng)基于光的衍射與共軛聚焦原理,通過(guò)空間濾波實(shí)現(xiàn)焦平面信號(hào)的精準(zhǔn)捕獲,徹底改變了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的成像局限。其本質(zhì)是利用針孔對(duì)光路進(jìn)行選擇性篩選
2025-10-21 18:03:16438

一文讀懂共聚焦顯微鏡的系統(tǒng)組成

共聚焦顯微鏡作為半導(dǎo)體、材料科學(xué)等領(lǐng)域的重要成像設(shè)備,其核心優(yōu)勢(shì)在于突破傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的焦外模糊問(wèn)題。光子灣科技深耕光學(xué)測(cè)量領(lǐng)域,其共聚焦顯微鏡技術(shù)優(yōu)勢(shì)落地為亞微米級(jí)精準(zhǔn)測(cè)量、高對(duì)比度成像的實(shí)際能力
2025-10-16 18:03:20384

共聚焦顯微鏡在半導(dǎo)體硅晶圓檢測(cè)中的應(yīng)用

半導(dǎo)體制造工藝中,經(jīng)晶棒切割后的硅晶圓尺寸檢測(cè),是保障后續(xù)制程精度的核心環(huán)節(jié)。共聚焦顯微鏡憑借其高分辨率成像能力與無(wú)損檢測(cè)特性,成為檢測(cè)過(guò)程的關(guān)鍵分析工具。下文,光子灣科技將詳解共聚焦顯微鏡檢測(cè)硅晶
2025-10-14 18:03:26448

FIB(聚焦離子束顯微鏡):是反射還是透射?

在微觀世界的探索中,顯微鏡一直是科學(xué)家們最重要的工具之一。隨著科技的發(fā)展,顯微鏡的種類(lèi)和功能也日益豐富。聚焦離子束顯微鏡(FocusedIonBeam,FIB)作為一種高端的科研設(shè)備,在納米
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超景深顯微鏡的工作原理與測(cè)試影響因素

在微觀檢測(cè)領(lǐng)域,傳統(tǒng)顯微鏡常受限于景深較短的問(wèn)題,難以同時(shí)清晰呈現(xiàn)樣品不同深度的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié),而超景深顯微鏡憑借獨(dú)特的技術(shù)優(yōu)勢(shì),有效突破這一局限,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子制造等領(lǐng)域。深入理解其工作原理
2025-10-09 18:02:14519

如何選擇合適的顯微鏡(光學(xué)顯微鏡/透射電鏡/掃描電子顯微鏡)

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2025-09-28 23:29:24802

共聚焦顯微鏡精準(zhǔn)成像的使用技巧

共聚焦顯微鏡的核心使用技巧圍繞“如何優(yōu)化成像質(zhì)量”展開(kāi),涵蓋四大關(guān)鍵內(nèi)容:一是成像參數(shù)的動(dòng)態(tài)調(diào)控,需在亮度、分辨率與成像速度間找到適配平衡;二是針對(duì)弱熒光、易淬滅等不同特性的樣品,提供差異化拍攝策略
2025-09-25 18:03:18693

格物優(yōu)信顯微熱像儀在科學(xué)研究中的應(yīng)用

在工業(yè)檢測(cè)和科學(xué)研究中,對(duì)微觀世界的溫度分布和變化進(jìn)行精確測(cè)量一直是一項(xiàng)重大挑戰(zhàn)。近日,格物優(yōu)信推出的系列顯微熱像儀,以其卓越的性能——最高1280*1024紅外分辨率、125Hz高幀率,可加
2025-09-24 11:33:55673

共聚焦顯微鏡的光源、工作原理與選型

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2025-09-23 18:03:471147

熱發(fā)射顯微鏡下芯片失效分析案例:IGBT 模組在 55V 就暴露的問(wèn)題!

分享一個(gè)在熱發(fā)射顯微鏡下(Thermal EMMI) 芯片失效分析案例,展示我們?nèi)绾瓮ㄟ^(guò) IV測(cè)試 與 紅外熱點(diǎn)成像,快速鎖定 IGBT 模組的失效點(diǎn)。
2025-09-19 14:33:022288

共聚焦顯微鏡和電子顯微鏡有什么區(qū)別?

在現(xiàn)代科研與高端制作領(lǐng)域,微觀探索依賴高分辨率成像技術(shù),共聚焦顯微鏡與電子顯微鏡是其中的核心代表。在微觀檢測(cè)中,二者均突破傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡局限,但在原理、性能及應(yīng)用場(chǎng)景上差異顯著,適配不同領(lǐng)域的需求
2025-09-18 18:07:56724

一文讀懂共聚焦顯微鏡的核心技術(shù)與應(yīng)用優(yōu)勢(shì)

共聚焦顯微鏡作為微觀檢測(cè)領(lǐng)域的核心技術(shù)工具,憑借獨(dú)特的“點(diǎn)照明”機(jī)制與三維成像能力,突破了傳統(tǒng)寬場(chǎng)顯微鏡成像模糊、對(duì)比度低的局限,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、鋰電、航天航空等工業(yè)領(lǐng)域。本文光子灣科技將從
2025-09-16 18:05:111384

共聚焦顯微鏡應(yīng)用:沖蝕角度對(duì)玻璃噴砂磨損粗糙度的表面形貌分析

目前,固體顆粒沖蝕研究多集中于航空航天與設(shè)備工程領(lǐng)域,針對(duì)玻璃研究較少,現(xiàn)有玻璃沖蝕研究多停留在宏觀層面,微觀損傷機(jī)理分析不足。光子灣科技深耕高端光學(xué)精密測(cè)量技術(shù),其共聚焦顯微鏡可清晰捕捉材料表面
2025-09-09 18:02:56475

VirtualLab Fusion建模圖解:共聚焦顯微鏡的工作原理與橫向位移邏輯

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2025-09-04 18:02:151797

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VT6000材料顯微成像共聚焦顯微鏡用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量??蓽y(cè)各類(lèi)包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等
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共聚焦顯微鏡觀測(cè):基于磨損后橡膠密封件的表面形貌研究

注于高端光學(xué)精密測(cè)量技術(shù)研發(fā),其共聚焦顯微鏡可精準(zhǔn)支撐材料表面特性分析,為密封件性能優(yōu)化提供技術(shù)保障,本文基于乙丙橡膠(EPDM)密封件磨損實(shí)驗(yàn),結(jié)合共聚焦顯微
2025-08-28 18:07:58604

掃描透射電子顯微鏡的三種模式

很多人以為穿透式電子顯微鏡TEM就是倍率比較高的掃描式電子顯微鏡SEM,但其實(shí)TEM擁有許多強(qiáng)大的應(yīng)用,是科技業(yè)不可或缺的研發(fā)檢測(cè)工具。
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晶圓顯微形貌測(cè)量系統(tǒng)

WD4000晶圓顯微形貌測(cè)量系統(tǒng)通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。WD4000晶圓顯微
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淺談透射電子顯微分析方法(TEM)大全

一、什么是TEM?透射電子顯微鏡是利用波長(zhǎng)較短的電子束作為照明源,利用電磁透鏡進(jìn)行聚焦成像的高分辨本領(lǐng)和高放大倍數(shù)電子光學(xué)儀器。二、透射電子顯微鏡成像方式由電子槍發(fā)射高能、高速電子束;經(jīng)聚光鏡聚焦后
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2025-08-13 14:02:20492

MICRO IMAGE3數(shù)碼顯微系統(tǒng) 超清4K顯微圖像 高精度測(cè)量顯微系統(tǒng)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介——         數(shù)碼顯微系統(tǒng)MICRO IMAGE3是?臺(tái)實(shí)現(xiàn)激光對(duì)焦?于紅外?損穿透晶圓AOI顯微鏡系統(tǒng),集觀察、拍攝、測(cè)量于?體
2025-08-09 15:27:10

超景深顯微鏡觀測(cè):異溫軋制制備鈦-鋁-鎂復(fù)合板的組織性能研究

/鎂、鈦/鎂/鋁三層復(fù)合板的制備工藝與組織性能,結(jié)合超景深顯微鏡揭示復(fù)合機(jī)理。光子灣科技的超景深顯微鏡憑借高分辨率三維成像能力,可為復(fù)合板界面微觀形貌、斷口特征的
2025-08-07 18:03:26569

金相技術(shù)在PCB失效分析中應(yīng)用

使用PCB印刷電路板。其質(zhì)量的好壞和可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。PCB金相切片分析是通過(guò)切割取樣、鑲嵌、磨拋、蝕刻、觀察等一系列制樣步驟獲得PCB截面結(jié)構(gòu)切
2025-08-06 13:02:33430

共聚焦顯微鏡增強(qiáng)顯微成像,用于納米技術(shù)的精確分析

共聚焦顯微技術(shù),作為光學(xué)顯微鏡領(lǐng)域的一項(xiàng)里程碑式創(chuàng)新,為科學(xué)家們提供了一種全新的視角,以前所未有的清晰度觀察微觀世界。美能光子灣3D共聚焦顯微鏡,作為光學(xué)顯微鏡領(lǐng)域的革命性工具,不僅能夠捕捉到傳統(tǒng)寬
2025-08-05 17:54:491057

超景深顯微鏡技術(shù):拓展微觀形貌表征分析新維度

微觀結(jié)構(gòu)的精確測(cè)量是實(shí)現(xiàn)材料性能優(yōu)化和器件功能提升的核心,超景深顯微鏡技術(shù)以其在測(cè)量中的高精度和高景深特性,為材料科學(xué)界提供了一種新的分析工具,用以精確解析微觀世界的復(fù)雜結(jié)構(gòu)。美能光子灣將帶您了解超
2025-08-05 17:54:391337

共聚焦顯微鏡技術(shù)及系統(tǒng)組成介紹

隨著科技的飛速發(fā)展,精密測(cè)量領(lǐng)域?qū)τ诟叻直媛屎透呔鹊男枨笕找嬖鲩L(zhǎng)。在這一背景下,共聚焦顯微鏡技術(shù)以其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)脫穎而出,成為3D表面測(cè)量的前沿技術(shù)。美能光子灣3D共聚焦顯微鏡作為這一領(lǐng)域的佼佼者
2025-08-05 17:53:241333

超景深顯微鏡的基本原理

在科技飛速發(fā)展的今天,光學(xué)技術(shù)作為現(xiàn)代科學(xué)研究與工業(yè)生產(chǎn)的關(guān)鍵支撐。超景深顯微鏡,作為光學(xué)精密測(cè)量領(lǐng)域的核心技術(shù)裝備,憑借其卓越的三維成像能力,正成為眾多科研與工業(yè)領(lǐng)域不可或缺的重要工具。光子灣
2025-08-05 17:47:191617

共聚焦顯微鏡應(yīng)用:冷軋汽車(chē)鋼(DC04)表面形貌表征

及量化參數(shù),已從生物領(lǐng)域拓展至金屬材料分析,成為汽車(chē)鋼表面研究的重要工具。本文將聚焦共聚焦顯微鏡在冷軋汽車(chē)鋼(DC04)表面形貌表征中的應(yīng)用,展現(xiàn)其在材料微觀分析
2025-08-05 17:46:34752

超景深顯微鏡應(yīng)用 | 銅鎳錫合金干滑動(dòng)磨損行為研究

高端光學(xué)精密測(cè)量技術(shù),其超景深顯微鏡等設(shè)備可為材料磨損三維輪廓分析提供精準(zhǔn)支持。本文通過(guò)改變載荷與轉(zhuǎn)速,結(jié)合超景深顯微鏡等設(shè)備分析其磨損三維形貌與機(jī)制,為其在高端
2025-08-05 17:46:08672

簡(jiǎn)儀產(chǎn)品在超分辨高速雙光子顯微鏡中的應(yīng)用

雙光子顯微成像技術(shù)以紅外飛秒激光作為光源,深入組織內(nèi)部非線性地激發(fā)熒光,雙光子成像能減小激光對(duì)生物體的損傷,且具有高空間分辨率,適合長(zhǎng)時(shí)間觀察。因此,雙光子顯微成像技術(shù)已成為神經(jīng)科學(xué)與生物醫(yī)學(xué)研究中的關(guān)鍵成像手段。
2025-08-04 16:22:52849

晶圓三維顯微形貌測(cè)量系統(tǒng)

層析圖像,實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TTV)及分析反映表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)。WD4000晶圓三維顯微形貌測(cè)量系統(tǒng)通過(guò)非接觸測(cè)量
2025-08-04 13:59:53

SEM掃描電子顯微電鏡

,能滿足用戶對(duì)多類(lèi)型樣品的觀測(cè)需求,實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。CEM3000SEM掃描電子顯微電鏡采用的鎢燈絲電子槍?zhuān)l(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對(duì)真空度要求不高
2025-08-04 13:43:34

eFUSE內(nèi)存是如何組織的?

目前,我正在研究TRAVEO? 2G - CYT4EN。 我想了解一些與 eFUSE 相關(guān)的主題。 1. eFUSE 是控制器訪問(wèn)的物理芯片還是 SOC 的一部分? 2. eFUSE內(nèi)存是如何組織
2025-07-30 07:07:38

為什么說(shuō)高光譜成像是“超級(jí)顯微鏡”?背后的原理竟如此神奇

為什么說(shuō)高光譜成像是“超級(jí)顯微鏡”
2025-07-22 13:31:58962

金相測(cè)量顯微鏡助力半導(dǎo)體行業(yè)

金相測(cè)量顯微鏡,作為工業(yè)精密檢測(cè)的利器,正在為半導(dǎo)體行業(yè)及其他高精尖領(lǐng)域注入新的活力。測(cè)量顯微鏡采用精密高清光學(xué)鏡頭,配合工業(yè)級(jí)彩色CCD影像系統(tǒng),將被測(cè)工件的表面紋理清晰地呈現(xiàn),輪廓層次分明,精確
2025-07-04 17:34:451231

金相測(cè)量顯微鏡高精密金相測(cè)量?jī)x在LED燈珠行業(yè)的應(yīng)用案例

測(cè)量?jī)x
力標(biāo)精密發(fā)布于 2025-07-01 16:45:44

VirtualLab Fusion應(yīng)用:具有高數(shù)值孔徑的反射顯微鏡系統(tǒng)

摘要 在單分子顯微成像應(yīng)用中,定位精度是一個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題。由于某一方向上的定位精度與該方向上圖像的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)(PSF)的寬度成正比,因此具有更高數(shù)值孔徑(NA)的顯微鏡可以減小PSF的寬度,從而
2025-06-05 08:49:03

材料共聚焦3D成像顯微

VT6000系列材料共聚焦3D成像顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取
2025-05-26 16:20:36

什么是透射電子顯微鏡?

透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡(簡(jiǎn)稱透射電鏡)是一種利用加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,通過(guò)電子與樣品原子的碰撞產(chǎn)生立體角散射來(lái)成像的儀器。散射角的大小與樣品的密度、厚度密切相關(guān),從而形成明暗
2025-05-23 14:25:231197

透射電子顯微鏡在金屬材料的研究

價(jià)值的指導(dǎo)。透射電子顯微鏡的工作原理與強(qiáng)大功能透射電子顯微鏡是一種借助高能電子束穿透樣品,并通過(guò)電磁透鏡進(jìn)行成像與分析的精密設(shè)備。其工作原理基于電子與物質(zhì)之間的相互
2025-05-22 17:33:57964

離子研磨在芯片失效分析中的應(yīng)用

芯片失效分析中對(duì)芯片的截面進(jìn)行觀察,需要對(duì)樣品進(jìn)行截面研磨達(dá)到要觀察的位置,而后再采用光學(xué)顯微鏡(OM Optical Microscopy)或者掃描電子顯微(SEM Scanning Electron Microscopy)進(jìn)行形貌觀察。
2025-05-15 13:59:001657

透射電子顯微鏡(TEM)與聚焦離子束技術(shù)(FIB)在材料分析中的應(yīng)用

什么是透射電子顯微鏡(TEM)透射電子顯微鏡(TEM)是一種功能強(qiáng)大的分析工具,可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過(guò)三種不同的分析技術(shù)獲得固態(tài)樣品的化學(xué)信息:能量色散X射線分析(EDX)、電子
2025-05-09 16:47:20810

什么是透射電子顯微鏡(TEM)?

透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡簡(jiǎn)稱TEM,是一種高分辨率的微觀分析儀器,自1933年發(fā)明以來(lái),已成為探索微觀世界的強(qiáng)大工具。其工作原理是在高真空環(huán)境下,電子槍發(fā)射電子束,經(jīng)過(guò)聚焦后形成細(xì)小的電子束
2025-04-25 17:39:274261

納米尺度觀測(cè)掃描電子顯微

中圖儀器CEM3000系列納米尺度觀測(cè)掃描電子顯微鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能
2025-04-23 18:07:59

透射電鏡與 FIB 制樣技術(shù)解析

和萃取復(fù)型主要用于金相組織觀察、斷口形貌、形變條紋、第二相形態(tài)、分布和結(jié)構(gòu)等方面的分析。透射電鏡工作原理透射電子顯微鏡(TEM)是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù),其工作原理
2025-04-16 15:17:59829

帶你一文了解掃描透射電子顯微

掃描透射電子顯微鏡(STEM)掃描透射電子顯微鏡(STEM)是一種融合了透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)部分特點(diǎn)的先進(jìn)顯微技術(shù)。該技術(shù)對(duì)操作環(huán)境和設(shè)備要求較高,需要維持極高真空度
2025-04-07 15:55:421657

超景深立體顯微鏡 金屬金相分析檢測(cè)高精準(zhǔn)度操作便捷

產(chǎn)品簡(jiǎn)介——         超景深金相顯微系統(tǒng)擁有完美的光學(xué)系統(tǒng)和新一代的光學(xué)技術(shù),提供了優(yōu)秀的光學(xué)效果和同樣出色的人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì),通過(guò)高精度、高
2025-04-02 17:10:40

組織塊使用說(shuō)明

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《組織塊使用說(shuō)明.pdf》資料免費(fèi)下載
2025-04-02 15:29:180

負(fù)剛度隔振平臺(tái)在原子力顯微鏡中的應(yīng)用

原子力顯微鏡(AFM)已成為在納米尺度上對(duì)材料和細(xì)胞進(jìn)行成像與測(cè)量的最重要工具之一。原子力顯微鏡能夠揭示原子級(jí)別的樣品細(xì)節(jié),分辨率可達(dá)幾分之一納米量級(jí),它有助于多種應(yīng)用的成像,例如確定各種表面的表面
2025-04-02 11:03:46699

聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)的應(yīng)用領(lǐng)域

聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)作為一種前沿的微觀分析與加工工具,將聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)深度融合,兼具高分辨率成像和精密微加工能力,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工業(yè)
2025-04-01 18:00:03793

工具顯微鏡:精密測(cè)量與微觀分析的創(chuàng)新解決方案

工具顯微鏡通過(guò)將微觀世界可視化與數(shù)據(jù)化,幫助企業(yè)實(shí)現(xiàn)質(zhì)量管控前移,減少返工成本;其高效、非接觸的測(cè)量方式,尤其適合精密零部件、微型電子元件等領(lǐng)域的全生命周期質(zhì)量監(jiān)控。
2025-04-01 16:08:05894

VirtualLab Fusion應(yīng)用:用于高NA顯微鏡成像的工程化PSF

(Nikon)系統(tǒng)來(lái)演示此現(xiàn)象。 使用高NA顯微鏡系統(tǒng)分析偶極子源的PSF 在VirtualLab Fusion中,可以直接分析偶極子源的PSF。 該實(shí)驗(yàn)證明了當(dāng)偶極子源的方向改變時(shí),PSF具有不同的形狀
2025-03-26 08:47:25

VirtualLab Fusion應(yīng)用:高NA顯微鏡系統(tǒng)分析偶極子源的PSF

1.摘要 偶極子源可以很好地模擬熒光分子的發(fā)射光和納米球的散射光。 因此,偶極子源是點(diǎn)源的良好模型,其在實(shí)際中考慮了矢量效應(yīng)。對(duì)此類(lèi)點(diǎn)源的PSF進(jìn)行分析是非常重要的。在VirtualLab
2025-03-26 08:45:18

高分辨掃描電子顯微

中圖儀器CEM3000系列高分辨掃描電子顯微鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析。空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非??旖莸剡M(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到
2025-03-24 16:00:41

VirutualLab Fusion應(yīng)用:結(jié)構(gòu)光照明的顯微鏡系統(tǒng)

摘要 與阿貝理論預(yù)測(cè)的分辨率相比,用于熒光樣品的結(jié)構(gòu)照明顯微鏡系統(tǒng)可以將顯微鏡系統(tǒng)的分辨率提高2倍。 VirutualLab Fusion提供了一種通過(guò)入射波屬性來(lái)研究結(jié)構(gòu)化照明模式的快速方法
2025-03-21 09:26:33

PCB失效分析技術(shù):保障電子信息產(chǎn)品可靠性

問(wèn)題。為了確保PCB的質(zhì)量和可靠性,失效分析技術(shù)顯得尤為重要。外觀檢查外觀檢查是失效分析的第一步,通過(guò)目測(cè)或借助簡(jiǎn)單儀器(如立體顯微鏡、金相顯微鏡或放大鏡)對(duì)PC
2025-03-17 16:30:54935

掃描電子顯微鏡的應(yīng)用場(chǎng)景有哪些?

掃描電子顯微鏡(SEM)具有高分辨率、大景深、可觀察多種信號(hào)等特點(diǎn),在多個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景,以下是一些主要的應(yīng)用方面:一、材料科學(xué)領(lǐng)域-金屬材料研究:用于觀察金屬材料的微觀組織結(jié)構(gòu),如晶粒大小
2025-03-12 15:01:222348

安泰功率放大器在光學(xué)顯微鏡中的應(yīng)用有哪些

功率放大器是一種能夠?qū)⑤斎胄盘?hào)增強(qiáng)到更高功率水平的設(shè)備。在光學(xué)顯微鏡中,功率放大器有多種應(yīng)用。 功率放大器可以用于增強(qiáng)光源的亮度。在一些情況下,光源的亮度可能不足以提供足夠的光強(qiáng)度進(jìn)行觀察或分析
2025-03-12 11:34:57430

顯微電子亮相2025玄鐵RISC-V生態(tài)大會(huì)

日前,2025 玄鐵 RISC-V 生態(tài)大會(huì)在北京舉辦,速顯微董事長(zhǎng)項(xiàng)天參加大會(huì)。集成了速顯微自研GPU 核和玄鐵RISC-V MCU 核的GC9002 GPU SoC獲評(píng)“玄鐵優(yōu)選芯片”。
2025-03-11 10:04:071140

高度測(cè)量顯微

前言高度測(cè)量顯微顯微鏡配備了操作簡(jiǎn)單,功能強(qiáng)大的測(cè)量軟件,客戶可根據(jù)需要設(shè)置測(cè)試偏好。軟 件附帶了各類(lèi)手動(dòng)取點(diǎn)與自動(dòng)取點(diǎn)的測(cè)量功能,適功能高度集成的一體式設(shè)計(jì)使用范圍更廣,即使對(duì)復(fù)雜的形狀,也可以
2025-03-07 10:58:49

共聚焦顯微成像系統(tǒng)

建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析。VT6000共聚焦顯微成像系統(tǒng)可測(cè)各類(lèi)包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓
2025-03-05 14:19:57

請(qǐng)問(wèn)dlp2010nir的微鏡狀態(tài)可以用顯微鏡看到嗎?

在提出需求之前,想明確一個(gè)問(wèn)題,我們希望開(kāi)發(fā)DLPC150+DLP2010NIR的光譜平臺(tái),有個(gè)問(wèn)題是,我們不知道如何check是否成功實(shí)現(xiàn)微鏡的翻轉(zhuǎn)。 問(wèn)題如下: 1.請(qǐng)問(wèn),使用顯微鏡能看
2025-02-28 08:25:01

氬離子拋光如何應(yīng)用于材料微觀結(jié)構(gòu)分析

微觀結(jié)構(gòu)的分析氬離子束拋光技術(shù)作為一種先進(jìn)的材料表面處理方法,憑借其精確的工藝參數(shù)控制,能夠有效去除樣品表面的損傷層,為高質(zhì)量的成像和分析提供理想的樣品表面。這一技術(shù)廣泛應(yīng)用于掃描電子顯微鏡(SEM
2025-02-26 15:22:11618

氬離子技術(shù)之電子顯微鏡樣品制備技術(shù)

在材料科學(xué)的微觀研究領(lǐng)域,電子顯微鏡扮演著至關(guān)重要的角色。它能夠深入揭示材料樣品內(nèi)部的精細(xì)結(jié)構(gòu),為科研人員分析組織形貌和結(jié)構(gòu)特征提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。掃描電鏡(SEM)樣品制備掃描電鏡(SEM)以其
2025-02-25 17:26:05789

?超景深3D檢測(cè)顯微鏡技術(shù)解析

細(xì)胞和組織的三維立體圖像,從而更準(zhǔn)確地分析其形態(tài)和功能。這對(duì)于疾病診斷、藥物研發(fā)以及生物醫(yī)學(xué)工程等領(lǐng)域具有重要的推動(dòng)作用。例如,在癌癥研究中,科學(xué)家可以通過(guò)這種顯微鏡觀察癌細(xì)胞的立體結(jié)構(gòu),為個(gè)性化治療
2025-02-25 10:51:29

材料共聚焦顯微測(cè)量系統(tǒng)

VT6000材料共聚焦顯微測(cè)量系統(tǒng)采用全電動(dòng)化設(shè)計(jì),并可無(wú)縫銜接位移軸與掃描軸的切換,圖像視窗和分析視窗同界面的設(shè)計(jì)風(fēng)格,實(shí)現(xiàn)了所見(jiàn)即所得的快速檢測(cè)效果。 VT6000材料共聚焦顯微測(cè)量
2025-02-19 14:56:59

北理工實(shí)現(xiàn)量子全息顯微技術(shù)突破

近日,北京理工大學(xué)物理學(xué)院張向東教授課題組在量子顯微成像領(lǐng)域取得了重要進(jìn)展,成功實(shí)現(xiàn)了基于偏振糾纏量子全息技術(shù)的量子全息顯微。這一研究成果以“Quantum Holographic
2025-02-19 10:43:071150

顯微系統(tǒng)適合哪些應(yīng)用場(chǎng)景?你的項(xiàng)目需要它嗎?

在電子技術(shù)飛速發(fā)展以及各類(lèi)科研、生產(chǎn)不斷精細(xì)化的今天,對(duì)微觀世界的觀察和分析變得愈發(fā)重要。顯微系統(tǒng)作為能夠?qū)⑽⑿∥矬w放大成像,幫助人們洞悉微觀細(xì)節(jié)的關(guān)鍵設(shè)備,在眾多領(lǐng)域都有著不可或缺的作用。了解顯微系統(tǒng)的適用場(chǎng)景,有助于判斷它是否能為自己的項(xiàng)目添磚加瓦。
2025-02-18 14:57:17771

國(guó)產(chǎn)掃描電子顯微

CEM3000系列國(guó)產(chǎn)掃描電子顯微鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析。標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對(duì)多類(lèi)型樣品的觀測(cè)需求,實(shí)現(xiàn)微觀的形貌
2025-02-07 14:21:21

EBSD:材料微觀世界的“顯微鏡”

電子背散射衍射(EBSD)技術(shù),作為掃描電子顯微鏡(SEM)的高端拓展工具,它能夠深入剖析材料的微觀組織,實(shí)現(xiàn)組織結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析、直觀成像和量化評(píng)估,為材料科學(xué)研究人員與工程師提供了一把開(kāi)啟材料內(nèi)在
2025-01-23 15:27:141047

VirtualLab Fusion案例:?jiǎn)畏肿?b class="flag-6" style="color: red">顯微鏡高NA成像系統(tǒng)的建模

隨著生物和化學(xué)領(lǐng)域新技術(shù)的出現(xiàn),對(duì)更精確顯微鏡的需求穩(wěn)步增加。因此,研制出觀察單個(gè)熒光分子的單分子顯微鏡。利用快速物理光學(xué)建模和設(shè)計(jì)軟件VirtualLab Fusion,我們可以模擬普遍用于單分子
2025-01-16 09:52:53

VirtualLab Fusion案例:高NA反射顯微鏡系統(tǒng)

摘要 在單分子顯微鏡成像應(yīng)用中,定位精度是一個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題。由于在某一方向上的定位精度與圖像在同一方向上的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)(point spread function, PSF)的寬度成正比,因此具有較高
2025-01-16 09:50:45

EBSD技術(shù)在氬離子截面切割制樣中的應(yīng)用

電子背散射衍射技術(shù)電子背散射衍射技術(shù)(ElectronBackscatterDiffraction,簡(jiǎn)稱EBSD)是一種將顯微組織與晶體學(xué)分析相結(jié)合的先進(jìn)圖像分析技術(shù)。起源于20世紀(jì)80年代末,經(jīng)過(guò)
2025-01-06 12:29:18685

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