薄晶片已成為各種新型微電子產(chǎn)品的基本需求。 需要更薄的模具來適應(yīng)更薄的包裝。 使用最后的濕蝕刻工藝在背面變薄的晶圓與標(biāo)準(zhǔn)的機(jī)械背面磨削相比,應(yīng)力更小。 硅的各向同性濕蝕刻通常是用硝酸和氫氟酸的混合物,并添加化學(xué)物質(zhì)來調(diào)整粘度和單晶圓旋轉(zhuǎn)加工的表面潤濕性。 當(dāng)硅被蝕刻并并入蝕刻溶液時,蝕刻速率將隨時間而降低。 這種變化已經(jīng)建模。 這些模型可以延長時間,補(bǔ)充化學(xué)物質(zhì),或者兩者兼而有之。
硅蝕刻
硅的各向同性濕蝕刻最常用的化學(xué)方法是硝酸和氫氟酸的結(jié)合。 它通常被稱為海航體系(HF:硝酸:乙酸)與醋酸添加作為濕工作臺應(yīng)用的緩沖。 硝酸作為氧化劑將表面轉(zhuǎn)化為二氧化硅,然后HF腐蝕(溶解)氧化物。 其反應(yīng)過程如下所示
實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)是在SSEC 3300系列單片自旋處理器系統(tǒng)上進(jìn)行的。 所采用的化學(xué)方法是氫氟酸、硝酸、硫酸和磷酸按1:6:1:2的比例混合。 化學(xué)再循環(huán)采用SSEC的收集環(huán)技術(shù)。 在蝕刻過程中有許多工藝參數(shù)可以改變,從以前的工作中選擇了一個優(yōu)化的工藝來進(jìn)行這項(xiàng)研究。

圖1:恒定蝕刻時間下的硅蝕刻深度。
模型

審核編輯:湯梓紅
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