`半導體器件C-V特性測試方案交流C-V測試可以揭示材料的氧化層厚度，晶圓工藝的界面陷阱密度，摻雜濃度，摻雜分布以及載流子壽命等，通常使用交流C-V測試方式來評估新工藝，材料， 器件以及電路的質量
2019-09-27 14:23:43
載的 直流偏壓用作直流電壓掃描，掃描過程中測試待測器件待測器件的交流電壓和電流，從而計算出不同電壓下的電容值。 在CV特性測試方案中，同時集成了美國吉時利公司源表（SMU）和合作伙伴針對CV測試設計的專用精
2019-09-29 15:28:11
請教下以前的[半導體技術天地]哪里去了
2020-08-04 17:03:41
半導體技術是如何變革汽車設計產業(yè)的？
2021-02-22 09:07:43
作者： Robert GeeMaxim Integrated核心產品事業(yè)部執(zhí)行業(yè)務經理 在半導體測試領域，管理成本依然是最嚴峻的挑戰(zhàn)之一，因為自動化測試設備(ATE)是一項重大的資本支出。那么，有沒有能夠降低每片晶圓的成本，從而提升競爭優(yōu)勢的方法呢？有，答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12
地，2020 年業(yè)界普遍認為 5G 會實現大規(guī)模商用，熱點技術與應用推動下，國內半導體材料需求有望進一步增長。寬禁帶半導體材料測試1 典型應用一. 功率雙極性晶體管BJT 特性表征2 典型應用二. 功率
2020-05-09 15:22:12
近年來，全球半導體功率器件的制造環(huán)節(jié)以較快速度向我國轉移。目前,我國已經成為全球最重要的半導體功率器件封測基地。如IDM類（吉林華微電子、華潤微電子、杭州士蘭微電子、比亞迪股份、株洲中車時代半導體
2021-07-12 07:49:57
的防雷器件呢？這就是優(yōu)恩半導體要講的重點了。 首先要掌握各類電子保護器件的工作原理、特性參數以及選型標準。優(yōu)恩半導體就以半導體放電管的選型為例，介紹一下怎么選型？ 半導體放電管特性參數： ①斷態(tài)電壓VRM
2017-03-20 14:45:41
電阻率是決定半導體材料電學特性的重要參數，為了表征工藝質量以及材料的摻雜情況，需要測試材料的電阻率。半導體材料電阻率測試方法有很多種，其中四探針法具有設備簡單、操作方便、測量精度高以及對樣品形狀
2021-01-13 07:20:44
要的是，如果在純諍 的半導體中加入適量的微量雜質后，可使其導電能力增加至數十萬倍以上。利用 這一特性，已經做成各種不同用途的半導體器件（如二極管、三極管、場效應管 和晶閘管等）。溫度、光照和適量摻入雜質
2017-07-28 10:17:42
最終產品的質量。
**科研機構的半導體材料和器件研發(fā)**
1.**新材料特性研究**
在研究新型半導體材料（如碳化硅 SiC、氮化鎵 GaN）時，測試設備可以幫助科研人員測量材料的基本電學特性
2025-10-10 10:35:17
本章介紹了 Cyclone? IV 器件所支持的邊界掃描測試 (BST) 功能。這些 BST 功能與Cyclone III 器件中的相類似，除非另有說明。Cyclone IV 器件 (Cyclone
2017-11-14 10:50:26
DCT1401半導體分立器件靜態(tài)參數測試系統西安天光測控DCT1401半導體分立器件靜態(tài)參數測試系統能測試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs
2022-02-17 07:44:04
材料。與目前絕大多數的半導體材料相比，GaN 具有獨特的優(yōu)勢：禁帶更寬、飽和漂移速度更大、臨界擊穿電場和熱導率更高，使其成為最令人矚目的新型半導體材料之一。目前，GaN 基發(fā)光器件的研究已取得了很大
2019-06-25 07:41:00
在研究雷達探測整流器時，發(fā)現硅存在PN結效應，1958年美國通用電氣（GE）公司研發(fā)出世界上第一個工業(yè)用普通晶閘管，標志著電力電子技術的誕生。從此功率半導體器件的研制及應用得到了飛速發(fā)展，并快速成長為
2019-02-26 17:04:37
FS-Pro系列是業(yè)界唯一的人工智能驅動的一體化半導體參數測試系統，單臺設備具備IV， CV 與 1/f noise 測試能力，內建的AI算法加速技術全面提升測試效率。業(yè)界低頻噪聲測試黃金系統
2020-07-01 10:02:55
FastLab是一款通用半導體參數測量工具軟件，主要用于在半導體實驗室中協同探針臺與測量儀器進行自動化的片上半導體器件的IV/CV特性測量。 該軟件界面友好、操作簡便、功能全面。機器學習算法
2020-07-01 09:59:09
建模工具所采用?；谄浼傻牟⑿蠸PICE引擎，BSIMProPlus提供強大的全集成SPICE建模平臺，可以用于對各種半導體器件從低頻到高頻的各種器件特性的SPICE建模，包括電學特性測試、器件模型
2020-07-01 09:36:55
阻使這些材料成為高溫和高功率密度轉換器實現的理想選擇 ［4］?！ 榱顺浞掷眠@些技術，重要的是通過傳導和開關損耗模型評估特定所需應用的可用半導體器件。這是設計優(yōu)化開關模式電源轉換器的強大
2023-02-21 16:01:16
B1500A半導體器件分析儀具有十個插槽，支持IV和CV測試的模塊化儀器。基于MS Windows 的Agilent EasyEXPERT 軟件，提供新的、更直觀的面向任務的器件表征。由于非常低的電流、低電壓
2019-12-29 14:09:35
B1500A半導體器件分析儀具有十個插槽，支持IV和CV測試的模塊化儀器?；贛S Windows 的Agilent EasyEXPERT 軟件，提供新的、更直觀的面向任務的器件表征。由于非常低的電流、低電壓
2020-01-16 21:15:25
找不到聯系方式，請在瀏覽器上搜索一下，旺貿通儀器儀Keysight B1500A 半導體器件參數分析儀/半導體表征系統主機主要特性與技術指標測量功能在 0.1 fA - 1 A / 0.5 μV - 200
2019-12-25 15:04:23
光電測試技術分析有源的光電器件是一個基本的半導體結，為了更全面的測試，不僅要求對其做正向的I-V特性測試，也要求監(jiān)測反向的I-V特性。傳統的激光二極管電流驅動在實驗室級別是合適的，但是對于開發(fā)半導體
2009-12-09 10:47:38
本書較全面地講述了現有各類重要功率半導體器件的結構、基本原理、設計原則和應用特性，有機地將功率器件的設計、器件中的物理過程和器件的應用特性聯系起來。
書中內容由淺入深，從半導體的性質、基本的半導體
2025-07-11 14:49:36
`吉時利——半導體分立器件I-V特性測試方案半導體分立器件包含大量的雙端口或三端口器件，如二極管，晶體管，場效應管等，是組成集成電路的基礎。 直流I-V測試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的基石
2019-10-08 15:41:37
`東莞市佳華儀器有限公司趙經理：175~~~6672~~~8272銷售/回收/維修熱線188~~~8361~~~1172B1500A 半導體器件參數分析儀/半導體表征系統主機主要特性與技術指標 測量
2020-08-18 16:52:03
電路內，意法半導體最新超結MOSFET與IGBT技術能效比較 圖1: 垂直布局結構 4 功率損耗比較 在典型工作溫度 Tj = 100 °C范圍內，我們從動靜態(tài)角度對兩款器件進行了比較分析。在
2018-11-20 10:52:44
常用的功率半導體器件有哪些？
2021-11-02 07:13:30
行業(yè)的“傳奇定律”——摩爾定律就此誕生，它不僅揭示了信息技術進步的速度，更在接下來的半個實際中，猶如一只無形大手般推動了整個半導體行業(yè)的變革。
2019-07-01 07:57:50
, CdTe 等；3、低阻抗材料：金屬、透明氧化物、弱磁性半導體材料、TMR 材料等。 四、系統原理：霍爾效應測試系統主要是對霍爾器件的 I-V 測量，再根據其他相關參數來計算出對應的值。電阻率：范德
2020-06-08 17:04:49
` 不是所有的半導體生產廠商對所有的器件都需要進行老化測試。普通器件制造由于對生產制程比較了解，因此可以預先掌握通過由統計得出的失效預計值。如果實際故障率高于預期值，就需要再做老化測試，提高實際可靠性以滿足用戶的要求。宜特`
2019-08-02 17:08:06
電子器件、材料、半導體和有源/無源元器件。
可以在 CV 和 IV 測量之間快速切換，無需重新連接線纜。
能夠捕獲其他傳統測試儀器無法捕獲的超快速瞬態(tài)現象。
能夠檢測 1 kHz 至 5 MHz
2025-10-29 14:28:09
對半導體測試有何要求？對半導體測試有哪幾種方式？如何對數字輸出執(zhí)行VOH、VOL和IOS測試？
2021-07-30 06:27:39
電力半導體器件的分類
2019-09-19 09:01:01
一、無線數字設備發(fā)射機特性測試技術 移動終端和個人電腦的無線數據功能已發(fā)展為多頻帶、多系統結構，導致對前端器件需求的迅速增加。目前，簡單易用、輕便及低成本終端已成為市場趨勢，由此引起市場對小巧
2019-06-05 08:12:26
半導體存儲器測試原理,半導體存儲器的性能測試,集成電路測試系統.
2008-08-17 22:36:43
169 SPEA功率器件測試機SPEA-功率器件測試機-DOT800T功率半導體器件是實現電能轉換的核心器件，主要用途包括逆變、變頻等，在家用電器、新能源汽車、工業(yè)制造、通訊等領域有著廣泛的應用。小型化
2022-09-16 15:36:04
一 F-200A-60V 半導體器件測試機專為以下測試需求研制： 二 技術參數
2023-10-12 15:38:30
數字型晶體管圖示儀半導體電子器件通用測試機一 型號：F-200A-2K5總體描述F-200A-2K5系列半導體器件測試機專為以下測試需求研制：MOSIGBTBJTDIODEZenerTVSLEDRdsonVfdIGSFIGSRVgthVdssIdssVcesatVfdIGSFIGSRVgthVcesIcesVcesathFEBVcboIcboBVc
2024-04-22 15:39:46
半導體分立器件測試儀產品介紹 產品為桌面放置的臺式機結構，由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器，還能
2024-05-13 14:46:04
半導體分立器件靜態(tài)參數測試儀系統產品介紹 產品為桌面放置的臺式機結構，由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器，還能 夠通過
2024-05-20 17:10:12
電容-電壓(C-V)測量廣泛用于測量半導體參數，尤其是MOS CAP和MOSFET結構。MOS(金屬-氧化物-半導體)結構的電容是外加電壓的函數，MOS電容隨外加電壓變化的曲線稱之為C-V曲線（簡稱
2024-06-05 11:16:45
半導體參數測試儀&能測 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......半導體參數測試儀能測試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs
2024-07-30 08:51:59
半導體分立器件靜態(tài)參數測試系統&能測 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......半導體分立器件靜態(tài)參數測試系統能測試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數（如擊穿電壓V(BR)CES/V
2024-07-30 08:56:15
半導體功率器件靜態(tài)參數測試儀系統&能測 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......半導體功率器件靜態(tài)參數測試儀系統能測試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數（如擊穿電壓V(BR)CES/V
2024-07-30 09:01:22
一、設備簡述：天士立科技ST-CVX半導體功率器件CV特性結電容分析測試儀是陜西天士立科技有限公司根據當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。儀器
2024-08-01 13:33:59
產品介紹 HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數測試系統是由我公司技術團隊結合半導體功率器件
2024-09-09 13:46:47
半導體測試生產管理特性我國半導產業(yè)為一個垂直分工十分細膩且資本密集、技術密集的特殊產業(yè)，而IC測試廠則屬于這整個垂直分工體系的
2008-10-27 16:03:44
825 Stratix IV通過Interlaken通用性測試
Altera公司宣布，Stratix IV FPGA通過Interlaken聯盟的器件通用性測試。Altera認證了與使用Interlaken協議的第三方組件的高性能FPGA接口。Stratix IV
2010-03-10 09:26:13822 誼邦電子科技YB6500半導體測試系統功能更加強大，可測試十九大類二十七分類大、中、小功率的半導體分立器件
2011-06-07 11:28:423215 電子專業(yè)單片機相關知識學習教材資料之Cyclone_IV器件的JTAG邊界掃描測試
2016-09-02 16:54:400 NI半導體測試技術創(chuàng)新論壇，關注探討如何在實驗室V&V驗證、晶圓及封裝測試中進一步降低成本、提高上市時間，針對RFIC、ADC等混合信號芯片，探討如何通過PXI平臺化方法降低從實驗室到量產的測試成本、以及提高測試效率等。
2018-08-22 11:29:394589 作為半導體產業(yè)的其中一個環(huán)節(jié)，半導體測試一直以來備受關注。隨著半導體制程工藝不斷提升，測試和驗證也變得更加重要。
2019-04-11 09:12:5916340 吉時利8010型大功率器件測試夾具與2651A以及2657A型大功率系統數字源表一起完善了功率半導體器件測試解決方案。圖1給出源測量單元（SMU）儀器與8010型夾具的連接圖。在8010型互連參考指南（IRG）中給出詳細的器件測試配置實例。
2020-08-21 13:49:313468 
近期有很多用戶在網上咨詢I-V特性測試， I-V特性測試是很多研發(fā)型企業(yè)和高校研究的對象，分立器件I-V特性測試可以幫助工程師提取半導體器件的基本I-V特性參數，并在整個工藝流程結束后評估器件的優(yōu)劣
2021-05-19 10:50:253047 
MOSFET管要么分布在高壓低速的區(qū)間，要么分布在低壓高速的區(qū)間，市面上傳統的探測技術可以覆蓋器件特性的測試需求。但是第三代半導體器件SiC 或GaN的技術卻大大擴展了分布的區(qū)間，覆蓋以往沒有出現過的高壓高速區(qū)域，這就對器件的測試
2021-12-29 17:11:061577 
快速、輕松地對測量結果進行分析，完成半導體參數測試。半導體參數測試是確定半導體器件特征及其制造過程的一項基礎測量。在參數測試中，通常需要進行 IV 測量，包括分辨率低至 fA(毫微微安培)的小電流測量和高達 1 MHz 的CV 測量，并對主要特征/參數進行分析。雖然半導
2022-10-27 17:07:315871 
、脈沖/動態(tài) I-V 等參數。 主機和插入式模塊能夠 表征大多數電子器件、材料、半導體和有源/無源元器件。 B1500A? 半導體參數分析儀的模塊化體系結構使其可以根據需要靈活升級。 可以在 CV 和 IV 測量之間快速切換，無需重新連接線纜。 能夠捕獲其他傳統測試儀器無法捕獲的超快速瞬
2023-03-07 11:10:422093 最近有很多人問到，半導體測試和IC現貨芯片測試是一回事嗎？今天安瑪科技小編為大家解惑。 半導體測試并不一定等同于IC現貨芯片測試，兩者也不完全是一回事。半導體測試實際上是半導體設備中的一項技術，它
2023-04-17 18:09:361955 
包括球柵陣列封裝（BGA）、無引線封裝（QFN）、芯片級封裝（CSP）等。 本文科準測控的小編將介紹半導體封裝推拉力測試機的技術參數和應用范圍，并探討其在BGA封裝測試中的重要性。 一、測試內容 引腳連接強度：測試封裝器件引腳與
2023-06-26 10:07:592028 
碳化硅功率器件作為新一代功率半導體器件，以其優(yōu)異的特性獲得了廣泛的應用，同時也對其動態(tài)特性測試帶來了挑戰(zhàn)，現階段存在的主要問題有以下三點
2023-07-08 15:14:021133 
在半導體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會轉移觀察時間。 加速條件和正常使用條件之間的轉移稱為“降額”。那么半導體可靠性測試有哪些？讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:184934 
的好壞、穩(wěn)定性的高低直接影響到電子設備的性能和可靠性。從最籠統的角度說，我們可以利用半導體參數分析儀對半導體器件進行IV參數測試，即電壓和電流關系的測試，也可以延展到CV參數測試即電容相關的測試。 通過以上測試，我們可以得到半
2023-09-13 07:45:025532 
半導體靜態(tài)測試參數是指在直流條件下對其進行測試，目的是為了判斷半導體分立器件在直流條件下的性能，主要是測試半導體器件在工作過程中的電流特性和電壓特性。ATECLOUD半導體測試系統采用軟硬件架構為測試工程師提供整體解決方案，此系統可程控，可以實現隨時隨地測試，移動端也可實時監(jiān)控測試數據情況。
2023-10-10 15:05:301926 半導體動態(tài)測試參數是指在交流條件下對器件進行測試，是確保半導體性能、穩(wěn)定性和可靠性的重要依據。動態(tài)測試參數主要有開關時間、開關損耗、反向恢復電流、開關電流、耗散功率等。
2023-10-10 15:23:381135 
對于半導體器件而言熱阻是一個非常重要的參數和指標，是影響半導體性能和穩(wěn)定性的重要因素。如果熱阻過大，那么半導體器件的熱量就無法及時散出，導致半導體器件溫度過高，造成器件性能下降，甚至損壞器件。因此，半導體熱阻測試是必不可少的，納米軟件將帶你了解熱阻測試的方法。
2023-11-08 16:15:284667 
什么是半導體的成品測試系統，如何測試其特性？ 半導體的成品測試系統是用于測試制造出來的半導體器件的一種設備。它可以通過一系列測試和分析來確定半導體器件的性能和功能是否符合設計規(guī)格。 半導體器件是現代
2023-11-09 09:36:441403 可靠性測試是半導體器件測試的一項重要測試內容，確保半導體器件的性能和穩(wěn)定性，保證其在各類環(huán)境長時間工作下的穩(wěn)定性。半導體可靠性測試項目眾多，測試方法多樣，常見的有高低溫測試、熱阻測試、機械沖擊測試、引線鍵合強度測試等。
2023-11-09 15:57:524794 
半導體材料是制作半導體器件與集成電路的基礎電子材料。隨著技術的發(fā)展以及市場要求的不斷提高，對于半導體材料的要求也越來越高。因此對于半導體材料的測試要求和準確性也隨之提高，防止由于其缺陷和特性而影響半導體器件的性能。
2023-11-10 16:02:303375 SPA6100型半導體參數分析儀是一款半導體電學特性測試系統，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式
2023-12-01 14:00:362010 
半導體可靠性測試主要是為了評估半導體器件在實際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測試項目包括多種測試方法和技術，以確保產品的性能、質量和可靠性滿足設計規(guī)格和用戶需求。下面是關于半導體可靠性測試的詳細
2023-12-20 17:09:044343 隨著現代電子技術的快速發(fā)展，半導體器件在各個領域中的應用越來越廣泛。而為了確保半導體器件的質量和性能，進行準確的半導體性能測試顯得尤為重要?；魻栃鳛橐环N常用的測試手段，在半導體性能測試中發(fā)
2023-12-25 14:52:303478 “時間就是金錢”這句話在半導體器件的生產測試中尤為貼切。
2023-12-25 17:21:032597 
在太陽能領域的研究和應用中，光伏IV測試儀是一種非常重要的設備。通過測試光伏電池的電流和電壓特性，可以評估其性能和效率。本文將詳細介紹光伏IV測試儀的原理和工作方式，以及其在太陽能行業(yè)中的應用。
2025-09-22 16:54:22931 
HUSTEC-DC-2010分立器件測試儀，是我司團隊結合多年半導體器件測試經驗而研發(fā)的，可以應用于多種場景，如： ? 測試分析（功率器件研發(fā)設計階段的初始測試） 失效分析（對失效器件進行測試分析
2024-05-20 16:50:331467 
半導體分立器件靜態(tài)參數測試儀系統產品介紹 HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數測試系統是由我公司技術團隊結合半導體功率器件測試的多年經驗，以及眾多國內外測試系統產品的熟悉了解后，自主開發(fā)
2024-05-21 10:37:570 擴展等優(yōu)勢，旨在全面滿足從基礎功率二極管、MOSFET.BJT、 IGBT到寬禁帶半導體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態(tài)參數表征和測試
2024-07-23 15:43:311609 
功率循環(huán)測試是一種功率半導體器件的可靠性測試方法，被列為AEC-Q101與AQG-324等車規(guī)級測試標準內的必測項目。與溫度循環(huán)測試相比，功率循環(huán)是通過器件內部工作的芯片產生熱量，使得器件達到既定的溫度；而溫度循環(huán)則是通過外部環(huán)境強制被測試器件達到測試溫度。
2024-10-09 18:11:471596 
半導體器件在實際應用中會因功率損耗、環(huán)境溫度等因素產生熱量，過高的溫度可能導致器件性能下降甚至損壞。因此，熱測試成為半導體元件性能驗證和可靠性評估的重要環(huán)節(jié)。然而，半導體熱測試中往往會遇到一系列問題
2025-01-02 10:16:501291 
在半導體器件的實際部署中，它們會因功率耗散及周圍環(huán)境溫度而發(fā)熱，過高的溫度會削弱甚至損害器件性能。因此，熱測試對于驗證半導體組件的性能及評估其可靠性至關重要。然而，半導體熱測試過程中常面臨諸多挑戰(zhàn)
2025-01-06 11:44:391581 半導體器件可靠性測試方法多樣，需根據應用場景(如消費級、工業(yè)級、車規(guī)級)和器件類型(如IC、分立器件、MEMS)選擇合適的測試組合。測試標準(如JEDEC、AEC-Q、MIL-STD)為測試提供了詳細的指導，確保器件在極端條件下的可靠性和壽命。
2025-03-08 14:59:291107 
SC2020晶體管參數測試儀/?半導體分立器件測試系統-日本JUNO測試儀DTS-1000國產平替 ?專為半導體分立器件測試而研發(fā)的新一代高速高精度測試機。? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ??
2025-04-16 17:27:200 其中，前者負責測試晶圓器件參數（如IV，CV，Vt，Ion/Ioff等），或者可靠性（如HCI，NBTI，TDDB等）測試，通常稱作半導體測試儀，簡稱“半測儀”。
2025-04-30 15:39:011491 
在半導體產業(yè)中，可靠性測試設備如同產品質量的 “守門員”，通過模擬各類嚴苛環(huán)境，對半導體器件的長期穩(wěn)定性和可靠性進行評估，確保其在實際使用中能穩(wěn)定運行。以下為你詳細介紹常見的半導體測試可靠性測試設備。
2025-05-15 09:43:181024 
一、引言：IV特性測試的重要性與挑戰(zhàn) IV特性測試通過測量器件在不同電壓下的電流響應，揭示其電學特性（如導通電阻、閾值電壓、擊穿電壓等），是半導體研發(fā)、器件篩選及性能評估的核心環(huán)節(jié)。然而，傳統測試
2025-06-09 15:24:26647 
半導體參數測試需結合器件類型及應用場景選擇相應方法，核心測試技術及流程如下： ? 一、基礎電學參數測試 ? ? 電流-電壓（IV）測試 ? ? 設備 ?：源測量單元（SMU）或專用IV測試儀，支持
2025-06-27 13:27:231152 
半導體分立器件測試是對二極管、晶體管、晶閘管等獨立功能半導體器件的性能參數進行系統性檢測的過程，旨在評估其電氣特性、可靠性和適用性。以下是主要測試內容與方法的總結： 1. ? 測試對象與分類
2025-07-22 17:46:32825 
科技憑借深厚的技術積累和持續(xù)的創(chuàng)新，推出了一系列高性能示波器，廣泛應用于半導體產業(yè)的各個環(huán)節(jié)，從芯片設計、晶圓制造，到封裝測試，有效保障了半導體器件的質量與性能。 是德示波器產品特性剖析 卓越的帶寬與采樣率
2025-07-25 17:34:52652 
主要的功率半導體器件特性分為靜態(tài)特性、動態(tài)特性、開關特性。這些測試中最基本的測試就是靜態(tài)參數測試。靜態(tài)參數主要是指本身固有的，與其工作條件無關的相關參數。主要包括：柵極開啟電壓、柵極擊穿電壓、源極漏
2025-08-05 16:06:15648 
FablessSolutions副總裁Dr.MingZhang在TestConX2025大會上分享了以《測試AI：半導體制造的新前沿》為主題的演講。他以“學習、探索、分享”為基調，結合行業(yè)變革趨勢
2025-08-19 13:49:19903 
（電容-電壓特性測試）是通過測量半導體器件在不同偏置電壓下的電容變化，分析其介電特性、摻雜濃度及界面狀態(tài)的關鍵技術。主要應用于功率器件（MOSFET/IGBT等）的寄生參數測量和材料特性研究。 二、核心測試內容 ? 關鍵參數測量 ? ?
2025-09-01 12:26:20933 半導體技術作為現代電子產業(yè)的核心，其測試環(huán)節(jié)對器件性能與可靠性至關重要。吉時利源表（Keithley SourceMeter）憑借高精度、多功能性及自動化優(yōu)勢，在半導體測試領域發(fā)揮著不可替代的作用
2025-09-23 17:53:27581 
? 半導體分立器件測試系統是用于評估二極管、晶體管、晶閘管等獨立功能器件性能的專業(yè)設備。 一、核心功能 ? 參數測試 ? ? 靜態(tài)參數 ?：擊穿電壓（V(BR)）、漏電流（I(CES)）、導通電
2025-10-16 10:59:58343 
IV曲線測試儀：電子器件的“性能解碼師” 柏峰【BF-CV1500】在半導體研發(fā)的實驗室、光伏組件的生產車間，或是電子設備的故障診斷現場，IV曲線測試儀都是不可或缺的“核心工具”。它通過精準調控電壓、采集電流，繪制出電子器件的電流-電壓（IV）特性曲線
2025-11-12 14:51:52282 
隨著新能源汽車、光伏儲能以及工業(yè)電源的迅速發(fā)展，半導體器件在這些領域中的應用也愈發(fā)廣泛，為了提升系統的性能，半導體器件系統正朝著更高效率、更高功率密度和更小體積的方向快速發(fā)展。對于半導體器件性能質量
2025-11-17 18:18:372315 
適配器、LED、半導體芯片等器件的研發(fā)、生產與質檢環(huán)節(jié)。 ? 電阻 想要完成電子元器件的IV曲線測試，我們首先要確定使用的設備。可變電阻、二極管、三極管等器件的IV曲線測試一般都使用源表進行測試。源表集精準電壓源 + 精準電流源
2026-01-05 17:32:49499 
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工商網監(jiān)
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