`半導(dǎo)體器件C-V特性測試方案交流C-V測試可以揭示材料的氧化層厚度,晶圓工藝的界面陷阱密度,摻雜濃度,摻雜分布以及載流子壽命等,通常使用交流C-V測試方式來評估新工藝,材料, 器件以及電路的質(zhì)量
2019-09-27 14:23:43
載的 直流偏壓用作直流電壓掃描,掃描過程中測試待測器件待測器件的交流電壓和電流,從而計算出不同電壓下的電容值。 在CV特性測試方案中,同時集成了美國吉時利公司源表(SMU)和合作伙伴針對CV測試設(shè)計的專用精
2019-09-29 15:28:11
請教下以前的[半導(dǎo)體技術(shù)天地]哪里去了
2020-08-04 17:03:41
半導(dǎo)體技術(shù)是如何變革汽車設(shè)計產(chǎn)業(yè)的?
2021-02-22 09:07:43
作者: Robert GeeMaxim Integrated核心產(chǎn)品事業(yè)部執(zhí)行業(yè)務(wù)經(jīng)理 在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域,管理成本依然是最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一,因為自動化測試設(shè)備(ATE)是一項重大的資本支出。那么,有沒有能夠降低每片晶圓的成本,從而提升競爭優(yōu)勢的方法呢?有,答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12
地,2020 年業(yè)界普遍認(rèn)為 5G 會實現(xiàn)大規(guī)模商用,熱點技術(shù)與應(yīng)用推動下,國內(nèi)半導(dǎo)體材料需求有望進(jìn)一步增長。寬禁帶半導(dǎo)體材料測試1 典型應(yīng)用一. 功率雙極性晶體管BJT 特性表征2 典型應(yīng)用二. 功率
2020-05-09 15:22:12
近年來,全球半導(dǎo)體功率器件的制造環(huán)節(jié)以較快速度向我國轉(zhuǎn)移。目前,我國已經(jīng)成為全球最重要的半導(dǎo)體功率器件封測基地。如IDM類(吉林華微電子、華潤微電子、杭州士蘭微電子、比亞迪股份、株洲中車時代半導(dǎo)體
2021-07-12 07:49:57
的防雷器件呢?這就是優(yōu)恩半導(dǎo)體要講的重點了。 首先要掌握各類電子保護(hù)器件的工作原理、特性參數(shù)以及選型標(biāo)準(zhǔn)。優(yōu)恩半導(dǎo)體就以半導(dǎo)體放電管的選型為例,介紹一下怎么選型? 半導(dǎo)體放電管特性參數(shù): ①斷態(tài)電壓VRM
2017-03-20 14:45:41
電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù),為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況,需要測試材料的電阻率。半導(dǎo)體材料電阻率測試方法有很多種,其中四探針法具有設(shè)備簡單、操作方便、測量精度高以及對樣品形狀
2021-01-13 07:20:44
要的是,如果在純諍 的半導(dǎo)體中加入適量的微量雜質(zhì)后,可使其導(dǎo)電能力增加至數(shù)十萬倍以上。利用 這一特性,已經(jīng)做成各種不同用途的半導(dǎo)體器件(如二極管、三極管、場效應(yīng)管 和晶閘管等)。溫度、光照和適量摻入雜質(zhì)
2017-07-28 10:17:42
最終產(chǎn)品的質(zhì)量。
**科研機(jī)構(gòu)的半導(dǎo)體材料和器件研發(fā)**
1.**新材料特性研究**
在研究新型半導(dǎo)體材料(如碳化硅 SiC、氮化鎵 GaN)時,測試設(shè)備可以幫助科研人員測量材料的基本電學(xué)特性
2025-10-10 10:35:17
本章介紹了 Cyclone? IV 器件所支持的邊界掃描測試 (BST) 功能。這些 BST 功能與Cyclone III 器件中的相類似,除非另有說明。Cyclone IV 器件 (Cyclone
2017-11-14 10:50:26
DCT1401半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)西安天光測控DCT1401半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)能測試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs
2022-02-17 07:44:04
材料。與目前絕大多數(shù)的半導(dǎo)體材料相比,GaN 具有獨特的優(yōu)勢:禁帶更寬、飽和漂移速度更大、臨界擊穿電場和熱導(dǎo)率更高,使其成為最令人矚目的新型半導(dǎo)體材料之一。目前,GaN 基發(fā)光器件的研究已取得了很大
2019-06-25 07:41:00
在研究雷達(dá)探測整流器時,發(fā)現(xiàn)硅存在PN結(jié)效應(yīng),1958年美國通用電氣(GE)公司研發(fā)出世界上第一個工業(yè)用普通晶閘管,標(biāo)志著電力電子技術(shù)的誕生。從此功率半導(dǎo)體器件的研制及應(yīng)用得到了飛速發(fā)展,并快速成長為
2019-02-26 17:04:37
FS-Pro系列是業(yè)界唯一的人工智能驅(qū)動的一體化半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng),單臺設(shè)備具備IV, CV 與 1/f noise 測試能力,內(nèi)建的AI算法加速技術(shù)全面提升測試效率。業(yè)界低頻噪聲測試黃金系統(tǒng)
2020-07-01 10:02:55
FastLab是一款通用半導(dǎo)體參數(shù)測量工具軟件,主要用于在半導(dǎo)體實驗室中協(xié)同探針臺與測量儀器進(jìn)行自動化的片上半導(dǎo)體器件的IV/CV特性測量。 該軟件界面友好、操作簡便、功能全面。機(jī)器學(xué)習(xí)算法
2020-07-01 09:59:09
建模工具所采用?;谄浼傻牟⑿蠸PICE引擎,BSIMProPlus提供強(qiáng)大的全集成SPICE建模平臺,可以用于對各種半導(dǎo)體器件從低頻到高頻的各種器件特性的SPICE建模,包括電學(xué)特性測試、器件模型
2020-07-01 09:36:55
阻使這些材料成為高溫和高功率密度轉(zhuǎn)換器實現(xiàn)的理想選擇 [4]?! 榱顺浞掷眠@些技術(shù),重要的是通過傳導(dǎo)和開關(guān)損耗模型評估特定所需應(yīng)用的可用半導(dǎo)體器件。這是設(shè)計優(yōu)化開關(guān)模式電源轉(zhuǎn)換器的強(qiáng)大
2023-02-21 16:01:16
B1500A半導(dǎo)體器件分析儀具有十個插槽,支持IV和CV測試的模塊化儀器。基于MS Windows 的Agilent EasyEXPERT 軟件,提供新的、更直觀的面向任務(wù)的器件表征。由于非常低的電流、低電壓
2019-12-29 14:09:35
B1500A半導(dǎo)體器件分析儀具有十個插槽,支持IV和CV測試的模塊化儀器?;贛S Windows 的Agilent EasyEXPERT 軟件,提供新的、更直觀的面向任務(wù)的器件表征。由于非常低的電流、低電壓
2020-01-16 21:15:25
找不到聯(lián)系方式,請在瀏覽器上搜索一下,旺貿(mào)通儀器儀Keysight B1500A 半導(dǎo)體器件參數(shù)分析儀/半導(dǎo)體表征系統(tǒng)主機(jī)主要特性與技術(shù)指標(biāo)測量功能在 0.1 fA - 1 A / 0.5 μV - 200
2019-12-25 15:04:23
光電測試技術(shù)分析有源的光電器件是一個基本的半導(dǎo)體結(jié),為了更全面的測試,不僅要求對其做正向的I-V特性測試,也要求監(jiān)測反向的I-V特性。傳統(tǒng)的激光二極管電流驅(qū)動在實驗室級別是合適的,但是對于開發(fā)半導(dǎo)體
2009-12-09 10:47:38
本書較全面地講述了現(xiàn)有各類重要功率半導(dǎo)體器件的結(jié)構(gòu)、基本原理、設(shè)計原則和應(yīng)用特性,有機(jī)地將功率器件的設(shè)計、器件中的物理過程和器件的應(yīng)用特性聯(lián)系起來。
書中內(nèi)容由淺入深,從半導(dǎo)體的性質(zhì)、基本的半導(dǎo)體
2025-07-11 14:49:36
`吉時利——半導(dǎo)體分立器件I-V特性測試方案半導(dǎo)體分立器件包含大量的雙端口或三端口器件,如二極管,晶體管,場效應(yīng)管等,是組成集成電路的基礎(chǔ)。 直流I-V測試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的基石
2019-10-08 15:41:37
`東莞市佳華儀器有限公司趙經(jīng)理:175~~~6672~~~8272銷售/回收/維修熱線188~~~8361~~~1172B1500A 半導(dǎo)體器件參數(shù)分析儀/半導(dǎo)體表征系統(tǒng)主機(jī)主要特性與技術(shù)指標(biāo) 測量
2020-08-18 16:52:03
電路內(nèi),意法半導(dǎo)體最新超結(jié)MOSFET與IGBT技術(shù)能效比較 圖1: 垂直布局結(jié)構(gòu) 4 功率損耗比較 在典型工作溫度 Tj = 100 °C范圍內(nèi),我們從動靜態(tài)角度對兩款器件進(jìn)行了比較分析。在
2018-11-20 10:52:44
常用的功率半導(dǎo)體器件有哪些?
2021-11-02 07:13:30
行業(yè)的“傳奇定律”——摩爾定律就此誕生,它不僅揭示了信息技術(shù)進(jìn)步的速度,更在接下來的半個實際中,猶如一只無形大手般推動了整個半導(dǎo)體行業(yè)的變革。
2019-07-01 07:57:50
, CdTe 等;3、低阻抗材料:金屬、透明氧化物、弱磁性半導(dǎo)體材料、TMR 材料等。 四、系統(tǒng)原理:霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)主要是對霍爾器件的 I-V 測量,再根據(jù)其他相關(guān)參數(shù)來計算出對應(yīng)的值。電阻率:范德
2020-06-08 17:04:49
` 不是所有的半導(dǎo)體生產(chǎn)廠商對所有的器件都需要進(jìn)行老化測試。普通器件制造由于對生產(chǎn)制程比較了解,因此可以預(yù)先掌握通過由統(tǒng)計得出的失效預(yù)計值。如果實際故障率高于預(yù)期值,就需要再做老化測試,提高實際可靠性以滿足用戶的要求。宜特`
2019-08-02 17:08:06
電子器件、材料、半導(dǎo)體和有源/無源元器件。
可以在 CV 和 IV 測量之間快速切換,無需重新連接線纜。
能夠捕獲其他傳統(tǒng)測試儀器無法捕獲的超快速瞬態(tài)現(xiàn)象。
能夠檢測 1 kHz 至 5 MHz
2025-10-29 14:28:09
對半導(dǎo)體測試有何要求?對半導(dǎo)體測試有哪幾種方式?如何對數(shù)字輸出執(zhí)行VOH、VOL和IOS測試?
2021-07-30 06:27:39
電力半導(dǎo)體器件的分類
2019-09-19 09:01:01
一、無線數(shù)字設(shè)備發(fā)射機(jī)特性測試技術(shù) 移動終端和個人電腦的無線數(shù)據(jù)功能已發(fā)展為多頻帶、多系統(tǒng)結(jié)構(gòu),導(dǎo)致對前端器件需求的迅速增加。目前,簡單易用、輕便及低成本終端已成為市場趨勢,由此引起市場對小巧
2019-06-05 08:12:26
半導(dǎo)體存儲器測試原理,半導(dǎo)體存儲器的性能測試,集成電路測試系統(tǒng).
2008-08-17 22:36:43
169 SPEA功率器件測試機(jī)SPEA-功率器件測試機(jī)-DOT800T功率半導(dǎo)體器件是實現(xiàn)電能轉(zhuǎn)換的核心器件,主要用途包括逆變、變頻等,在家用電器、新能源汽車、工業(yè)制造、通訊等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。小型化
2022-09-16 15:36:04
一 F-200A-60V 半導(dǎo)體器件測試機(jī)專為以下測試需求研制: 二 技術(shù)參數(shù)
2023-10-12 15:38:30
數(shù)字型晶體管圖示儀半導(dǎo)體電子器件通用測試機(jī)一 型號:F-200A-2K5總體描述F-200A-2K5系列半導(dǎo)體器件測試機(jī)專為以下測試需求研制:MOSIGBTBJTDIODEZenerTVSLEDRdsonVfdIGSFIGSRVgthVdssIdssVcesatVfdIGSFIGSRVgthVcesIcesVcesathFEBVcboIcboBVc
2024-04-22 15:39:46
半導(dǎo)體分立器件測試儀產(chǎn)品介紹 產(chǎn)品為桌面放置的臺式機(jī)結(jié)構(gòu),由測試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能
2024-05-13 14:46:04
半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試儀系統(tǒng)產(chǎn)品介紹 產(chǎn)品為桌面放置的臺式機(jī)結(jié)構(gòu),由測試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能 夠通過
2024-05-20 17:10:12
電容-電壓(C-V)測量廣泛用于測量半導(dǎo)體參數(shù),尤其是MOS CAP和MOSFET結(jié)構(gòu)。MOS(金屬-氧化物-半導(dǎo)體)結(jié)構(gòu)的電容是外加電壓的函數(shù),MOS電容隨外加電壓變化的曲線稱之為C-V曲線(簡稱
2024-06-05 11:16:45
半導(dǎo)體參數(shù)測試儀&能測 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......半導(dǎo)體參數(shù)測試儀能測試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs
2024-07-30 08:51:59
半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)&能測 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)能測試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)(如擊穿電壓V(BR)CES/V
2024-07-30 08:56:15
半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試儀系統(tǒng)&能測 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試儀系統(tǒng)能測試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)(如擊穿電壓V(BR)CES/V
2024-07-30 09:01:22
一、設(shè)備簡述:天士立科技ST-CVX半導(dǎo)體功率器件CV特性結(jié)電容分析測試儀是陜西天士立科技有限公司根據(jù)當(dāng)前半導(dǎo)體功率器件發(fā)展趨勢,針對半導(dǎo)體材料及功率器件設(shè)計的分析儀器。儀器
2024-08-01 13:33:59
產(chǎn)品介紹 HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)是由我公司技術(shù)團(tuán)隊結(jié)合半導(dǎo)體功率器件
2024-09-09 13:46:47
半導(dǎo)體測試生產(chǎn)管理特性我國半導(dǎo)產(chǎn)業(yè)為一個垂直分工十分細(xì)膩且資本密集、技術(shù)密集的特殊產(chǎn)業(yè),而IC測試廠則屬于這整個垂直分工體系的
2008-10-27 16:03:44
825 Stratix IV通過Interlaken通用性測試
Altera公司宣布,Stratix IV FPGA通過Interlaken聯(lián)盟的器件通用性測試。Altera認(rèn)證了與使用Interlaken協(xié)議的第三方組件的高性能FPGA接口。Stratix IV
2010-03-10 09:26:13
822 誼邦電子科技YB6500半導(dǎo)體測試系統(tǒng)功能更加強(qiáng)大,可測試十九大類二十七分類大、中、小功率的半導(dǎo)體分立器件
2011-06-07 11:28:42
3215 電子專業(yè)單片機(jī)相關(guān)知識學(xué)習(xí)教材資料之Cyclone_IV器件的JTAG邊界掃描測試
2016-09-02 16:54:40
0 NI半導(dǎo)體測試技術(shù)創(chuàng)新論壇,關(guān)注探討如何在實驗室V&V驗證、晶圓及封裝測試中進(jìn)一步降低成本、提高上市時間,針對RFIC、ADC等混合信號芯片,探討如何通過PXI平臺化方法降低從實驗室到量產(chǎn)的測試成本、以及提高測試效率等。
2018-08-22 11:29:39
4589 作為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的其中一個環(huán)節(jié),半導(dǎo)體測試一直以來備受關(guān)注。隨著半導(dǎo)體制程工藝不斷提升,測試和驗證也變得更加重要。
2019-04-11 09:12:59
16340 吉時利8010型大功率器件測試夾具與2651A以及2657A型大功率系統(tǒng)數(shù)字源表一起完善了功率半導(dǎo)體器件測試解決方案。圖1給出源測量單元(SMU)儀器與8010型夾具的連接圖。在8010型互連參考指南(IRG)中給出詳細(xì)的器件測試配置實例。
2020-08-21 13:49:31
3468 
近期有很多用戶在網(wǎng)上咨詢I-V特性測試, I-V特性測試是很多研發(fā)型企業(yè)和高校研究的對象,分立器件I-V特性測試可以幫助工程師提取半導(dǎo)體器件的基本I-V特性參數(shù),并在整個工藝流程結(jié)束后評估器件的優(yōu)劣
2021-05-19 10:50:25
3047 
MOSFET管要么分布在高壓低速的區(qū)間,要么分布在低壓高速的區(qū)間,市面上傳統(tǒng)的探測技術(shù)可以覆蓋器件特性的測試需求。但是第三代半導(dǎo)體器件SiC 或GaN的技術(shù)卻大大擴(kuò)展了分布的區(qū)間,覆蓋以往沒有出現(xiàn)過的高壓高速區(qū)域,這就對器件的測試
2021-12-29 17:11:06
1577 
快速、輕松地對測量結(jié)果進(jìn)行分析,完成半導(dǎo)體參數(shù)測試。半導(dǎo)體參數(shù)測試是確定半導(dǎo)體器件特征及其制造過程的一項基礎(chǔ)測量。在參數(shù)測試中,通常需要進(jìn)行 IV 測量,包括分辨率低至 fA(毫微微安培)的小電流測量和高達(dá) 1 MHz 的CV 測量,并對主要特征/參數(shù)進(jìn)行分析。雖然半導(dǎo)
2022-10-27 17:07:31
5871 
、脈沖/動態(tài) I-V 等參數(shù)。 主機(jī)和插入式模塊能夠 表征大多數(shù)電子器件、材料、半導(dǎo)體和有源/無源元器件。 B1500A? 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀的模塊化體系結(jié)構(gòu)使其可以根據(jù)需要靈活升級。 可以在 CV 和 IV 測量之間快速切換,無需重新連接線纜。 能夠捕獲其他傳統(tǒng)測試儀器無法捕獲的超快速瞬
2023-03-07 11:10:42
2093 最近有很多人問到,半導(dǎo)體測試和IC現(xiàn)貨芯片測試是一回事嗎?今天安瑪科技小編為大家解惑。 半導(dǎo)體測試并不一定等同于IC現(xiàn)貨芯片測試,兩者也不完全是一回事。半導(dǎo)體測試實際上是半導(dǎo)體設(shè)備中的一項技術(shù),它
2023-04-17 18:09:36
1955 
包括球柵陣列封裝(BGA)、無引線封裝(QFN)、芯片級封裝(CSP)等。 本文科準(zhǔn)測控的小編將介紹半導(dǎo)體封裝推拉力測試機(jī)的技術(shù)參數(shù)和應(yīng)用范圍,并探討其在BGA封裝測試中的重要性。 一、測試內(nèi)容 引腳連接強(qiáng)度:測試封裝器件引腳與
2023-06-26 10:07:59
2028 
碳化硅功率器件作為新一代功率半導(dǎo)體器件,以其優(yōu)異的特性獲得了廣泛的應(yīng)用,同時也對其動態(tài)特性測試帶來了挑戰(zhàn),現(xiàn)階段存在的主要問題有以下三點
2023-07-08 15:14:02
1133 
在半導(dǎo)體器件中,常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下,加速測試不改變故障的物理特性,但會轉(zhuǎn)移觀察時間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱為“降額”。那么半導(dǎo)體可靠性測試有哪些?讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:18
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的好壞、穩(wěn)定性的高低直接影響到電子設(shè)備的性能和可靠性。從最籠統(tǒng)的角度說,我們可以利用半導(dǎo)體參數(shù)分析儀對半導(dǎo)體器件進(jìn)行IV參數(shù)測試,即電壓和電流關(guān)系的測試,也可以延展到CV參數(shù)測試即電容相關(guān)的測試。 通過以上測試,我們可以得到半
2023-09-13 07:45:02
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半導(dǎo)體靜態(tài)測試參數(shù)是指在直流條件下對其進(jìn)行測試,目的是為了判斷半導(dǎo)體分立器件在直流條件下的性能,主要是測試半導(dǎo)體器件在工作過程中的電流特性和電壓特性。ATECLOUD半導(dǎo)體測試系統(tǒng)采用軟硬件架構(gòu)為測試工程師提供整體解決方案,此系統(tǒng)可程控,可以實現(xiàn)隨時隨地測試,移動端也可實時監(jiān)控測試數(shù)據(jù)情況。
2023-10-10 15:05:30
1926 半導(dǎo)體動態(tài)測試參數(shù)是指在交流條件下對器件進(jìn)行測試,是確保半導(dǎo)體性能、穩(wěn)定性和可靠性的重要依據(jù)。動態(tài)測試參數(shù)主要有開關(guān)時間、開關(guān)損耗、反向恢復(fù)電流、開關(guān)電流、耗散功率等。
2023-10-10 15:23:38
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對于半導(dǎo)體器件而言熱阻是一個非常重要的參數(shù)和指標(biāo),是影響半導(dǎo)體性能和穩(wěn)定性的重要因素。如果熱阻過大,那么半導(dǎo)體器件的熱量就無法及時散出,導(dǎo)致半導(dǎo)體器件溫度過高,造成器件性能下降,甚至損壞器件。因此,半導(dǎo)體熱阻測試是必不可少的,納米軟件將帶你了解熱阻測試的方法。
2023-11-08 16:15:28
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什么是半導(dǎo)體的成品測試系統(tǒng),如何測試其特性? 半導(dǎo)體的成品測試系統(tǒng)是用于測試制造出來的半導(dǎo)體器件的一種設(shè)備。它可以通過一系列測試和分析來確定半導(dǎo)體器件的性能和功能是否符合設(shè)計規(guī)格。 半導(dǎo)體器件是現(xiàn)代
2023-11-09 09:36:44
1403 可靠性測試是半導(dǎo)體器件測試的一項重要測試內(nèi)容,確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性,保證其在各類環(huán)境長時間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測試項目眾多,測試方法多樣,常見的有高低溫測試、熱阻測試、機(jī)械沖擊測試、引線鍵合強(qiáng)度測試等。
2023-11-09 15:57:52
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半導(dǎo)體材料是制作半導(dǎo)體器件與集成電路的基礎(chǔ)電子材料。隨著技術(shù)的發(fā)展以及市場要求的不斷提高,對于半導(dǎo)體材料的要求也越來越高。因此對于半導(dǎo)體材料的測試要求和準(zhǔn)確性也隨之提高,防止由于其缺陷和特性而影響半導(dǎo)體器件的性能。
2023-11-10 16:02:30
3375 SPA6100型半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式
2023-12-01 14:00:36
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半導(dǎo)體可靠性測試主要是為了評估半導(dǎo)體器件在實際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測試項目包括多種測試方法和技術(shù),以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計規(guī)格和用戶需求。下面是關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測試的詳細(xì)
2023-12-20 17:09:04
4343 隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的快速發(fā)展,半導(dǎo)體器件在各個領(lǐng)域中的應(yīng)用越來越廣泛。而為了確保半導(dǎo)體器件的質(zhì)量和性能,進(jìn)行準(zhǔn)確的半導(dǎo)體性能測試顯得尤為重要?;魻栃?yīng)作為一種常用的測試手段,在半導(dǎo)體性能測試中發(fā)
2023-12-25 14:52:30
3478 “時間就是金錢”這句話在半導(dǎo)體器件的生產(chǎn)測試中尤為貼切。
2023-12-25 17:21:03
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在太陽能領(lǐng)域的研究和應(yīng)用中,光伏IV測試儀是一種非常重要的設(shè)備。通過測試光伏電池的電流和電壓特性,可以評估其性能和效率。本文將詳細(xì)介紹光伏IV測試儀的原理和工作方式,以及其在太陽能行業(yè)中的應(yīng)用。
2025-09-22 16:54:22
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HUSTEC-DC-2010分立器件測試儀,是我司團(tuán)隊結(jié)合多年半導(dǎo)體器件測試經(jīng)驗而研發(fā)的,可以應(yīng)用于多種場景,如: ? 測試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計階段的初始測試) 失效分析(對失效器件進(jìn)行測試分析
2024-05-20 16:50:33
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半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試儀系統(tǒng)產(chǎn)品介紹 HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)是由我公司技術(shù)團(tuán)隊結(jié)合半導(dǎo)體功率器件測試的多年經(jīng)驗,以及眾多國內(nèi)外測試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后,自主開發(fā)
2024-05-21 10:37:57
0 擴(kuò)展等優(yōu)勢,旨在全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET.BJT、 IGBT到寬禁帶半導(dǎo)體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態(tài)參數(shù)表征和測試
2024-07-23 15:43:31
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功率循環(huán)測試是一種功率半導(dǎo)體器件的可靠性測試方法,被列為AEC-Q101與AQG-324等車規(guī)級測試標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)的必測項目。與溫度循環(huán)測試相比,功率循環(huán)是通過器件內(nèi)部工作的芯片產(chǎn)生熱量,使得器件達(dá)到既定的溫度;而溫度循環(huán)則是通過外部環(huán)境強(qiáng)制被測試器件達(dá)到測試溫度。
2024-10-09 18:11:47
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半導(dǎo)體器件在實際應(yīng)用中會因功率損耗、環(huán)境溫度等因素產(chǎn)生熱量,過高的溫度可能導(dǎo)致器件性能下降甚至損壞。因此,熱測試成為半導(dǎo)體元件性能驗證和可靠性評估的重要環(huán)節(jié)。然而,半導(dǎo)體熱測試中往往會遇到一系列問題
2025-01-02 10:16:50
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在半導(dǎo)體器件的實際部署中,它們會因功率耗散及周圍環(huán)境溫度而發(fā)熱,過高的溫度會削弱甚至損害器件性能。因此,熱測試對于驗證半導(dǎo)體組件的性能及評估其可靠性至關(guān)重要。然而,半導(dǎo)體熱測試過程中常面臨諸多挑戰(zhàn)
2025-01-06 11:44:39
1581 半導(dǎo)體器件可靠性測試方法多樣,需根據(jù)應(yīng)用場景(如消費級、工業(yè)級、車規(guī)級)和器件類型(如IC、分立器件、MEMS)選擇合適的測試組合。測試標(biāo)準(zhǔn)(如JEDEC、AEC-Q、MIL-STD)為測試提供了詳細(xì)的指導(dǎo),確保器件在極端條件下的可靠性和壽命。
2025-03-08 14:59:29
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SC2020晶體管參數(shù)測試儀/?半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)-日本JUNO測試儀DTS-1000國產(chǎn)平替 ?專為半導(dǎo)體分立器件測試而研發(fā)的新一代高速高精度測試機(jī)。? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ??
2025-04-16 17:27:20
0 其中,前者負(fù)責(zé)測試晶圓器件參數(shù)(如IV,CV,Vt,Ion/Ioff等),或者可靠性(如HCI,NBTI,TDDB等)測試,通常稱作半導(dǎo)體測試儀,簡稱“半測儀”。
2025-04-30 15:39:01
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在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境,對半導(dǎo)體器件的長期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評估,確保其在實際使用中能穩(wěn)定運行。以下為你詳細(xì)介紹常見的半導(dǎo)體測試可靠性測試設(shè)備。
2025-05-15 09:43:18
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一、引言:IV特性測試的重要性與挑戰(zhàn) IV特性測試通過測量器件在不同電壓下的電流響應(yīng),揭示其電學(xué)特性(如導(dǎo)通電阻、閾值電壓、擊穿電壓等),是半導(dǎo)體研發(fā)、器件篩選及性能評估的核心環(huán)節(jié)。然而,傳統(tǒng)測試
2025-06-09 15:24:26
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半導(dǎo)體參數(shù)測試需結(jié)合器件類型及應(yīng)用場景選擇相應(yīng)方法,核心測試技術(shù)及流程如下: ? 一、基礎(chǔ)電學(xué)參數(shù)測試 ? ? 電流-電壓(IV)測試 ? ? 設(shè)備 ?:源測量單元(SMU)或?qū)S?b class="flag-6" style="color: red">IV測試儀,支持
2025-06-27 13:27:23
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半導(dǎo)體分立器件測試是對二極管、晶體管、晶閘管等獨立功能半導(dǎo)體器件的性能參數(shù)進(jìn)行系統(tǒng)性檢測的過程,旨在評估其電氣特性、可靠性和適用性。以下是主要測試內(nèi)容與方法的總結(jié): 1. ? 測試對象與分類
2025-07-22 17:46:32
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科技憑借深厚的技術(shù)積累和持續(xù)的創(chuàng)新,推出了一系列高性能示波器,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的各個環(huán)節(jié),從芯片設(shè)計、晶圓制造,到封裝測試,有效保障了半導(dǎo)體器件的質(zhì)量與性能。 是德示波器產(chǎn)品特性剖析 卓越的帶寬與采樣率
2025-07-25 17:34:52
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主要的功率半導(dǎo)體器件特性分為靜態(tài)特性、動態(tài)特性、開關(guān)特性。這些測試中最基本的測試就是靜態(tài)參數(shù)測試。靜態(tài)參數(shù)主要是指本身固有的,與其工作條件無關(guān)的相關(guān)參數(shù)。主要包括:柵極開啟電壓、柵極擊穿電壓、源極漏
2025-08-05 16:06:15
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FablessSolutions副總裁Dr.MingZhang在TestConX2025大會上分享了以《測試AI:半導(dǎo)體制造的新前沿》為主題的演講。他以“學(xué)習(xí)、探索、分享”為基調(diào),結(jié)合行業(yè)變革趨勢
2025-08-19 13:49:19
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(電容-電壓特性測試)是通過測量半導(dǎo)體器件在不同偏置電壓下的電容變化,分析其介電特性、摻雜濃度及界面狀態(tài)的關(guān)鍵技術(shù)。主要應(yīng)用于功率器件(MOSFET/IGBT等)的寄生參數(shù)測量和材料特性研究。 二、核心測試內(nèi)容 ? 關(guān)鍵參數(shù)測量 ? ?
2025-09-01 12:26:20
933 半導(dǎo)體技術(shù)作為現(xiàn)代電子產(chǎn)業(yè)的核心,其測試環(huán)節(jié)對器件性能與可靠性至關(guān)重要。吉時利源表(Keithley SourceMeter)憑借高精度、多功能性及自動化優(yōu)勢,在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用
2025-09-23 17:53:27
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? 半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)是用于評估二極管、晶體管、晶閘管等獨立功能器件性能的專業(yè)設(shè)備。 一、核心功能 ? 參數(shù)測試 ? ? 靜態(tài)參數(shù) ?:擊穿電壓(V(BR))、漏電流(I(CES))、導(dǎo)通電
2025-10-16 10:59:58
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IV曲線測試儀:電子器件的“性能解碼師” 柏峰【BF-CV1500】在半導(dǎo)體研發(fā)的實驗室、光伏組件的生產(chǎn)車間,或是電子設(shè)備的故障診斷現(xiàn)場,IV曲線測試儀都是不可或缺的“核心工具”。它通過精準(zhǔn)調(diào)控電壓、采集電流,繪制出電子器件的電流-電壓(IV)特性曲線
2025-11-12 14:51:52
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隨著新能源汽車、光伏儲能以及工業(yè)電源的迅速發(fā)展,半導(dǎo)體器件在這些領(lǐng)域中的應(yīng)用也愈發(fā)廣泛,為了提升系統(tǒng)的性能,半導(dǎo)體器件系統(tǒng)正朝著更高效率、更高功率密度和更小體積的方向快速發(fā)展。對于半導(dǎo)體器件性能質(zhì)量
2025-11-17 18:18:37
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適配器、LED、半導(dǎo)體芯片等器件的研發(fā)、生產(chǎn)與質(zhì)檢環(huán)節(jié)。 ? 電阻 想要完成電子元器件的IV曲線測試,我們首先要確定使用的設(shè)備??勺冸娮?、二極管、三極管等器件的IV曲線測試一般都使用源表進(jìn)行測試。源表集精準(zhǔn)電壓源 + 精準(zhǔn)電流源
2026-01-05 17:32:49
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