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電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>薄膜表面瑕疵缺陷檢測系統(tǒng)的原理是怎樣的

薄膜表面瑕疵缺陷檢測系統(tǒng)的原理是怎樣的

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2025-08-07 11:33:07396

半導(dǎo)體碳化硅SiC制造工藝CMP后晶圓表面粗糙度檢測

)技術(shù)作為實現(xiàn)這一目標(biāo)的關(guān)鍵工藝,通過化學(xué)作用和機械摩擦的協(xié)同效應(yīng),能夠去除材料表面缺陷和不平整,從而獲得光滑平整的表面。工藝完成后,利用美能光子灣共聚焦顯微鏡
2025-08-05 17:55:36985

塑料注塑缺陷檢測的創(chuàng)新解決方案

在塑料成型領(lǐng)域,注塑制品的質(zhì)量控制至關(guān)重要。然而,塑料注塑過程中出現(xiàn)的缺陷不僅影響產(chǎn)品的外觀,還可能降低其功能性能。這些缺陷的產(chǎn)生原因復(fù)雜多樣,傳統(tǒng)的檢測方法往往難以應(yīng)對復(fù)雜多變的檢測需求,尤其是在
2025-08-05 17:52:08697

海伯森檢測應(yīng)用案例之--玻璃表面檢測

玻璃檢測劃痕主要是為了從質(zhì)量控制、性能保障、應(yīng)用適配等多個維度確保玻璃的實用性和可靠性,具體目的如下:1.保障產(chǎn)品質(zhì)量,符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)劃痕是玻璃生產(chǎn)或加工過程中常見的瑕疵(如切割、搬運、打磨時操作不當(dāng)
2025-08-05 12:12:51525

壓鑄件氣密性檢測儀的檢測流程是怎樣的-岳信儀器

壓力、保壓時間等參數(shù),并校準(zhǔn)儀器,確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。同時,對壓鑄件進行預(yù)處理,清除表面油污、雜質(zhì),避免它們干擾檢測結(jié)果,還要檢查有無明顯可見的裂紋或孔洞。接著進入把
2025-08-01 11:58:00650

為什么高端新能源汽車的電控系統(tǒng),都在搶用車規(guī)薄膜電容?

在新能源汽車的快速發(fā)展浪潮中,電控系統(tǒng)作為核心部件之一,其性能直接決定了整車的動力輸出、能量效率和安全性。近年來,一個顯著的趨勢是,高端新能源汽車品牌紛紛選擇車規(guī)薄膜電容作為電控系統(tǒng)的關(guān)鍵元件。這一
2025-07-31 15:52:17947

橢偏儀在半導(dǎo)體薄膜工藝中的應(yīng)用:膜厚與折射率的測量原理和校準(zhǔn)方法

半導(dǎo)體測量設(shè)備主要用于監(jiān)測晶圓上膜厚、線寬、臺階高度、電阻率等工藝參數(shù),實現(xiàn)器件各項參數(shù)的準(zhǔn)確控制,進而保障器件的整體性能。橢偏儀主要用于薄膜工藝監(jiān)測,基本原理為利用偏振光在薄膜上、下表面的反射
2025-07-30 18:03:241128

臺階儀測試原理及應(yīng)用 | 半導(dǎo)體ZnO薄膜厚度測量及SERS性能研究

表面增強拉曼散射SERS技術(shù)在痕量檢測中具有獨特優(yōu)勢,但其性能依賴于活性基底的形貌精度。ZnO作為一種新型半導(dǎo)體薄膜材料,因其本征微米級表面粗糙度通過在其表面覆蓋一層貴金屬Au,能夠大大地提升
2025-07-28 18:04:53699

薄膜水分含量的精確檢測有助于電子企業(yè)及時調(diào)整生產(chǎn)工藝,通過靈活組網(wǎng),實現(xiàn)絕緣薄膜水分含量智能監(jiān)管

濟南祥控自動化設(shè)備有限公司自主研制的近紅外水分檢測儀XKCON-NIR-MA-FV根據(jù)近紅外波長會被水分子吸收的原理,通過分析某特定波長的近紅外能量變化,能夠精確檢測絕緣薄膜極其微量的水分含量變化。
2025-07-25 17:35:14417

海伯森產(chǎn)品在玻璃表面檢測中的應(yīng)用

劃痕是玻璃生產(chǎn)或加工過程中常見的瑕疵(如切割、搬運、打磨時操作不當(dāng)可能產(chǎn)生)。檢測劃痕是判斷玻璃是否符合出廠質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的重要環(huán)節(jié),避免不合格產(chǎn)品流入市場。
2025-07-25 09:53:27581

大面積薄膜光學(xué)映射與成像技術(shù)綜述:全光譜橢偏技術(shù)

在微電子制造與光伏產(chǎn)業(yè)中,大面積薄膜的均勻性與質(zhì)量直接影響產(chǎn)品性能。傳統(tǒng)薄膜表征方法(如濺射深度剖析、橫截面顯微鏡觀察)雖能提供高精度數(shù)據(jù),但測量范圍有限且效率較低,難以滿足工業(yè)級大面積表面的快速
2025-07-22 09:53:501277

白光色散干涉:實現(xiàn)薄膜表面輪廓和膜厚的高精度測量

薄膜結(jié)構(gòu)在半導(dǎo)體制造中扮演著至關(guān)重要的角色,廣泛應(yīng)用于微電子器件、光學(xué)涂層、傳感器等領(lǐng)域。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷進步,對薄膜結(jié)構(gòu)的檢測精度和效率提出了更高的要求。傳統(tǒng)的檢測方法,如橢圓偏振法、反射
2025-07-22 09:53:301528

四探針法丨導(dǎo)電薄膜薄層電阻的精確測量、性能驗證與創(chuàng)新應(yīng)用

系統(tǒng)探討四探針法的測量原理、優(yōu)化策略及其在新型導(dǎo)電薄膜研究中的應(yīng)用,并結(jié)合FlexFilm在半導(dǎo)體量測裝備及光伏電池電阻檢測系統(tǒng)的技術(shù)積累,為薄膜電學(xué)性能的精確測
2025-07-22 09:52:041006

芯片制造中的膜厚檢測 | 多層膜厚及表面輪廓的高精度測量

隨著物聯(lián)網(wǎng)(IoT)和人工智能(AI)驅(qū)動的半導(dǎo)體器件微型化,對多層膜結(jié)構(gòu)的三維無損檢測需求急劇增長。傳統(tǒng)橢偏儀僅支持逐點膜厚測量,而白光干涉法等技術(shù)難以分離透明薄膜的多層反射信號。本文提出一種單次
2025-07-21 18:17:24699

CMP工藝中的缺陷類型

CMP是半導(dǎo)體制造中關(guān)鍵的平坦化工藝,它通過機械磨削和化學(xué)腐蝕相結(jié)合的方式,去除材料以實現(xiàn)平坦化。然而,由于其復(fù)雜性,CMP工藝中可能會出現(xiàn)多種缺陷。這些缺陷通??梢苑譃闄C械、化學(xué)和表面特性相關(guān)的類別。
2025-07-18 15:14:332299

表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管 skyworksinc

電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊,更有表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管的引腳圖、接線圖、封裝手冊、中文資料、英文資料,表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管真值表,表面貼裝混頻器/檢測器肖特基二極管管腳等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2025-07-17 18:32:15

表面貼裝混頻器和檢測器肖特基二極管 skyworksinc

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2025-07-17 18:31:22

Molex薄膜電池的技術(shù)原理是什么?-赫聯(lián)電子

  Molex 的薄膜電池由鋅和二氧化錳制成,讓最終用戶更容易處置電池。大多數(shù)發(fā)達國家都有處置規(guī)定;這使得最終用戶處置帶有鋰電池的產(chǎn)品既昂貴又不便。消費者和醫(yī)療制造商需要穿著舒適且輕便的解決方案
2025-07-15 17:53:47

當(dāng)CAN握手EtherCAT:視覺檢測系統(tǒng)的“雙芯合璧”時代來了

檢測系統(tǒng)需要同時對接這兩大“派系”,怎么破?答案就是耐達訊通信技術(shù)CAN轉(zhuǎn)EtherCAT網(wǎng)關(guān),堪稱工業(yè)通信界的“破壁機”! 汽車質(zhì)檢對實時性和精度要求苛刻:視覺系統(tǒng)要快速識別零件瑕疵,同步控制機械臂
2025-07-15 15:37:47

電機進水故障頻發(fā)?電機氣密檢測缺陷與閉環(huán)解決策略

電機氣密性檢測關(guān)乎設(shè)備安全與功能完整,但檢測中常因技術(shù)與管理問題致結(jié)果失真,引發(fā)電機故障。本文梳理五大核心缺陷并提出六步閉環(huán)解決方案,為行業(yè)提供標(biāo)準(zhǔn)化框架:一、五大典型缺陷密封件與緊固件失效:密封件
2025-07-11 14:51:57449

飲料液位及瓶蓋缺陷檢測視覺系統(tǒng)

在合適的光源條件下,連接了多個相機的POC系列能夠成功檢測到隨機故意放置在產(chǎn)線上的有缺陷的瓶裝飲料(這些缺陷包括:液位過高或過低,瓶蓋未正確擰緊,標(biāo)簽打印錯誤和瓶中液體有雜質(zhì)/沉淀物)
2025-07-09 14:28:12481

集裝箱殘損檢測系統(tǒng)與傳統(tǒng)人工檢測對比

檢測系統(tǒng)
jf_60141436發(fā)布于 2025-06-26 14:06:08

氧化硅薄膜和氮化硅薄膜工藝詳解

氧化硅薄膜和氮化硅薄膜是兩種在CMOS工藝中廣泛使用的介電層薄膜。
2025-06-24 09:15:231749

高壓功率放大器在渦流無損檢測中的應(yīng)用實例

脈沖渦流檢測是一種先進的渦流檢測技術(shù),通過使用重復(fù)的寬帶脈沖激勵探頭的激勵線圈,產(chǎn)生一系列電壓-時間數(shù)據(jù)對,這些數(shù)據(jù)包含重要的深度信息,適用于表面和近表面缺陷的測量。其系統(tǒng)主要由信號發(fā)生裝置、帶有巨
2025-06-12 17:47:04496

國產(chǎn)表面粗糙度輪廓度檢測儀器

SJ5800國產(chǎn)表面粗糙度輪廓度檢測儀器采用超高精度納米衍射光學(xué)測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術(shù),實現(xiàn)對軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測量
2025-06-12 13:39:39

PanDao:確認(rèn)缺陷等級并用于加工

根據(jù)ISO101101標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,允許通過“5/y*x”參數(shù)來定義光學(xué)元件側(cè)面的最大缺陷尺寸: ? \"x\"表示缺陷對應(yīng)正方形的邊長:例如標(biāo)注5/0.016表示允許的缺陷面積
2025-06-03 08:51:27

晶圓表面缺陷類型和測量方法

在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,晶圓堪稱核心基石,其表面質(zhì)量直接關(guān)乎芯片的性能、可靠性與良品率。
2025-05-29 16:00:452842

薄膜電弱點測試儀的常見問題及解決方案

薄膜電弱點測試儀在薄膜生產(chǎn)、質(zhì)檢等環(huán)節(jié)起著關(guān)鍵作用,用于檢測薄膜存在的針孔、裂紋等電弱點缺陷。然而在實際使用過程中,可能會遇到各種問題影響檢測效率與準(zhǔn)確性。以下為薄膜電弱點測試儀常見問題及對應(yīng)
2025-05-29 13:26:04491

VirtualLab:用于微結(jié)構(gòu)晶片檢測的光學(xué)系統(tǒng)

摘要 在半導(dǎo)體工業(yè)中,晶片檢測系統(tǒng)被用來檢測晶片上的缺陷并找到它們的位置。為了確保微結(jié)構(gòu)所需的圖像分辨率,檢測系統(tǒng)通常使用高NA物鏡,并且工作在UV波長范圍內(nèi)。作為例子,我們建立了包括高NA聚焦
2025-05-28 08:45:08

國產(chǎn)表面輪廓粗糙度檢測儀器

SJ5800國產(chǎn)表面輪廓粗糙度檢測儀器可以對零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實現(xiàn)一次掃描測量,尤其是大范圍曲面、斜面進行粗糙度及輪廓尺寸一次性檢測,如圓弧面和球面、異型曲面進行多種粗糙度參數(shù)(如Ra
2025-05-22 17:27:38

機器視覺助力軌道缺陷檢測

機器視覺檢測助力軌道檢測
2025-05-21 16:55:07658

堆焊過程熔池相機實時缺陷檢測技術(shù)

在現(xiàn)代工業(yè)制造中,堆焊技術(shù)廣泛應(yīng)用于機械、能源、化工、航空航天等領(lǐng)域,用于修復(fù)磨損部件或增強工件表面性能。然而,傳統(tǒng)堆焊過程的質(zhì)量控制主要依賴人工經(jīng)驗或焊后檢測,難以實現(xiàn)實時監(jiān)控,導(dǎo)致缺陷發(fā)現(xiàn)滯后
2025-05-15 17:34:38625

詳解原子層沉積薄膜制備技術(shù)

CVD 技術(shù)是一種在真空環(huán)境中通過襯底表面化學(xué)反應(yīng)來進行薄膜生長的過程,較短的工藝時間以及所制備薄膜的高致密性,使 CVD 技術(shù)被越來越多地應(yīng)用于薄膜封裝工藝中無機阻擋層的制備。
2025-05-14 10:18:571205

電纜局部放電檢測的重點及難點問題

電纜局部放電檢測是一種用于評估電纜絕緣狀態(tài)的技術(shù)手段,對于保障電力系統(tǒng)的安全穩(wěn)定運行具有重要意義。通過檢測電纜在電場作用下絕緣材料中局部區(qū)域發(fā)生的放電現(xiàn)象,來判斷電纜的絕緣性能是否存在缺陷或劣化
2025-04-24 11:07:48783

高光譜相機在工業(yè)檢測中的應(yīng)用:LED屏檢、PCB板缺陷檢測

隨著工業(yè)檢測精度要求的不斷提升,傳統(tǒng)機器視覺技術(shù)逐漸暴露出對非可見光物質(zhì)特性識別不足、復(fù)雜缺陷檢出率低等局限性。高光譜相機憑借其獨特的光譜分析能力,為工業(yè)檢測提供了革命性的解決方案。以下結(jié)合中達瑞
2025-04-23 16:36:49787

IBC背接觸結(jié)構(gòu)薄膜缺陷分析:多尺度表征技術(shù)(PL/AFM/拉曼)的應(yīng)用

實現(xiàn)了對硅異質(zhì)結(jié)太陽能電池中薄膜厚度的快速檢測和分析,對提高太陽能電池生產(chǎn)質(zhì)量控制具有重要意義。研究背景MillennialSolar硅異質(zhì)結(jié)太陽能電池(SHJ)
2025-04-21 09:02:50974

優(yōu)可測白光干涉儀和薄膜厚度測量儀:如何把控ITO薄膜的“黃金參數(shù)”

ITO薄膜表面粗糙度與厚度影響著其產(chǎn)品性能與成本控制。優(yōu)可測亞納米級檢測ITO薄膜黃金參數(shù),幫助廠家優(yōu)化產(chǎn)品性能,實現(xiàn)降本增效。
2025-04-16 12:03:19824

晶圓表面形貌量測系統(tǒng)

WD4000晶圓表面形貌量測系統(tǒng)通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。 
2025-04-11 11:11:00

突破14nm工藝壁壘:天準(zhǔn)科技發(fā)布TB2000晶圓缺陷檢測裝備

開啟國產(chǎn)缺陷檢測新紀(jì)元 蘇州2025年3月26日?/美通社/ -- 3月26日,蘇州天準(zhǔn)科技股份有限公司(股票代碼:688003.SH)宣布,旗下矽行半導(dǎo)體公司研發(fā)的明場納米圖形晶圓缺陷檢測裝備
2025-03-26 14:40:33683

安泰電壓放大器在缺陷局部的無損檢測研究中的應(yīng)用

實驗名稱:基于LDR振型的損傷檢測方法實驗 研究方向:隨著科技的不斷進步,材料中的腐蝕、分層等缺陷是導(dǎo)致結(jié)構(gòu)剛度下降、破壞失效的主要原因。為保證結(jié)構(gòu)的安全性與可靠性,對其進行無損檢測是重要的。首先
2025-03-24 11:12:18672

維視智造砂輪缺陷檢測視覺系統(tǒng)的優(yōu)勢

砂輪,又稱固結(jié)磨具,作為工業(yè)領(lǐng)域的“牙齒”,其主要功能是對金屬或非金屬工件進行磨削、拋光等加工,以達到去除材料瑕疵、改善表面質(zhì)量的目的,廣泛應(yīng)用于機械制造、汽車、航空航天等行業(yè)。
2025-03-24 09:32:39824

Molex薄膜電池有什么用?-赫聯(lián)電子

  Molex 的薄膜電池由鋅和二氧化錳制成,讓最終用戶更容易處置電池。大多數(shù)發(fā)達國家都有處置規(guī)定;這使得最終用戶處置帶有鋰電池的產(chǎn)品既昂貴又不便。消費者和醫(yī)療制造商需要穿著舒適且輕便的解決方案
2025-03-21 11:52:17

氬離子拋光技術(shù)之高精度材料表面處理

,適用于多種微觀分析技術(shù)。怎樣利用氬離子拋光技術(shù)氬離子拋光技術(shù)利用氬離子束對樣品表面進行轟擊,氬離子與樣品表面原子發(fā)生彈性碰撞,使表面原子逐漸被移除。與傳統(tǒng)的機械拋光
2025-03-10 10:17:50943

從“被動檢測”到“主動預(yù)防”,上??匕睺estGrid推出動態(tài)缺陷檢測功能模塊

在嵌入式系統(tǒng)與安全關(guān)鍵領(lǐng)域,如航空航天、軌道交通、自動駕駛、醫(yī)療設(shè)備,代碼缺陷可能引發(fā)災(zāi)難性后果。傳統(tǒng)靜態(tài)分析僅能通過源代碼語法、結(jié)構(gòu)和編碼規(guī)范發(fā)現(xiàn)問題,而復(fù)雜的系統(tǒng)級交互、多線程并發(fā)及邊界條件
2025-03-04 14:43:34693

薄膜壓力分布測量系統(tǒng)鞋墊式足底壓力分布測試

的分布情況,幫助用戶了解足部受力狀態(tài),從而為步態(tài)分析、疾病診斷、運動優(yōu)化和鞋類設(shè)計提供科學(xué)依據(jù)。 薄膜壓力分布測量系統(tǒng)概述: 薄膜壓力分布測量系統(tǒng)主要由薄膜傳感器、數(shù)據(jù)采集儀和軟件組成。薄膜由壓敏電阻組成,能夠
2025-02-24 16:24:36968

ai影像系統(tǒng)檢測

生產(chǎn)線。 Novator系列ai影像系統(tǒng)檢測儀還支持頻閃照明和飛拍功能,可進行高速測量,大幅提升測量效率;具有可獨立升降和可更換RGB光源,可適應(yīng)更多復(fù)雜工件表面
2025-02-11 13:55:25

薄膜式壓力分布測量系統(tǒng)

產(chǎn)品概述: 薄膜壓力傳感器是一種電阻式傳感器,輸出電阻隨施加在傳感器表面壓力的增大而減小,數(shù)據(jù)通過采集器上傳云端可以測得壓力大小以及壓力分布云圖。福普生是一家專注于壓力分布測量技術(shù)的公司,憑借創(chuàng)新
2025-02-10 15:26:351071

X-Ray檢測設(shè)備能檢測PCBA的哪些缺陷

X-Ray檢測設(shè)備可以檢測PCB(電路板)的多種內(nèi)部及外部缺陷,如果按照區(qū)域區(qū)分的話,主要能觀測到一下幾類缺陷: 焊接缺陷: 空洞(Voiding):焊點內(nèi)部出現(xiàn)的空氣或其他非金屬物質(zhì)形成的空隙
2025-02-08 11:36:061166

回流焊時光學(xué)檢測方法

,是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進行檢測的設(shè)備。它使用攝像頭拍攝PCB上的元件和焊點,并將其與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)圖像進行比對,從而發(fā)現(xiàn)任何差異或缺陷。 二、AOI在回流焊中的應(yīng)用 在回流焊過程中,AOI主要用于檢測SMT元件的焊接質(zhì)量。它可以檢測出多種焊接缺陷,如連錫、少
2025-01-20 09:33:461451

轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)成像系統(tǒng)

中圖儀器VT6000轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)成像系統(tǒng)以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計和3D重建算法,共同組成測量系統(tǒng)。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等
2025-01-16 14:56:21

半導(dǎo)體晶圓幾何表面形貌檢測設(shè)備

,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。 WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何表面形貌檢測設(shè)備可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢
2025-01-06 14:34:08

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